郭 錚,劉文怡,馮 妮
(中北大學(xué)a.儀器科學(xué)與動(dòng)態(tài)測(cè)試教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;b.電子測(cè)試技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,山西 太原 030051)
在航空航天領(lǐng)域,遙測(cè)存儲(chǔ)系統(tǒng)在飛行試驗(yàn)中起著極其重要的作用,而其各個(gè)子系統(tǒng)在記錄飛行器飛行過程中各參數(shù)狀態(tài)方面也扮演著重要角色。目前飛行器試驗(yàn)測(cè)試的完成大多是利用無線電遙測(cè),但在某些特定的環(huán)境下會(huì)影響電波的發(fā)射使信號(hào)受到屏蔽,在這些情況下就需要采取某些輔助措施,而數(shù)據(jù)記錄器恰好彌補(bǔ)了上述缺點(diǎn)[1]。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器作為測(cè)試存儲(chǔ)系統(tǒng)的核心部件具有體積功耗小、抗沖擊能力強(qiáng)、測(cè)量精度高、抗干擾能力強(qiáng)等特點(diǎn),特別適用于飛行器上記錄各狀態(tài)的動(dòng)態(tài)參數(shù),它能夠完整地記錄飛行器從起飛或發(fā)射到落地間的完整數(shù)據(jù),待試驗(yàn)結(jié)束通過回收數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,將數(shù)據(jù)讀出,此測(cè)試方法記錄完整,具有較高的可靠性[2]。
當(dāng)今半導(dǎo)體技術(shù)迅速發(fā)展,使大容量高速存儲(chǔ)技術(shù)得到長(zhǎng)足進(jìn)步,加之可編程邏輯器件的高度集成化以及較強(qiáng)的時(shí)序控制能力,使采集存儲(chǔ)高速數(shù)據(jù)成為可能[3]。本文依靠現(xiàn)有技術(shù),設(shè)計(jì)一種高速、大容量、高可靠性的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,該系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)是具有良好的邏輯控制能力。
設(shè)計(jì)以FPGA作為主控單元,主要完成對(duì)1路PCM碼流及2路音頻信號(hào)、2路圖像信號(hào)進(jìn)行采集和存儲(chǔ)。數(shù)據(jù)分別采用RS-422接口及異步串行接口傳輸,數(shù)據(jù)流消失,存儲(chǔ)器停止記錄,其工作狀態(tài)是以數(shù)據(jù)形式記錄。采集的數(shù)據(jù)分別存儲(chǔ)于2片容量為1 Gbyte的K9K8G08U0A的固態(tài)Flash中。在設(shè)計(jì)中,以數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器為主體,配合地面測(cè)試臺(tái),以及上位機(jī)軟件完成閉環(huán)自檢試驗(yàn)。通過上位機(jī)發(fā)送不同的指令,分別完成實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、遠(yuǎn)程讀數(shù)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析??傮w框架如圖1所示。
圖1 系統(tǒng)總體框圖
其中,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)命令采用開關(guān)方式的硬啟動(dòng)信號(hào),在硬啟動(dòng)開關(guān)斷開的情況下,采用在線軟控制模式,通過測(cè)試臺(tái)發(fā)送存儲(chǔ)模塊的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)以及遠(yuǎn)程讀數(shù)的軟啟動(dòng)命令。軟啟動(dòng)命令由上位機(jī)軟件控制,硬啟動(dòng)由地面測(cè)試臺(tái)開關(guān)控制,且硬啟動(dòng)信號(hào)具有最高優(yōu)先級(jí),當(dāng)硬啟動(dòng)命令發(fā)出時(shí),存儲(chǔ)器停止一切當(dāng)前工作,轉(zhuǎn)入執(zhí)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)工作模式。
