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      關(guān)于符合AMS2750標(biāo)準(zhǔn)在TUS測(cè)試時(shí)過(guò)溫的研究

      2016-05-18 10:10:16常英明趙敏杰
      電子工業(yè)專用設(shè)備 2016年4期

      常英明,王 斌,趙敏杰

      (中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二研究所,山西太原030024)

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      關(guān)于符合AMS2750標(biāo)準(zhǔn)在TUS測(cè)試時(shí)過(guò)溫的研究

      常英明,王斌,趙敏杰

      (中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二研究所,山西太原030024)

      摘要:AMS2750標(biāo)準(zhǔn)對(duì)爐溫均勻性測(cè)試(TUS)有著嚴(yán)格的要求,而在測(cè)試中,過(guò)溫是熱處理爐生產(chǎn)商和使用單位都會(huì)遇到的問(wèn)題,通過(guò)AMS2750標(biāo)準(zhǔn)中爐溫均勻性測(cè)試(TUS)的概念和對(duì)過(guò)溫的要求,提出了造成過(guò)溫的主要原因和解決方法。

      關(guān)鍵詞:AMS2750標(biāo)準(zhǔn);爐溫均勻性測(cè)試;過(guò)溫

      AMS2750是國(guó)際汽車工程師協(xié)會(huì)(socicty of automotive engineers,SAE)發(fā)布的關(guān)于在熱處理過(guò)程中高溫測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn),它是由SAE技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)下設(shè)的航空理事會(huì)(Acrospace council)管理的航空材料工程委員會(huì)材料組B委員會(huì)制定的。AMS2750主要對(duì)熱電偶、儀表校準(zhǔn)、熱處理爐等級(jí)及儀表類型、系統(tǒng)精度測(cè)試(System accuracy tests,SAT)、溫度均勻性測(cè)試(Temperature uniformity survcys,TUS)等5個(gè)方面作出詳細(xì)的規(guī)定,在航空航天產(chǎn)品熱處理過(guò)程中扮演著重要的角色,是Nadcap關(guān)于熱處理認(rèn)證的重要依據(jù)。

      爐溫均勻性是熱處理爐的一項(xiàng)重要指標(biāo),它是指在熱穩(wěn)定前后,用校驗(yàn)過(guò)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀器和傳感器對(duì)爐子工作區(qū)溫度變化量進(jìn)行的一個(gè)或一系列測(cè)試。而過(guò)溫是指當(dāng)?shù)谝淮蔚竭_(dá)爐子設(shè)定溫度后,爐內(nèi)溫度升高超過(guò)規(guī)定的TUS正公差的情況(如圖1所示)。AMS2750規(guī)定在溫度均勻性測(cè)試過(guò)程中,無(wú)論是測(cè)試還是爐子系統(tǒng)傳感器均不允許出現(xiàn)過(guò)溫。如一臺(tái)按AMS2750標(biāo)準(zhǔn)中一級(jí)爐制造的熱處理爐,當(dāng)溫控表設(shè)定值為500℃,TUS測(cè)量數(shù)據(jù)中有一點(diǎn)超過(guò)503℃便是過(guò)溫,即使保溫一段時(shí)間后,TUS測(cè)量數(shù)據(jù)整體回落,達(dá)到±3℃范圍內(nèi),本次TUS測(cè)量也是失敗的。

      圖1 過(guò)溫圖示

      在AMS2750標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)不同等級(jí)爐子爐溫均勻性、以及其所使用儀表等級(jí)和爐溫均勻性測(cè)試周期均進(jìn)行了嚴(yán)格規(guī)定,如表1。

      表1 爐子等級(jí)、儀表類型、TUS間隔

      1 爐溫均勻性測(cè)試中遇到造成過(guò)溫的主要原因及解決方法

      造成熱處理爐過(guò)溫的因素有很多,除了爐膽熱區(qū)設(shè)計(jì)外,在測(cè)試過(guò)程中主要有以下因素:

