曹勝梅,何 平,李 岐,華 楠
(哈爾濱工業(yè)大學(xué)航天學(xué)院,哈爾濱 150001)
如今,塑料薄膜的應(yīng)用在工業(yè)生產(chǎn)和人類生活中起著舉足輕重的作用,已被廣泛應(yīng)用于包裝、醫(yī)藥、化工、農(nóng)業(yè)等領(lǐng)域,給人們生活帶來了極大便利。薄膜以及以薄膜為主要輔助材料的其它產(chǎn)品的生產(chǎn)性能和生產(chǎn)成本等均與其厚度密切相關(guān),因此如何實(shí)現(xiàn)薄膜厚度的高精度檢測已成為現(xiàn)今不可回避的話題[1]。
在市場需求的推動下,薄膜測厚技術(shù)取得突破性進(jìn)展,各種新設(shè)備、新工藝不斷涌現(xiàn)。其中紅外測厚儀無論在測量精度還是抗干擾能力等方面都表現(xiàn)出突出的競爭力?;诩t外技術(shù)的薄膜厚度在線檢測系統(tǒng)是利用光學(xué)吸收原理來設(shè)計(jì)的,薄膜對紅外光的吸收程度與薄膜厚度成一定的數(shù)學(xué)關(guān)系[2]。本文旨在研究檢測系統(tǒng)在生產(chǎn)檢測過程中測試信號的產(chǎn)生和調(diào)理。由于系統(tǒng)對測量精度的要求很高,在數(shù)據(jù)處理過程中要采用大量的軟件濾波算法,因此系統(tǒng)采用高性能處理器TMS320F2812作為主控芯片,提高數(shù)據(jù)處理效率,實(shí)現(xiàn)對薄膜厚度的實(shí)時(shí)檢測。
薄膜對紅外光的吸收程度隨波長的變化而變化,系統(tǒng)選擇容易被薄膜吸收的光為測量光,不易被薄膜吸收的為參照光,并使兩路紅外光交替照射薄膜。光照模式如圖1所示。
圖1 光照模式示意圖
如圖1所示,兩路紅外光以180°相位差工作在方波模式,并擁有相同的調(diào)制頻率。加載薄膜后,測量光被薄膜吸收的程度遠(yuǎn)大于參考光,合成的信號是具有一定偏置的方波信號,信號幅值與兩路光的幅值差有關(guān),即為最終所需的薄膜敏感信號[3]。由于信號中混有環(huán)境光造成的直流量或低頻量,要將獲得的敏感信號送入信號調(diào)理電路進(jìn)行隔直、濾波、放大等處理,最終通過采樣將數(shù)據(jù)送入TMS320F2812進(jìn)行數(shù)字濾波、歸一化處理,求取薄膜厚度。
系統(tǒng)工作時(shí),需要一個(gè)頻率為2KHz的方波信號來驅(qū)動兩路發(fā)光管交替發(fā)光。系統(tǒng)采用能夠產(chǎn)生精確定時(shí)脈沖的高穩(wěn)度控制器NE555,通過調(diào)整外圍電路的電阻和電容大小來產(chǎn)生特定頻率和占空比的方波信號[4]。實(shí)驗(yàn)測得NE555的輸出電流最高可達(dá)200mA,但是單個(gè)發(fā)光管的驅(qū)動電流就需要200mA,因此要通過后續(xù)放大電路來增大其驅(qū)動能力。最后選用穩(wěn)壓芯片LM317為核心芯片設(shè)計(jì)穩(wěn)流電路使流經(jīng)發(fā)光管的電流穩(wěn)定在200mA[5]。調(diào)制信號的產(chǎn)生電路原理圖如圖2所示。
方波的周期和占空比分別如公式(1)、(2)所示。
其中T為方波周期,R1、R2為電阻阻值,Q為占空比,C5為電容大小,根據(jù)系統(tǒng)要求取 R1、R2為3K,C5為 0.1uF。
兩路紅外光透射后由高精度傳感器硒化鉛紅外光敏電阻將光信號轉(zhuǎn)化為電信號,獲得的電信號含有環(huán)境光引起的直流量或低頻量,因此要先經(jīng)過隔直處理然后送入模擬濾波器進(jìn)行模擬濾波。
圖2 調(diào)制信號產(chǎn)生電路原理圖
模擬濾波器采用MAX275作為核心芯片,該芯片集成了兩個(gè)獨(dú)立的二階濾波器,頻率誤差為,總諧波失真低于-89dB。系統(tǒng)將兩個(gè)二階濾波器級聯(lián)成四階濾波器,借助MAX275參數(shù)設(shè)置軟件,通過調(diào)節(jié)外圍電路的電阻大小設(shè)計(jì)成切比雪夫型濾波器。經(jīng)過模擬濾波的信號為正弦信號,信噪比大大提高。
