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      利用電子束荷電效應(yīng)評價致密儲集層儲集空間
      ——以準噶爾盆地吉木薩爾凹陷二疊系蘆草溝組為例

      2015-12-07 07:49:31王曉琦孫亮朱如凱金旭李建明吳松濤畢麗娜劉曉丹
      石油勘探與開發(fā) 2015年4期
      關(guān)鍵詞:蘆草荷電儲集

      王曉琦,孫亮,朱如凱,金旭,李建明,吳松濤,畢麗娜,劉曉丹

      (1.提高石油采收率國家重點實驗室;2.中國石油天然氣集團公司油氣儲層重點實驗室;3.中國石油勘探開發(fā)研究院;4.國家能源致密油氣研發(fā)中心)

      利用電子束荷電效應(yīng)評價致密儲集層儲集空間
      ——以準噶爾盆地吉木薩爾凹陷二疊系蘆草溝組為例

      王曉琦1,2,3,4,孫亮1,2,3,4,朱如凱1,2,3,4,金旭1,2,3,4,李建明1,2,3,4,吳松濤1,2,3,4,畢麗娜1,2,3,4,劉曉丹1,2,3,4

      (1.提高石油采收率國家重點實驗室;2.中國石油天然氣集團公司油氣儲層重點實驗室;3.中國石油勘探開發(fā)研究院;4.國家能源致密油氣研發(fā)中心)

      根據(jù)對致密儲集層含油樣品荷電現(xiàn)象的研究,提出基于電子束荷電效應(yīng)的掃描電鏡背散射截面二次成像法,研究儲集層中殘留油(未在實驗真空條件下散失的原油)分布,并采用荷電顯影劑注入法研究致密儲集層孔隙連通性,形成有效儲集空間的定量評價方法。對準噶爾盆地吉木薩爾凹陷二疊系蘆草溝組致密油儲集層樣品進行研究發(fā)現(xiàn),儲集層含油樣品強烈的荷電效應(yīng)來源于孔隙中填充的殘留油,有機質(zhì)裂解生成的原油廣泛存在于有機質(zhì)附近孔隙中,貧有機質(zhì)區(qū)也有殘留油存在。背散射截面二次成像法分析面積大,能克服樣品非均質(zhì)性導致的分析區(qū)代表性差的問題。荷電顯影劑注入法刻畫孔隙連通性更加準確有效,蘆草溝組致密儲集層含油樣品總面孔率為12.56%,總孔隙連通率達90%,儲集空間有效性好。圖10參25

      電子束荷電效應(yīng);背散射截面二次成像;有效儲集空間;孔隙連通性;致密油;準噶爾盆地;吉木薩爾凹陷;蘆草溝組

      0 引言

      儲集空間與儲集性能是致密儲集層研究的重點,孔喉結(jié)構(gòu)與分布、孔喉中原油富集規(guī)律,以及致密油聚集的孔喉下限等問題影響致密油的評價與開發(fā)[1-5]。近年來,儲集空間表征技術(shù)迅速發(fā)展,大量先進的材

      料分析方法應(yīng)用于孔喉特征與礦物分布規(guī)律研究,如場發(fā)射掃描電鏡、微米CT、納米CT、聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)等[1-13]。然而,對孔喉中原油富集規(guī)律的研究相對較少,主要原因在于環(huán)境掃描電鏡等原位表征設(shè)備分辨率低,難以表征納米孔隙中原油,但掃描電鏡作為微觀表征的有效手段,仍是該研究領(lǐng)域的重要技術(shù)支撐。

      非導電樣品在掃描電鏡成像過程中會出現(xiàn)荷電效應(yīng),目前已將其應(yīng)用于半導體和陶瓷材料研究[14-22]。這為利用高分辨率掃描電鏡識別微米—納米孔隙空間中殘留油提供了可能,但相關(guān)研究尚無報道。本文使用聚焦離子束場發(fā)射掃描電鏡對致密儲集層含油樣品的荷電現(xiàn)象展開研究,提出基于電子束荷電效應(yīng)的背散射截面二次成像法,研究儲集層中殘留油分布,并結(jié)合荷電顯影劑注入法定量評價儲集層孔隙連通性和儲集空間有效性,以期為研究區(qū)致密儲集層評價提供依據(jù)。

