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      簡述SPC技術在擴散工藝SiO2厚度控制中的應用

      2015-10-13 06:50:35張二東馮小元喬旭
      山東工業(yè)技術 2015年20期

      張二東 馮小元 喬旭

      摘 要:文章介紹了統(tǒng)計過程控制(SPC)技術的基本原理,對其兩個基本的監(jiān)控工具控制圖和過程能力做了簡單介紹,并在實際中應用SPC技術對擴散工藝SiO2厚度進行了監(jiān)控。

      關鍵詞:SPC;控制圖;過程能力

      1 引言

      SPC(Statistical Process Control)即統(tǒng)計過程控制,是利用數(shù)理統(tǒng)計技術,對于生產過程的某些關鍵工序進行監(jiān)控,如果發(fā)現(xiàn)該工序因為某些系統(tǒng)性原因產生異常波動時進行預警,目的是為了更好地控制工序的穩(wěn)定性,使過程一直處在統(tǒng)計受控狀態(tài),從而達到提高產品質量的目的。

      2 SPC技術

      (1)SPC基本原理。在實際生產的過程中,在只受相互獨立的隨機因素影響下,產品的特性值x會服從正態(tài)分布,服從正態(tài)分布的參數(shù)以均數(shù)為中心,對稱分布于均數(shù)兩側,且x落在(?-3σ,?+3σ)區(qū)間的幾率為99.73%,也即意味著x落在該區(qū)間以外的幾率總共只有0.27%。這種概率很小的事件根據概率統(tǒng)計理論,一般是不會發(fā)生的,如果發(fā)生,即說明過程受到某種異常因素的影響,處于失控狀態(tài)[1] 。SPC控制圖即基于此理論,以?+3σ為控制上線(ULC),?-3σ為控制下線(LCL),?為中心線(CL),再將抽取的樣本值按批次順序繪在圖上,理論上樣本值將圍繞著中心線上下波動。

      (2)控制圖。常規(guī)控制圖包括計量控制圖和計數(shù)控制圖。計量控制圖有4種分別為:均值—極差(-R)控制圖、均值—標準偏差( -s)控制圖、中位數(shù)—極差(-R)控制圖、單值—移動極差(x-Rs)控制圖;計數(shù)控制圖有4種分別為:不合格品率(P)控制圖、不合格品數(shù)(Pn)控制圖、缺陷數(shù)(C)控制圖、單位缺陷數(shù)(U)控制圖[2]。最常用的是均值—極差(-R)控制圖,可以同時控制產品特性值的集中趨勢及其離開中心控制線的趨勢,靈敏度高。

      均值控制圖的控制限公式: 極差控制圖控制限公式:

      CL=?=() CL=?R=

      UCL=?+3σ/=()+A2 UCL=?R+3σR=D4

      LCL=?-3σ/=()-A2 LCL=?R-3σR=D3

      其中系數(shù)A2 、D4和D3只與每組樣本量有關,可查表得出。

      (3)判斷工藝過程受控的標準[2]

      1)連續(xù)25個點沒有一個數(shù)據點位于控制限以外。

      2)控制界限內點的排列沒有下述異常現(xiàn)象:①連續(xù)7個或多于7個點位于中心線同一側;②連續(xù)7個或多于7個點單調上升或下降;③連續(xù)11個點中至少有10個點在中心線同一側;④連續(xù)14個點中至少有12個點在中心線同一側;⑤連續(xù)17個點中至少有14個點在中心線同一側;⑥連續(xù)20個點中至少有16個點在中心線同一側;⑦連續(xù)3個點中至少有2個點在中心線2倍標準偏差之外;⑧連續(xù)7個點中至少有3個點在中心線2倍標準偏差之外。

      (4)過程能力。過程的加工質量滿足技術標準的能力即過程能力,它反應了工藝成品率的高低。影響過程能力的主要因素有:機器設備、操作人員、操作方法、原材料、測量、環(huán)境,又稱5M1E因素。考慮到實際上,參數(shù)規(guī)范中心與參數(shù)分布中心往往不重合,則實際過程能力指數(shù)公式:

      當Cpk>1.67時,表明過程能力過高,不僅放寬對質量特性值波動的上、下界限制;還可改用精度稍差的設備,以降低成本。

      當1.33

      當1.00

      當Cpk接近1.00時,出現(xiàn)不合格產品的可能性增大,這時應做好相關檢查及產品的抽樣檢驗工作。

      當Cpk≤1.00,表面過程能力不足,應針對情況進行分析原因采取解決措施[2]

      3 SPC應用

      (1)SiO2厚度的控制。以擴散工藝SiO2厚度的控制為例,連續(xù)25批(每批8個數(shù)據)SiO2厚度數(shù)據,其中A2(8)=0.373、D4(8)=1.864和D3=0.136。對數(shù)據按上述進行處理,繪制SiO2厚度控制圖如圖1。

      由上圖可以看出,均值—極差控制圖均無異常情況,樣本值的上下波動是由于偶然因素導致。

      (2)過程能力值。規(guī)范上限TU=1470,規(guī)范下限TL=1410,σ=/d2,其中d2(8)=2.847,則Cpk=1.07。從上文可知,過程能力尚可,但出不合格產品的可能性增大,源于樣本值分散性過大,應加強對生產線的檢查和產出品的抽樣檢驗,必要時需要優(yōu)化工藝或更新設備,以提高過程能力。

      4 結束語

      SPC作為一種先進的質量管理方法,在對生產過程進行評判的同時根據反饋的信息及有可能出現(xiàn)的問題采取系列解決措施,使整個生產過程維持在只受隨機性因素影響的受控狀態(tài),進而達到控制質量的目的。

      參考文獻:

      [1]劉艷秋,時君麗,陶學恒.統(tǒng)計過程控制(SPC)在質量管理中的應用研究[J].機電產品開發(fā)與創(chuàng)新,2008,21(01):42-46.

      [2]賈新章,李京苑.統(tǒng)計過程控制與評價[M].電子工業(yè)出版社,2004:72-73,38.

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