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      覆Ag層對用于LD封裝的In焊料性能的影響

      2012-05-31 06:15:36王永平程東明伏桂月盧小可張微微
      電子與封裝 2012年8期
      關(guān)鍵詞:管芯焊料圖譜

      王永平,程東明,伏桂月,張 勇,盧小可,張微微

      (鄭州大學(xué)物理工程學(xué)院,鄭州 450000)

      1 引言

      隨著技術(shù)的進(jìn)步,LD的轉(zhuǎn)換效率以及輸出功率也不斷提高,這就對器件的封裝技術(shù)提出了更高的要求,尤其對焊料的研發(fā)與選用提出了新的挑戰(zhàn)。由于LD管芯一般是P面朝下貼裝在熱沉上的,有源區(qū)距熱沉距離很小,所以在封裝過程中,焊料對管芯的性能有決定性的影響。

      用于LD封裝的焊料一般是In焊料和Au80Sn20焊料,In焊料為軟焊料,具有良好的塑性形變和濕潤特性,可以很好地濕潤大多數(shù)金屬,而且可以緩解芯片與熱沉膨脹系數(shù)的不匹配,被廣泛應(yīng)用于LD器件的封裝。但I(xiàn)n在燒結(jié)過程中易氧化,可在In焊料表面鍍一層Ag作為保護(hù)層,由圖1可知在In wt.97%時(shí)形成熔點(diǎn)為144℃的共晶合金AgIn2,Ag的加入有效地降低了焊點(diǎn)熔點(diǎn)溫度[6~9]。本文從Ag層厚度和降溫速率對內(nèi)部In焊料性能的影響做了系統(tǒng)的分析。

      圖1 Ag-In二元相圖

      2 樣品的制備

      為研究Ag層對In焊料性能的影響,我們分三次分別在Si基底上用真空蒸發(fā)的方法鍍覆有Ag層200nm、400nm、600nm的In焊料各三片。對三種樣品分別在峰值溫度為180℃的空氣環(huán)境下進(jìn)行模擬回流處理,所有樣品均在峰值溫度下保持1min,最后使樣品分別在冷風(fēng)加速冷卻、自然冷卻和5℃/min的速率下冷卻至室溫。對所有樣品進(jìn)行掃描電子顯微鏡表面形態(tài)觀察和XRD成分分析。

      3 結(jié)果與討論

      使用X’Pert PRO型X射線衍射分析儀對樣品進(jìn)行了成份分析,得到了三種樣品在不同冷卻速率下的XRD圖譜,如圖2~圖4。

      由圖2我們可以看出,在Ag層厚度為200nm時(shí),三種不同的冷卻速率下,樣品均出現(xiàn)了氧化物In2O3的峰值,說明了Ag層為200nm時(shí),焊料在空氣環(huán)境下加熱發(fā)生了氧化,此時(shí)的Ag層厚度還不足以防止焊料在空氣環(huán)境下回流時(shí)氧化現(xiàn)象的發(fā)生。

      在Ag層為400nm的樣品中,如圖3所示,冷風(fēng)加速降溫和自然降溫的情況下,XRD測試中只出現(xiàn)了In和AgIn2的峰值,說明Ag層為400nm時(shí),在上述兩種條件下內(nèi)部的In焊料已得到了很好的保護(hù)。但在5℃/min的速率冷卻的情況下,仍然看到了In2O3的峰值。

      圖4為Ag層厚度為600nm時(shí)的XRD圖譜,從圖中可以看到,樣品在三種不同冷卻速率下,均沒有出現(xiàn)In2O3,說明此時(shí)Ag層已完全達(dá)到在空氣環(huán)境下焊接而不氧化的效果,但此時(shí)的金屬間化合物AgIn2的厚度也是最厚的。

      圖2 200nm Ag層樣品XRD圖譜

      圖3 400nm Ag層樣品XRD圖譜

      圖4 600nm Ag層樣品XRD圖譜

      為進(jìn)一步研究樣品的特性,使用JSM-6700F型掃描電子顯微鏡(SEM)對樣品進(jìn)行了表面形貌的觀察。圖5~圖7為樣品的SEM圖片,從圖中可以看出覆蓋有Ag的焊料顆粒間隙均很小,從而減少了LD管芯焊接過程中焊料空洞的產(chǎn)生。通過仔細(xì)觀察可以發(fā)現(xiàn),隨著降溫速率的減小,焊料表面的顆粒逐漸變大。在冷風(fēng)加速冷卻時(shí)所產(chǎn)生的焊料表面顆粒是最細(xì)密的,因?yàn)槔鋮s速率增大,形核率增加,但長大速度變小,這與金相理論相吻合,所以可以得到致密性較好的表面,從而改善了焊料的濕潤特性[1,10]。

      冷卻速率過慢,Ag和In有充分的時(shí)間相互擴(kuò)散、形核并生長成較大的晶粒。并且冷卻速率過慢,可使焊料底部In焊料通過液體間的擴(kuò)散而擴(kuò)散到Ag層上面,與氧氣接觸而氧化,這也是圖3氧化物峰值出現(xiàn)的主要因素。

      圖5 200nm Ag層樣品SEM圖片

      4 總結(jié)

      圖6 400nm Ag層樣品SEM圖片

      本文通過對覆蓋不同厚度Ag層的In焊料的研究,得到了覆Ag層In焊料性能的影響。通過以上討論可知:Ag層過薄,對內(nèi)部In焊料的保護(hù)作用不明顯;而Ag層過厚,在焊接界面形成的金屬間化合物(IMC)過多,IMC層過厚會增加焊接表面的脆性,從而影響焊接的可靠性,導(dǎo)致器件的使用壽命降低[11,12]。焊料在使用的過程中,冷卻速率也是影響焊接質(zhì)量的關(guān)鍵因素,由SEM圖片可以看出,較快的冷卻速率有利于形成致密且均勻的焊料顆粒,對提高焊點(diǎn)性能有很大幫助。綜合以上因素并從生產(chǎn)工藝方面考慮,厚度為400nm的Ag層可作為提高In焊料性能的最優(yōu)選擇。

      圖7 600nm Ag層樣品SEM圖片

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