      1 實驗

      吉木薩爾凹陷位于準噶爾盆地東南部,發(fā)育優(yōu)質(zhì)烴源巖與優(yōu)質(zhì)致密儲集層,具有較大的致密油勘探潛力。二疊系蘆草溝組是該凹陷產(chǎn)出致密油的目標層段,由上到下分為蘆草溝組一段和二段,致密儲集層分布在蘆草溝組一段下部和蘆草溝組二段下部,成為上、下甜點。近幾年,該區(qū)致密油勘探獲得重要突破,多口井獲得工業(yè)產(chǎn)量,預測有利勘探面積達970 km2,資源量約3.8×108t,展現(xiàn)出良好的勘探前景(見圖1)[23-25]。

      圖1 吉木薩爾凹陷構(gòu)造位置及致密油甜點分布

      實驗樣品取自吉251井(日產(chǎn)超過15 m3)二疊系蘆草溝組上甜點,儲集層縱向上主要以細粒砂屑白云巖、白云質(zhì)粉砂巖和細粒白云質(zhì)泥巖頻繁互層為主要特征[23-25]。樣品宏觀表現(xiàn)為含油砂屑白云巖,但在微觀上具有強烈的非均質(zhì)性。取樣深度為3 623 m,孔隙度8.5%,滲透率0.041×10?3μm2,該層位的富有機質(zhì)樣品干酪根成熟度位于生油窗內(nèi),Ro值主要為0.7%~0.9%。

      本實驗采用Helios NanoLab-650聚焦離子束場發(fā)射掃描電鏡設(shè)備,具體實驗步驟為:①樣品制備與低倍成像,樣品經(jīng)機械切割、磨平、粗拋后進行氬離子拋光,拋光后鍍碳導電層制成電鏡樣品,利用背散射電子探頭及TLD-BSE探頭(鏡筒內(nèi)背散射電子探頭)進行掃描電鏡成像。②截面成像,調(diào)整樣品與激發(fā)電子束和離子束位置關(guān)系(見圖2a),在目標區(qū)域表面鍍鉑保護層,挖除鍍層區(qū)鄰區(qū)下緣,用小束流離子束對截面精細拋光,獲得待測截面(見圖2b)。截面區(qū)尺寸視實驗需求設(shè)定。本實驗截面長度為100~200 μm,寬度為50~100 μm,最終圖像由多張SEM照片拼接完成,圖像處理采用Avizo-Fire軟件和Photoshop軟件。③背散射截面二次成像,采用TLD-BSE探頭、選用浸入模式、設(shè)置低加速電壓進行截面成像。先用短駐留時間獲得無荷電效應(yīng)圖像,觀察孔隙、原生有機質(zhì)分布;再延長駐留時間獲得有殘留油荷電效應(yīng)的圖像;對兩次獲得的圖像進行總孔隙、荷電孔隙(存在荷電現(xiàn)象的孔隙)提取,并進行圖像面孔率和殘留油分布分析與定量計算。④樣品加溫除掉孔隙中殘余有機物,荷電顯影劑注入與觀察。為避免破壞孔隙空間,將以α-氰基丙烯酸乙酯為主體的荷電顯影劑滴在拋光樣

      品表面,其在重力及毛管力作用下自由填充孔隙(見圖3)。30 min后用刀片刮掉上層流體,并在表面鍍碳導電層制成掃描電鏡樣品,再按上述截面成像及荷電觀察步驟進行實驗。

