1 引言

光纖活動連接器是一種以單芯插頭和適配器為基礎(chǔ)組成的插拔式連接器。按接頭可分FC、SC、LC、ST、MU等。 按端面分為PC、UPC、APC等。適用于光纖收發(fā)器、路由器、交換機(jī)、光端機(jī)等帶光口的設(shè)備上。光纖連接器的性能，首先是光學(xué)性能，此外還要考慮光纖連接器的互換性、重復(fù)性、抗拉強(qiáng)度、溫度和插拔次數(shù)等，在一定程度上，光纖連接器的性能影響了整個光傳輸系統(tǒng)的可靠性和各項性能。

光纖連接器是通用的無源器件，對于同一類型的光纖連接器，一般都可以任意組合使用、并可以重復(fù)多次使用，且可進(jìn)行擴(kuò)展延長傳輸距離，因此光纖活動連接的互換性試驗檢驗是十分必要的，也是具有實際意義，由此而導(dǎo)入的附加損耗一般都應(yīng)在小于0.2 dB、回波損耗變化量一般小于5 dB范圍內(nèi)。光纖活動連接器作為通信箱架類產(chǎn)品配件，其互換性試驗測試方法，在YD/T 778-2011《光纖配線架》、YD/T 988-2015《通信光纜交接箱》、YD/T 2150-2010《光纜分纖箱》中比較晦澀難懂，而作為單獨(dú)器件在YD/T 1272.3-2015《光纖活動連接器第3部分：SC型》中加入了互換性試驗要求，但是與箱架中的測試方法并不相同，本文針對業(yè)界測試工作中的一些困惑和問題，就此做一些分析和詳解，供讀者參考。

2 光纖活動連接器作為箱架配件的互換性試驗測試方法

光纖活動連接器是由適配器和跳纖（或尾纖，下面以跳纖為例）兩部分組成的，在YD/T 778-2011、YD/T 988-2015、YD/T 2150-2010中光纖活動連接器的測試方法都是相同的，

標(biāo)準(zhǔn)YD/T 778-2011 6.4.4、YD/T 988-2015 6.4.4、YD/T 2150-2010 6.4.4規(guī)定：“隨機(jī)抽取5套光纖連接器（含適配器和跳纖）為一組進(jìn)行互換試驗。在5套連接器中任意抽取一套作為公共參考適配器和跳纖，測試其光學(xué)性能，用余下4根跳纖分別替換公共跳纖，進(jìn)行光學(xué)性能測試，測試過程允許清洗插針和套筒。”按標(biāo)準(zhǔn)要求，逐個步驟進(jìn)行分析如下：

（1）隨機(jī)抽取5套光纖連接器（含適配器和跳纖）為一組進(jìn)行互換試驗。

選取5套光纖活動連接器，并為其編號為1～5號，分為適配器1～5號以及跳纖1～5號。實際檢測已為所有光纖活動連接器進(jìn)行編號，按要求隨機(jī)選取出來的5套光纖活動連接器可沿用本來編號。

（2）在5套連接器中任意抽取一套作為公共參考適配器和跳纖，測試其光學(xué)性能

假定1號連接器為公共參考適配器和跳纖，2～5號為被測光纖活動連接器（適配器和跳纖），按下面圖3、圖4測試1號光纖活動連接器的的光學(xué)性能。從圖中可以看出來，公共參考適配器和跳纖（1號光纖活動連接器）的光學(xué)性能測試是其常態(tài)的光學(xué)性能測試（圖1、圖2所示）。在檢測中如果已經(jīng)進(jìn)行了常態(tài)的測試，這一步驟不需要重復(fù)進(jìn)行。

圖1 插入損耗測試原理

圖2 回波損耗測試原理

圖3 參考適配器和跳纖插入損耗測試

圖4 參考適配器和跳纖回波損耗測試

（3）用余下4根跳纖分別替換公共跳纖，進(jìn)行光學(xué)性能測試，測試過程允許清洗插針和套筒。

最后的測試如圖5、圖6所示，依次替換2 ～ 5號跳纖，然后得出4個不同樣品的檢測數(shù)據(jù)。我們注意圖5和圖3、圖6和圖4之間的差別，都為被測跳纖（2 ～ 4號跳纖）替換掉參考跳纖（1號跳纖），與參考適配器（1號適配器）連接后進(jìn)行測試。

