李麗瓊 曾春平 呂高見

（北京控制工程研究所，北京 100094）

1 引言

總裝、測試與試驗（AIT）是航天器研制過程中重要的驗證環(huán)節(jié)之一。通過AIT，可以盡早發(fā)現(xiàn)問題，保證產品質量，確保飛行任務成功。隨著我國航天事業(yè)的穩(wěn)步發(fā)展，航天器的數(shù)量越來越多，這就需要在確保航天器測試質量的同時提高測試效率，而傳統(tǒng)的測試方法已逐漸不能滿足緊迫的研制周期要求。另外，快速進入太空的需求，如在幾周內建造并發(fā)射一顆具有特定功能的衛(wèi)星，也對傳統(tǒng)AIT 流程提出了改進和優(yōu)化的要求。

國外快速AIT 已發(fā)展多年且頗具成效，已逐漸由試驗驗證向實際應用轉變，具有代表性的是針對美國“快速響應太空”（ORS）計劃的快速AIT。本文在調研國外快速AIT 流程和技術的基礎上，以國內小衛(wèi)星傳統(tǒng)AIT 流程為出發(fā)點，針對首發(fā)衛(wèi)星、繼承衛(wèi)星和快速響應衛(wèi)星提出了國內AIT 流程簡化方案，給出了未來衛(wèi)星設計和測試模式發(fā)展的若干建議，可為衛(wèi)星設計和測試提供一定的參考。

2 國外AIT 流程

國外AIT 流程經歷了從傳統(tǒng)繁雜到簡化的過程，以滿足快速發(fā)射的需求，其中美國的發(fā)展最具代表性。美國一直非常重視快速進入太空的能力建設，為尋求快速AIT 的最優(yōu)方案，調研并參考了多個國家航天器的研制經驗，進行了一系列快速AIT 演示試驗，并最終總結出適用于ORS系統(tǒng)的AIT 流程。以下以美國為例，探討國外AIT流程的改進。

2．1 國外傳統(tǒng)AIT流程

圖1給出了美國航天器傳統(tǒng)AIT 流程［1］，整個流程一般至少需要半年時間，很多情況下甚至需要若干年。

圖1 美國航天器傳統(tǒng)AIT 流程示例Fig．1 Example of traditional AIT flow for spacecraft in USA

2．2 快速AIT演示試驗

為制定一套優(yōu)化的AIT 流程方案，美國ORS辦公室調研并總結了多個系列衛(wèi)星的成功經驗，包括“軌道通信”（Orbcomm）衛(wèi)星、“全球星”（Globalstar）和“銥”（Iridium）衛(wèi)星等。

為適應Orbcomm 系統(tǒng)的36顆衛(wèi)星密集測試和發(fā)射任務，美國采用了8顆衛(wèi)星并行測試方法，并用基本功能測試替代性能測試。另外，隨著后續(xù)衛(wèi)星的設計趨于成熟和可靠，在AIT 中刪減了一些測試，如只在前4顆后繼衛(wèi)星中進行熱真空試驗等。其他縮短流程的措施包括改變傳統(tǒng)的測試標準、嚴格AIT 紀律等［2］。

為達到Globalstar系統(tǒng)每周一顆衛(wèi)星的發(fā)射速度，美國拋棄了傳統(tǒng)的AIT 測試方法。首發(fā)衛(wèi)星作為模型衛(wèi)星進行完整的質量評定測試，而后繼衛(wèi)星只進行簡化的驗收測試，見圖2［3］。后繼衛(wèi)星的熱真空試驗和熱平衡試驗均縮略成一個熱循環(huán)，振動試驗減少為只做一個隨機振動。最終，AIT 流程縮短至1周，一年半內完成了64顆衛(wèi)星的發(fā)射工作。

Iridium 衛(wèi)星系統(tǒng)通過采用標準化的設計工具、自動化開發(fā)環(huán)境和自動化測試方法，以及簡化發(fā)射場測試等手段，將AIT 過程縮短至22d，一年之內完成了66顆衛(wèi)星和12顆備份衛(wèi)星的發(fā)射。

圖2 Globalstar后續(xù)衛(wèi)星AIT 流程Fig．2 Globalstar follow-on satellite AIT flow

結合上述經驗，美國空軍航天司令部針對ORS衛(wèi)星的測試需求，進行了一系列的快速AIT 演示試驗，共完成了6次試驗流程。結果表明：①在6個AIT 試驗流程中，快速AIT 平均耗時約22h；②自動化測試更能提高效率；③由于采用自動化測試，測試的時間較穩(wěn)定，但總裝操作時間波動比較大，這主要受人員訓練程度及總裝隊伍技術水平的影響，而非衛(wèi)星配置改變的影響；④總裝操作流程的描述圖形化，配以盡可能少的文字，比用很多文字描述操作步驟的文檔更能提高總裝效率。

