曹 明,汪 超,范 鋒,崔 強(qiáng),呂育棟
(1.南京市鍋爐壓力容器檢驗(yàn)研究院,江蘇 南京 210002;2.渤海裝備南京巨龍鋼管公司,江蘇 南京 210008;3.渤海裝備巨龍鋼管公司,河北 青縣 062658)
傳統(tǒng)的掃查線調(diào)試方法是根據(jù)工件厚度采用水平調(diào)試法和垂直調(diào)試法調(diào)整掃查比例(一般工件厚度T ∧20mm,采用水平1∶1法調(diào)試掃描線,此時(shí)的“深度范圍”旋鈕置于50 mm處;工件厚度T≥20 mm,采用深度1∶1法調(diào)試掃描線,此時(shí)的“深度范圍”旋鈕置于250 mm處),利用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行掃描線調(diào)試。這種傳統(tǒng)的調(diào)試方法在焊管焊縫檢測(cè)中存在以下不足:①由于鋼管檢測(cè)執(zhí)行的是API管線鋼管規(guī)范,而API標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用N5刻槽或Φ1.6 mm豎通孔對(duì)比試塊評(píng)定缺陷[1],因此利用標(biāo)準(zhǔn)試塊來進(jìn)行掃描線調(diào)試無形中增加了超聲波檢測(cè)人員的工作量;②由于鋼管本身存在一定曲率,利用標(biāo)準(zhǔn)試塊來調(diào)試和檢測(cè)工件存在很大的曲率差異,如果不進(jìn)行曲率調(diào)整,將對(duì)缺陷的定位、定量不準(zhǔn)確,存在很大偏差。而利用人工試塊進(jìn)行調(diào)試(新的調(diào)試方法)避免了以上不足,以下對(duì)新舊兩種調(diào)試方法進(jìn)行介紹。
先將探傷儀器上的“深度范圍”旋鈕置于50mm處,用“脈沖移位”旋鈕把始波對(duì)準(zhǔn)0格處。
此方法是在試塊上直接找孔的最高反射回波[2]。
(1)在CSK-ⅢA試塊上(圖1),將探頭置于CSK-ⅢA試塊的h20橫孔上前后移動(dòng)(靠R10圓弧側(cè)),并保持與試塊側(cè)面平行,找出顯示屏上h20橫孔反射波最高點(diǎn)F20后,探頭不能移動(dòng),用尺量出距離L,則孔深h20處的水平距離L20=L-40+l,其中l(wèi)代表的是探頭的前沿距離。此時(shí)用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F20反射波的前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度L20格處。
(2)將探頭置于h40橫孔上前后移動(dòng)(靠R10圓弧側(cè)),并保持與試塊側(cè)面平行,在顯示屏上找出h40橫孔反射波最高點(diǎn)F40后,探頭不能移動(dòng),用尺量出距離L,則孔深h40處的水平距離L40=L-40+l。觀察F40反射波前沿位置與L40格相差值Δx(圖2),此時(shí)先用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F40反射波的前沿進(jìn)行擴(kuò)展或壓縮,移到掃描線刻度L40格處后再移Δx(即2Δx),再用“脈沖移位”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F40的反射波前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度L40格處。
(3)將CSK-ⅢA試塊翻身,分別探測(cè)孔深h10、h30,確認(rèn)最高反射波F10、F30的前沿是否分別對(duì)準(zhǔn)顯示屏的掃描線刻度h10、h30格處。
如果F10、F30的最高反射波前沿不在顯示屏的水平刻度L10、L30格處,則應(yīng)重新調(diào)試水平比例。
圖2 反射波調(diào)試示意
此方法是通過預(yù)先計(jì)算水平距離在試塊上尋找孔的最高反射回波,但是要求斜探頭折射角正切值K準(zhǔn)確。
(1)在CSK-ⅢA試塊上,將探頭置于h20橫孔上(靠R10圓弧側(cè)),并保持與試塊側(cè)面平行,計(jì)算水平距離L1=K·h20+40-l,用尺量出L1,使h20橫孔反射波達(dá)最高點(diǎn)F20,用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F20反射波的前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度L20=K·h20格處。
(2)將探頭置于h40橫孔上(靠R10圓弧側(cè)),并保持與試塊側(cè)面平行,計(jì)算水平距離L2=K·h40+40-l,用尺量出L2,使h40橫孔反射波達(dá)最高點(diǎn)F40,觀察F40反射波前沿位置與L40=K·h40格相差值Δx(圖2),此時(shí)先用“深度微調(diào)”旋鈕調(diào)試,將F40的反射波的前沿進(jìn)行壓縮或擴(kuò)展,移至2Δx處,再用“脈沖移位”旋鈕調(diào)試,將F40的反射波前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度L40=K·h20格處。
