王文廣 許笑目 李 斌 任 曉 郭玉忠*, 黃瑞安
(1昆明理工大學材料科學與工程學院,昆明 650093)
(2南京大學昆山創(chuàng)新研究院,蘇州 215647)
(3贛州市芯隆新能源材料有限公司,贛州 341000)
(4昆明理工大學真空冶金國家工程實驗室,昆明 650093)
就現(xiàn)行商用鋰離子電池而言,正極材料容量提升空間有限,而石墨碳負極(理論容量為372 mAh·g-1)實際容量已達到365 mAh·g-1[1]。在早期研究中,Si材料展示出高達3 578 mAh·g-1的比容量,0.4 V(vs Li/Li+)的較低放電電位,資源豐富且環(huán)境友好,無需高純度等諸多優(yōu)勢,因此吸引眾多研究者的持續(xù)關注[2-3]。然而,硅負極在Li+脫/嵌過程中承受巨大的相變體積膨脹(~300%),限制了它的應用[4-5]。研究者制備出硅納米線[6],納米管[7-8],納米薄膜[9-11],介孔硅[12],核殼結(jié)構(gòu)[13-14]等納米Si以及硅/碳復合材料[15-16]來緩沖Si納米單元的體積膨脹效應。這些納米結(jié)構(gòu)的硅材料需通過硅烷氣相沉積[17],或微米級硅粒經(jīng)HF蝕刻[18-19]的方法制備,工藝復雜、條件苛刻,設備成本高昂,難以實現(xiàn)規(guī)?;a(chǎn),且對環(huán)境有害[20]。因此探索低成本納米結(jié)構(gòu)硅源和易于批量生產(chǎn)工藝成為研究者努力的方向[21]。
鎂熱還原工藝將低價值SiO2物料轉(zhuǎn)化為負極Si材料是一個低成本、可規(guī)?;目尚新窂絒22]。鎂熱還原系偽晶轉(zhuǎn)變,能保持還原前后納米結(jié)構(gòu)不變,可以將各種精細復雜SiO2微-納米結(jié)構(gòu)特征復制到Si產(chǎn)物上[23]。Bao 等[24]對硅藻細胞膜(SiO2)進行鎂熱還原處理,制備出Si介孔結(jié)構(gòu),開辟了從生物質(zhì)制取三維Si半導體器件以及微機電系統(tǒng)裝配方向[25-27]。隨后,還原稻殼[28-29]、微硅粉[18,30-31]、海砂[32-33]、廢棄 SiO2氣凝膠[34]等制備硅材料并用作硅碳負極,表現(xiàn)出良好的儲鋰性能。然而,鎂熱還原SiO2過程相變動力學并未得到系統(tǒng)的研究和報道。在實際的還原處理操作中,發(fā)現(xiàn)還原產(chǎn)物相組成對還原工藝細節(jié)(原料前驅(qū)體初期結(jié)構(gòu)相貌、混合方式、批次量、SiO2/Mg物質(zhì)的量之比(nSiO2∶nMg)、加熱制度,甚至坩堝大小和種類等)異常敏感,相同工藝處理后最終產(chǎn)物相組成存在很大不確定性[35]。尤其是Si的產(chǎn)率不高(僅有40%~60%,且波動很大)[36-38],超過一半的 SiO2殘留在Si產(chǎn)物中,電化學服役時比容量必然不高。通過高真空條件還原可達到98%還原收率,但條件苛刻,不利于商業(yè)化生產(chǎn)[36]。同時相伴隨還有Mg2Si,Mg2SiO4兩種雜相出現(xiàn)且其產(chǎn)量難以控制,前者在后期HCl酸蝕造成Si的無謂流失,而后者留置于產(chǎn)物中則會不利于Si電極的儲鋰性能。因此,深入研究SiO2鎂熱還原中各相的演化轉(zhuǎn)變規(guī)律,提高Si轉(zhuǎn)化率,減少雜相,提升Si產(chǎn)物儲鋰性能很有必要。
