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      一款帶模數(shù)轉(zhuǎn)換的單片機(jī)設(shè)計(jì)

      2016-02-05 10:03:04胡子陽(yáng)譚延軍
      微處理機(jī) 2016年6期
      關(guān)鍵詞:寄存器電容架構(gòu)

      胡子陽(yáng),譚延軍

      (中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所,沈陽(yáng)110032)

      一款帶模數(shù)轉(zhuǎn)換的單片機(jī)設(shè)計(jì)

      胡子陽(yáng),譚延軍

      (中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所,沈陽(yáng)110032)

      隨著電路系統(tǒng)體積的不斷縮小,應(yīng)用上希望在單個(gè)芯片上嵌入更多的電路功能。而模數(shù)轉(zhuǎn)換器和單片機(jī)的組合,能夠從相當(dāng)程度上滿足應(yīng)用需求,并有效縮小電路板的體積和重量。研究如何在MCS51單片機(jī)的基礎(chǔ)上,嵌入12位SAR型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。嵌入的難點(diǎn)在于單片機(jī)本身工作在較高的頻率下,自然會(huì)對(duì)A/D的轉(zhuǎn)換精度造成一定影響,并且CMOS的工藝精度只能達(dá)到10位精度的匹配效果,要想達(dá)到12位A/D,必須進(jìn)行修調(diào)設(shè)計(jì)。通過(guò)對(duì)單片機(jī)內(nèi)部的研究,提出了從SFR區(qū)嵌入A/D控制功能,并利用上電復(fù)位的時(shí)間,從flash加載修調(diào)碼至A/D轉(zhuǎn)換器。結(jié)果顯示,12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器能夠有效嵌入單片機(jī)并達(dá)到預(yù)計(jì)精度。

      單片機(jī);CMOS集成電路;模數(shù)轉(zhuǎn)換器;逐次逼近;修調(diào);片上系統(tǒng)

      1 引 言

      MCS51單片機(jī)是傳統(tǒng)單片機(jī)的主流架構(gòu),一直以來(lái)被廣泛應(yīng)用。與之相應(yīng)的是,在要求低功耗等領(lǐng)域,逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器也有廣泛應(yīng)用。并且在很多場(chǎng)合,比如溫度和壓力檢測(cè)等領(lǐng)域,單片機(jī)往往搭配A/D共同使用,這樣就形成了單片機(jī)和模數(shù)轉(zhuǎn)換器相結(jié)合的需求[1]。

      在工藝制造角度上,單片機(jī)采用帶有flash的CMOS工藝,而A/D轉(zhuǎn)換器也可以采用CMOS設(shè)計(jì)制造,因此單片機(jī)和A/D轉(zhuǎn)換器可以在工藝上同時(shí)實(shí)現(xiàn)。

      2 單片機(jī)架構(gòu)

      MCS51單片機(jī)有16位的flash和RAM尋址空間,其中64K的外RAM尋址空間一般用于單片機(jī)和外設(shè)進(jìn)行配合及擴(kuò)展。在存儲(chǔ)器內(nèi)部總線上,單片機(jī)包含256字節(jié)的尋址空間(如圖1所示),這一空間的特點(diǎn)就是直接連接在內(nèi)部總線上,所以操作速度快。單片機(jī)的低128字節(jié)尋址空間被用作程序區(qū)空間,所以這一空間(包含位尋址空間)對(duì)于用戶來(lái)講完全開(kāi)放,因此無(wú)法在此空間進(jìn)行嵌入。單片機(jī)的高128位直接尋址空間,用于存放特殊功能寄存器,又叫特殊功能寄存器區(qū)(SFR)。比如累加器和P1~P3口等寄存器,都通過(guò)直接尋址在此空間找到對(duì)應(yīng)的寄存器。SFR區(qū)可以被直接尋址,并且空間沒(méi)有填滿,所以要想通過(guò)單片機(jī)擴(kuò)展A/D轉(zhuǎn)換器,通過(guò)SFR擴(kuò)展是最佳選擇[2]。

