竇道娟

摘 要電子產(chǎn)品在質(zhì)量檢測(cè)方面，為了在最短的時(shí)間內(nèi)檢定出故障的具體位置，可以將電子線路自動(dòng)測(cè)試技術(shù)應(yīng)用在其中。在檢測(cè)的過(guò)程中，可以將故障的具體發(fā)生位置進(jìn)行精準(zhǔn)的定位，并且還會(huì)對(duì)質(zhì)量檢測(cè)進(jìn)行再次故障定位。電子產(chǎn)品的質(zhì)量檢測(cè)大概分為兩個(gè)部分，一個(gè)是在線檢測(cè)另一個(gè)是功能檢測(cè)，在檢測(cè)的過(guò)程中會(huì)對(duì)技術(shù)故障進(jìn)行詳細(xì)的理論論證。故障在檢測(cè)出來(lái)之后，首先會(huì)對(duì)其中的功能進(jìn)行仔細(xì)的闡述，然后才會(huì)對(duì)故障的具體解決方案進(jìn)行全方位的制定，通過(guò)較為復(fù)雜的整個(gè)流程，可以在一定程度上保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量。

【關(guān)鍵詞】電子線路 自動(dòng)測(cè)試技術(shù) 在線測(cè)試 功能測(cè)試

電子線路的測(cè)試通常分為兩大類：

（1）在線測(cè)試（In Circuit Test ICT）；

（2）功能測(cè)試（Funcdona|Test FT）

不同的測(cè)試方案所達(dá)到的故障檢測(cè)率也不一樣，第一個(gè)測(cè)試方案注重的是質(zhì)量，第二個(gè)測(cè)試方案注重的則是效率。不同的電子產(chǎn)品具有不同的電子線路，電子線路在不同的測(cè)試環(huán)境中，所檢測(cè)出來(lái)的結(jié)果是不同的，目前大多數(shù)電子檢測(cè)儀器檢測(cè)出來(lái)的故障大約在90%以上。

1 ICT在線測(cè)試

大部分在線檢測(cè)主要就是將安裝完畢的電路板進(jìn)行軟件測(cè)試，安裝之后的電子元件需要經(jīng)過(guò)仔細(xì)的檢查，確保每一個(gè)元件參數(shù)值都在規(guī)定的范圍之內(nèi)。每個(gè)元件的參數(shù)值都要和數(shù)據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)值進(jìn)行對(duì)比，不合格的電子元件參數(shù)值，要進(jìn)行及時(shí)的調(diào)整。參數(shù)值的檢查可以有效的判定該元件是否安裝正確，每一個(gè)電子產(chǎn)品的元件是不同的，元件不同就會(huì)導(dǎo)致電子參數(shù)值不同。元件檢查大致上分為有源測(cè)試和無(wú)源測(cè)試，無(wú)源測(cè)試就是指不接通電源，此時(shí)電路板和電源并不會(huì)聯(lián)通，簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是通過(guò)端口阻抗的方法來(lái)判斷元件的安裝是否正確。這種測(cè)試方法所適用的元件包括電阻，電容，電感，二極管，三極管等。有源測(cè)試則與無(wú)源測(cè)試的安裝原理不同，在測(cè)試的過(guò)程中，電路板和電源會(huì)相互整體連接，將每個(gè)所要測(cè)試的元件作為一個(gè)多端口網(wǎng)絡(luò)在輸入端口加上適當(dāng)?shù)男盘?hào)序列，檢測(cè)輸出端口響應(yīng)信號(hào)序列，從而判斷該元件的安裝是否正確。

2 有源測(cè)試

在電路板和電路接通的情況下，進(jìn)行的在線檢測(cè)成為有源檢測(cè)，這個(gè)時(shí)候被測(cè)試的原件可以通過(guò)端口，檢測(cè)電子產(chǎn)品的測(cè)試信號(hào)和測(cè)試矢量。在經(jīng)過(guò)電子產(chǎn)品端口檢測(cè)之后，可以根據(jù)具體的信號(hào)反應(yīng)來(lái)判斷元件是否正常。在測(cè)試電子產(chǎn)品尤其是變壓器時(shí)，我們可以利用該種檢測(cè)技術(shù)，對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)，最重要的就是要我對(duì)電子產(chǎn)品的電路芯片進(jìn)行功能測(cè)試。

2.1 強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)技術(shù)

電子設(shè)備的在線測(cè)試非常重要，被檢測(cè)的電子元件一定要在輸出的端口與本身原件相連接，被檢測(cè)的元件還包括前級(jí)驅(qū)動(dòng)電路。對(duì)于電子產(chǎn)品的原件檢測(cè)首先要發(fā)動(dòng)一定的信號(hào)，不同的電子元件所存在的問(wèn)題也是不一樣的，不同的電子元件存在著不同頻率的信號(hào)識(shí)別系統(tǒng)。在檢測(cè)的過(guò)程中我們可以通過(guò)頻率的反射，具體的評(píng)斷元件的具體故障位置，然后對(duì)元件的故障位置進(jìn)行精準(zhǔn)的定位。存在問(wèn)題的元件在檢測(cè)之后，需要電路和電源相接通，接通之后我們?cè)賮?lái)測(cè)試電子元件的信號(hào)頻率。這時(shí)經(jīng)過(guò)檢測(cè)的原件所發(fā)出的信號(hào)，處于一種穩(wěn)定的狀態(tài)，我們可以將電子產(chǎn)品的頻率設(shè)置為低電平。在檢測(cè)的過(guò)程中過(guò)高的電壓有可能會(huì)燒毀信號(hào)的來(lái)源，并且對(duì)元件本身也具有一定的損害。在對(duì)電子產(chǎn)品檢測(cè)的過(guò)程中，電子元件的內(nèi)部會(huì)傳出一定的信號(hào)，信號(hào)在一定程度上都會(huì)對(duì)電子元件的內(nèi)部造成一定的輸出阻礙。所以在檢測(cè)的過(guò)程中，我們一定要將電壓調(diào)試在一定的范圍之內(nèi)，這樣才可以更加精準(zhǔn)地去檢測(cè)信號(hào)的正確性。