本工作以氣相法白炭黑(FS)為前驅(qū)體進行鎂熱還原制備NPs-Si,經(jīng)SiOx和C復合包覆修飾得到NPs-Si@SiOx@C復合結(jié)構(gòu),并用作鋰電池負極觀察其儲鋰行為。通過觀察反應溫度、保溫時間和nSiO2∶nMg等還原工藝參數(shù)對產(chǎn)物相組成變化規(guī)律,探究鎂熱還原反應規(guī)律并以此規(guī)律提高Si的轉(zhuǎn)化率。選擇價廉且大規(guī)模商用的氣相法白炭黑作為Si前驅(qū)體,F(xiàn)S屬于球狀粒子(8~40 nm)形成的氣凝膠鏈網(wǎng)狀開放結(jié)構(gòu)[39],其初級球狀粒子非常有利于納米結(jié)構(gòu)裝配。
1.1.1 鎂熱還原樣品制備
將氣相法白炭黑(K150,150 m2·g-1級,韓國 OCI株式會社,形貌示于支持文件圖S1)與鎂粉(200目,99%(w/w),中國國藥集團化學試劑有限公司)按 1∶w的物質(zhì)的量之比(w=2.50、3.0、3.5、4.0)稱量,手工機械混合2 h,再置入酒精介質(zhì)磁力攪拌1 h使鎂粉與白炭黑盡可能混合均勻,經(jīng)80℃真空干燥2 h,轉(zhuǎn)移至石墨舟并放入管式爐中,在Ar氣流下以2℃·min-1升至預定溫度下保溫預定時間,隨爐冷卻至室溫取出,得到粉末還原樣品(記作as-reduced)。還原樣品在1 mol·L-1HCl(分析純)溶液酸蝕除去MgO和Mg2Si等副產(chǎn)物后離心分離,60℃真空干燥12 h,獲得 HCl酸蝕樣品(記作 HCl-etched)。
1.1.2 NPs-Si@SiOx@C復合材料的制備
將樣品 HCl-etched加入 0.1 mol·L-1HCl溶液中室溫超聲分散30 min,加入預定比例的三乙氧基硅烷(C2H5O)3SiH,97%(w/w),上海弘順生物科技有限公司),按三乙氧基硅烷水解產(chǎn)物HSiO1.5與Si質(zhì)量之比1∶1取三乙氧基硅烷,室溫磁力攪拌20 min,9 600 r·min-1離心分離,60℃真空干燥后,置入管式爐內(nèi),在Ar氣流下1 000℃處理1 h得到SiOx包覆樣品 (記為 NPs-Si@SiOx,SiOx為硅氧化物,0<x<2)[40-41]。將 NPs-Si@SiOx加入 1 mol·L-1HCl中室溫超聲 30 min,按 wNPs-Si@SiOx∶wC6H7N=1∶6 加入苯胺(C6H7N,分析純,天津市風船化學試劑科技有限公司),室溫磁力攪拌10 min;稱取與苯胺等物質(zhì)的量的過硫酸銨(NH4)2S2O8(分析純,天津市博迪化工有限公司),溶解在 1 mol·L-1HCl溶液中配制成 0.5 mol·L-1過硫酸銨溶液,在室溫磁力攪拌下將全部過硫酸銨溶液緩慢滴入前述NPs-Si@SiOx懸浮液中,并繼續(xù)室溫磁力攪拌12 h得到墨綠的懸浮液。經(jīng)9 600 r·min-1離心分離,60℃真空干燥12 h,置入管式爐內(nèi)在Ar氣流下1 000℃處理2 h,得到SiOx和C復合包覆的樣品(標記為NPs-Si@SiOx@C)。此外將樣品HCletched直接按上述相同包覆比例的包碳工藝進行C包覆,得到C包覆樣品(標記為NPs-Si@C)做參比。SiOx和C包覆量分別用包覆前后稱重的方式測得。