(3)將CSK-ⅢA試塊翻轉(zhuǎn),分別探測(cè)孔深h10、h30,用尺分別量出距離 L3=K·h10+40-l、L4=K·h30+40-l,使h10、h30橫孔反射波達(dá)最高點(diǎn)F10、F30,確認(rèn)最高反射波F10、F30的前沿是否分別對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度 L10=K·h10、L30=K·h30格處。如果 F10、F30的最高反射波前沿不在顯示屏的掃描線刻度L10、L30格處,則應(yīng)重新調(diào)試水平比例。
此方法是利用CSK-ⅠA試塊進(jìn)行調(diào)試[3-7]。
在已知斜探頭K值時(shí)(K值必須是實(shí)測(cè)值),利用CSK-ⅠA試塊進(jìn)行水平1∶1調(diào)試,先計(jì)算R50、R100圓弧所對(duì)應(yīng)的水平距離l50、l100:
將斜探頭對(duì)準(zhǔn)R50、R100圓?。▓D3),并保持與試塊側(cè)面平行,使圓弧反射波F50、F100達(dá)最高波幅,用“深度微調(diào)”和“脈沖移位”旋鈕配合調(diào)試(方法同上),使F50、F100反射波分別對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度l50、l100格處。
圖3 CSK-ⅠA試塊及圓弧反射波
此方法是利用N5刻槽進(jìn)行調(diào)試[8-10]。
利用人工試塊A進(jìn)行水平1∶1調(diào)試。試塊A厚度為17.5mm,上表面刻槽尺寸為17.5mm×5%,探頭型號(hào)為2.5P8×12K2,探頭前沿10mm。
(1)在人工試塊A上(圖4),將探頭置于試塊A的N5中槽的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),并保持與N5中槽垂直,找出顯示屏上N5中槽下表面反射波最高點(diǎn)F1后,探頭不再移動(dòng),用尺量出L距離,則試塊下表面N5中槽反射波的水平距離L1=L+10。此時(shí)用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F1反射波的前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度L1格處。
圖4 人工試塊A示意
(2)將探頭置于試塊A的N5中槽的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),并保持與N5中槽垂直,找出顯示屏上N5中槽上表面反射波最高點(diǎn)F2后,探頭不能移動(dòng),用尺量出距離L,則試塊下表面N5中槽反射波的水平距離L2=L+10。觀察F2反射波前沿位置與L2格相差值Δx(圖5),此時(shí)先用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F2反射波的前沿進(jìn)行擴(kuò)展或壓縮,移到掃描線刻度L2格處后再移Δx(即2Δx),再用“脈沖移位”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F2的反射波前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度L2格處。
圖5 反射波調(diào)試示意
(3)將探頭置于試塊A的N5邊槽的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),并保持與N5邊槽垂直,找出顯示屏上N5邊槽上、下表面反射波最高點(diǎn)F3、F4的前沿是否分別對(duì)準(zhǔn)顯示屏的掃描線刻度L3、L4格處。如果F3、F4的最高反射波前沿不在顯示屏的水平刻度L3、L4格處,則應(yīng)重新調(diào)試水平比例。
此方法是利用Φ1.6mm豎通孔進(jìn)行調(diào)試。
利用人工試塊B進(jìn)行水平1∶1調(diào)試。試塊B厚度為17.5 mm,試塊上鉆Φ1.6 mm豎通孔,探頭型號(hào)為2.5P8×12K2,探頭前沿10mm。
(1)在人工試塊B上(圖6),將探頭置于試塊B的Φ1.6 mm豎通孔的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),找出顯示屏上Φ1.6 mm豎通孔下表面反射波最高點(diǎn)F1后,探頭不再移動(dòng),用尺量出距離L,則試塊下表面N5中槽反射波的水平距離L1=L+10。此時(shí)用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F1反射波的前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度L1格處。
圖6 人工試塊B示意