      圖2 樣品截面成像示意圖

      圖3 荷電顯影劑注入示意圖

      2 結(jié)果與討論

      2.1 掃描電鏡表征

      多塊樣品掃描電鏡成像及能譜礦物分析發(fā)現(xiàn),樣品在微觀上可分為兩個區(qū)域:貧有機質(zhì)區(qū)和富有機質(zhì)區(qū)。貧有機質(zhì)區(qū)主要由砂屑顆粒組成,砂屑主要由方解石、鈉/鉀長石和白云石組成,尺寸為20~500 μm,磨圓好,分選差,砂屑邊部常被薄層泥晶鈉長石和膠磷礦混層包裹(見圖4a)。砂屑間的粒間孔較為發(fā)育,孔徑大多為2~50 μm(見圖4b),多為砂屑間膠結(jié)物的溶蝕孔,這類溶孔是蘆草溝組上甜點的主要儲集空間[23-25]。此外,鈉/鉀長石、方解石溶蝕強烈,大量發(fā)育選擇性溶蝕形成的粒內(nèi)溶孔(見圖4b),孔徑小于2 μm,有少量貫穿礦物顆粒的微裂縫孔隙[23]。富有機質(zhì)區(qū)主要由砂屑顆粒組成,砂屑主要由長石、白云石組成,孔徑為2~50 μm的粒間孔隙大量發(fā)育,大部分被有機質(zhì)填充,有機質(zhì)內(nèi)部較少出現(xiàn)孔隙(見圖4c、4d);長石、白云石溶蝕強烈,大量發(fā)育選擇性溶蝕形成的孔徑小于2 μm的粒內(nèi)溶孔,且很少被有機質(zhì)填充。

      2.2 荷電現(xiàn)象觀察與分析

      不導電樣品的荷電效應(yīng)會干擾入射電子束、二次電子和背散射電子的發(fā)射、采集,造成圖像畸形、亮度與對比度異常、圖像漂移等[14-22]。對儲集層樣品進行電鏡分析時,樣品的荷電效應(yīng)往往被人為消除,如采用鍍碳、鍍金等導電處理方法[1,7]。若樣品不鍍導電層,多采用超低加速電壓背散射模式,實驗結(jié)果受荷電效應(yīng)干擾較小,因此荷電效應(yīng)的應(yīng)用往往被忽視[15-16]。

      本文利用背散射截面成像觀察荷電效應(yīng)時,固定加速電壓為2 kV,束流為0.8 nA。電子束駐留時間為3 μs時,獲得的圖像因背散射信號采集量欠缺而有噪點,無荷電現(xiàn)象出現(xiàn)(見圖5a);電子束駐留時間為100 μs時,背散射信號采集量充足,圖像無噪點,圖像質(zhì)量明顯提高,此時出現(xiàn)荷電現(xiàn)象(見圖5b)。常規(guī)背散射圖像中一些似乎無有機質(zhì)填充的孔隙(見圖5a中A區(qū))在長駐留時間圖像中出現(xiàn)了零星的荷電現(xiàn)象(見圖5b中A區(qū)),表明借助局部荷電可獲得一些在常規(guī)背散射成像中丟失的信息。另外,在有機質(zhì)大量占據(jù)的孔隙中有明顯的荷電現(xiàn)象(見圖5b中B區(qū))。

      大量荷電觀察實驗表明,低加速電壓背散射成像時的荷電現(xiàn)象有以下規(guī)律:①礦物顆粒表面一般不會出現(xiàn)荷電現(xiàn)象,荷電現(xiàn)象大多出現(xiàn)在有機質(zhì)填充的孔隙中,在無可視有機質(zhì)填充的孔隙內(nèi)也偶有出現(xiàn);②并非所有有機質(zhì)區(qū)域都會出現(xiàn)荷電現(xiàn)象(見圖5c),這與成熟度較高的泥頁巖(如四川盆地志留系龍馬溪組海相頁巖)有機質(zhì)表現(xiàn)一致;③固定其他成像參數(shù),改變電子束駐留時間可直接控制荷電現(xiàn)象,不同的樣品具有不同的駐留時間區(qū)間。未達到駐留時間下限,不出現(xiàn)荷電現(xiàn)象;超過駐留時間上限,荷電區(qū)域不會再增加。適當延長駐留時間會使荷電現(xiàn)象變得明顯[14,16],過長的駐留時間(單個像素點電子束轟擊時間100~250 μs)會嚴重扭曲圖像、產(chǎn)生高亮度拖尾等假象(見圖5d)。