2．3 快速AIT流程

利用快速AIT 演示試驗的研究成果和經驗，美國提出了快速AIT 流程，見圖3。

圖3 快速AIT 流程Fig．3 Rapid AIT flow

從圖3可以看出，快速AIT 流程的測試環(huán)節(jié)相比傳統(tǒng)流程并無太多的刪減，但測試時間卻能夠大幅縮短，其原因如下。

（1）力學試驗簡化為側軸力學試驗，重點在于暴露工藝問題。其方法是將衛(wèi)星放置在振動臺上，衛(wèi)星本體坐標系的X、Y軸與振動方向夾角均為45°，使兩軸均能被激勵，盡可能在最短時間內收集到最多的信息，見圖4。

圖4 單軸（側軸）力學試驗方位示意（45°夾角）Fig．4 Single-axis vibration test orientation（45deg off X，Yaxes）

（2）參考Orbcomm 系統(tǒng)和Globalstar系統(tǒng)的成功經驗，刪減了熱試驗環(huán)節(jié)。

（3）在部組件及分系統(tǒng)級進行長時間的測試，以提前暴露問題。另外，根據(jù)系統(tǒng)的復雜度來決定AIT 最低程度的測試標準［4］。在此基礎上，AIT 階段只進行簡單的測試。圖3中的平臺測試均為短期測試，重點在于驗證產品的功能而非性能。

（4）沒有軟件落焊環(huán)節(jié)。軟件測試與AIT 并行，測試完成后直接在AIT 進行裝訂。

（5）熱控實施與軟件裝訂、模飛等并行。

（6）采用自動化的測試手段。

（7）總裝操作流程圖形化，總裝效率高。

3 國內AIT 流程

3．1 國內傳統(tǒng)AIT流程

國內小衛(wèi)星的傳統(tǒng)AIT 流程示例見圖5。該流程相對較為繁雜，在整個測試流程中，衛(wèi)星需要多次開合板總裝操作，因而約需要201d，其原因如下。

（1）軟件落焊：軟件落焊要將衛(wèi)星返回研制單位1個月的時間，增加了衛(wèi)星總裝的工作量，延長了測試時間。

（2）體系構架：現(xiàn)有衛(wèi)星的體系構架過于復雜，分系統(tǒng)多且龐大，AIT 階段耗費了大量時間進行產品及分系統(tǒng)性能測試。

（3）熱試驗和力學試驗：這兩個試驗耗時較長，且熱試驗循環(huán)次數(shù)多。

圖5 國內小衛(wèi)星傳統(tǒng)AIT 流程示例Fig．5 Example of traditional AIT flow for small satellites in China

3．2 國內AIT流程簡化探討

借鑒國外快速AIT 技術的研究結果，建議對國內現(xiàn)有的小衛(wèi)星AIT 流程進行簡化。由于不同類型的衛(wèi)星測試需求不同，現(xiàn)分為首發(fā)衛(wèi)星、繼承衛(wèi)星和快速響應衛(wèi)星3種情況進行討論。

3．2．1 首發(fā)衛(wèi)星

由于首發(fā)衛(wèi)星沒有前面衛(wèi)星的成功作為基礎，因此不建議刪減熱試驗和力學試驗等。首發(fā)衛(wèi)星流程簡化思路可以從刪除或修改軟件落焊方式入手。從圖5中可以看出，傳統(tǒng)流程中的軟件落焊環(huán)節(jié)不但增加了衛(wèi)星總裝工作量，而且要在產品回歸整星后增加綜合測試，大大延長了流程時間。因此，應大力加強軟件的產品級測試及分系統(tǒng)級測試，在軟件確認測試階段以及分系統(tǒng)測試階段對軟件進行充分測試，AIT 試驗前將軟件落焊。個別需要在最后階段才確定的裝訂參數(shù)，可采用注入修改方式進行。另一思路是整套軟件采用可燒寫的方式，通過監(jiān)控注入方式上傳，而無須將產品返回研制單位進行落焊。

簡化后的測試流程如圖6所示。流程工作時間為73d，即與傳統(tǒng)AIT 測試流程相比縮短了至少128d。

圖6 國內首發(fā)衛(wèi)星的簡化AIT 流程Fig．6 Minimization of AIT flow for first satellites in China

3．2．2 繼承衛(wèi)星

繼承衛(wèi)星在設計上完全可以信賴已發(fā)射衛(wèi)星的成功，測試重點應在于暴露工藝問題。參照國外快速AIT 流程的成功經驗，刪減熱試驗，只進行側軸力學試驗，簡化綜合測試，提高總裝效率，具體流程建議見圖7。簡化后的AIT 流程工作時間為30d，包括節(jié)假日等，整個流程約需要1．5個月。

利用繼承性簡化測試的關鍵條件在于：工程數(shù)據(jù)（包括各種過程性文件）完整有效，工藝過程完善，并能保證依據(jù)相同的數(shù)據(jù)文件設計出來的部件產品具有相同的狀態(tài)。對于不具備批生產特性或狀態(tài)有差別的產品，必須深入研究差別化帶來的風險，并將測試關注點集中在驗證狀態(tài)變化對可靠性的影響程度上。