      A/D轉(zhuǎn)換器除了指定嵌入的特殊功能寄存器外,還必須嵌入中斷系統(tǒng),這樣才能保證A/D轉(zhuǎn)換完成的信息,通過(guò)中斷系統(tǒng)通知單片機(jī)[3]。設(shè)計(jì)中采用了0E6H和0E7H兩個(gè)直接尋址字節(jié)來(lái)控制A/D采樣,并得到A/D輸出。當(dāng)0E6H的bit7位被寫(xiě)1后,A/D即開(kāi)始執(zhí)行一條轉(zhuǎn)換指令,轉(zhuǎn)換完成后,會(huì)觸發(fā)43H處的中斷,并以0E6H的bit6位置1,來(lái)標(biāo)識(shí)轉(zhuǎn)換結(jié)束,并且中斷已經(jīng)觸發(fā)。當(dāng)0E6H的bit6位被寫(xiě)0后,A/D可以開(kāi)始下一次轉(zhuǎn)換過(guò)程。轉(zhuǎn)換的結(jié)果,高4位占據(jù)0E6H的bit3~bit0,低8位占據(jù)0E7H。

      圖1 MCS51單片機(jī)的地址空間分配

      3 模數(shù)轉(zhuǎn)換部分設(shè)計(jì)

      模數(shù)轉(zhuǎn)換器可以按結(jié)構(gòu)分成逐次逼近型、Pipeline型和Delta-Sigma型。一般來(lái)講,逐次逼近型速度較低,轉(zhuǎn)換精度最高達(dá)到18位,被廣泛應(yīng)用于低功耗、便攜式領(lǐng)域;Pipe-line型面向高速領(lǐng)域,此領(lǐng)域大多數(shù)配置DSP等高速處理器形成處理系統(tǒng);Delta-Sigma型在轉(zhuǎn)換過(guò)程中需要多次采樣,因此面向?qū)S妙I(lǐng)域,通過(guò)數(shù)字濾波算法來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度,有的可達(dá)32位精度,也可以和單片機(jī)相結(jié)合[4]。

      逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器功耗很低而且通用型強(qiáng),因此首先在嵌入式單片機(jī)領(lǐng)域獲得了廣泛引用。對(duì)于SAR架構(gòu)的A/D轉(zhuǎn)換器,可以選擇電容架構(gòu)和電阻架構(gòu)。因?yàn)榧呻娐饭に嚨木仍?,目前無(wú)論是電容匹配能力還是電阻匹配能力,都只能達(dá)到10位精度,所以選擇電容結(jié)構(gòu)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器。以方便后期的修調(diào)操作。

      傳統(tǒng)意義上采用開(kāi)關(guān)電容實(shí)現(xiàn)逐次逼近式模數(shù)轉(zhuǎn)換,主要依據(jù)開(kāi)關(guān)電容的電荷守恒原理,對(duì)電容充電及電荷再分布兩個(gè)工作階段,對(duì)模擬量進(jìn)行逐次比較,最終實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換。傳統(tǒng)的逐次逼近系統(tǒng)的簡(jiǎn)化模型如圖2所示[5]。

      由圖2可知,若要實(shí)現(xiàn)12位逐次逼近型ADC,需要對(duì)電容進(jìn)行2的冪次方加權(quán)排列,以最低位為單位標(biāo)準(zhǔn)電容,那么最高則需要4096個(gè)單位電容,這就存在一種矛盾。若對(duì)單位電容賦值太低,電路無(wú)法避免噪聲和寄生效應(yīng)帶來(lái)的影響,最終影響ADC的線性度,無(wú)法實(shí)現(xiàn)12位分辨精度;若對(duì)單位電容賦值太高,整體電容總值過(guò)大,輸入源難以驅(qū)動(dòng),無(wú)法保證轉(zhuǎn)換速度。因此,傳統(tǒng)的開(kāi)關(guān)電容排列不適合應(yīng)用到8位以上的ADC中,而且這種排列占據(jù)了大量的芯片面積,并不符合現(xiàn)代芯片設(shè)計(jì)高集成度、小型化的發(fā)展趨勢(shì)。

      圖2 傳統(tǒng)的逐次逼近系統(tǒng)簡(jiǎn)化模型

      考慮到盡可能的縮小芯片面積,降低成本,提高芯片性能,采用另一種開(kāi)關(guān)電容排列方式來(lái)實(shí)現(xiàn)逐次逼近轉(zhuǎn)換,其簡(jiǎn)化模型如圖3所示。