      圖4 蘆草溝組致密儲集層掃描電鏡背散射圖像

      圖5 蘆草溝組致密儲集層背散射電子圖像

      相同成像條件下礦物、有機質(zhì)表現(xiàn)出不同的荷電現(xiàn)象,分析其原因如下[14-16]:礦物及有機質(zhì)電阻率均極高,可近似看作為非導電材料,任何材料在電子束作用下均有電子發(fā)射特性曲線(見圖6),橫坐標為入射電子束能量(E0),縱坐標為材料的電子產(chǎn)率,即二次電子產(chǎn)率(δ)與背散射電子產(chǎn)率(η)之和。當加速電壓為EⅠ~EⅡ時,δ+η>1,表示樣品出射電子數(shù)量大于入射電子數(shù)量,樣品帶正電,這種狀態(tài)不穩(wěn)定,樣品表面的正電位會限制二次電子的發(fā)射,迫使δ+η迅速接近1,此時不會出現(xiàn)荷電現(xiàn)象;當加速電壓小于EⅠ或大于EⅡ時,δ+η<1,表示樣品表面會大量積聚負電荷,從而導致荷電現(xiàn)象產(chǎn)生。不同物質(zhì)在相同入射電子束能量作用下,電子產(chǎn)率不同。對于本次實驗儲集層樣品礦物,入射電子束能量為2 keV,δ+η>1,無荷電現(xiàn)象;對于樣品中存在荷電現(xiàn)象的有機質(zhì),入射電子束能量為2 keV時,δ+η<1,表面大量荷電形成局部荷電電場,導致掃描電子束發(fā)射的部分電子反轉(zhuǎn),且具有較高能量,并被TLD-BSE探頭接收,背散射電子圖像中出現(xiàn)荷電現(xiàn)象。

      圖6 電子發(fā)射特征曲線

      圖7 背散射電子圖像

      顯然,存在荷電現(xiàn)象與無荷電現(xiàn)象的有機質(zhì)在其電子發(fā)射特性上有差異,明確荷電來源對該現(xiàn)象的研究與應(yīng)用有重要意義。實驗結(jié)果表明荷電效應(yīng)由礦物孔隙、有機質(zhì)孔隙以及有機質(zhì)周圍微裂縫中的填充物導致(見圖7)。電子束長時間轟擊(單個像素點電子束累計轟擊時間超過1 625 μs),荷電現(xiàn)象會逐漸消失。不產(chǎn)生荷電現(xiàn)象的有機質(zhì)無論電子束轟擊時間長短,始終無荷電現(xiàn)象(見圖7)。實驗所用蘆草溝組樣品處于生油窗,干酪根大量生排烴,并填充孔隙。由于整個成像過程在高真空電鏡腔室內(nèi)完成,樣品中易揮發(fā)

      的輕質(zhì)油和水會因蒸汽壓遠大于外壓而變?yōu)闅鈶B(tài),被真空泵抽走。因此推斷易產(chǎn)生荷電現(xiàn)象的孔隙填充物為生油過程中干酪根裂解產(chǎn)生的黏稠瀝青質(zhì);不產(chǎn)生荷電現(xiàn)象的有機質(zhì)為未生排烴的干酪根。