物相分析在X射線衍射儀(XRD,Rigaku DMax 2200,工作電壓和電流分別為36 kV和36 mA)上進行,采用 Cu Kα1輻射線,λ=0.154 6 nm,掃描速率 8°·min-1,掃描范圍為5°~90°;激光顯微拉曼光譜儀(Renishaw invia Raman Microscope spectroscopy)用于非晶物相分析,測試激光波長λ=532 nm,分辨率為 1 cm-1,波數(shù)范圍為 100~2 000 cm-1;透射電子顯微鏡(TEM,FEI Tecnai G2TF30,工作電壓為 200 kV),場發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FESEM,F(xiàn)EI Nova Nano SEM 450,加速電壓為15 kV)用于結(jié)構(gòu)觀察分析。
根據(jù)Mg/SiO2化學反應式,1.0 g SiO2完全反應可生成0.467 4 g Si。在實驗中根據(jù)SiO2質(zhì)量,預定nSiO2∶nMg,反應前后的質(zhì)量,以及 HCl酸蝕去除含鎂相(Mg,MgO 或 Mg2Si)并干燥后的質(zhì)量,可確定殘余SiO2質(zhì)量,從而可以確定反應Si收率。若m0g SiO2與預定量的Mg反應完全結(jié)束后 (沒有Mg2Si相,產(chǎn)物棕黃色),經(jīng)XRD分析確認中間相Mg2Si已轉(zhuǎn)化完畢,且產(chǎn)物中不出現(xiàn)(或量很少)Mg2SiO4相,得到的產(chǎn)物中Si元素只存在于Si和SiO2相中。若經(jīng)酸蝕并干燥后其產(chǎn)物質(zhì)量為m g,設反應程度為α(1 g SiO2中有 αg反應生成 Si), 則生成 Si的質(zhì)量為0.467 4α g,未反應的 SiO2質(zhì)量為(1-α)g,則 m=m0(1-α+0.467 4α),即反應程度 α=(1-m/m0)/0.532 6。
將活性物質(zhì)(NPs-Si@SiOx@C和NPs-Si@C)分別與導電碳黑(Super P,40 nm,Timical)和海藻酸鈉(SA)以6∶2∶2的質(zhì)量之比混合攪拌制成水基漿料,涂布于銅箔上,然后轉(zhuǎn)移至真空干燥箱中,80℃干燥12 h。經(jīng)成型壓片后,以該極片為半電池的正極,鋰片為負極,聚丙烯微孔膜(Celgard 2400型)作為隔膜,1 mol·L-1LiPF6-碳 酸 乙 烯 酯/碳 酸 二 甲 酯 (EC/DMC,VEC/VDMC=1∶1)溶液為電解液(電池級,張家港國泰華榮有限公司),在充氬氣的手套箱 (Universal(2400/750/900),Mikrouna)中組裝成CR2025型紐扣電池。使用電池測試儀(LAND2001A,武漢金諾電子有限公司)分別對組裝電池進行恒流充放電測試,充放電電壓區(qū)間設為 0.01~2.0 V(vs Li/Li+),所有測試均在25℃下進行。
2.1.1 溫度、時間對鎂熱還原的動力學影響
圖1分別給出保溫溫度從400到660℃,保溫4 h 還原產(chǎn)物處理前(a)和 560 ℃保溫 4~32 h (b)還原產(chǎn)物處理前的 XRD 圖。從圖 1(a)可知,400~500℃產(chǎn)物僅觀察到Mg的衍射峰,說明反應還未發(fā)生,其中有少許MgO可能與坩堝裝料時帶入少許氧氣與Mg反應有關。500℃下保溫4和8 h樣品的XRD 圖未發(fā)現(xiàn)產(chǎn)物相組成發(fā)生明顯變化(圖 S2(a),說明Mg和SiO2在500℃以下未顯著發(fā)生反應。但是,當反應溫度升至560℃時,產(chǎn)物中不僅有Mg、MgO,還出現(xiàn)Mg2Si衍射峰,說明反應已經(jīng)發(fā)生,開始反應溫度介于500~560℃之間。