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      TiO2憶阻器的磁控模型分析及電路實現(xiàn)

      2016-01-22 08:09:49王光義

      劉 威,王光義

      (杭州電子科技大學(xué)射頻電路與系統(tǒng)教育部重點實驗室,浙江 杭州 310018)

      摘要:為了建立憶阻器的電導(dǎo)模型,基于TiO2憶阻器的荷控數(shù)學(xué)模型分析了其無源和有源的磁控數(shù)學(xué)模型,并設(shè)計了實現(xiàn)其伏安特性的雙口電路模型,對電路模型進(jìn)行了理論分析。利用Multisim對磁控憶阻器的電路模型進(jìn)行了仿真驗證,不同參數(shù)條件下的仿真結(jié)果與磁控憶阻器模型的特性完全一致。

      關(guān)鍵詞:憶阻器;磁控憶阻器;等效電路模型

      DOI: 10.13954/j.cnki.hdu.2015.02.002

      TiO2憶阻器的磁控模型分析及電路實現(xiàn)

      劉威,王光義

      (杭州電子科技大學(xué)射頻電路與系統(tǒng)教育部重點實驗室,浙江 杭州 310018)

      摘要:為了建立憶阻器的電導(dǎo)模型,基于TiO2憶阻器的荷控數(shù)學(xué)模型分析了其無源和有源的磁控數(shù)學(xué)模型,并設(shè)計了實現(xiàn)其伏安特性的雙口電路模型,對電路模型進(jìn)行了理論分析。利用Multisim對磁控憶阻器的電路模型進(jìn)行了仿真驗證,不同參數(shù)條件下的仿真結(jié)果與磁控憶阻器模型的特性完全一致。

      關(guān)鍵詞:憶阻器;磁控憶阻器;等效電路模型

      DOI:10.13954/j.cnki.hdu.2015.02.002

      收稿日期:2014-08-29

      基金項目:國家自然科學(xué)基金資助項目(61271064,60971046);浙江省自然科學(xué)基金重點資助項目(LZ12F01001);浙江省重點科技創(chuàng)新團(tuán)隊資助項目(2010R50010)

      通信作者:

      作者簡介:劉威(1989-),男,安徽阜陽人,在讀研究生,非線性電路與智能信息處理.王光義教授,E-mail: wanggyi@163.com.

      中圖分類號:TN601

      文獻(xiàn)標(biāo)識碼:A

      文章編號:1001-9146(2015)02-0005-04

      Abstract:This paper aims at establishing the conductivity model of the memristor. On the basis of charge-controlled TiO2memristor, build the passive and positive flux-controlled mathematical model, through which two-port-circuit model is designed and verified by a theoretical analysis. Present a simulation and verification for the flux-controlled circuit model using Multisim and the results turn out to be exactly the same as characteristics of the flux-controlled memristor under different conditions.

      0引言

      2008年,HP實驗室的Stanley Williams等在《Nature》上報導(dǎo)了一種新型的具有憶阻特性的納米級固態(tài)元件,從而驗證了1971年L.O.Chua提出的銜接磁通與電荷之間關(guān)系的第四種基本電路元件,即憶阻器的存在[1-2]。憶阻器是一種具有記憶性的無源非線性電阻,在非線性電路、非易失性存儲器、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)等方面有著廣闊的潛在應(yīng)用前景[3]。文獻(xiàn)[4]介紹了磁控憶阻器SPICE模型,文獻(xiàn)[5]提出了一個具有光滑連續(xù)的三次單調(diào)上升的非線性函數(shù)的歸一化磁控憶阻器。目前人們對憶阻器展開了一些初步研究,HP憶阻器至今也僅僅為使用憶阻器的存儲芯片設(shè)計出發(fā)展架構(gòu),尚未被商業(yè)化,因此構(gòu)建HP憶阻器的等效電路模型成為目前研究的關(guān)鍵。HP實驗室提出的憶阻器模型實際上是荷控憶阻器模型,荷控憶阻器比較容易實現(xiàn),但是在電路設(shè)計與應(yīng)用中,尤其在研究憶阻器并聯(lián)電路時,利用磁控記憶電導(dǎo)更為方便。因此,本文研究了磁控憶阻器的數(shù)學(xué)模型,設(shè)計了其等效電路,對數(shù)學(xué)和電路模型進(jìn)行了理論分析和仿真驗證,設(shè)計的電路模型可替代實際憶阻器進(jìn)行實驗和應(yīng)用研究。