      為驗證該推斷,提取蘆草溝組致密儲集層樣品中的氯仿瀝青“A”,并涂覆于不導電的多孔陶瓷表面進行實驗。在不鍍導電層、相同電鏡參數(shù)下,觀察到氯仿瀝青“A”存在強烈的荷電現(xiàn)象(見圖8),與在截面成像過程中觀察到的現(xiàn)象一致,證明氯仿瀝青“A”是導致荷電的主要物質(zhì)。氯仿瀝青“A”代表致密儲集層中可動烴類,其成分復雜,由飽和烴、芳香烴、膠質(zhì)、瀝青質(zhì)等組成,但烴類含量較高,在成分上接近石油,因此本文將其視為致密儲集層中殘留油。

      圖8 氯仿瀝青“A”背散射電子圖像

      上述實驗結(jié)果證明致密儲集層中殘留油是導致荷電效應(yīng)的主要原因,因此通過上述長、短電子束駐留時間的背散射二次成像法獲得圖像,比對兩次得到的圖像,即可得到致密儲集層孔隙中殘留油分布。

      2.3 殘留油分布

      基于上述背散射截面二次成像法對蘆草溝組樣品進行殘留油分布研究。在富有機質(zhì)區(qū),荷電現(xiàn)象主要出現(xiàn)在有機質(zhì)邊緣和有機質(zhì)表面(見圖9a),表明有機質(zhì)正處于生油窗內(nèi),殘留油未完全排出從而導致有機質(zhì)表面和周圍有強烈的荷電效應(yīng)。粒間孔隙中較少出現(xiàn)荷電現(xiàn)象,表明該孔隙與生油有機質(zhì)所在孔隙不連通或與其連通但原油未進入該孔隙;粒內(nèi)溶孔中幾乎無荷電,說明孔隙孤立,原油未進入。實驗表明儲集層樣品中的泥質(zhì)區(qū)有機質(zhì)生油能力較強,經(jīng)定量計算,有機質(zhì)填充區(qū)占總面積3.14%,其中產(chǎn)生荷電現(xiàn)象的有機質(zhì)占總有機質(zhì)面積的72.14%。

      在貧有機質(zhì)區(qū),不同類型的微米—納米級孔隙清晰可見,荷電現(xiàn)象主要出現(xiàn)在部分連片粒間孔中(見圖9b),表明殘留油僅進入部分儲集空間,這些儲集空間對于致密油來說是有效儲集空間。利用Avizo Fire圖像處理軟件,將殘留油填充孔隙與無殘留油填充孔隙進行區(qū)分(見圖9c)。紅色部分為有殘留油填充孔隙,主要為尺寸較大的粒間孔,藍色部分為無殘留油填充孔隙,包括大量小尺寸溶蝕孔、黏土礦物粒間孔及少量大尺寸粒間孔。通過定量計算,該分析區(qū)總面孔率為11.83%,殘留油填充面孔率為2.79%,無殘留油填充面孔率為9.04%,殘留油填充孔隙占總孔隙23.58%。

      可見,該方法能清晰刻畫微米—納米孔隙空間,并有效識別殘留油精確位置,并且可與FIB-SEM三維切片分析技術(shù)結(jié)合,得到三維殘留油空間分布,并獲得礦物、孔隙、殘留油的空間分布關(guān)系。但是該方法目前也存在一定缺陷,主要是聚焦離子束切割過程及掃描電鏡抽真空過程中殘留油輕質(zhì)組分會散失。因此截面獲取過程中需要盡量選用低能量離子束來減小其影響。對含油致密碳酸鹽巖、富有機質(zhì)烴源巖等樣品,可應(yīng)用該殘留油分析方法,而對致密砂巖不適用。隨著大面積氬離子拋光等技術(shù)的引入,該方法也將能用于致密砂巖殘留油研究。

