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      三次、四次反射波在薄板對(duì)接焊縫超聲檢測(cè)中的應(yīng)用

      2012-10-19 00:47:34劉衛(wèi)中李慶云陳慧民
      水利建設(shè)與管理 2012年11期
      關(guān)鍵詞:薄板超聲波焊縫

      劉衛(wèi)中 李慶云 陳慧民

      (惠州市水利水電工程質(zhì)量檢測(cè)站 516001)

      薄板焊縫探傷時(shí)由于超聲波近場(chǎng)區(qū)、儀器與探頭組合性能、焊縫寬度、探頭前沿和示波屏觀測(cè)范圍太小等原因,無(wú)法使底波和缺陷波分開(kāi),無(wú)法精確地檢測(cè)出4~8mm薄板焊縫中的缺陷。本文介紹一種采用三次、四次超聲反射波,選用大K值、高頻率、合適晶片尺寸、短前沿的探頭,用聲程2∶1的掃描比例來(lái)進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的探傷方法。

      1 檢測(cè)原理

      目前薄板焊縫探傷時(shí)不采用超聲檢測(cè)的主要原因有兩個(gè):?超聲波探頭的一次反射波在薄板下棱角反射時(shí),由于探頭有一定的前沿,使探頭出到棱邊,檢測(cè)存在盲區(qū),且主聲速處于近場(chǎng)區(qū)內(nèi);?當(dāng)二次底波在上棱角反射時(shí),焊縫自身有一定寬度,探頭移動(dòng)時(shí),掃查不到整個(gè)焊縫,且示波屏有效觀測(cè)范圍太小,反射信號(hào)雜亂,無(wú)法準(zhǔn)確精確檢測(cè)缺陷位置和大小(見(jiàn)圖1)。

      圖1 超聲波反射信號(hào)示意圖

      當(dāng)探頭移到三次底波的位置時(shí),有效焊縫檢測(cè)區(qū)域和聲程也增大,這樣就可以有效規(guī)避近場(chǎng)區(qū)、焊縫寬度、探頭前沿較長(zhǎng)等不利因素帶來(lái)的影響,相應(yīng)的示波屏上有效觀測(cè)范圍也增大,此時(shí)用三次反射波可以進(jìn)行探傷。但存在由于底波和缺陷波相連或缺陷方向?qū)z測(cè)不利而導(dǎo)致缺陷漏檢的可能性,且焊縫檢測(cè)存在掃查不到的死角,而四次反射波掃查作為補(bǔ)充可有效克服上述問(wèn)題。

      綜上所述,調(diào)節(jié)掃描時(shí)用大比例聲程調(diào)節(jié)法(如聲程2∶1)將一次和二次波移出示波屏,即二次波對(duì)準(zhǔn)“零”位,這樣就可以直接用三次和四次反射波進(jìn)行檢測(cè)(見(jiàn)圖2),從而可以較為準(zhǔn)確地檢測(cè)到焊縫缺陷。

      圖2 大比例聲程調(diào)節(jié)法示意圖

      2 檢測(cè)分析

      2.1 K值選擇

      薄板焊縫一般采用單面焊雙面成形焊接工藝,檢測(cè)中較為普遍采用K3探頭,由于此時(shí)的入射角為53.3°、折射角為71.56°,采用一次、二次反射波檢測(cè)時(shí)本身檢測(cè)設(shè)備示波屏上顯示的始脈沖就較寬,加上底面反射波、端角反射波和根部未焊透等缺陷的反射波集中在示波屏很小的觀測(cè)區(qū)內(nèi),給缺陷的估判帶來(lái)很大困難,影響探傷的準(zhǔn)確性。

      下面以5mm的薄板檢測(cè)為例(見(jiàn)圖3)具體闡述利用三次、四次反射波在實(shí)踐檢測(cè)中的優(yōu)點(diǎn)。

      圖3 薄板檢測(cè)示意圖

      在三角形 OBA中 OB=T=5mm,∠AOB=β=71.56°,斜邊(即聲程)OA=OB/cosβ =5/cos71.56°=15.6mm,BA=sinβ,OA=sin71.56°×15.6=14.7mm。

      采用一次、二次反射波檢測(cè)時(shí),由于始脈沖和探傷頭噪聲和儀器組合性能的影響,探傷準(zhǔn)確性降低;采用三次、四次波用聲程2∶1檢測(cè)時(shí),OA達(dá)到31.2mm,這樣就可以增大示波屏的有效觀測(cè)范圍,從根本上避免了其不利影響。

      2.2 探頭的選用對(duì)近場(chǎng)區(qū)和半擴(kuò)散角的影響

      a.選用5P13×13K3探頭時(shí),由近場(chǎng)區(qū)公式N=[ab/(πλs2)](cosβ/sina)計(jì)算得出進(jìn)場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度 N=43.3mm,四次波聲程O(píng)A=15.6×4=62.4mm<3N=129mm(規(guī)程規(guī)定OA≥3N),不擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度1.64N=71mm。