      1憶阻器模型

      1.1 HP憶阻器模型

      L.O.Chua提出了電阻、電容和電感之外的第4種基本電路元件——憶阻器。憶阻器分為荷控與磁控兩類,電荷q與磁通量φ之間的關(guān)系分別如下[1]:

      (1)

      由式(1),推導(dǎo)出憶阻器兩端的電壓和電流的基本關(guān)系為:

      u(t)=M(q)i(t),i(t)=W(φ)u(t)

      (2)

      式中,M(q)是記憶電阻,W(φ)是記憶電導(dǎo)。

      2008年,HP實驗室Strukov等證明了實際憶阻器的存在,并制作出納米級的TiO2憶阻器[2],其模型如圖1所示,它由一片厚度為D的雙層二氧化鈦薄膜構(gòu)成,左半部分是摻雜的,右半部分是非摻雜的,W是摻雜層的厚度。當(dāng)兩端施加不同方向的電壓時,摻雜部分的離子漂移引起兩層薄膜之間的邊界發(fā)生移動,導(dǎo)致憶阻器的阻值發(fā)生變化。

      圖1 TiO2憶阻器模型

      HP實驗室對TiO2憶阻器的研究表明,其端口電壓與電流有如下的關(guān)系式[2]:

      (3)

      式中,Ron是W(t)=D時的憶阻器阻值,Roff是時的憶阻器阻值。

      1.2 磁控憶阻器數(shù)學(xué)模型

      電路設(shè)計中,通常是以電壓源作為激勵源,荷控型憶阻器的阻值是受流經(jīng)自身電流大小控制的,使得荷控憶阻器在電流源激勵下才表現(xiàn)出磁滯回環(huán)特性[4]。因此利用電路實現(xiàn)一個磁控型憶阻器模型具有十分重要的意義。

      根據(jù)文獻(xiàn)[6]磁控型憶阻器模型:

      (4)

      式中,m1=1/Roff,m2=2μvRon/RoffD2,m3=φ0,可以得到兩個根,其中一個為正根,對應(yīng)的是無源憶阻器,另外一個為負(fù)根,對應(yīng)的是有源憶阻器。

      2磁控憶阻器等效電路設(shè)計

      根據(jù)對磁控型憶阻器理論模型的分析,采用T型電阻網(wǎng)絡(luò)構(gòu)建一個磁控型憶阻器模型。T型網(wǎng)絡(luò)由3個電阻R1、R2、R3構(gòu)成,R1、R2電阻的A、B兩個端口作為憶阻器模型的二端口,R3電阻的一端口C點作為憶阻器AB端口電壓的一個反饋信號接入點,磁控型憶阻器的完整電路如圖2所示。采用的儀用差分放大器AD620AN標(biāo)記為U1,采用的運算放大器LM324AD分別標(biāo)記為U2,U3,U4,U5,U6,U7,U8。利用U1取憶阻器AB端口電壓值并放大,U2,C1,R5構(gòu)成積分運算電路,將U ̄ ̄1的輸出通過積分運算電路后得到UO2,由于積分后的結(jié)果UO2中含有直流分量,會影響后端的乘法器運算,因此在B點連接一個RC高通濾波器濾除直流。U3構(gòu)成反相比例運算電路,U4起到反相的作用,U5與乘法器A1構(gòu)成求根電路,U6與A2構(gòu)成除法電路,U7與A3等構(gòu)成反相比例運算電路,最后通過U8反饋到T型網(wǎng)絡(luò)的端口C。

      圖2 磁控憶阻器電路原理圖

      對以上電路進(jìn)行推導(dǎo)分析,利用儀用差分放大器取出憶阻器T型網(wǎng)絡(luò)AB端口的差模信號,采用儀用差分放大器的高輸入阻抗特性可以避免在取信號時對T型網(wǎng)絡(luò)AB端口電壓的干擾,R4為儀用差分放大器U1的外接電阻。則U1輸出為:

