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      SOD—323封裝外型穩(wěn)壓二極管“開路”現(xiàn)象分析

      2015-12-11 20:54:50杜安波
      科技資訊 2015年22期
      關(guān)鍵詞:開路

      杜安波

      摘 要:該文針對(duì)SOD-323封裝外型MM3Z2V4穩(wěn)壓二極管在某用戶處偶然會(huì)發(fā)生“開路”不工作現(xiàn)象進(jìn)行分析,通過對(duì)該現(xiàn)象發(fā)生的原因進(jìn)行分析、試驗(yàn)驗(yàn)證、故障復(fù)現(xiàn),通過論證的結(jié)論,針對(duì)車間所有的產(chǎn)品系列制定了防止類似質(zhì)量問題發(fā)生的有效管控措施。

      關(guān)鍵詞:正向壓降 功率老煉 超聲鍵合 高溫反偏

      中圖分類號(hào): 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A 文章編號(hào):1672-3791(2015)8(a)-0068-02

      1 失效機(jī)理分析

      1.1 外觀檢查

      將樣品通過體視顯微鏡觀察,樣品塑封體及引腳完好,未見其它異?,F(xiàn)象。

      1.2 X光透視

      將樣品采用X光透視檢查,芯片焊接位置符合要求,鍵合良好,粘接區(qū)無空洞現(xiàn)象。

      1.3 樣品電參數(shù)測試

      用萬用表在用戶電路板上對(duì)MM3Z2V4型穩(wěn)壓二極管先進(jìn)行功能測試,該二極管表現(xiàn)為“開路”狀態(tài),把電路板上其它部分元器件拆除后,該二極管單向?qū)щ娦怨δ艹霈F(xiàn),把該MM3Z2V4型穩(wěn)壓二極管去除引腳包錫后在881-TT/A測試系統(tǒng)上進(jìn)行常溫參數(shù)性能測試,各項(xiàng)常溫參數(shù)均符合規(guī)范要求。

      1.4 穩(wěn)壓二極管正向壓降(VF)分析

      若樣品內(nèi)部存在“歐姆接觸不良”現(xiàn)象,從理論上分析,“歐姆接觸不良”會(huì)產(chǎn)生接觸電阻,其正向壓降較其它正常合格產(chǎn)品會(huì)較大,對(duì)用戶帶來的樣品進(jìn)行VF測試(測試條件:IF=500 mA)。測試結(jié)果為1.467 V。同時(shí)抽取同批次合格產(chǎn)品20只在相同條件下測試VF,測試結(jié)果為0.99 V左右。

      1.5 SOD-323封裝外型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)分析

      SOD-323封裝外型為國際通用的很成熟的一種封裝外型,其主要結(jié)構(gòu)原材料為鐵鎳合金引線框架(底座、焊接區(qū)局部鍍銀)、芯片、金絲內(nèi)引線、環(huán)氧塑封料。

      芯片與鐵鎳合金引線框架(底座)之間采用共晶工藝進(jìn)行粘接,共晶粘片是利用金硅共熔點(diǎn),從而使管芯與底座形成良好歐姆接觸,并具有良好的機(jī)械強(qiáng)度。

      芯片電極與產(chǎn)品外引線之間采用金絲作為內(nèi)引線進(jìn)行鍵合,鍵合工藝為熱超聲鍵合工藝,在焊接階段,形成牢固的機(jī)械連接,即實(shí)現(xiàn)焊接。

      最后采用環(huán)氧模塑料(塑封料)進(jìn)行實(shí)體封裝。環(huán)氧模塑料塑封成型技術(shù)是用傳遞成型法將環(huán)氧樹脂塑封料擠壓入模腔并將其中的半導(dǎo)體芯片包埋,同時(shí)交聯(lián)固化成型。

      通過以上SOD-323封裝外型內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析,造成內(nèi)部存在“歐姆接觸不良”現(xiàn)象只有三個(gè)位置:(1)在芯片與引線框架底座之間。(2)芯片電極與金絲內(nèi)引線“球焊”點(diǎn)之間。(3)金絲內(nèi)引線與引線框架“楔焊”點(diǎn)之間。

      芯片與引線框架底座之間:采用共晶工藝進(jìn)行粘接,接觸面積為0.38 mm×0.38 mm芯片電極與金絲內(nèi)引線“球焊”點(diǎn)之間:焊球的大小在2.5~4.0倍金絲線徑內(nèi)。金絲內(nèi)引線與引線框架“楔焊”點(diǎn)之間:楔寬在1.5~4.0倍金絲線徑內(nèi),楔長在1.0~3.0倍金絲線徑內(nèi)。

      分析這三個(gè)位置,只有金絲內(nèi)引線與引線框架“楔焊”點(diǎn)之間接觸面積最小,在同等應(yīng)力條件下,最有可能發(fā)生“歐姆接觸不良”現(xiàn)象。

      1.6 解剖分析

      為了能較為準(zhǔn)確的判斷 “開路”是樣品內(nèi)部哪一部分引起,先采用激光去除部分塑封料對(duì)其進(jìn)行觀察和檢測,未發(fā)現(xiàn)異?,F(xiàn)象。為進(jìn)一步確認(rèn)引起產(chǎn)品開路原因,采用化學(xué)方法進(jìn)一步去除塑封料,萬用表對(duì)產(chǎn)品特性進(jìn)行測量,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品已呈現(xiàn)“開路”狀態(tài)。用體式顯微鏡下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行觀察,觀察發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)引線與引線框架鍵合點(diǎn)(楔焊點(diǎn))有脫離,對(duì)鍵合點(diǎn)進(jìn)行仔細(xì)觀察,內(nèi)引線與鍵合點(diǎn)有偏離,其它未見異常。