      此時(shí)四次波在不擴(kuò)散區(qū)內(nèi),可不考慮半擴(kuò)散角對(duì)檢測(cè)的影響。三次波處于進(jìn)場(chǎng)區(qū)內(nèi),且四次波聲程遠(yuǎn)小于3N,對(duì)缺陷檢測(cè)不利,不宜采用。

      b.選用5P6×6K3探頭時(shí),由近場(chǎng)區(qū)公式 N=[ab/(πλs2)](cosβ/sina)計(jì)算得出進(jìn)場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度 N=9.2mm,四次波聲程O(píng)A=15.6×4=62.4mm>3N=27.6mm,不擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度=1.64N=15.2mm。

      此時(shí)四次波聲程遠(yuǎn)大于不擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度,須考慮半擴(kuò)散角對(duì)檢測(cè)的影響。經(jīng)計(jì)算檢測(cè)聲程雖大于3N,但聲速指向性較差,且β2∝90°形成表面波,對(duì)缺陷檢測(cè)不利,不宜采用。

      c.選用5P9×9K3探頭時(shí),由近場(chǎng)區(qū)公式 N=[ab/(πλs2)](cosβ/sina)計(jì)算得出進(jìn)場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度 N=20.76mm,四次波聲程O(píng)A=15.6×4=62.4mm>3N=62.3mm,不擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度=1.64N=34mm。

      此時(shí)三次、四次波在不擴(kuò)散區(qū)外,須考慮半擴(kuò)散角對(duì)檢測(cè)的影響。

      橫波聲場(chǎng)上下半擴(kuò)散角不對(duì)稱(chēng),由半擴(kuò)散角公式計(jì)算可知:

      計(jì)算5P9×9K3半擴(kuò)散角:

      (以上公式中θ上為橫波的上半擴(kuò)散角;θ下為橫波的下半擴(kuò)散角;a為入射角;λ為波長(zhǎng);β為折射角;C為波速;f為頻率;CL為縱波波速;Cs為橫波波速。)

      半擴(kuò)散角對(duì)超聲波探傷的影響(見(jiàn)圖4)。由公式AB=20/cos63.3°=44.5,X1=tan8.26°× 44.5=6.5mm,BC=20/cos71.56°=63.2,X2=tan15°×63.2=16.9mm,得 X=X1+X2=23.4mm。

      圖4 半擴(kuò)散角對(duì)超聲波探傷的影響示意圖

      由以上計(jì)算和圖4可知半擴(kuò)散角在四次波時(shí),最大寬度為23.4mm,探頭移動(dòng)時(shí)示波屏上出現(xiàn)一個(gè)游動(dòng)波,游動(dòng)區(qū)域?yàn)槠吒?,因?yàn)楹缚p寬度10mm<23.4mm,有兩道底面焊角反射波。超聲橫波在底面反射時(shí),一次波因?yàn)槿肷浣切∮诘诙R界角,不會(huì)產(chǎn)生表面波。而在二次、三次、四次波時(shí),入射角大于第二臨界角,這時(shí)產(chǎn)生表面波。探傷時(shí)示波屏上底波前出現(xiàn)一道波。在三次波時(shí)影響不大,四次波時(shí)影響十分明顯。這時(shí)調(diào)節(jié)一下抑制旋鈕可有效減少表面波的影響(見(jiàn)表1)。

      表1 一次、二次波和三次、四波檢測(cè)定位偏差對(duì)比分析

      由對(duì)比試驗(yàn)可以看出,四次波定位偏差最大1mm。薄板探傷中過(guò)分要求精確定位是毫無(wú)意義的,實(shí)際探傷時(shí)這個(gè)數(shù)值對(duì)薄板探傷定位的影響很小。

      2.3 衰減

      選用三次、四次波探傷,橫波在底面發(fā)生反射,產(chǎn)生衰減。此時(shí)底面反射為大平底面反射,由公式a=(20lgBm/Bn- δ)/2(m-n),X=0.0875,B1=80%,B5=27%,衰減系數(shù)實(shí)測(cè)得(選用5P20D直探頭,儀器HS—400)

      (以上式中:B1為第一次底波的高度;B5為第五次底波的高度;D為探頭直徑;Bm、Bn分別為第m、n次底波的高度;PB1、PB2、PB1、PB4分別為第一、二、三、四底波的聲壓;λ為波長(zhǎng)。δ為系數(shù);X為薄板的厚度。)

      計(jì)算可知超聲波探傷選用三次、四次波探傷時(shí),應(yīng)充分考慮聲波的衰減,具體衰減值參見(jiàn)上述計(jì)算數(shù)值。實(shí)際檢測(cè)中,充分考慮衰減可以提高缺陷檢出率。

