陶瓷墻地磚生產管理與品質管理
(續(xù)上期)
工序檢驗及監(jiān)督管理見表1。
表1 工序檢驗及監(jiān)督管理
續(xù)表1
1 原料驗收標準
1.1 坯用原料(泥、砂)驗收標準(見表2、表3)是操作復雜、重復性差、測量范圍窄。
表2 坯用原料的驗收標準
續(xù)表2
表3 對各種原料的性能要求
2 沉降天平法
3 激光散射法
沉降天平法所使用的設備是TZC-2型自動記錄粒度測定儀、超聲波發(fā)生器、電子天平等。沉降法的基礎是根據斯托克斯公式即球形物料顆粒在粘性介質中的沉降速度與該顆粒半徑的平方成正比,通俗的講,大顆粒沉降快,小顆粒沉降慢。
TZC-2型自動記錄粒度測定儀由天平裝置、沉降部分、光電放大裝置及自動記錄4部分組成。首先要制備懸浮液,需加入分散劑并用超聲波充分分散。當天平開啟并調到平衡后,隨著懸浮液中的顆粒沉積于稱盤中,天平橫梁發(fā)生傾斜,固定在橫梁上的遮光片隨之產生偏移,當稱盤中沉降的顆粒增重至2mg時,遮光片的偏移使光電二極管受到光照,經光電放大器放大后,控制器發(fā)出電脈沖,驅動微型電機動作、一步帶動記錄器和加載裝置動作,使記錄筆向右劃出一格,加載鏈條下降一小節(jié),此小節(jié)鏈條的質量為2mg,即加到天平上掛沉降稱盤的另一邊,使天平橫梁恢復平衡狀態(tài),遮斷光路。當稱盤上顆粒再次沉積到2mg時,將上述過程再循環(huán)一次。實驗前已調試好記錄紙移動速度,隨著顆粒不斷沉積,記錄筆就在記錄紙上繪出一個階梯狀的曲線(沉降曲線),對此曲線進行分析和計算,便可得出粉料的顆粒大小分布情況。如果階梯狀曲線陡則說明粉料中的粗顆粒多,反之階梯狀曲線緩,則粉料中的細顆粒多。實驗前應把記錄筆移到記錄紙最左端,為減少曲線計算上的誤差,應根據顆粒沉降的速度選擇合適的走紙速度,粗顆粒多宜選用快的走紙速度,細顆粒多宜選用慢的走紙速度。另外,由于調試天平時,顆粒一直在沉降,天平處在動態(tài)中,故調試天平前用稱盤在沉降筒內上下多移動,使懸浮液均勻一致,調試天平平衡時間越短越好,以免粉料大顆粒未記錄到。
影響沉降天平法的主要因素有:溫度、顆粒的分散性和懸浮液的均勻性、試樣的稱量、沉降介質的選擇、記錄紙的走速、顆粒沉降中的外力影響以及懸浮液內的氣泡等。沉降天平法由于要等待懸浮液中顆粒沉積到天平稱盤上,故沉降天平法最大的缺點是進行一次分析所需要的時間較長。粒徑相同但密度不同的物料在同一沉降介質中的沉降速度不同,故沉降天平法不適用于測定密度不同的混合粉狀物料。沉降天平法能分析2~30μm的粉料顆粒,2μm粉料顆粒以下由于粉料沉降時間過長且顆粒再次凝聚作用,所以不適用于沉降法。沉降法缺點
激光粒度分析儀的工作原理是:利用粉料顆粒對光散射(衍射)現象即光在行進過程中遇到顆粒時,會有一部分光偏離原來的傳播方向,其偏離量與顆粒尺寸的大小有關。
Rise-2008型激光粒度儀采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測粉料顆粒和分散介質的折射光學性質,根據大小不同的顆粒在各個角度上的散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數據。
顆粒檢測的數據計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演2種。有約束擬合反演在計算前假設符合某種分布規(guī)律,再根據該規(guī)律反演出粒度分布,這種運算相對簡單,但由于事先的假設和實際情況存在偏差,故有約束擬合反演出的數據不能真實反映顆粒群的實際粒度分布。無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設,通過光強直接計算出顆粒群的粒度分布,這種計算是以合理的探測器設計和粒度分級為前提。Rise-2008型激光粒度儀采用最優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級,從而準確測量顆粒群的粒度分布。
Rise-2008型激光粒度儀選用He-Ne氣體激光光源,波長為0.632 8μm,其波長短,線寬窄,穩(wěn)定性好。光電探測系統(tǒng)靈敏度高,主檢測器一個,輔助檢測器多個,采用非均勻性交叉三維扇形距陣排列,保證了信號探測器的全面性。大功率超聲器與主機一體,可根據樣品分散難易程度設置超聲時間,良好的屏蔽處理使超聲分散與樣品測試可同時進行。
Rise-2008型激光粒度儀測量范圍寬(0.02~1 200 μm)、重復性好(<±3%)、速度快(數據測試在1min內完成)、操作簡單。激光粒度儀的測試結果與傳統(tǒng)篩分法不一致,不同激光粒度儀由于儀器光學結構的差異、數據分析軟件的不同及儀器工作狀態(tài)的漂移等,導致測試結果有所差異,這就需要通過行業(yè)標準來校準。
1 祝桂洪.陶瓷工藝學實驗.北京:中國建材出版社,1987
2 伍洪標.無機非金屬材料實驗.北京:化學工業(yè)出版社,2002