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      抗干擾電流采樣電路的設(shè)計

      2012-11-14 11:06:04劉國權(quán)張秋建秦曉紅
      電子測試 2012年12期
      關(guān)鍵詞:消法電感擾動

      屈 凡, 劉國權(quán), 張秋建, 秦 力, 秦曉紅, 孫 玲

      (中國石油集團測井有限公司技術(shù)中心, 陜西省 西安市 710077)

      0 引言

      DC-DC轉(zhuǎn)換器具有高效率的突出優(yōu)點[1-2],已經(jīng)成為目前電源管理的主流方案,在通信、計算機、便攜式電子設(shè)備等諸多領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用和迅速發(fā)展。電流采樣不僅應(yīng)用于電壓模DC-DC轉(zhuǎn)換器[3]的過流保護電路中,更廣泛地應(yīng)用于電流模DC-DC轉(zhuǎn)換器[4]的電流控制環(huán)路中。然而電流采樣電路[5]在存在較強干擾(例如電源電壓干擾和開關(guān)管開關(guān)動作所造成的干擾)時,采樣信號與電感電流的真實值偏差較大,甚至出現(xiàn)錯誤,致使整個電路的控制邏輯發(fā)生混亂。

      目前針對采樣干擾問題的研究還比較少,文獻[6]提出了通過采樣保持電路在開關(guān)管動作瞬間保持前面的狀態(tài),屏蔽掉采樣信號的方法,來消除導(dǎo)通瞬間的毛刺影響。這種方法電路簡單,容易實現(xiàn),應(yīng)用很普遍,但僅適用于低頻慢速采樣場合,如果芯片高頻工作時需要在很短時間采樣時,這種方法將會失效。

      除了上述方法外,針對采樣干擾問題,文獻[7]提出了一種Sensorless方法,這個方法構(gòu)造了一個可控的系統(tǒng)模型,并利用模型自身的狀態(tài)信息加以控制。其思想是對電感兩端的電壓進行積分,在芯片內(nèi)部“重構(gòu)”出虛擬的電感電流信號。該文獻中給出了buck、buck-boost、boost轉(zhuǎn)換器的Sensorless控制環(huán)路法則。它們分別如公式(1)、(2)、(3)所示。

      這種積分式采樣與傳統(tǒng)的線性采樣不同,是將采樣信號進行積分處理,這樣可以濾除各種干擾,抗干擾能力比較強,但是積分后的信息與真實采樣信號的關(guān)系發(fā)生變化,不再是簡單的線性關(guān)系,因此基于線性采樣的環(huán)路控制理論和穩(wěn)定性理論都不再適用,必須研究基于積分式采樣的環(huán)路控制理論和方法,然后結(jié)合新方法進行穩(wěn)定性補償、電路設(shè)計和實現(xiàn)、實驗驗證等。此外,由上述公式可以看出,不同模式下的DC-DC轉(zhuǎn)換器的Sensorless控制法則不同,電路結(jié)構(gòu)也會不同,因此增加了復(fù)雜性。

      目前針對采樣干擾問題的研究還比較少,Sensorless方法具有較好的抑制噪聲的能力,但由于沒有進行真實采樣,沒法進行實時的過流保護,電路實現(xiàn)過分復(fù)雜。

      1 對消法原理

      圖1所示為對消法[8]采樣原理示意圖。在傳統(tǒng)方法基礎(chǔ)上,增加一組沒有輸出的較小輔助開關(guān)管MPX和MNX,并保證輔助開關(guān)管與工作開關(guān)管MP、MN匹配良好(圖中虛線框表示匹配器件),然后對輔助開關(guān)管進行相同的采樣。

      圖1 對消法采樣原理圖

      圖1 中,MP,MN是主開關(guān)管,MP,MN的漏端接到電感,OP是主采樣電路,Is是開關(guān)管MP的采樣電流;MPX,MNX是輔助開關(guān)管,MP,MN的漏端不接輸出,OPX是輔助采樣電路,Isx是輔助采樣的電流值。R,RX分別是主,輔采樣電路的采樣電阻,當(dāng)采樣電流流過它們時,形成采樣電壓Vs,Vsx。由于輔助開關(guān)沒有連接輸出,因此輔助采樣得到采樣電流Isx僅是各種干擾信號,又因為與主采樣電路的環(huán)境相同,所以采集到的干擾信號Isx與主 采樣信號Is中的干擾信號具有形同的 “形狀”,因此將它通過合適的加權(quán)與主采樣信號疊加,就可以從正常采樣信號中抵消掉干擾分量而得到“干凈”的電感電流采樣信號Isc,具體過程如圖2所示。