進(jìn)行待測數(shù)據(jù)采集時(shí),可以通過TMS320F2812內(nèi)部自帶的AD模塊直接對電壓信號進(jìn)行采集。但是此AD模塊只有12位,為了提高轉(zhuǎn)換精度,系統(tǒng)采用16位的AD轉(zhuǎn)換芯片AD976進(jìn)行模擬信號到數(shù)字信號的轉(zhuǎn)換[6]。已知待采樣的信號頻率為2KHz,為了保證高準(zhǔn)確度的捕獲信號峰值,將AD轉(zhuǎn)換頻率設(shè)置為125KHz,并利用TMS320F2812的內(nèi)部定時(shí)器定時(shí)啟動采樣。具體流程圖如圖3所示。
經(jīng)過模擬濾波后的正弦信號信噪比雖有明顯提高,但是由于受到模、數(shù)處理電路間的干擾或AD采樣芯片的條件限制,仍然存在一定的干擾信號。為了提高測量精度,需要加入數(shù)字濾波器對信號作進(jìn)一步濾波處理[7]。
圖3 AD采樣流程圖
數(shù)字濾波器分為無限長數(shù)字濾波器IIR和有限長數(shù)字濾波器FIR兩類。無限長數(shù)字濾波器的幅頻特性精度很高,但不是線性相位,當(dāng)系統(tǒng)對相位要求較高時(shí),需要加入相位校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)。有限長數(shù)字濾波器的幅頻特性精度比無限長濾波器略低,但是具有嚴(yán)格的線性相頻特性,用于計(jì)算的時(shí)延也小,對于信號的實(shí)時(shí)處理尤為重要?;诜€(wěn)定性和運(yùn)算精度要求,系統(tǒng)選用有限長數(shù)字濾波器進(jìn)行數(shù)字濾波[8]。
4.3.1 濾波算法的實(shí)現(xiàn)
FIR卷積型濾波器的時(shí)域差分方程為:
其中,h(m)為濾波系數(shù),x(n-m)為正弦序列,N為濾波器階數(shù)。考慮到系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性和多數(shù)據(jù)性,系統(tǒng)選用80階的kaiser濾波,編寫的濾波函數(shù)如下:
4.3.2 濾波結(jié)果分析
數(shù)字濾波前,正弦信號的波形圖如圖4所示。
圖4 濾波前正弦信號波形圖
由圖4可以看出,模擬濾波的效果已經(jīng)很好,波形較為規(guī)范,但是波峰與波谷的絕對值不一致,這是由于信號中存在一定的干擾。將兩路發(fā)光管關(guān)閉,在無紅外光照射下,采集到的干擾信號波形如圖5所示。
圖5 濾波前干擾信號波形圖
經(jīng)過數(shù)字濾波處理,干擾信號基本被濾除,所得有效信號波形如圖6所示。雖然存在一些相位延遲,但是系統(tǒng)只需要檢測信號峰值,所以對信號的相位要求不高。信號在幾個(gè)周期后進(jìn)入穩(wěn)定階段,其峰值將作為薄膜厚度的直接相關(guān)信號,用于標(biāo)定薄膜厚度。
設(shè)計(jì)的薄膜測厚系統(tǒng),運(yùn)用DSP技術(shù)實(shí)現(xiàn)了薄膜厚度的在線非接觸式測量。測試信號的產(chǎn)生模塊,可以輸出穩(wěn)定的電流來驅(qū)動發(fā)光管工作。系統(tǒng)通過采樣芯片 AD976采集待測信號,然后送入TMS320F2812內(nèi)部進(jìn)行數(shù)字濾波處理,提高了系統(tǒng)測量精度。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該系統(tǒng)測試效率高,測試結(jié)果誤差小,完全滿足生產(chǎn)檢測要求。
圖6 濾波后正弦信號波形圖
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