(2)將探頭置于試塊B的Φ1.6 mm豎通孔的左(右)位置進(jìn)行前后移動(dòng),找出顯示屏上Φ1.6mm豎通孔上表面反射波最高點(diǎn)F2后,探頭不再移動(dòng),用尺量出距離L,則試塊下表面Φ1.6 mm豎通孔反射波的水平距離L2=L+10。觀察F2反射波前沿位置與L2格相差值Δx,此時(shí)先用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F2反射波的前沿進(jìn)行擴(kuò)展或壓縮,移到掃描線刻度L2格處后再移Δx(即2Δx),再用“脈沖移位”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F2的反射波前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度L2格處。
(3)將探頭置于試塊A的N5邊槽上進(jìn)行前后移動(dòng),確認(rèn)顯示屏上N5邊槽上、下表面反射波最高點(diǎn)F3、F4的前沿是否分別對(duì)準(zhǔn)顯示屏的掃描線刻度L3、L4格處。如果F3、F4的最高反射波前沿不在顯示屏的水平刻度L3、L4格處,則應(yīng)重新調(diào)試水平比例。
先將探傷儀器上的“深度范圍”旋鈕置于250 mm處,用“脈沖移位”旋鈕把始波調(diào)到0格處。
此方法是在試塊上直接找孔的最高反射回波[2]。
(1)在CSK-ⅢA試塊上,將探頭置于ⅢA試塊的h20橫孔上前后移動(dòng)(靠R10圓弧側(cè)),并保持與試塊側(cè)面平行,找出顯示屏上h20橫孔反射波最高點(diǎn)F20后,探頭不再移動(dòng),用“深度微調(diào)”旋鈕調(diào)試,將F20反射波的前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度2格處。
(2)將探頭置于h40橫孔上前后移動(dòng)(靠R10圓弧側(cè)),并保持與試塊側(cè)面平行,在顯示屏上找出h40橫孔反射波最高點(diǎn)F40后,探頭不再移動(dòng),觀察F40反射波的前沿位置與4格相差值Δx,此時(shí)先用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F40反射波的前沿進(jìn)行壓縮或擴(kuò)展,移到掃描線刻度4格后再移Δx(即2Δx),再用“脈沖移位”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F40反射波的前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度4格處。
(3)將CSK-ⅢA試塊翻身,分別探測(cè)孔深h10、h30、h50…,確認(rèn)最高反射波 F10、F30、F50…的前沿是否分別對(duì)準(zhǔn)顯示屏的掃描線刻度1、3、5…格處。如果F10、F30、F50…最高反射波前沿不在顯示屏的掃描線刻度1、3、5…格處,則重新調(diào)試深度比例。
此方法是通過預(yù)先計(jì)算水平距離在試塊上尋找孔的最高反射回波,但是要求K值準(zhǔn)確。
(1)在CSK-ⅢA試塊上,將探頭置于h20橫孔上(靠R10圓弧側(cè)),并保持與試塊側(cè)面平行,計(jì)算水平距離L1=K·h20+40-l,用尺量出L1,使h20橫孔反射波達(dá)最高點(diǎn)F20,用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將反射波的前沿進(jìn)行壓縮或擴(kuò)展,對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度2格處,記錄F20反射波高在滿刻度的60%時(shí)的衰減器分貝數(shù)余量。
(2)將探頭置于h40橫孔上(靠R10圓弧側(cè)),并保持與試塊側(cè)面平行,計(jì)算水平距離L2=K·h40+40-l,用尺量出L2,使h40橫孔反射波達(dá)最高點(diǎn)F40,觀察F40反射波前沿位置與4格相差值Δx,此時(shí)先用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F40的反射波的前沿進(jìn)行壓縮或擴(kuò)展,移到掃描線刻度4格后再移Δx(即2Δx),再用“脈沖移位”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F40的反射波前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度4格處。
(3)將CSK-ⅢA試塊翻身,分別探測(cè)孔深h10、h30…,用尺量出距離 L3=K·h10+40-l、L4=K·h30+40-l…,使h10、h30…橫孔反射波達(dá)最高點(diǎn)F10、F30…,確認(rèn)最高反射波F10、F30…的前沿是否分別對(duì)準(zhǔn)顯示屏的掃描線刻度1、3…格處。如果F10、F30…的最高反射波前沿不在顯示屏的掃描線刻度1、3…格處,則應(yīng)重新調(diào)試水平比例。
此方法是利用CSK-ⅠA試塊進(jìn)行調(diào)試[3]。
在已知斜探頭K值時(shí)(K值必須是實(shí)測(cè)值),利用CSK-ⅠA試塊進(jìn)行深度1∶1調(diào)試。先計(jì)算R50、R100圓弧所對(duì)應(yīng)的深度距離d1、d2:
