周小喜
(安徽師范大學(xué) 數(shù)學(xué)與計算機科學(xué)學(xué)院,安徽 蕪湖 241003)
為了更好地減少成本和提高工作效率,企業(yè)越來越注重在生產(chǎn)過程中檢驗產(chǎn)品以做到在線監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量.抽樣檢驗的首要任務(wù)是依據(jù)接收概率曲線(OC曲線)[1]確定抽樣檢驗方案.即從被檢產(chǎn)品中確定隨機抽取的樣本大小和對樣本進行檢驗時判斷產(chǎn)品是否合格的合格判定數(shù).進行抽樣的另一個目的就是要了解過程(工序)的生產(chǎn)能力即生產(chǎn)合格品的能力.過程能力指數(shù)(Process Capability Index,簡稱PCI)1989年Ford公司引入過程能力指數(shù)(Process Capability Index,簡則稱PCI)進行組織內(nèi)部和供應(yīng)商的過程評價,目前在全球制造業(yè)廣泛應(yīng)用.隨著QS9000的推廣,過程能力指數(shù)的應(yīng)用已經(jīng)涵蓋了生產(chǎn)、服務(wù)、管理等多個過程.美國學(xué)者Zachary G Stoumbos提出了由接收概率曲線(OC曲線)來分析過程能力指數(shù),使得過程(工序)能力指數(shù)與抽樣檢驗方案建立聯(lián)系.Taguchi博士建立質(zhì)量損失函數(shù)[2],并且基于損失函數(shù)給出更加明確的抽樣方案,本文對這兩種抽樣方案進行分析.
在質(zhì)量特性x服從正態(tài)分布情況下,通常把過程(工序)控制在μ±3δ之內(nèi)(δ為標準差).這種思想在1924年由美國的休哈特(Shewhart)博士提出.在這里討論單側(cè)公差情形,當(dāng)產(chǎn)品公差要求為單側(cè)下規(guī)格界限時,過程能力指數(shù)Cp[3]定義如下:
式中:LSL為產(chǎn)品公差的下規(guī)則界限;μ為理論均值;δ為理論標準差.
在實際生產(chǎn)中過程(工序)輸出的產(chǎn)品質(zhì)量通常存在偏離,通過下式來估計Cp
進而有
Leroy A Franklin 提出了由過程(工序)能力指數(shù)確定抽樣樣本容量n的方法[5].當(dāng)下置信限水平為(1-α),過程(工序)能力指數(shù)的估計值和理論值之間的關(guān)系為
由式(5)和式(6)可得
因此,樣本容量n取決于式(7).由過程(工序)能力指數(shù)估計值可知合格判定數(shù)c,合格判定數(shù)c由檢驗批量N和批量檢驗不合格品率p確定.
這種思想是建立在休哈特博士于1924年提出的統(tǒng)計過程(過程)控制技術(shù)中的常規(guī)控制圖得出的.休哈特博士提出常規(guī)控制圖(可以推算出過程能力指數(shù))要求每隔一定時間或每隔一定產(chǎn)品抽樣一次,但對于間隔多長時間或多少產(chǎn)品沒有明確說明.但借助Taguchi質(zhì)量損失函數(shù)[6]可以解決這個問題.在這里討論雙側(cè)公差情形.在企業(yè)生產(chǎn)過程中,設(shè)產(chǎn)品的質(zhì)量特性為y,目標值為m,規(guī)格界限為m± Δ.每隔一定的間隔n,對加工后的產(chǎn)品測量一次質(zhì)量特性值y,若y位于管理界限m±D之內(nèi),則繼續(xù)生產(chǎn);相反則調(diào)整生產(chǎn)過程(工序)能力,這種用產(chǎn)品質(zhì)量特性反饋來控制系統(tǒng),針對這種情況Taguchi博士建立了質(zhì)量損失函數(shù)基礎(chǔ)下的抽樣方案.Taguchi博士建立的質(zhì)量損失函數(shù)[6]為
式中:A為產(chǎn)品不合格時的損失;B為測量費用;n為最佳控制系統(tǒng)的測量間隔;C為調(diào)整費用(指工序異常時,即產(chǎn)品的特性y超出管理界限m±D時,使其恢復(fù)正常狀態(tài)下進行工序(過程)調(diào)整的總費用);Δ為規(guī)格公差;D為管理界限的公差;l為時滯;δm2為測量誤差引起的方差;μ為最佳控制系統(tǒng)平均過程(工序)調(diào)整間隔預(yù)測值.
由式(8)知L是參數(shù)n、D、μ的函數(shù).即L=L(n,D,μ).此外,初期平均過程(工序)調(diào)整間隔統(tǒng)計值μ0和初期管理界限D(zhuǎn)0,之間的關(guān)系為
則式(8)轉(zhuǎn)化為n、D的函數(shù),即:
由式(9)可知n、D分別是最佳抽樣間隔和最佳控制界限.據(jù)L(n,D)=min 的原則.采用最小平方法,分別對兩個未知參數(shù)求偏導(dǎo)數(shù),得到方程組
解方程組(10)可得如下解
這兩個核心參數(shù)即為控制圖最佳控制界限D(zhuǎn)和最佳抽樣間隔n.