      2.4 基于荷電效應(yīng)的孔隙連通性

      孔隙中殘留油的荷電效應(yīng)提供了一種致密儲集層孔隙連通性研究的新思路,即利用荷電顯影劑注入法評價孔隙連通性。利用該方法對蘆草溝組樣品進行總孔隙空間連通性研究(見圖10a),荷電顯影劑流體注入后,樣品中絕大多數(shù)孔隙被均勻鋪展的膠質(zhì)物填充,極易識別,且顯影劑中未見類似原生有機質(zhì)邊緣的收縮裂縫;另外,填充物表面在長駐留時間掃描時會出現(xiàn)弱荷電現(xiàn)象。因此,結(jié)合填充物與周圍礦物的灰度差異、填充形態(tài)和荷電現(xiàn)象,可以有效提取圖像中填充的有機質(zhì)(見圖10b)。無填充物孔隙主要為部分溶蝕孔,以及被殼層狀黏土礦物封閉而孤立的孔隙,兩者均不與其他孔隙連通;另外大量小于2 μm的粒內(nèi)溶孔同樣為孤立的孔隙空間。被填充的孔隙主要為孔徑大于2 μm的粒間溶孔,以及黏土礦物-膠磷礦混層間孔徑小于2 μm的晶間孔隙。通過定量計算,該樣品總面孔率為12.56%,其中未填充孔隙面孔率1.31%,被填充孔隙面孔率達11.25%,填充孔隙占總孔隙的90%,證明該區(qū)域孔隙連通性極高,儲集空間有效性好,是好的儲集區(qū)。

      以上結(jié)果表明,荷電顯影劑注入法能有效刻畫致密儲集層中孔隙的連通性,即使小于1 μm的孔隙也能

      刻畫。若充分填充,荷電顯影劑會在毛細管力、重力共同作用下進入納米級連通孔隙,較好地貼合孔壁,并均勻鋪展,且填充的顯影劑自身無收縮孔出現(xiàn),這些在筆者大量實驗中得到很好的證實;隨著顯影劑類型的拓展,可較好地適用于不同類型的儲集層樣品。連通的孔喉系統(tǒng)為致密油的有效儲集空間和潛在的流體流動通道,也反映了水驅(qū)油或聚合物驅(qū)油等過程中流體可能進入的孔隙空間,孔隙連通性分析對致密儲集層有效性評價有重要意義。

      圖9 蘆草溝組致密儲集層中殘留油分布圖像

      相對于納米CT和FIB-SEM三維成像分析,利用

      荷電顯影劑注入法評價孔隙連通性有以下優(yōu)勢:①截面成像區(qū)域大,最大可達亞毫米級。引入離子束大面積拋光技術(shù),并結(jié)合掃描電鏡的大面積拼接成像技術(shù),樣品分析區(qū)直徑可達厘米級,便于大面積觀察連通微米—納米級孔隙展布。②直接使用流體注入的實驗方法評價連通性,結(jié)果更加真實。納米CT和FIB-SEM三維成像分析是基于灰度進行物相分割研究連通性,在物相分割過程中,人為因素影響較大,影響三維孔隙連通性的表征,導致對孔隙連通性的認識與地質(zhì)實際存在差異。荷電顯影劑注入法評價孔隙連通性目前仍有一定局限性,主要是流體難以注入全部連通孔隙。但隨著可注入荷電顯影劑流體的不斷發(fā)現(xiàn),再結(jié)合高溫高壓釜、真空飽和設(shè)備等進行注入,該問題可以得到解決。

      圖10 荷電顯影劑填充孔隙微觀分布圖像

      3 結(jié)論

      FIB-SEM背散射截面二次成像法可用于觀察致密儲集層荷電現(xiàn)象。用該方法分析殘留油的荷電效應(yīng),研究致密儲集層中殘留油分布規(guī)律,并采用荷電顯影劑注入法研究孔隙連通性和儲集空間有效性,得到以下幾點認識:①蘆草溝組致密儲集層含油樣品強烈的荷電效應(yīng)來源于孔隙中填充的殘留油,有機質(zhì)生油過程中裂解生成的原油廣泛存在于有機質(zhì)附近孔隙中,貧有機質(zhì)區(qū)也有殘留油存在;②FIB-SEM背散射截面二次成像法分析面積可達亞毫米級,借助氬離子大面積拋光及掃描電鏡的大面積拼接掃描可拓展到厘米級。該方法能有效克服致密儲集層樣品強烈非均質(zhì)性帶來的分析區(qū)代表性差的問題,可直接用于致密儲集層評價;③荷電顯影劑注入法可較好地評價致密儲集層孔隙連通性。與圖像法相比,分析尺寸更大,結(jié)果更真實有效,蘆草溝組致密儲集層含油樣品總面孔率為12.56%,連通孔隙占總孔隙90%,儲集空間有效性好。