      圖2 對消法采樣過程

      圖3 所示電路是實際的抗干擾電流采樣電路。

      圖3 抗干擾采樣電路

      為了直接得到對消后的電流采樣信號,把主、輔采樣電路輸出端用電阻R3連接起來,R1、R2分別是主、輔采樣電路的采樣電阻。則流過R3的電流就是對消掉干擾的采樣電流Isc。取R1=R2=R3=R。設(shè)原采樣電路的采樣比例為N,即IM/IS=N,其中IM流過主PMOS開關(guān)管Mp的電流,IS是主采樣電路的輸出值。加入電阻R3后,采樣電流Isc與開關(guān)管電流IM的比例發(fā)生了變化。Isx是輔采樣電路的輸出值,IMX是流過輔PMOS開關(guān)管Mpx的電流。其中,IM≈IL。Is,Isx分別可以表示為:

      主、輔采樣電路的輸出端的電壓Vs、Vsx分別為:

      Isc可以表示為:

      由式(4)~(8)可以導(dǎo)出Isc與IM、IMX的關(guān)系:

      Isc很好地反映了沒有干擾的電感電流,并且提高了采樣比例。這個對消法電流采樣電路可以很好的屏蔽掉開關(guān)管寄生電容對采樣電流的影響,消除電源電壓干擾的影響。

      2 仿真結(jié)果

      仿真條件:采用3.6V的電源電壓。采樣比例為N=30000,仿真圖中ILscaled為電感電流縮小N倍的值。開關(guān)管的控制信號是周期為300ns的方波。

      (1)未加電源擾動的仿真結(jié)果

      圖4顯示的是未加電源擾動時對電感電流采樣的仿真結(jié)果,Is是未進行干擾對消的采樣電流,Isc是對消掉干擾的采樣電流。可以很明顯的看出,對消掉干擾的采樣電流完全濾除了開關(guān)管轉(zhuǎn)換瞬間的電流尖峰,并且消除了固定的采樣電流偏差,能很好的反映電感電流在上升階段的變化,采樣精度也比較高。

      圖4 未加電源擾動時對電感電流采樣的仿真結(jié)果

      (2)加入電源擾動的仿真結(jié)果

      給電源加入了一個擾動,讓其由3.6V跳變到4V再跳變回3.6V。

      圖5顯示的是加入電源擾動后的電流采樣仿真結(jié)果。Is是未進行干擾對消的采樣電流,Isc是對消了干擾的采樣電流。圖中,由于電源擾動的影響,Is在上升過程中有一跳變,Isc將這個跳變消除了大約90%,使其對采樣電流的影響降低了許多,并且濾除了電流偏差。可以看出,干擾對消電路具有很好的濾除干擾的能力。

      3 總結(jié)

      圖5 加入電源擾動后的電流采樣仿真結(jié)果

      本文針對集成電流模DC-DC轉(zhuǎn)換器的高速電流采樣抗干擾性差的問題,提出了一種解決方案,利用輔助采樣、干擾對消的方法,來消除電源擾動和開關(guān)管寄生效應(yīng)對采樣電流的影響。從仿真結(jié)果來看,基于對消法的抗干擾電流采樣電路能夠很好的消除開關(guān)管寄生效應(yīng)的影響,能夠大部分消除電源電壓擾動對采樣電流的影響,在DC-DC高速電流采樣中起到了很好的抗干擾的作用,具有十分重要的意義。

      [1]趙負圖.電源集成電路手冊[M].北京:化學(xué)工業(yè)出版社,2003.

      [2]張占松,蔡宣三.開關(guān)電源的原理與設(shè)計(修訂版)[M].北京:電子工業(yè)出版社,2000.

      [3]J. N. Ross.The Essence of Power Electronics[M].London, U.K.:Prentice Hall,1997.

      [4]R. W. Erickson,D. Maksimovic.Fundamentals of Power Electronics[M].Norwell, MA:Kluwer, 2001.

      [5]Hassan,P.F,Gabriel A.R.Current-Sensing Techniques for DC-DC Converters[C].the 45th Midwest Symposium on Circuits& Systems,IEEE Transactions on August 2002:577-580.

      [6]Chen J.-J.,Yang,F(xiàn).-C.Chen C.-C.A NewMonolithlic Fast-Response Buck Converter Using Spike-Reduction Current-Sensing Circuits[J].Industrial Electronics,IEEE Transactions on. March 2008,55(3):1101-1111.

      [7]Midya,P.,Krein,P.T.,Greuel,M.F.Sensorless current mode control-an observer-based technique for DC-DC converters. Power Electronics[J].IEEE Transaction on,Jul 2001,16(4):522-526.

      [8]Ph. Givelin, M. Bafleur,E. Tournier,Th.Laopoulos,S. Siskos.Application of a CMOS current mode approach to on-chip current sensing in smart power circuits[J].In Proc. Inst. Electr. Eng.: Circuits, Devices Systems,1995,142:357-363.

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