同物質(zhì)的量之比的混合粉末在不同升溫速率的DSC/TG測試 (圖S2(b),紅線 2 ℃·min-1;藍線 10 ℃·min-1)表明:顯著反應放熱峰位為 545.0 ℃(2 ℃·min-1),618 ℃(10 ℃·min-1),升溫速率加大,起始反應溫度顯著增加。圖1(b)可知,在 560 ℃下保溫時間從 4到 16 h,Mg的衍射峰強度顯著降低而Mg2Si的衍射峰強度顯著增高,顯而易見Mg2Si的生成是以Mg的消耗為代價的,Mg反應耗盡而Mg2Si產(chǎn)生到最大,此反應結(jié)束。由此推定Mg與SiO2發(fā)生如下反應(1):
在 nSiO2∶nMg=1∶2.0 時,Mg 還原完畢生成 0.5 mol Mg2Si,尚剩余0.5 mol SiO2。當反應溫度從560℃提高到660℃,或560℃保溫時間從16 h延長至32 h,圖 1(a,b)中 Mg 衍射峰消失,開始出現(xiàn) Si衍射峰,而且Si峰強度逐漸增強,而Mg2Si峰強度逐漸減弱,以至完全消失。說明Si的生成是反應(1)結(jié)束后發(fā)生的另一反應,以Mg2Si參與反應生成Si。很多研究均表明Mg2Si屬于金屬間化合物,類似于Mg尚有極強的還原性[35],可以合理地認為Mg2Si還原SiO2生成 Si,如下反應(2):
圖1 白炭黑鎂熱還原產(chǎn)物處理前的XRD圖Fig.1 XRD patterns of the FSmagnesiothermic products routes before treatment
此反應以Mg2Si或SiO2中1個消耗完而結(jié)束,在nSiO2∶nMg=1∶2.0時,兩者恰巧同時完畢。由圖1可知,鎂熱還原實際發(fā)生Mg和SiO2先生成Mg2Si,Mg2Si再還原SiO2生成Si的2個獨立反應,而且2個反應分步進行,在確定的反應溫度和時間只有1個反應在進行,不會交叉重疊發(fā)生,反應過程中含硅相總是按照SiO2→Mg2Si→Mg2Si+Si→Si的順序轉(zhuǎn)變,Mg2Si作為中間過渡相參與轉(zhuǎn)化,即中間相轉(zhuǎn)化規(guī)律(圖2)。此時兩步還原總效果如下述反應(3):
圖2 鎂熱還原反應路徑示意圖Fig.2 Illustration of reaction path for magnesium reduction
2.1.2 nSiO2∶nMg的影響
圖3為660℃保溫4h鎂熱還原,nSiO2∶nMg=1∶2.5、1∶3.0、1∶3.5 和1∶4.0 時還原產(chǎn)物處理前的 XRD圖。 由圖可知,nSiO∶nMg依次從 1∶2.5 變化到 1∶4.0,
圖3 660℃保溫4 h鎂熱還原不同的n SiO2∶n Mg樣品處理前的XRD圖Fig.3 XRD patterns of sample at different n SiO2∶n Mg for 4 h at 660℃
Mg2Si峰強度劇烈增加,Si峰強度逐漸減弱,至1∶4.0時,Si的衍射峰已觀察不到。從上述鎂熱還原兩步反應規(guī)律(反應(1),(2)看出,n/n的比值超出2.0后,隨著Mg的增多中間相Mg2Si生成量增加,而反應(1)所剩 SiO2則越來越少,經(jīng)過反應(2)后,會出現(xiàn)越來越多的 Mg2Si剩余。 當 n∶nMg=1∶4.0 時,SiO2已完全轉(zhuǎn)化為Mg2Si,不再有Si出現(xiàn)。相反,若n/n<2.0時,Mg量不足,會出現(xiàn)SiO2剩余,反應Si收率降低。圖3中nSiO2∶nMg=1∶2.5樣品不出現(xiàn)剩余Mg2Si峰,可能是高溫下Mg蒸發(fā)逸出坩堝而損失,致使實際nMg/nSiO2<2.0,因而沒有Mg2Si剩余。在實際鎂熱還原工藝操作中,反應溫度、時間不同,坩堝種類、相貌、尺寸以及密封狀況差異很大,其Mg蒸發(fā)損失差異性也很大,造成實際參與反應的Mg量有很大的不確定性,從而其產(chǎn)物組成難以控制。