再將斜探頭對(duì)準(zhǔn)R50、R100圓弧,并保持與試塊側(cè)面平行,使圓弧反射波F50、F100達(dá)最高波幅,用“深度微調(diào)”和“脈沖水平”旋鈕配合調(diào)試(方法同上),使F50、F100分別對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度d1、d2。
此方法是利用N5刻槽進(jìn)行調(diào)試[3]。
利用人工試塊C進(jìn)行深度1∶1調(diào)試。試塊C厚度為30.4 mm,上下表面刻槽尺寸為30.4 mm×5%,探頭型號(hào)為2.5P8×12K1.5,探頭前沿10mm。
(1)在人工試塊C上,將探頭置于試塊A的N5中槽的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),并保持與N5中槽垂直,找出顯示屏上N5中槽下表面反射波最高點(diǎn)F1后,探頭不再移動(dòng),用“深度微調(diào)”旋鈕調(diào)試,將F1反射波的前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度3格處。
(2)將探頭置于試塊A的N5中槽的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),并保持與N5中槽垂直,找出顯示屏上N5中槽上表面反射波最高點(diǎn)F2后,探頭不再移動(dòng),觀察F2反射波前沿位置與6格相差值Δx,此時(shí)先用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F2反射波的前沿進(jìn)行擴(kuò)展或壓縮,移到掃描線刻度L2格處后再移Δx(即2Δx),再用“脈沖移位”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F2的反射波前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度6格處。
(3)將探頭置于試塊A的N5邊槽的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),并保持與N5中槽垂直,找出顯示屏上N5邊槽上、下表面反射波最高點(diǎn)F3、F4的前沿是否分別對(duì)準(zhǔn)顯示屏的掃描線刻度3、6格處。如果F3、F4的最高反射波前沿不在顯示屏的水平刻度3、6格處,則應(yīng)重新調(diào)試水平比例。
此方法是利用Φ1.6mm豎通孔進(jìn)行調(diào)試[3]。
利用人工試塊D進(jìn)行深度1∶1調(diào)試。試塊D厚度為30.4 mm,試塊上鉆Φ1.6 mm豎通孔,探頭型號(hào)為2.5P8×12K1.5,探頭前沿10 mm。
(1)在人工試塊D上,將探頭置于試塊D的Φ1.6mm豎通孔的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),找出顯示屏上Φ1.6 mm豎通孔下表面反射波最高點(diǎn)F1后,探頭不再移動(dòng),用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F1反射波的前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度3格處。
(2)將探頭置于試塊D的N5中槽的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),找出顯示屏上Φ1.6 mm豎通孔上表面反射波最高點(diǎn)F2后,探頭不再移動(dòng),觀察F2反射波前沿位置與6格相差值Δx,此時(shí)先用“深度微調(diào)”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F2反射波的前沿進(jìn)行擴(kuò)展或壓縮,移到掃描線刻度L2格處后再移Δx(即2Δx),再用“脈沖移位”旋鈕進(jìn)行調(diào)試,將F2的反射波前沿對(duì)準(zhǔn)掃描線刻度6格處。
(3)將探頭置于試塊A的N5邊槽的左(右)進(jìn)行前后移動(dòng),并保持與N5中槽垂直,找出顯示屏上N5邊槽上、下表面反射波最高點(diǎn)F3、F4的前沿是否分別對(duì)準(zhǔn)顯示屏的掃描線刻度3、6格處。如果F3、F4的最高反射波前沿不在顯示屏的水平刻度3、6格處,則應(yīng)重新調(diào)試水平比例。
從以上介紹的焊管焊縫超聲波檢測(cè)時(shí)掃描線水平和深度1∶1調(diào)試的新舊方法看,傳統(tǒng)的掃描線調(diào)試方法在焊管超聲波檢測(cè)時(shí)在缺陷定位和定量上存在一定的不足,而新的掃描線調(diào)試方法利用N5刻槽和Φ1.6mm豎通孔進(jìn)行調(diào)試,在操作上更簡(jiǎn)便實(shí)用,在焊管超聲波檢測(cè)中值得推廣應(yīng)用。
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