PCM碼即脈沖編碼調(diào)制是遙測(cè)系統(tǒng)將從傳感器接收到的模擬信號(hào)經(jīng)過編碼、量化、抽樣這3種方法轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的過程。本設(shè)計(jì)收到系統(tǒng)發(fā)送的數(shù)據(jù)流是由碼同步信號(hào)和PCM碼組成,PCM碼是每字節(jié)8位的串行數(shù)據(jù)。其具體的幀格式如圖2所示。
圖2 PCM幀格式圖
PCM碼調(diào)節(jié)電路的工作原理是:PCM碼數(shù)據(jù)首先經(jīng)過RS-422接口芯片DS26C32接收,接口匹配電阻選用100 Ω,進(jìn)行電平轉(zhuǎn)換。將RS-422電平轉(zhuǎn)換為CMOS電平,經(jīng)過電平轉(zhuǎn)換后的PCM碼再經(jīng)過軟件高頻消抖[4]。最后,PCM數(shù)據(jù)在碼同步信號(hào)的作用下,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器采用下降沿接收數(shù)據(jù),將串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為8位一組的并行數(shù)據(jù)進(jìn)入FPGA,再在主控FPGA的控制下,與接收的其余4路模擬信號(hào)混合編幀,分別寫入FIFO中。由于采集的數(shù)據(jù)碼率比較大,而存儲(chǔ)器選用的FPGA芯片XC2S100內(nèi)部FIFO無法滿足其容量要求,故選取32 kbyte×9的外部FIFO,IDT7207作為數(shù)據(jù)緩存區(qū)。FPGA再根據(jù)非空即讀的原理,將寫入FIFO中的數(shù)據(jù)讀出,分別寫入2片F(xiàn)lash芯片中。
采編單元主要完成對(duì)2路音頻信號(hào)、2路圖像信號(hào)的采集編幀。4路模擬量在進(jìn)入FPGA前,首先要進(jìn)行信號(hào)調(diào)理,調(diào)理芯片采用AD824,該芯片的特點(diǎn)是響應(yīng)快、帶寬高,信號(hào)輸入端需接入高阻值電阻,防止電流過大損壞運(yùn)放[5]。經(jīng)過調(diào)理的信號(hào)穩(wěn)定后,啟動(dòng)A/D轉(zhuǎn)換。A/D轉(zhuǎn)換芯片是模擬量采編單元的核心部件,需要具有低功耗、高精度、工作溫度范圍廣等特點(diǎn)。本設(shè)計(jì)根據(jù)實(shí)際任務(wù)采樣頻率的要求,采用AD8401芯片,采集電路如圖3所示。其中,在硬件設(shè)計(jì)時(shí)芯片供電引腳加入了濾波電容,模擬量輸入信號(hào)加入了高頻去耦電容。
圖3 模擬量采集電路設(shè)計(jì)
目前,非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)有 RAM,EEPROM,F(xiàn)lash等。針對(duì)本設(shè)計(jì)的任務(wù)要求,選用三星公司的K9K8G08U0A芯片,并采用雙Flash并行存儲(chǔ)電路,即2塊Flash芯片在主控FPGA的作用下,并行處理數(shù)據(jù),分別寫入Flash芯片中。這樣可以保住存儲(chǔ)數(shù)據(jù)完整地記錄下來,具有雙保險(xiǎn)的意義。K9K8G08U0A芯片共有8448 Mbit,按塊劃分為8192 block,1塊有64頁(yè),1頁(yè)有(2 k+64)byte。典型的頁(yè)編程時(shí)間為200 μs,典型塊擦除時(shí)間為1.5 ms[6]。本設(shè)計(jì)Flash的讀寫操作按頁(yè)進(jìn)行,擦除操作按塊進(jìn)行。當(dāng)Flash中數(shù)據(jù)存滿后,會(huì)采取自斷電保護(hù),F(xiàn)PGA通過給CMOS器件IDF7404高低電平控制Flash的通斷電,這樣會(huì)保證記錄的有效數(shù)據(jù)不會(huì)因誤操作而使原有數(shù)據(jù)被覆蓋。
另外,F(xiàn)lash的保護(hù)也是設(shè)計(jì)重點(diǎn),本設(shè)計(jì)Flash采用單獨(dú)電路板,其間用高溫導(dǎo)線與數(shù)據(jù)采集板相連,這樣做可以單獨(dú)保護(hù)Flash電路。它的防護(hù)采用雙層嵌套保護(hù)。首先將Flash板放于桶A中,桶內(nèi)灌封聚氨酯保護(hù),僅留出備用讀數(shù)口(僅在回收讀取數(shù)據(jù)使用),再將桶A置于桶B中,其間采用毛氈防護(hù),這樣可以使Flash板有較高的抗沖擊抗過載能力,待試驗(yàn)結(jié)束,通過硬回收存儲(chǔ)器,從備用讀數(shù)口將采集的數(shù)據(jù)讀出。Flash硬件電路設(shè)計(jì)如圖4所示。