根據(jù)上述FS鎂熱還原實驗分析,選取條件為nSiO2∶nMg=1∶2.5,660 ℃保溫 5 h 進行鎂熱還原, 樣品處理后進行SiOx和C復合包覆改性得到NPs-Si@SiOx@C納米復合結(jié)構(gòu)。樣品處理各環(huán)節(jié)XRD圖、TEM/FESEM結(jié)構(gòu)相貌分別示于圖4和圖5。由圖4可知,保溫5 h反應即已完成。酸蝕后通過質(zhì)量稱量確定其還原程度達到87.9%(表S1),酸蝕后樣品SiO2仍有殘留(約 22%(w/w)。 經(jīng)過 SiOx和 C 復合包覆處理后,XRD圖上均出現(xiàn)SiOx、C的特征非晶相峰包,表明2種包覆層已存在。圖4中插圖為NPs-Si@C樣品中碳包覆石墨晶體的衍射峰,說明樣品表面碳層中不僅有無定形碳,還有晶體石墨。雜峰為SiC,是高溫碳化過程中Si及其氧化物和C反應生成。從圖5(a,b)看出,還原后FS氣凝膠開放鏈網(wǎng)狀組織保持不變,鎂熱還原可以復制其前驅(qū)體結(jié)構(gòu)。但是仔細分析還原前后鏈網(wǎng)狀組織,可以觀察到其初級納米粒子由還原前約20 nm長大到約50 nm,初級粒子長大趨勢同樣在N2吸附-脫附測試證實(圖 S3(a),其比表面積從 150 m2·g-1下降到 70 m2·g-1,與球粒比表面關系式 S=6/(ρD)計算值(S 為物料的比表面積,ρ為物料的塊密度,D為多分散體系粒徑統(tǒng)計平均值,本文以比表面作估值,分別為19和40 nm)相符。還原過程初級粒子長大可能主要來自于高溫下SiO2粒子的Ostwald熟化機制的貢獻。圖 5(c,d)為 HCl酸蝕(去除 MgO 相)后 FESEM 電鏡圖像。從圖可知,在酸液中還原開放的鏈網(wǎng)組織已解體,初級Si粒子重新組構(gòu)為各級不同大小的粒子團簇,團簇進一步團聚為10μm級的團簇聚集體顆粒,顆粒內(nèi)存在寬范圍尺寸分布的孔道。初級粒子重構(gòu)致使結(jié)構(gòu)致密化,振實密度提升5倍(表S2),同時酸蝕后結(jié)構(gòu)比表面積迅速升高(從70 m2·g-1升至450 m2·g-1,圖 S3(b),這是由酸蝕在初級粒子內(nèi)部蝕刻出大量介孔孔道引起。
圖4 鎂熱還原過程中FS,as-reduced,HCl-etched,NPs-Si@SiO x和NPs-Si@C樣品的XRD圖Fig.4 XRD patterns of FS,as-reduced,HCl-etched,NPs-Si@SiO x and NPs-Si@Cin the magnesiothermic reduction process
圖 5 FS (a),as-reduced (b)樣品的 TEM 圖;HCl-etched 樣品(c,d)的 FESEM 圖Fig.5 TEM images of samples FS (a),as-reduced (b);FESEM images of HCl-etched (c,d)