      1.1熱電偶的選擇

      有些熱處理廠家將高溫爐當(dāng)作低溫爐使用時(shí),有過(guò)溫的現(xiàn)象發(fā)生,原因?yàn)椋焊邷貭t與低溫爐所使用的熱電偶材質(zhì)不同。比如,K型熱電偶的材質(zhì)為鎳鉻-鎳硅,S型熱點(diǎn)偶的材質(zhì)為鉑銠10-鉑,兩種熱電偶溫度與電勢(shì)的對(duì)照表如表2、表3所示,K型熱電偶在400℃每升高1°所產(chǎn)生的電勢(shì)為42.27 mV,而S型熱電偶在400℃每升高1°所產(chǎn)生的電勢(shì)為9.58 mV,由此可以看出,K型熱電偶在低溫段比S型熱電偶反應(yīng)更靈敏,能使溫控表更快做出調(diào)節(jié),從而達(dá)到抑制過(guò)溫。

      1.2控溫?zé)犭娕嫉奈恢?/p>

      在溫度均勻性測(cè)試時(shí),有時(shí)候發(fā)現(xiàn)某個(gè)控溫?zé)犭娕嫉臏乜貐^(qū)內(nèi),所有被測(cè)試點(diǎn)溫度與設(shè)定值相比均偏高,并且有的被測(cè)試點(diǎn)已過(guò)溫。針對(duì)這個(gè)情況,重點(diǎn)考慮這支控溫偶的位置,即通過(guò)插拔熱電偶,使得熱電偶的測(cè)溫端靠近附近熱場(chǎng)中的溫度高點(diǎn),增大控溫偶測(cè)得的數(shù)值,減小功率輸出,達(dá)到整個(gè)溫控區(qū)溫度降低。

      表2 K型熱電偶溫度與電勢(shì)對(duì)照表

      表3 S型熱電偶溫度與電勢(shì)對(duì)照表

      例如,基于AMS2750標(biāo)準(zhǔn)的一級(jí)熱處理爐在以下兩種情況均可以嘗試插拔熱電偶來(lái)調(diào)整恒溫區(qū):當(dāng)一點(diǎn)控溫時(shí),控溫偶在400℃穩(wěn)定后,所有測(cè)溫偶讀數(shù)均偏高甚至有的已經(jīng)超過(guò)了+3℃(如圖2所示);當(dāng)多點(diǎn)控溫時(shí),所有控溫偶在400℃穩(wěn)定后,上區(qū)測(cè)溫偶讀數(shù)均偏高(如圖3所示)。

      圖2 一點(diǎn)控溫時(shí)熱電偶位置不當(dāng)

      圖3 上區(qū)控溫偶位置不當(dāng)

      1.3溫控表PID參數(shù)不佳

      PID是比例、積分、微分的簡(jiǎn)稱,PID控制的難點(diǎn)不是編程,而是控制器的參數(shù)整定。目前,市場(chǎng)上主流的溫控表大都內(nèi)置有PID調(diào)節(jié)模塊,也基本都有PID自整定的功能,而使用自整定出來(lái)的PID參數(shù)控制爐溫時(shí)有時(shí)不能達(dá)到理想的效果,例如會(huì)出現(xiàn)過(guò)溫的情況,這時(shí),就需要操作者手動(dòng)整定PID。

      當(dāng)士兵射擊遠(yuǎn)方的移動(dòng)目標(biāo)時(shí),考慮到子彈運(yùn)動(dòng)的時(shí)間,需要一定的提前量。溫控也一樣,從升溫到保溫段,當(dāng)爐溫達(dá)到保溫溫度才減小功率輸出,那么溫度很有可能會(huì)超過(guò)設(shè)定值(如圖4所示)。通過(guò)適當(dāng)調(diào)整PID參數(shù),使在爐溫快達(dá)到設(shè)定溫度時(shí),提前減小功率輸出,就可以有效防止出現(xiàn)過(guò)溫(如圖5所示)。

      圖4 PID參數(shù)不佳時(shí)

