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      釔鈮復(fù)合摻雜鈦酸鍶鋇陶瓷的介電和鐵電性能研究

      2012-11-21 07:36:30陳威徐玲芳曹萬強
      湖北大學學報(自然科學版) 2012年2期
      關(guān)鍵詞:鐵電性陶瓷材料色散

      陳威,徐玲芳,曹萬強

      (1.湖北大學材料科學與工程學院,湖北 武漢 430062;2.湖北大學物理學與電子技術(shù)學院,湖北 武漢 430062)

      多層片式陶瓷電容器 (MLCC)是電子線路表面安裝方面最重要的電子器件之一[1],開發(fā)高介電常數(shù)及低損耗的材料在替代鉭電解電容方面有著極其重要的意義.上世紀80年代,主要研究了BaTiO3基材料施主和受主摻雜的缺陷化學,通過Ti位的受主摻雜和還原氣氛下燒結(jié)[2],從而產(chǎn)生導(dǎo)帶電子的深能級陷阱,以解決絕緣電阻問題,使MLCC器件的工業(yè)化得以發(fā)展.然而,由于元素的變價導(dǎo)致絕緣電阻的退化,成為MLCC器件應(yīng)用的難題[3].稀土元素具有價態(tài)穩(wěn)定的特點,所制備的器件具有穩(wěn)定的壽命,受到了人們的關(guān)注.1994年,日本學者制備出新一代的MLCC器件,用施主和受主共摻雜的方法,通過兩者相互作用產(chǎn)生的高勢壘,極大地抑制了材料中氧空位的遷移,保證了器件較高的穩(wěn)定性[4].李龍土也做了相關(guān)的工作,研究了摻雜不同Nb/Co比的BaTiO3基陶瓷,制備了滿足X7R的MLCC陶瓷的需要[5].

      鈦酸鍶鋇Ba1-xSrxTiO3(BST)系陶瓷材料具有高介電、低損耗以及良好的溫度穩(wěn)定性[6].對鈦酸鍶鋇材料進行稀土摻雜是此類材料的主要研究方向之一.稀土改性摻雜已經(jīng)有了大量的報道,但復(fù)合(或耦合)摻雜特別是對Ti位的改性摻雜還有待詳細研究.本文中選擇了導(dǎo)致巨大介電常數(shù)的元素摻雜濃度區(qū)間[7],報道不同Y與Nb濃度對Ba0.9Sr0.1TiO3陶瓷介電和鐵電性能的影響,分析Y與Nb的替代作用對BST陶瓷材料介電和鐵電性能的影響機理.

      1 實驗

      采用固相反應(yīng)法制備了Y2O3和Nb5O3復(fù)合摻雜的Ba0.9Sr0.1TiO3(YNBST),4種摻雜的樣品分別表示為YNBST1(Y2O3=0.27%摩爾分數(shù), Nb2O5=0),YNBST2(Y2O3=0.21%摩爾分數(shù), Nb2O5=0.09%摩爾分數(shù)),YNBST3(Y2O3=0.09%摩爾分數(shù), Nb2O5=0.21%摩爾分數(shù))和YNBST4(Y2O3=0, Nb2O5=0.27%摩爾分數(shù)).將配料裝入球磨罐,以去離子水為介質(zhì)球磨,使原料混合均勻,細化粉料.再用去離子水洗出粉料,并烘干,在1 100 ℃預(yù)燒2 h,爐冷,再次球磨烘干后,壓制成直徑約為11 mm,厚度約為1.2 mm的圓片. 在1 270 ℃下燒結(jié)4 h.制備的樣品進行XRD測試(日本理學D/MAX-IIIC型),測試范圍10~80°.每個樣品2個表面分別鍍銀后,用HP4192精密阻抗分析儀在-50~150 ℃的溫度范圍內(nèi)測試介電常數(shù)ε′和介電損耗tanδ.樣品YNBST1、YNBST2、YNBST3和YNBST4分別減薄至570 μm、520 μm、470 μm和680 μm厚度后,采用Radianttech公司的PremierⅡ鐵電測試儀測試材料的電滯回線.

      2 實驗結(jié)果與討論

      2.1XRD分析圖1為YNBST陶瓷樣品的XRD圖譜.通過對比可以發(fā)現(xiàn),隨著Y/Nb比值的增大(Y含量增大,Nb含量減小),晶面衍射峰向低角度發(fā)生了偏移.

      由圖1b所示,隨著Y/Nb比值的增加,衍射峰向左偏移,表明在BST基底材料晶體中,平均離子半徑增大,晶格常數(shù)隨著成分x的增加而增大.離子半徑比較大的Y3+(0.09 nm)和Nb5+(0.068 nm)替代了BST晶體中離子半徑較小的Ti4+(0.067 nm),致使晶格常數(shù)變大,衍射峰左移,從而證實了摻入的Y3+和Nb5+在BST晶體內(nèi)形成了固溶體.其中,Nb5+為施主摻雜,Y3+為受主摻雜.

      圖1 YNBST陶瓷樣品的XRD圖譜

      2.2Nb與Y摻雜比對介電常數(shù)和介電損耗的影響在不同溫度下,實驗對摻雜Y和Nb基底材料進行介電常數(shù)和介電損耗的測試,得到介電常數(shù)和介電損耗的溫譜如圖2所示.