對于批量（10顆及以上）生產的小衛(wèi)星（1000kg以下），還可以從以下幾個方面縮短AIT 時間：①推進系統(tǒng)的管路嚴格按照樣件批量生產，不必等衛(wèi)星結構到后才開始焊接；②敏感器（如太陽敏感器、紅外地球敏感器、星敏感器）和執(zhí)行機構（如動量輪、推力器等）在總裝中只進行精度測量，不作調整；③檢漏只在力學環(huán)境試驗前（或后）進行1次。

圖7 國內繼承衛(wèi)星的簡化AIT 流程Fig．7 Minimization of AIT flow for follow-on satellites in China

3．2．3 快速響應衛(wèi)星

對于戰(zhàn)時或救災的快速響應衛(wèi)星，由于任務要求的緊急性，往往只有幾天時間用于AIT，如果只進行簡單的流程統(tǒng)籌優(yōu)化，無法實現(xiàn)整個測試流程的大幅縮減。因此，要根據(jù)任務要求進行非常規(guī)測試，對現(xiàn)有的測試流程進行較大的改動和裁減。

參考ORS快速AIT 演示試驗，設想一種快速響應衛(wèi)星的簡化流程如圖8所示。各環(huán)節(jié)所需時間非常短，整個AIT 流程僅需要27h。

圖8 國內快速響應衛(wèi)星的簡化AIT 流程設想Fig．8 Minimization of AIT flow for rapid responsive satellites in China

3．3 流程簡化的實現(xiàn)途徑

為逐步實現(xiàn)圖8所示的快速AIT 測試流程，對國內現(xiàn)有小衛(wèi)星的設計和測試模式提出如下幾點建議，首發(fā)衛(wèi)星和繼承衛(wèi)星在設計時也可參考。

（1）衛(wèi)星設計模塊化：衛(wèi)星設計應易于總裝和測試，減少測試復雜度和時間；可發(fā)展接口標準化的模塊化衛(wèi)星［5］。具有典型代表的是美國的PnPsat-1，由6塊標準的即插即用式模塊化機械及電接口面板組成，面板帶有鉸鏈鎖扣，方便快速總裝。這些模塊化的組件經過地面詳細測試后封存于倉庫中，有緊急任務時，能夠以最快速度組合成一個整體，并只要進行簡單的接口測試和功能檢查；測試中發(fā)現(xiàn)有缺陷的模塊直接移除，并用新的模塊來替代，不會影響快速AIT 的測試進程。國內衛(wèi)星可借鑒國外衛(wèi)星的模塊化設計思路，減小測試復雜度，縮短AIT時間。

（2）測試設備通用化：采用信號梳理箱的設計構架，通過梳理箱將來自星上設備不同種類、不同方向的信號整合成標準工業(yè)板卡所要求的形式，減少測試設備中定制板卡的種類和數(shù)量，這樣，只須通過配置軟件模塊便可適應不同類型衛(wèi)星控制系統(tǒng)的測試需求［6］。

（3）測試設備小型化：發(fā)展小型化的地球模擬器、太陽模擬器等測試設備，盡可能便于安裝和使用，減少總裝工作時間。目前，國內已有不少小型化模擬器用于測試，大大減少了測試復雜度和時間。

（4）測試自動化：目前測試系統(tǒng)的自動化和通用化已經成為衛(wèi)星測試的發(fā)展方向［7-8］。國外的自動化測試發(fā)展比較成熟，國內目前已加大對自動化測試的重視程度。建議大力發(fā)展自動化測試，測試標準化及流程化；引入專家智能系統(tǒng)，能夠自主分析測試結果并打印報告。

（5）總裝工作自動化：總裝工作在AIT 流程中占了很大比重，因此總裝工作自動化也是加快流程的一個重要途徑。例如：研究熱控包覆和散熱片的自動化制作方法，縮短總裝工作時間；研發(fā)或引進三軸振動臺，只要進行一次裝卸即可完成三軸的振動試驗；研發(fā)或引進綜合質量特性測試臺，只要一次裝卸就可完成質心、三軸轉動慣量及整星質量的測試。

（6）操作文件圖形化：參考ORS快速AIT 演示試驗的經驗，總裝操作步驟盡量圖形化，配以精簡的描述文字，更能提高效率。

（7）人員專業(yè)化：專人專職，責任明確。

4 結束語

本文調研了國外成功經驗，提出了國內小衛(wèi)星AIT 流程的簡化方案，并探討了其實現(xiàn)途徑。未來，針對密集型任務的測試需求，如何在保證質量的前提下簡化衛(wèi)星的測試流程，將成為衛(wèi)星測試的一個重要研究方向。與之相輔相成的是，應大力發(fā)展通用化、自動化、信息化、智能化的測試設備，建立起一套完善的測試技術新體系，提高測試效率。

（References）

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［7］黃小虎．衛(wèi)星測試系統(tǒng)研究與應用［D］．上海：上海交通大學，2007 Huang Xiaohu．The research and application of satellite testing system［D］．Shanghai：Shanghai Jiaotong University，2007（in Chinese）

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