      由圖3可知,開(kāi)關(guān)電容分為兩個(gè)陣列,左面陣列實(shí)現(xiàn)高5位逐次逼近,右面陣列實(shí)現(xiàn)低7位逐次逼近,兩個(gè)陣列通過(guò)Cc電容串接,其值主要由高陣列最低位電容、低陣列最低位電容及低陣列寄生電容決定。工作原理與傳統(tǒng)的開(kāi)關(guān)電容陣列一樣。充電階段,輸入模擬量向電容整體充電,ST開(kāi)關(guān)閉合,Sc開(kāi)關(guān)閉合,符合采樣時(shí)間要求;保持階段,Sc開(kāi)關(guān)打開(kāi),ST仍閉合;再分布階段,ST開(kāi)關(guān)打開(kāi),電路開(kāi)始將采集到的模擬量與電容提供的基準(zhǔn)電壓逐次比較,最終轉(zhuǎn)換成數(shù)字碼。通過(guò)兩種排列方式比較可以明顯看出,圖4采用更少的開(kāi)關(guān)電容實(shí)現(xiàn)12位逐次逼近的功能,大大縮小了芯片面積,是一種可實(shí)現(xiàn)的架構(gòu)。

      圖3 逐次逼近系統(tǒng)簡(jiǎn)化模型

      圖4 帶修調(diào)結(jié)構(gòu)的逐次逼近型A/D結(jié)構(gòu)

      電容匹配誤差是限制ADC精度的關(guān)鍵因素。以現(xiàn)階段工藝水平為基準(zhǔn),模數(shù)轉(zhuǎn)換器僅能實(shí)現(xiàn)10位分辨率,若對(duì)轉(zhuǎn)換速率有更高的要求,需要用更小的單位電容,這個(gè)值可能還要進(jìn)行折衷。在實(shí)現(xiàn)10位以上逐次逼近型ADC的時(shí)候,需要同時(shí)設(shè)計(jì)出一套修調(diào)電路,來(lái)滿足ADC的精度要求。對(duì)ADC精度修調(diào)方式,通常采用附加一定量的電容或電阻陣列,輸入修調(diào)碼,達(dá)到理想設(shè)計(jì)的分辨精度。

      帶修調(diào)電路的逐次逼近型模型如圖4所示,電路中主要對(duì)串聯(lián)耦合電容誤差、高4位電容誤差、失調(diào)誤差及增益誤差進(jìn)行修調(diào)[6]。

      模型包括12位主電容陣列,4個(gè)高4位電容修調(diào)陣列(C12~C9)。前2位由8位電容組成的陣列進(jìn)行修調(diào),后2位由7位電容組成的陣列進(jìn)行修調(diào),修調(diào)范圍±8LSB;1個(gè)耦合電容修調(diào)陣列CP,由7位電容組成的陣列進(jìn)行修調(diào),修調(diào)范圍±2LSB;1個(gè)失調(diào)誤差陣列OS,由6位電容組成的陣列進(jìn)行修調(diào),修調(diào)范圍±4LSB;1個(gè)增益誤差陣列GAIN,由8位電容組成的陣列進(jìn)行修調(diào),修調(diào)范圍±8LSB。

      傳統(tǒng)A/D采用熔絲燒結(jié)實(shí)現(xiàn)固定存儲(chǔ)器來(lái)存儲(chǔ)修調(diào)碼。由于單片機(jī)本身帶有flash存儲(chǔ)功能,而且flash里面有512字節(jié)的存儲(chǔ)空間可以用于存儲(chǔ)出廠信息,因此可以用此flash空間,在上電過(guò)程中進(jìn)行加載,以便為A/D電路配置12位精度范圍[7]。

      4 單片機(jī)嵌入A/D的總體方案

      最終單片機(jī)嵌入A/D的總體方案如圖5所示。通過(guò)內(nèi)部總線,連接SFR區(qū),并設(shè)置單片機(jī)的兩個(gè)SFR寄存器(0E6H和0E7H),通過(guò)這兩個(gè)寄存器和A/D轉(zhuǎn)換器的控制端相連,實(shí)現(xiàn)單片機(jī)對(duì)A/D的控制。

      圖5 單片機(jī)嵌入A/D的總體方案

      由于A/D在工藝過(guò)程中,不同的位置會(huì)出現(xiàn)不同的電容匹配。所以對(duì)于每一個(gè)A/D,都需要單片機(jī)首先給出不同的修調(diào)碼修調(diào),才能達(dá)到精度要求。單片機(jī)在出廠前,首先要進(jìn)行修調(diào)碼的測(cè)試、計(jì)算和寫(xiě)入。在出廠后,單片機(jī)在上電復(fù)位期間,要從flash中調(diào)出8個(gè)字節(jié),并依次寫(xiě)入修調(diào)陣列,修調(diào)陣列能夠保證把INL、DNL、offset和Gain error的失配降到最低,使之達(dá)到12位的線性度。

