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2018年8期

刊物介紹

本刊是目前國內(nèi)唯一以電子封裝為主的技術(shù)刊物。

電子與封裝訂閱

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封裝、組裝與測試

• 一種基于FPGA的沖擊應(yīng)力下空封鍵合線短接判定方法
• 集成電路真?zhèn)伪孀R方法
• 一種基于CS32F0XX芯片的ADC測試結(jié)構(gòu)的優(yōu)化方法及其FPGA實(shí)現(xiàn)

電路設(shè)計(jì)

• 12位單斜ADC的設(shè)計(jì)*
• 7 nm工藝下片上電感耦合情況研究
• 一種應(yīng)用于喚醒電路的高精度RC振蕩器
• 一種MCU可測性優(yōu)化設(shè)計(jì)
• 一種無運(yùn)放輸出可調(diào)的帶隙基準(zhǔn)電壓源設(shè)計(jì)

微電子制造與可靠性

• 90 nm浮柵型P-FLASH器件總劑量電離輻射效應(yīng)研究
• 一種NMOS管體區(qū)漏電特性的研究*
• 功率VDMOS（帶氮化硅結(jié)構(gòu)）的UIS失效改善