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      《電子與封裝》雜志征稿啟事

      2010-08-15 00:51:01
      電子與封裝 2010年6期
      關(guān)鍵詞:集成電路期刊測試

      《電子與封裝》雜志是目前國內(nèi)唯一一本全面報道封裝與測試技術(shù)、半導(dǎo)體器件和IC設(shè)計與制造技術(shù)、產(chǎn)品與應(yīng)用以及前沿技術(shù)、市場信息等的技術(shù)性刊物,是中國電子學(xué)會生產(chǎn)技術(shù)學(xué)分會(電子封裝專業(yè))會刊、中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會封裝分會會刊。為促進我國封裝測試專業(yè)技術(shù)水平的提高和生產(chǎn)技術(shù)的發(fā)展,加強技術(shù)交流和信息溝通,特向廣大讀者和有關(guān)專業(yè)人士誠征下列內(nèi)容稿件:

      1 反映國內(nèi)外封裝、組裝、測試技術(shù)的綜述文章。

      2 反映國內(nèi)外集成電路、分立器件設(shè)計與制造技術(shù)的綜述文章。

      3 電子封裝、組裝、測試技術(shù)及科研成果。

      4 集成電路、分立器件測試技術(shù)及其科研成果。

      5 集成電路與電子器件設(shè)計、制造技術(shù)。

      6 厚薄膜電路、混合電路、MCM、MEMS、印刷電路等組裝技術(shù)和研究成果。

      7 各種封裝材料、管殼、模具、引線框架和設(shè)備等的研究、設(shè)計和生產(chǎn)技術(shù)。

      8 圓片測試技術(shù)及成品測試技術(shù)。

      9 半導(dǎo)體封裝、測試、設(shè)計、制造市場信息及市場分析。

      10 電子器件和集成電路可靠性及失效分析技術(shù)。

      11 電子器件和IC產(chǎn)品與應(yīng)用。

      12 半導(dǎo)體封裝測試及設(shè)計制造前沿技術(shù)。

      根據(jù)國家期刊出版的有關(guān)要求,作者投稿時請注意下列事項:

      1 來稿盡量用電子文檔形式發(fā)至本雜志社電子郵箱或用A4紙打印,文章篇幅應(yīng)盡量控制在6頁以內(nèi)。

      2 全文內(nèi)容應(yīng)包含:標(biāo)題、作者及其工作單位、摘要、關(guān)鍵詞、正文、參考文獻及作者簡介。其中標(biāo)題、作者及其工作單位、摘要、關(guān)鍵詞須中英文對照。中文標(biāo)題控制在20個漢字以內(nèi),英文標(biāo)題最多不超過400個字符;作者按在論文中的地位排列,工作單位需給出所有作者的工作單位全稱、所在省市及郵政編碼,不同單位作者請用上標(biāo)注明;摘要應(yīng)寫明論文的研究目的、方法及成果、結(jié)論或簡要說明論文內(nèi)容的要點,中文摘要為200~300字,英文摘要200字左右,避免一句話摘要;關(guān)鍵詞為3~8個,中文關(guān)鍵詞應(yīng)使用中文全稱表示,盡量不采用英語縮略語;正文需適當(dāng)分節(jié)。參考文獻需包含項目和基本格式為,圖書專著:“作者名.書名[文獻類型標(biāo)識].出版地:出版單位,出版年.頁碼.”期刊等連續(xù)出版物:“作者名.題名[文獻類型標(biāo)識].期刊名,出版年,卷(期):頁碼.”(文獻類型標(biāo)識:專著[M]、論文集[C]、報紙文章[N]、期刊文章[J]、學(xué)位論文[D]、報告[R]、標(biāo)準(zhǔn)[S]、專利[P],其他格式要求具體請參考GB7714-2005)。作者簡介包括作者姓名、性別、出生年份、籍貫、畢業(yè)院校、學(xué)位、職稱、研究方向或所從事工作、單位等,并附第一作者個人一寸證件照一張(可發(fā)電子版)。

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      我們將與有識之士一起,竭誠為電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展服務(wù),敬請各方人士積極投稿,攜手將電子封裝行業(yè)自己的刊物辦好。

      來稿請寄:江蘇省無錫市208信箱《電子與封裝》編輯部 收 (郵編:214035)

      E-mail :ep.cetc58@163.com

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