      圖5 適當(dāng)調(diào)整PID參數(shù)后

      1.4測(cè)溫?zé)犭娕嫉奈恢?/p>

      測(cè)溫?zé)犭娕汲行狞c(diǎn)外,其余熱電偶捆綁位置應(yīng)處于加熱帶間隙之間,如果正對(duì)加熱帶則會(huì)使得加熱時(shí)熱響應(yīng)變快,容易產(chǎn)生過(guò)溫。并且熱電偶的捆綁方式要一致,即:距離測(cè)溫架保持一樣的距離,如果緊貼測(cè)溫架捆綁會(huì)使得在升溫過(guò)程中溫度偏低,但在保溫段會(huì)使得溫度過(guò)高也會(huì)產(chǎn)生過(guò)溫。有條件的情況下,設(shè)計(jì)時(shí)就在爐殼體上預(yù)留爐溫均勻性測(cè)量熱電偶接口,采用直插式鎧裝熱電偶測(cè)量,可以有效避免測(cè)溫架的影響。

      1.5針對(duì)爐溫均勻性的特殊情況

      考慮到工件和工裝在加熱過(guò)程中會(huì)吸熱,多區(qū)熱處理爐在設(shè)計(jì)時(shí),會(huì)將靠近工件和工裝的加熱區(qū)功率加大,使得在加熱過(guò)程中工件表面各個(gè)點(diǎn)溫度盡量一致。但在空爐進(jìn)行溫度均勻性測(cè)試時(shí),當(dāng)出現(xiàn)過(guò)溫現(xiàn)象時(shí),發(fā)現(xiàn)過(guò)溫點(diǎn)往往在功率最大區(qū),針對(duì)這種情況,應(yīng)首先考慮功率最大的加熱區(qū)對(duì)熱場(chǎng)產(chǎn)生的影響,先通過(guò)插拔該加熱區(qū)對(duì)應(yīng)的控溫偶,達(dá)到降低溫控區(qū)內(nèi)溫度,然后調(diào)整該加熱區(qū)PID參數(shù),當(dāng)測(cè)溫偶全部穩(wěn)定后,再依次調(diào)整其他加熱區(qū)的控溫偶和PID參數(shù)。

      2 結(jié)論與建議

      綜上所述,控溫偶的選型和安裝位置、控溫儀表的PID參數(shù)、測(cè)溫偶的位置和捆綁方式以及一些特殊情況是產(chǎn)生過(guò)溫的幾個(gè)重要因素。加熱時(shí)重點(diǎn)考慮以上情況就會(huì)有效避免過(guò)溫,從而更好地滿足符合2750標(biāo)準(zhǔn)TUS的測(cè)量要求。

      參考文獻(xiàn):

      [1]王宏杰.基于AMS2750標(biāo)準(zhǔn)中高溫真空爐溫均勻性測(cè)試的研究[J].電子工業(yè)專用設(shè)備,2015,44(5):37-41.

      [2]李克,許莉.高溫測(cè)量[J].熱處理裝備與技術(shù),2009,(3):9-18.

      [3]廖正貴,王宏杰.熱電偶對(duì)符合AMS2750標(biāo)準(zhǔn)TUS測(cè)量影響[J].物流工程與管理,2014,(36):156-157.

      [4]李亞兵,蘇純賢. AMS2750《高溫測(cè)量》標(biāo)準(zhǔn)E版修訂內(nèi)容分析[J].金屬熱處理. 2013,38(1):119-122.

      常英明(1989-),男,畢業(yè)于陜西科技大學(xué),本科,助理工程師,現(xiàn)從事真空設(shè)備研發(fā)工作。

      Study on the Over-temperature of AMS2750 in TUS Test

      CHANG Yingming,WANG Bing,ZHAO Minjie
      (The 2ndResearch Institute of CETC,Taiyuan 030024,China)

      Abstract:The AMS2750 standard on furnace temperature uniformity test (TUS) has strict requirements,Yet in the test,Over-temperature problem is the use of heat treatment furnace manufacturers and suppliers will encounter. This article describes AMS2750 standard temperature uniformity test (TUS) concepts and requirements for over-temperature,It details the main reason for Over-temperature and solutions

      Keywords:The standard of AMS2750;Temperature Uniformity Surveys (TUS);Over-temperature

      作者簡(jiǎn)介:

      收稿日期:2016-02-19

      中圖分類號(hào):TG155

      文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:B

      文章編號(hào):1004-4507(2016)04-0046-05

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