圖 6 NPs-Si@SiO x 的 FESEM (a),TEM (b)和 HRTEM (c)圖;NPs-Si@SiO x@C 的 FESEM (d),TEM (e)和 HRTEM (f)圖Fig.6 FESEM (a),TEM (b)and HRTEM (c)images of NPs-Si@SiO x;FESEM (d),TEM (e)and HRTEM (f)images of NPs-Si@SiO x@C
圖6 分別為包覆SiOx,以及包覆C的FESEM/(HR)TEM圖像。Si納米粒子團簇表面明顯被包覆了SiOx厚層(圖 6(a,c),覆層質(zhì)量與芯層相同(各占 50%(w/w),N2吸附-脫附測試表明其比表面積急劇減少(450 降至 35 m2·g-1), 說明原納米 Si初級粒子內(nèi)部介孔被填充滿(或完全覆蓋),粒子尺寸也長大近一倍(圖 S3(b)。 Si粒子團簇之間存在大量纖維類組織[42],構(gòu)成三維纖維網(wǎng)絡將粒子聚集顆粒鏈接,使粒子聚集體得到結(jié)構(gòu)固化和強化(圖 6(b)。 圖 6(e)是進一步包覆C后復合結(jié)構(gòu)的TEM圖,可看到Si粒子聚集體被包覆上較厚的C層 (約 50%(w/w),Raman圖譜上出現(xiàn)C層典型的D帶和G帶(圖S4),表明炭層為無定形和晶態(tài)石墨混合結(jié)構(gòu)。此外圖S4中509.8 cm-1處的特征峰較弱,這是由包覆的厚碳層幾乎全部掩蓋Si晶體衍射峰引起。圖6(f)給出SiOx和C復合包覆結(jié)構(gòu)(NPs-Si@SiOx@C)的HRTEM圖,圖中可觀察到Si粒子表面包覆的SiOx/C復合層,以及C層內(nèi)明顯的晶態(tài)石墨小片呈層狀平行排布細節(jié),粒子表面部分裸漏Si晶體原子陣列也被觀察到。圖6表明通過復合包覆改性獲得了導電性良好且穩(wěn)定的NPs-Si@SiOx@C復合納米結(jié)構(gòu)。
將得到的NPs-Si@SiOx@C復合納米結(jié)構(gòu)和NPs-Si@C復合結(jié)構(gòu)裝配CR2025模型電池做恒流充放電測試,評估其作為電池負極的儲鋰性能。在0.01~2 V電壓范圍,以2 A·g-1的電流密度進行恒電流充放電循環(huán)實驗,其測試結(jié)果示于圖7。由圖7(a)循環(huán)性能測試可知,NPs-Si@SiOx@C復合結(jié)構(gòu)和NPs-Si@C復合結(jié)構(gòu)電池的容量在前50次循環(huán)均不穩(wěn)定,這與電池內(nèi)部電解液滲透有關[43]。50次循環(huán)后NPs-Si@C復合結(jié)構(gòu)電池容量不斷衰減,而NPs-Si@SiOx@C復合結(jié)構(gòu)電池表現(xiàn)出較高的可逆容量和異常穩(wěn)定的循環(huán)性能,這是因為SiOx作為緩沖相限制循環(huán)期間Si巨大體積變化使NPs-Si@SiOx@C有更好的循環(huán)性能[40]。在2.0 A·g-1大電流密度下充放電,前500次循環(huán)容量保持約1 300 mAh·g-1(系Si-SiOx復合物容量)的容量平臺,后500次逐漸緩慢衰減,1 000 次循環(huán)容量 (964.2 mAh·g-1)保持率約75%。最初10次循環(huán)的V-Q充放電曲線示于圖7(b),在2.0 A·g-1電流密度下電池首次放電比容量達2 036.3 mAh·g-1,首次庫倫效率為 73.1%,前 10 次循環(huán)后輪廓曲線趨于重合,表明活性物質(zhì)表面已形成較為穩(wěn)定的SEI膜,結(jié)構(gòu)和循環(huán)容量趨于穩(wěn)定。