一款雷達(dá)芯片的基于掃描路徑法可測(cè)性設(shè)計(jì)
2009-06-25 04:45徐小良何春賈宇明劉輝華
現(xiàn)代電子技術(shù) 2009年9期
徐小良 何 春 賈宇明 劉輝華
摘要：針對(duì)一款雷達(dá)芯片電路采用基于掃描路徑法的可測(cè)性設(shè)計(jì)，在設(shè)計(jì)過(guò)程中采用時(shí)鐘復(fù)用技術(shù)、IP隔離技術(shù)，以及針對(duì)具體的時(shí)鐘產(chǎn)生電路采用了其他特殊處理技術(shù)；通過(guò)采用多種恰當(dāng)有效的可測(cè)性設(shè)計(jì)策略后，大大提高了該芯片電路可測(cè)性設(shè)計(jì)的故障覆蓋率，最終其測(cè)試覆蓋率可達(dá)到97％，完全滿(mǎn)足設(shè)計(jì)指標(biāo)的要求。
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