      1.7 造成“楔焊”點(diǎn)“開路”的原因分析

      理論分析,造成“楔焊”點(diǎn)“開路”的原因?yàn)椋海?)該“楔焊”點(diǎn)在焊接時(shí)本身焊接質(zhì)量不好(拉力偏低或金絲與引線框架銀層沒有形成很好的合金),在老煉篩選后處于淘汰邊緣,繼續(xù)在用戶處篩選時(shí)故障暴露。(2)老煉太嚴(yán)酷,提前讓該“楔焊”點(diǎn)質(zhì)量退化。(3)以上兩方面的綜合因素。

      2 試驗(yàn)驗(yàn)證

      2.1 異常超聲鍵合工藝試驗(yàn)

      人為造成“楔焊”點(diǎn)焊接質(zhì)量不好,試驗(yàn)方法為:在正常焊線工藝的基礎(chǔ)上故意降低“楔焊”點(diǎn)焊接參數(shù),人為造成“楔焊”點(diǎn)脫焊和虛焊現(xiàn)象較多。經(jīng)測試出合格品98只(1條有192只產(chǎn)品),成品率為51.04%。測試時(shí)測試程序加測500mA下正向壓降(VF),參數(shù)合格產(chǎn)品在該測試點(diǎn)下的正向壓降(VF)均≤1V。抽取參數(shù)合格品70只,按規(guī)范進(jìn)行功率老煉(IZ=1.5IZM=1.5×76 mA=114 mA),老煉48h后,有9只淘汰(4只產(chǎn)品短路,5只產(chǎn)品500mA大電流下正向壓降偏大,≥1.1 V)。

      2.2 功率老煉分析

      按QZJ840611技術(shù)條件規(guī)定:“在室溫下,額定功率在3 W以下者,以1.5倍功率反向老化12 h。SOD-323封裝外型穩(wěn)壓二極管額定功率為200 mW,所以按1.5倍功率進(jìn)行老煉?!睂?.1中第一次老煉合格的產(chǎn)品再抽取15只再進(jìn)行老煉,在老煉過程中關(guān)閉老煉設(shè)備上的散熱風(fēng)扇,提高老煉嚴(yán)酷度,試驗(yàn)時(shí)用點(diǎn)溫計(jì)測量夾具上的散熱片溫度達(dá)到69℃,24 h后測試產(chǎn)品,出現(xiàn)1只產(chǎn)品短路,3只正向大于1.1 V。

      功率老煉分析小結(jié):以上試驗(yàn)結(jié)論,若產(chǎn)品在老煉過程中老煉設(shè)備上散熱風(fēng)扇壞或散熱效果不好,會(huì)造成產(chǎn)品老煉過程中結(jié)溫過高,發(fā)生老化現(xiàn)象,讓產(chǎn)品提前老化。

      2.3 高溫反偏試驗(yàn)

      為了再現(xiàn)“開路”故障現(xiàn)象,把2.1中異常焊線第一次老煉后,VF≥1.1 V的5只產(chǎn)品,按用戶老煉條件(IZ=330μA,溫度:125℃)老煉了96 h后,其中有1只產(chǎn)品IZ電流跌為了89.90μA,取下用萬用表測量其功能,該只穩(wěn)壓二極管已失去了單向?qū)щ娦怨δ埽脺y試系統(tǒng)測試,該只產(chǎn)品又恢復(fù)了功能,故障現(xiàn)象與用戶處發(fā)生的現(xiàn)象一致。

      3 結(jié)論

      (1)內(nèi)引線焊接質(zhì)量不好的產(chǎn)品,經(jīng)過老煉后產(chǎn)品的淘汰率較高,部分產(chǎn)品的性能會(huì)下降,隨著老煉時(shí)間加長,產(chǎn)品會(huì)繼續(xù)淘汰,性能下降的產(chǎn)品還會(huì)繼續(xù)出現(xiàn)。

      (2)老煉過程中若發(fā)生散熱不好情況,會(huì)加劇產(chǎn)品老煉強(qiáng)度,發(fā)生過老化現(xiàn)象,讓產(chǎn)品提前老化。

      (3)產(chǎn)品老煉后性能發(fā)生變化,從500 mA下的正向壓降VF可以對(duì)其進(jìn)行判別。

      4 整改措施

      (1)今后所有二極管產(chǎn)品,在參數(shù)測試時(shí)增加測試VF(測試條件:IF=500 mA),要求VF≤1.05 V(具體的規(guī)范可以根據(jù)批次產(chǎn)品的均值進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整),剔除存在內(nèi)引線焊接后“歐姆接觸”不良產(chǎn)品。對(duì)三極管產(chǎn)品,在最大集電極電流下測試正向電壓VFBC和VFBE,并根據(jù)產(chǎn)品批次性能規(guī)定合理的控制標(biāo)準(zhǔn)。

      (2)老煉工序在做產(chǎn)品老煉時(shí),必須隨時(shí)觀察老煉設(shè)備的散熱風(fēng)扇狀態(tài),設(shè)備維護(hù)人員要定期對(duì)老煉設(shè)備進(jìn)行維護(hù),確保設(shè)備處于正常狀態(tài),防止產(chǎn)品過老化現(xiàn)象。

      參考文獻(xiàn)

      [1] 雷祖圣,米紹曾.2AK15二極管開路失效分析[J].宇航材料工藝,1984(3):45-47.

      [2] 周新銘.電子工業(yè)用的超細(xì)金絲[J].貴金屬,1988(2):32-40.

      [3] 陳維鐵.分割電力系統(tǒng)計(jì)算短路電流[J].四川電力技術(shù),1996(3):8-12.

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