由于SiOx/C包覆層較厚,前50次循環(huán)存在緩慢活化現(xiàn)象[43],容量緩慢增加至1 300 mAh·g-1后維持在此平臺不變。圖7(c)展示電流密度分組變化時循環(huán)曲線,從圖可觀察到,電流密度從0.05增至2.0 A·g-1(倍率變化 40 倍),容量從 2 100 降至約 750 mAh·g-1水平,而恢復至0.05 A·g-1時,比容量依然能恢復至較高水平,說明電極物質(zhì)倍率性能尚佳。這是因為SiOx的包覆固化顯著緩沖Si體積膨脹,增強NPs-Si@SiOx@C負極的循環(huán)穩(wěn)定性。電化學測試結(jié)果說明:由細納米粒子(8~40 nm)構(gòu)成的 FS,經(jīng)還原、酸蝕和SiOx/C復合包覆改性,形成NPs-Si@SiOx@C復合納米結(jié)構(gòu)具有較高的可逆容量,具備優(yōu)異的循環(huán)穩(wěn)定性和良好的倍率性能。這應該歸結(jié)于FS合適的細納米粒子形貌和SiOx包覆層帶來的穩(wěn)定結(jié)構(gòu)。
圖7 (a)2.0 A·g-1電流密度下NPs-Si@SiO x@C樣品和NPs-Si@C樣品的比容量和庫侖效率;(b)NPs-Si@SiO x@C樣品在2.0 A·g-1電流密度下前10次充放電曲線;(c)NPs-Si@SiO x@C樣品的倍率性能Fig.7 (a)Cyclic charge-discharge capacity and coulombic efficiency curves of NPs-Si@SiO x@Cand NPs-Si@Cat 2.0 A·g-1;(b)Charge/discharge curves of NPs-Si@SiO x@Cat the 1st,2nd,5th and 10th cycle;(c)Rate performances of NPs-Si@SiO x@C
以氣相法白炭黑為前驅(qū)體,經(jīng)鎂熱還原、HCl酸蝕處理,再進行SiOx/C復合包覆改性,獲得的復合納米結(jié)構(gòu)NPs-Si@SiOx@C被用于鋰電池負極,在2 A·g-1電流密度下循環(huán),具有 1 300 mAh·g-1的容量平臺和1 000次循環(huán)后75%的容量保持率,展示出優(yōu)異的循環(huán)穩(wěn)定性和良好的倍率特性。這應歸因于氣相法白炭黑適宜的納米粒子形貌 (8~40 nm球狀粒子),以及SiOx包覆構(gòu)建的力學穩(wěn)定的Si粒子聚集體結(jié)構(gòu)。對鎂熱還原產(chǎn)物XRD圖進行細致分析,發(fā)現(xiàn)Mg與SiO2反應分兩步進行,即先生成Mg2Si相,耗盡Mg后Mg2Si再還原剩余SiO2生成Si終相。據(jù)此Mg2Si中間相轉(zhuǎn)變規(guī)律系統(tǒng)解釋了鎂熱還原過程中溫度、時間和nSiO2∶nMg對還原產(chǎn)物相組成的影響規(guī)律。通過對不同nSiO2∶nMg和Mg蒸發(fā)逸出損失的有效控制,鎂熱還原實驗中獲得了較高Si收率(87.9%),HCl酸蝕后粒子堆積致密度提高5倍,有效提高還原產(chǎn)物的比容量和儲能密度。
Supportinginformation isavailableat http://www.wjhxxb.cn