      (5)

      將儀用差分放大器U1輸出電壓UO1經(jīng)過積分運算得到UO2:

      (6)

      UD≈m3UO2

      (7)

      通過比例運算電路將V1和UD輸入到集成運放U3,反向后得到UO4,將乘法器A1的兩個輸入端接到集成運放U5的輸出端構(gòu)成求根運算電路,將其輸出UO5作為乘法器A2構(gòu)成的除法運算電路的輸入,輸出是UO6,再通過乘法器A3將信號UO6與UO1相乘得到輸出:

      (8)

      通過U7構(gòu)建的反相比例運算電路和U8反向電路求得:

      (9)

      對T型網(wǎng)絡(luò)的O節(jié)點由基爾霍夫電流定律得到:

      (10)

      設(shè)R1=R2=R3,可得:

      (11)

      3磁控憶阻器的電路實現(xiàn)

      激勵源為幅度2 V的正弦電壓信號時,在f=800 Hz、f=1 500 Hz頻率下的Matlab與Multisim仿真實驗結(jié)果分別如圖3、圖4所示。圖3(a)為端口電壓與端口電流的時域特性圖,圖3中幅度高者表示憶阻器端口電壓UAB,幅度低者表示取憶阻器模型中R1兩端的差模電壓信號UR1,作為流經(jīng)憶阻器的電流IAB,即UR1=IABR1。

      圖3 f=800 Hz激勵為正弦波時的仿真結(jié)果

      圖4 f=1 500 Hz激勵為正弦波時的仿真結(jié)果

      圖3(b)中虛線與圖4(b)中虛線分別是輸入信號頻率f=800 Hz與輸入信號頻率f=1 500 Hz下的u-i相圖,表明頻率越大,磁滯回環(huán)曲線向內(nèi)收縮。同時,Multisim仿真結(jié)果圖3(b)與圖4(b)中實線相比較也是呈現(xiàn)磁滯回環(huán)曲線向內(nèi)收縮,在相同頻率下Matlab仿真結(jié)果與Multisim仿真結(jié)果基本重合,表明等效電路模型的精度比較好。

      4結(jié)束語

      本文基于HP實驗室的TiO2憶阻器數(shù)學(xué)模型,建立了磁控的憶阻器數(shù)學(xué)模型及其等效電路,通過電路仿真觀察憶阻器在不同頻率信號激勵下的滯回伏安特性,驗證了方案的正確性。本模型可替代實際憶阻器進(jìn)行應(yīng)用于憶阻器的基本特性研究與應(yīng)用電路的分析和設(shè)計之中。

      參考文獻(xiàn)

      [1]Chua L O. Memristor-the missing circuit element[J]. Circuit Theory, IEEE Transactions on,1971,18(5):507-519.

      [2]Strukov D B, Snider G S, Stewart D R, et al. The missing memristor found [J]. Nature,2008,453(7 191):80-83.

      [3]王小平,沈軼,吳計生,孫軍偉,等.憶阻及其應(yīng)用研究綜述[J].自動化學(xué)報,2013,39(8):1 170-1 184.

      [4]Batas D, Fiedler H. A Memristor SPICE Implementation and a New Approach for Magnetic Flux-Controlled Memristor Modeling[J]. IEEE Transactions on Nanotechnology,2011,10(2):250-255.

      [5]包伯成,胡文,許建平,等.憶阻混沌電路的分析與實現(xiàn)[J].物理學(xué)報,2011,60(12):58-65.

      [6]Wang G Y, He J L, Yuan F, et al. Dynamical Behaviors of a TiO2 Memristor Oscillator[J]. Chinese Physics Letters,2013,30(11),110 506.

      Flux-controlled Model Analysis and

      Circuit Implementation of TiO2Memristor

      Liu Wei, Wang Guangyi

      (KeyLab.ofRFCircuitandSystem,MinistryofEducation,HangzhouDianziUniversity,HangzhouZhejiang310018,China)

      Key words: memristor; flux-controlled memristor; equivalent circuit model

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