      圖2 YNBST1,YNBST2,YNBST3和YNBST4 4個樣品的介電溫譜圖

      從圖2的YNBST的4個樣品在1 kHz、10 kHz和50 kHz下相對介電常數(shù)和介電損耗與溫度的關(guān)系可以看出,樣品具有較大的介電常數(shù).首先,單獨摻Y(jié)的樣品YNBST1具有較大的介電常數(shù)與頻率色散,鐵電相的介電常數(shù)和損耗隨溫度變化極其平緩,但在相變點介電常數(shù)急劇減小,溫度較低時出現(xiàn)損耗峰值.其次,樣品YNBST2特征明顯:極大的介電常數(shù),鐵電相的介電常數(shù)隨溫度變化極其平緩,但其頻率色散也最大,其損耗的峰值達到了1.0,說明摻Y(jié)2O3=0.21%摩爾分數(shù)和Nb2O5=0.09%摩爾分數(shù)時,由于Y和Nb在BST基底材料中同時發(fā)生了B位取代,在氧八面體中形成了兩種偶極子,提高了其介電性能,其復(fù)合的作用效果比單獨摻Y(jié)更能增大樣品材料的介電常數(shù).與前兩個樣品相比,YNBST3具有巨介電常數(shù)和鐵電相變的共同特征:高的介電常數(shù)和介電色散,向高溫移動的損耗峰和明顯的介電常數(shù)峰值,由于Nb的主導(dǎo)作用,導(dǎo)致了損耗的減小.樣品YNBST4表現(xiàn)了單獨摻Nb的特點:極小的介電頻率色散,說明Y對于材料介電頻率色散的影響遠大于Nb,同時其極小的鐵電相損耗(<0.05),將損耗峰移到了高溫的順電相,說明Nb對BST陶瓷的介電損耗起著明顯的降低和穩(wěn)定作用,與文獻[8]的結(jié)論基本一致,并且保持了室溫區(qū)域較高的介電常數(shù)(>1.5×104).上述樣品的共同特征是:4種樣品的介電常數(shù)峰均在80 ℃,且其損耗峰隨Nb/Y的增大而向高溫區(qū)移動.

      Brzozowski[9]研究了Nb摻雜BaTiO3陶瓷,發(fā)現(xiàn)當摻鈮量小于0.15%摩爾分數(shù)時,因其難以在陶瓷內(nèi)部達到均勻分布,富鈮區(qū)的晶粒生長得到抑制,且由于大量的鈮取代鈦,引起鈦的偏析,生成雜質(zhì)相;而在貧鈮區(qū),晶粒異常長大,晶粒間及其內(nèi)部生成大量氣孔,導(dǎo)致密度下降.當摻鈮量達到0.30%摩爾分數(shù)時,Nb2O5容易在陶瓷內(nèi)部達到較好的分布,因而晶粒均勻、細小、致密性較好,但當鈮量進一步增大時,大量雜質(zhì)相的生成使得密度呈現(xiàn)減小趨勢.因此,摻Nb2O5達到0.27%摩爾分數(shù)時,能夠形成鈮的均勻分布和較好的致密性.Hennings[10]認為施主和受主一起摻雜可形成穩(wěn)定的復(fù)合離子,即使在純氧氣氛中也很難被氧化,施主摻雜降低了氧空穴的數(shù)目且限制了它的移動,是提高材料壽命的重要原因,其中Y,Dy,Ho被認為是提高Ni-MLCC器件壽命最有效的離子.

      2.3Nb與Y摻雜對鐵電性能的影響鈦酸鍶鋇(BST)陶瓷材料是典型的鐵電體.實驗對經(jīng)過減薄的4個樣品進行了電滯回線的測試,YNBST1和YNBST2樣品的鐵電性由于摻雜導(dǎo)致大量電荷屏蔽,而YNBST3和YNBST4樣品顯示了明顯的電滯回線測量效果,如圖3所示.

      圖3 YNBST3和YNBST4的電滯回線圖

      圖3給出了YNBST3和YNBST4樣品分別減薄至470 μm和680 μm厚度后測量的電滯回線.圖中的橫坐標為所加電壓與厚度比所對應(yīng)的電場強度,測試電壓分別為600 V、1 200 V和1 800 V.由測試結(jié)果可知,這兩種陶瓷材料在室溫下是鐵電相,并具有良好的鐵電性.通過對比,可發(fā)現(xiàn)YNBST3的剩余極化強度大于YNBST4,由此可見,Nb和Y的摻入改變了BST陶瓷材料的鐵電性能.適當濃度的Y與Nb的復(fù)合作用優(yōu)于單獨摻Nb的鐵電性.

      3 結(jié)論

      實驗使用微量Nb5+與Y3+互補摻雜的方法,在Ti位的替代,使得Nb5+為施主摻雜,Y3+為受主摻雜.由于摻雜的總量不足0.30%摩爾分數(shù),4種樣品介電常數(shù)實部的峰值始終保持在80 ℃左右不變,與純Ba0.9Sr0.1TiO3的相同.不同比例的摻雜Y3+與Nb5+時,Y3+導(dǎo)致了介電常數(shù)的急劇增大和強烈的頻率色散作用;損耗對Nb2O5的含量異常敏感,隨著Nb2O5含量的增加,損耗下降,損耗峰向高溫移動.當Y∶Nb為21∶9時,介電常數(shù)沒有因摻雜互補而減少,反而達到了極大,且頻率的色散也達到極大,介電常數(shù)的溫度穩(wěn)定性很好.當Y∶Nb為9∶21時,Nb的作用占據(jù)了主導(dǎo)地位,樣品具有較高的介電常數(shù)和較低的損耗,特別是抑制了高頻的介電損耗,且鐵電性好于單獨摻Nb的樣品.由于目前還較少有人報道不同比例復(fù)合摻雜微量施主和受主的實驗結(jié)果,因此上述實驗結(jié)果對改進MLCC器件的介電性能和鐵電性能有極大的參考作用.

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