      2.4 定位偏差

      由于半擴(kuò)散角的影響,用三次、四次波探傷定位時(shí)有一個(gè)定位偏差,但在實(shí)際中影響并不大(見(jiàn)表1)。

      3 掃描調(diào)節(jié)

      探5mm的焊縫時(shí),選用5P9×9K3的探頭。調(diào)節(jié)掃描時(shí)將探頭置于試塊上(見(jiàn)圖5),將一次波和二次波分別調(diào)到31.2mm和62.4mm,然后調(diào)節(jié)脈沖移位旋鈕將波向左平移,將二次波對(duì)準(zhǔn)零位(見(jiàn)圖2),此時(shí)三次波和四次波分別對(duì)準(zhǔn)31.2mm和62.4mm,這時(shí)聲程為2∶1,掃描調(diào)節(jié)完畢。

      4 靈敏度

      將探頭放在加工好的試塊上,根據(jù)DL/T 820—2002規(guī)定做距離—波幅曲線(xiàn)圖,此時(shí)檢測(cè)靈敏度不低于DAC-10dB。

      圖5 掃描調(diào)節(jié)示意圖

      5 缺陷定位

      平板對(duì)接焊縫定位采用聲程2∶1掃描調(diào)節(jié)。

      三次波定位:Lf=ns+Cfsinβ/n,d1=Lfcosβ-2T。

      四次波定位:Lf2=ns+Cfsinβ/n,d12=Lfcosβ -3T。

      (以上式中n為比例數(shù);s為一次波聲程;T為板厚;Lf、Lf2均為水平距離。)

      6 實(shí)例分析

      廣州歌劇院工程主梁采用鋼方通桁架結(jié)構(gòu)型式,為了獲取構(gòu)件在最不利荷載條件下的受力情況和構(gòu)件破壞時(shí)的各項(xiàng)參數(shù),須進(jìn)行整品桁架的受力破壞性實(shí)驗(yàn)。現(xiàn)場(chǎng)采用7∶1的比例制作了縮小模型。此工程對(duì)焊縫要求較高,施工難度大,縮小后的方通壁厚5mm,傳統(tǒng)檢測(cè)方法無(wú)法滿(mǎn)足要求。

      6.1 采用三次、四次超聲波反射檢測(cè)

      本次超聲波檢測(cè)采用的檢測(cè)儀器型號(hào)為CTS—26,探頭采用5P9×9K3,前沿為13mm,表面補(bǔ)償為2dB,檢測(cè)結(jié)果見(jiàn)表2。

      表2 超聲波檢測(cè)結(jié)果一覽表

      6.2 采用射線(xiàn)方法檢測(cè)

      射線(xiàn)檢測(cè)采用的檢測(cè)儀器型號(hào)為XQ—1505,單壁單影,300×80膠片,焦距為600mm,曝光時(shí)間為30s,檢測(cè)結(jié)果見(jiàn)表3。

      表3 射線(xiàn)檢測(cè)結(jié)果一覽表

      6.3 現(xiàn)場(chǎng)剖開(kāi)檢驗(yàn)

      a.S17和S29剖開(kāi)檢驗(yàn)與檢測(cè)結(jié)果一致。

      b.S35剖開(kāi)檢驗(yàn),其缺陷長(zhǎng)度短1mm。

      c.S102剖開(kāi)檢驗(yàn),其條渣長(zhǎng)度相同,缺陷深度為2.4mm,相差0.3mm。

      通過(guò)射線(xiàn)方法復(fù)核檢測(cè)和現(xiàn)場(chǎng)剖開(kāi)檢驗(yàn)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn),充分說(shuō)明采用三次、四次超聲波反射檢測(cè)薄板焊縫是切實(shí)可行的。

      7 結(jié)語(yǔ)

      實(shí)踐證明:采用三次、四次超聲波反射檢測(cè)薄板焊縫探傷的方法是比較適用和切實(shí)可行的。在實(shí)際工作中,由于探頭聲速較寬,引起較多雜波,示波屏有一定盲區(qū),所以在選用三次、四次波進(jìn)行探傷檢測(cè)時(shí),應(yīng)選用大K值、合適晶片、短前沿、高頻率探頭,才能有效規(guī)避各種不利因素,保證缺陷有效檢出?!?/p>

      1 金燕,朱方鳴.薄板焊縫超聲波探傷探頭的選擇[J].化學(xué)工業(yè)與工程技術(shù),2004(2).

      2 袁建國(guó).薄板對(duì)接焊縫超聲波探傷的可靠性探討[J].無(wú)損檢測(cè),1995(2).

      3 張文學(xué).天然氣小管徑對(duì)接焊縫超聲波探傷[J].無(wú)損探傷,1995(2).

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