2.2 邊界掃描技術(shù)

邊界掃描技術(shù)可以使電路芯片得到規(guī)范化的測(cè)試，在一定程度上可以減少電子元件的檢測(cè)步驟，可以節(jié)約電子元件的檢測(cè)時(shí)間。應(yīng)用邊界掃描測(cè)試技術(shù)，可以擴(kuò)大電子元件的生產(chǎn)規(guī)模和規(guī)模集成化，在檢測(cè)的過(guò)程中，首先我們要對(duì)電路中的電壓進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)試，其次還要對(duì)電子元件中的芯片進(jìn)行檢測(cè)。只有在測(cè)定信號(hào)處于一種穩(wěn)定的狀態(tài)，才可以展開(kāi)更加深層次的電子原件檢測(cè)。DI是測(cè)試信號(hào)的串行輸入端口；DO是測(cè)試信號(hào)的串行輸出端口；DC是測(cè)試信號(hào)的時(shí)鐘脈沖輸入端口。在檢測(cè)的過(guò)程中，首先要確保內(nèi)部的每一個(gè)電路都處于一種暢通連接的狀態(tài)，其次就要對(duì)每一個(gè)電路進(jìn)行正常的開(kāi)關(guān)閉合。只有當(dāng)電路長(zhǎng)期處于種聯(lián)通的狀態(tài)之下，才可以確保當(dāng)端口輸入指令事才會(huì)做出相應(yīng)的應(yīng)急狀態(tài)。引腳相連的開(kāi)關(guān)必須接通，在這種穩(wěn)定的情況下才可以更好的去檢測(cè)外部電路的穩(wěn)定性，對(duì)引腳直接進(jìn)行測(cè)試。與此同時(shí)還可以相應(yīng)的去檢查外部電路是否存在這短路的現(xiàn)象，如果電路出現(xiàn)了問(wèn)題要對(duì)電路進(jìn)行及時(shí)的解決。確保電子產(chǎn)品的集成芯片可以多次串聯(lián)，從而可以簡(jiǎn)化電路的整體測(cè)試步驟。

3 FT功能測(cè)試

將一臺(tái)電子設(shè)備，或者是一塊兒電路板作為黑箱進(jìn)行處理，這種工作理念才是功能測(cè)試的主導(dǎo)思想。通過(guò)這種對(duì)外連接的信號(hào)輸出方式，可以確保電子產(chǎn)品在一段時(shí)間內(nèi)位置在正常的運(yùn)作狀態(tài)，當(dāng)電子產(chǎn)品顯示正常的輸入信號(hào)時(shí)，可以對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行電源接通準(zhǔn)備。在一定程度上可以減少電子元件的檢測(cè)步驟，可以節(jié)約電子元件的檢測(cè)時(shí)間。這種方案存在著許多的優(yōu)點(diǎn)，可以使電子設(shè)備的檢查更加的專業(yè)化。在一定程度上，有效地提高了故障的檢測(cè)率，節(jié)約了許多成本，同時(shí)也降低了設(shè)備的維修價(jià)格。當(dāng)把電子元件插入到計(jì)算機(jī)的各個(gè)步驟之中時(shí)，我們可以精準(zhǔn)的發(fā)現(xiàn)，計(jì)算機(jī)的軟件編程具體內(nèi)容，通過(guò)解決方案，我們可以具體地了解電子元件的故障位置。在電子元件維修的整體，我們不難發(fā)現(xiàn)，電子元件的開(kāi)發(fā)周期非常的長(zhǎng)。電子設(shè)備的在線測(cè)試非常重要，被檢測(cè)的電子元件一定要在輸出的端口與本身原件相連接。

4 結(jié)束語(yǔ)

不同的測(cè)試方案和功能測(cè)試都存在著各自的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，從整體上來(lái)說(shuō)我們需要根據(jù)電子產(chǎn)品的具體特點(diǎn)來(lái)選應(yīng)相應(yīng)的測(cè)試方案，這樣我們可以保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量。通過(guò)不同的方案對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，可以保證電子產(chǎn)品的優(yōu)秀出產(chǎn)率，一般來(lái)說(shuō)電子產(chǎn)品首先要進(jìn)行在線測(cè)試，然后再對(duì)其功能進(jìn)行精準(zhǔn)的測(cè)試，最終才可以確保電子產(chǎn)品的最終產(chǎn)品質(zhì)量。

參考文獻(xiàn)

[1]康華光電子技術(shù)基礎(chǔ)（模擬、數(shù)字）[M].北京：高等教育出版社，2014.

[2]張倫.現(xiàn)代電子測(cè)量基礎(chǔ)[M].北京：中國(guó)計(jì)量出版社，2011.

[3]楊暉-大規(guī)?？删幊踢壿嬈骷c數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)[M].北京：北京航空航天大學(xué)出版社，2008.

作者單位

江蘇省新沂中等專業(yè)學(xué)校 江蘇省新沂市 221400