由文獻[5]和式(7)得到一個基于過程能力指數(shù)的抽樣方案(N,n,c).這種抽樣方案工序(過程)能力指數(shù)小于1.33時,不能保證工序(過程)不發(fā)生不合格品,抽樣不能完全控制不合格品,且也不能做到反控制控制圖(可推算出過程能力指數(shù))的效果.當(dāng)工序(過程)能力指數(shù)為1.67到2.0之間時是一個非常理想狀態(tài),這種狀態(tài)下抽樣方案也將失去抽樣檢驗的作用.例如:在一個生產(chǎn)周期(設(shè)周期為12 h)內(nèi)檢驗批量N=532.針對工序(過程)能力指數(shù)判斷的界限值為0.67,1.0,1.33,1.67,2.0,可以利用式(1)-式(7)推算出最大不合格率0.022 8,0.001 3,3×10-5,3×10-7,3×10-9,由此推算出對應(yīng)的合格判定數(shù)c為:12.13,0.7,0.02,0,0.由此構(gòu)成四種抽樣方案,這四種抽樣方案不能保證不合格產(chǎn)品被抽到.
由文獻[8]可知這種抽樣方案可以反饋控制過程能力指數(shù)并且給出在常規(guī)控制圖下(即過程能力指數(shù)在非常理想狀態(tài))能預(yù)測下一個抽樣時間,能明確知道控制系統(tǒng)的控制界限.例如:在某個零件生產(chǎn)過程中每隔50個產(chǎn)品抽檢一個產(chǎn)品對其中一尺寸(5.000±0.1) mm進行檢驗,測量數(shù)據(jù)見表1.
表1 測量的數(shù)據(jù)
假設(shè)上述控制界限和抽樣間隔在常規(guī)控制圖的管理狀態(tài)下,即有管理界限D(zhuǎn)0=60 μm,測量間隔n=50個.
已知其他參數(shù)如下: A=1.2元,B =1.4元,C=15元,l=5個,δm=4 μm,調(diào)整間隔統(tǒng)計值為 μ0=2 000個.
由式(11),計算得
由式(12),計算得
在實際生產(chǎn)和應(yīng)用中,取D=30 μm,則平均調(diào)整間隔預(yù)測值為
則最佳抽樣間隔為n=125個,平均調(diào)整間隔預(yù)測值為μ=500個.從這個抽樣方案可以看到該設(shè)計優(yōu)于由接收概率曲線(OC曲線)思想下的抽樣方案.這種抽樣方案基于過程(過程)能力指數(shù),但能反饋控制質(zhì)量特性和控制圖(有控制圖可推出過程能力指數(shù)),并且可以診斷出過程(工序)故障.
基于過程(工序)能力指數(shù)下的抽樣方案能更好地控制產(chǎn)品質(zhì)量和減少生產(chǎn)過程中的成本損失,這兩種抽樣方案能夠建立生產(chǎn)和抽樣檢驗之間的聯(lián)系,能夠?qū)ιa(chǎn)過程中依據(jù)產(chǎn)品質(zhì)量特性和質(zhì)量成本對生產(chǎn)過程(工序)能力進行有效的評價和判斷.尤其是產(chǎn)品質(zhì)量特性反饋控制過程(工序)能力指數(shù)思想下的抽樣方案能夠很好地反控制常規(guī)控制圖和質(zhì)量特性的預(yù)測,使得在生產(chǎn)過程中更好地診斷過程能力異常的原因,并能讓管理者作出更好的調(diào)整.但是這兩種抽樣方案都存在同樣的問題:如果在過程(工序)能力指數(shù)不能滿足1.67到2.0之間時,這兩種抽樣方案都很難實施.因此,現(xiàn)在有很多學(xué)者提出在線監(jiān)控.
[1] STOUMBOS Z G.Process capability indices: overview and extensions[J].Nonlinear Analysis: Real world Applications,2002,3(2) 191-210.
[2] 朱浩清,王建榮.田口質(zhì)量損失函數(shù)的應(yīng)用[J].南京航空航天大學(xué)學(xué)報,1994,26(5):368-373.
[3] 張公緒,孫 靜.新編質(zhì)量管理學(xué)[M].北京:高等教育出版社,2003.
[4] CHOU YOUNMIN,OWEN D B.Lower confidence limits on process capability indices[J].Journal Quality Technology,1990,22(3):2-19.
[5] FRANKIN L R A.Sample size determination for lower confidence limits for estimating process capability indices[J].Computers and Industrial Engineering,1999,36(3):603-614.
[6] TAGUCHI G,WU Y.Introduction to off-line quality control [M].Nagoya:Ceneral Japan Quality Control Association,1979.
[7] 朱立峰,薛 躍.基于質(zhì)量損失函數(shù)的儀器最佳校準周期的確定[J].電子工程師,2005,31(8):15-18.
[8] 解順強,張?zhí)m霞,李麗華,等.基于田口質(zhì)量損失函數(shù)思想的均值控制圖的經(jīng)濟設(shè)計[J].工程數(shù)學(xué)學(xué)報,2008,25(5):823-828.