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      (編輯 林敏捷)

      Application of charging effects in evaluating storage space of tight reservoirs: A case study from Permian Lucaogou Formation in Jimusar sag,Junggar Basin,NW China

      Wang Xiaoqi1,2,3,4,Sun Liang1,2,3,4,Zhu Rukai1,2,3,4,Jin Xu1,2,3,4,Li Jianming1,2,3,4,Wu Songtao1,2,3,4,Bi Lina1,2,3,4,Liu Xiaodan1,2,3,4
      (1.State Key Laboratory of Enhanced Oil Recovery,Beijing 100083,China; 2.CNPC Key Laboratory of Oil and Gas Reservoirs,Beijing 100083,China; 3.PetroChina Research Institute of Petroleum Exploration & Development,Beijing 100083,China; 4.National Energy Tight Oil & Gas R & D Center,Beijing 100083,China)

      According to the study of the electron beam charging effects of the oil-bearing samples from tight reservoirs,a “Two-step Cross-section Back Scattered Electron (BSE) Imaging Method” is put forward,revealing the distribution of residual oil (the oil without loss in the vacuum conditions) in the tight reservoir.With the injection of charging agent,the connectivity of the pore system can also be characterized by the method,and a novel quantitative method of evaluating the effectiveness of reservoir space is established.For the tight reservoir samples from the Permian Lucaogou Formation in the Jimusar sag in the Junggar Basin,which was taken as an example,the strong charging effects mainly result from the residual oil in pores.The oil from pyrolysis of organic matter was widely stored in the pores nearby organic matter,or existing in poor organic matter area.Due to the super-large analyzing area,the Two-step Cross-section BSE Imaging Method can solve the weak representation of analysis area caused by the heterogeneity.The method of injection of charging agent works well in revealing the connectivity of the pore system.The total plane porosity of oil-bearing samples from the tight reservoir of the Lucaogou Formation is 12.56%,and the connectivity of the whole pore system in the sample reaches as high as 90%.The effectiveness of the reservoir space is very high.

      electron beam charging effect; Two-step Cross-section BSE Imaging; effective reservoir space; pore connectivity; tight oil; Junggar Basin; Jimusar sag; Lucaogou Formation

      國家重點基礎(chǔ)研究發(fā)展計劃(973項目)“中國陸相致密油(頁巖油)形成機理與富集規(guī)律”(2014CB239000);國家科技重大專項“巖性地層油氣藏成藏規(guī)律、關(guān)鍵技術(shù)及目標評價”(2011ZX05001)

      TE122

      A

      1000-0747(2015)04-0472-09

      10.11698/PED.2015.04.08

      王曉琦(1986-),男,山東臨朐人,碩士,中國石油勘探開發(fā)研究院實驗中心助理工程師,主要從事非常規(guī)儲集層及石油工程納米材料研究。地址:北京市海淀區(qū)學院路20號,中國石油勘探開發(fā)研究院,郵政編碼:100083。E-mail:wangxq07@petrochina.com.cn

      聯(lián)系作者:金旭(1982-),男,吉林長春人,博士,中國石油勘探開發(fā)研究院實驗中心工程師,主要從事非常規(guī)儲集層及石油工程納米材料研究。地址:北京市海淀區(qū)學院路20號,中國石油勘探開發(fā)研究院,郵政編碼:100083。E-mail:jinxu@petrochina.com.cn

      2014-07-28

      2015-06-05

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