圖4 Flash硬件電路設(shè)計(jì)
在以往的設(shè)計(jì)中,大多采用模數(shù)獨(dú)立編幀,分別存儲(chǔ)于不同的Flash中,此種設(shè)計(jì)雖然方便簡(jiǎn)單,但切換Flash存儲(chǔ),串?dāng)_、丟數(shù)、誤碼情況嚴(yán)重。所以,在本設(shè)計(jì)中采用模數(shù)混合編幀的方法,即分別在模擬量、數(shù)字量數(shù)據(jù)中添加不同的幀頭、幀尾及幀計(jì)數(shù)。數(shù)字量幀頭幀尾分別為0xEB,0x90,模擬量幀頭幀尾分別為0x14,0x6F。取251個(gè)字節(jié),加入各自幀頭幀尾及3個(gè)字節(jié)的幀計(jì)數(shù),然后數(shù)據(jù)分別寫入緩沖FIFO內(nèi)。FPGA根據(jù)非空即讀的原則,讀取FIFO中數(shù)據(jù),進(jìn)行存儲(chǔ)。由于設(shè)計(jì)中采用的是大容量FIFO,所以,不會(huì)出現(xiàn)丟數(shù)的情況。待數(shù)據(jù)存儲(chǔ)完畢后,上位機(jī)根據(jù)不同的幀頭、幀尾,將數(shù)據(jù)解包,分別處理、分析。幀結(jié)構(gòu)如圖5所示。
圖5 幀結(jié)構(gòu)分析
系統(tǒng)閉環(huán)自檢,就是模擬實(shí)時(shí)的工作環(huán)境,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器配合地面測(cè)試臺(tái)和計(jì)算機(jī)對(duì)其完成系統(tǒng)的功能測(cè)試。地面測(cè)試臺(tái)接收上位機(jī)命令模擬信號(hào)源發(fā)送數(shù)據(jù)給存儲(chǔ)器,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器再響應(yīng)上位機(jī)命令,對(duì)測(cè)試臺(tái)發(fā)送的數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼、編幀,再將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到雙Flash中,同時(shí)通過實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)SRAM將存儲(chǔ)數(shù)據(jù)片段在計(jì)算機(jī)上顯示。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)完畢,再通過遠(yuǎn)程讀數(shù)將存儲(chǔ)數(shù)據(jù)讀出分析。這樣的一系列操作就完成了對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器的閉環(huán)自檢。圖6是根據(jù)試驗(yàn)的要求,由上位機(jī)發(fā)送命令,地面測(cè)試臺(tái)發(fā)送自檢數(shù)據(jù),在計(jì)算機(jī)終端顯示的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)結(jié)果。
圖6 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)畫面(截圖)
本設(shè)計(jì)采用2片F(xiàn)lash存儲(chǔ)芯片,對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行備份存儲(chǔ)。相比于單機(jī)存儲(chǔ),可靠性更高,并結(jié)合相關(guān)的存儲(chǔ)器防護(hù)設(shè)計(jì),保證存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)在硬回收過程中被完整保護(hù)。本設(shè)計(jì)已在相關(guān)項(xiàng)目中得到應(yīng)用,工作性能良好,具有一定的參考價(jià)值。
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