      5 流片結(jié)果

      單片機(jī)采用GSMC 0.18μm帶flash的工藝設(shè)計(jì)加工,整個(gè)芯片達(dá)到了預(yù)期目標(biāo)。A/D修調(diào)前的INL曲線如圖6所示,可以看出電容失配造成的影響,尤其是高位電容失配的影響很大。經(jīng)過(guò)一階修調(diào)算法進(jìn)行的修調(diào)結(jié)果如圖7所示,雖然修調(diào)匹配了電容誤差,但是在2048處形成了較明顯的拐點(diǎn),證明一階修調(diào)雖然能夠把INL曲線修至1LSB以內(nèi),但仍有明顯的積分非線性誤差存在。經(jīng)過(guò)二階修調(diào)算法進(jìn)行的修調(diào)結(jié)果如圖8所示,經(jīng)過(guò)二階修調(diào),通過(guò)修調(diào)電容的整體彌補(bǔ),使得INL曲線接近理想狀態(tài)[8]。

      圖6 未經(jīng)修調(diào)的INL曲線

      圖7 采用一階修調(diào)算法得到的INL修調(diào)曲線

      6 結(jié)束語(yǔ)

      逐次逼近型A/D和單片機(jī)的結(jié)合,目前能夠見(jiàn)到的主流器件,基本上只達(dá)到12位的水平。但是從本文的方法上看,該架構(gòu)也可實(shí)現(xiàn)14位A/D的水平。但是如果希望達(dá)到16位的嵌入水平,就需要A/D轉(zhuǎn)換器采用新的架構(gòu)調(diào)節(jié)方式。單片機(jī)不僅限于MCS51單片機(jī),對(duì)于32位的ARM單片機(jī),也可采用同樣的方法嵌入A/D轉(zhuǎn)換器。

      圖8 采用二階修調(diào)算法得到的INL曲線

      [1] 王劍峰,吳龍勝,許軍,等.航天用SoC發(fā)展思考[J].航天標(biāo)準(zhǔn)化,2011(1):31-34. WANG Jianfeng,WU Longsheng,XU Jun,et al.Considger about Spaceflight SOC Development[J].Spaceflight Standardization,2011(1):31-34.

      [2] 楊明莉.基于單片機(jī)的壓電加速度傳感器低頻信號(hào)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[D].合肥:安徽大學(xué),2007. YANG Mingli.A Design of The Piezoelectric Accelerometer’s Low-Frequency Signal Gathering System Based on MCU[D].Hefei:Anhui University,2007.

      [3] Atmel corporation.AT89S52 DATA SHEET,revision D[Z].Atmel corporation,2008.

      [4] 陳娟娟,鐘德剛,徐靜平.用于便攜式設(shè)備的12位低功耗SAR A/D轉(zhuǎn)換器[J].微電子學(xué),200828(3):401-403. CHEN Juanjuan,ZHONG Degang,XU Jingping.A Low-Power 12-Bit SAR A/D Converter for Portable Devices[J].Microelectronics.2008,28(3):401-403.

      [5] 張?jiān)娋?12位逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)[D].武漢:華中科技大學(xué),2005. Zhang Shijuan.Design of a 12-bit Successive Approximation Analog-to-Digital Converter[D].WuHan:Huazhong University of Science&Technology,2005.

      [6] 周文婷,李章全.SAR A/D轉(zhuǎn)換器中電容失配問(wèn)題的分析[J].微電子學(xué),2007,37(2):199-203. ZHOUWenting,LEE Changchuan.Analysis of Capacitor Mismatch Effect in SAR A/D Converter[J].Microelectronics,2007,37(2):199-203.

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      A Microcontroller W ith On-chip A/D Converter

      Hu Ziyang,Tian Yanjun
      (The47th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Shenyang 110032,China)

      With the size reduction in electronic system,the requirement ofmore functions integrated into a single chip is produced.So analog to digital converter combining with microcontroller will be used in more applications,such as reducing the size and weight.A way to embed a 12 bit SAR A/D converter into MCS51 microcontroller is discussed.The difficulties are made from the Microcontroller's working speed and CMOS process precision.The designmust be fixable if12 bit precision needs to be achieved. A/D control circuit is embedded in SFR,and the fixed code is transferred from flash by means of reset timing.Test result shows that 12 bit A/D converter can be embedded into microcontroller and get the aimed precision.

      Microcontroller;CMOS;A/D converter;SAR;Fix;SOC

      10.3969/j.issn.1002-2279.2016.06.002

      TN47

      B

      1002-2279(2016)06-0005-04

      胡子陽(yáng)(1978-),男,遼寧省鐵嶺市人,高級(jí)工程師,碩士,主研方向:集成電路設(shè)計(jì)與應(yīng)用。

      2016-01-25

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