圖5 互換性試驗插入損耗測試

圖6 互換性試驗回波損耗測試

根據(jù)上面幾個步驟，可以看出互換性試驗所要測的樣品為1號適配器與2 ～ 5號跳纖重新組合在一起的光纖活動連接器，然后根據(jù)圖1和圖2測試原理測試其光學(xué)性能。而1號樣品作為參考適配器和跳纖，其光學(xué)性能作為參考值，可對比互換性試驗前后的光學(xué)性能變化（此參考值符合常態(tài)要求即可，YD/T 778-2011、YD/T 988-2015、YD/T 2150-2010標(biāo)準(zhǔn)中未要求計算變化量）。把由適配器和跳纖組合起來的光纖活動連接器看成一個整體，互換性試驗是適配器與跳纖進(jìn)行拆分重新組合互換后的光學(xué)性能測試，考驗的是適配器與不同跳纖之間的契合程度。

3 光纖互動連接器作為獨(dú)立器件互換性試驗的測試方法

在標(biāo)準(zhǔn)YD/T1271.3-2015 6.7.14中互換性試驗方法如下：

（1）準(zhǔn)備10只光纖活動連接器插頭，固定使用一只適配器；

（2）任意選一只插頭作為測試端，其余9只插頭全數(shù)跟這只插頭對接，每次都記錄插入損耗值；

（3）換另外一只插頭作為測試端，其余9只插頭全數(shù)跟這只插頭對接，每次都記錄插入損耗值；

（4）循環(huán)10只插頭，測10組數(shù)據(jù)。

標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的插入損耗的測試原理，如圖7所示。

圖7 跳纖插入損耗測試原理圖

該原理圖與箱架中光纖活動連接器的測試原理圖基本一致，所不同的是測試樣品為跳纖，箱架中為光纖活動連接器（適配器和跳纖）。

然后準(zhǔn)備10只光纖活動連接器插頭（不含適配器），并編號為1～10號，要求固定使用一只適配器，為減少誤差我們選擇一只性能良好的標(biāo)準(zhǔn)適配器。首先我們選擇1號連接器插頭作為測試端，2～10號連接器插頭通過固定適配器與1號分別進(jìn)行連接，測試其插入損耗，得出1組數(shù)據(jù)，如圖8所示。

圖8 互換性試驗插入損耗測試

輪換2～10號插頭作為測試端，根據(jù)圖8依次連接其余9號連接器插頭進(jìn)行測試，最終得出10組測試結(jié)果。

對比圖8與圖7可以看到，在互換性試驗中可以把測試端插頭通過固定適配器與其余連接器插頭進(jìn)行連接組成一個新的樣品，然后根據(jù)圖7測試原理測試其插入損耗。在這個測試項目中所要考驗的是插頭與另外任意一個插頭之間的契合程度。

4 小結(jié)

上文詳細(xì)解析了光纖活動連接器作為箱架體配件以及作為單獨(dú)器件進(jìn)行光纖活動連接器的互換性試驗測試的兩種不同的測試方法。通過比較兩套關(guān)于光纖活動連接器互換性試驗測試，可以推論出雖然在以上所涉及的標(biāo)準(zhǔn)中光纖活動連接器的定義和組成都是一樣的，但是由于產(chǎn)品對應(yīng)使用的標(biāo)準(zhǔn)不同，導(dǎo)致其互換性試驗的測試方式存在較大差異，有以下兩點(diǎn)原因：

（1）測試對象的不同，在箱架中光纖活動連接器進(jìn)行光學(xué)性能測試是作為一個整體進(jìn)行的，而作為單獨(dú)器件在YD/T 1272.3中進(jìn)行光學(xué)性能測試時適配器和跳纖是分開測試的；

（2）在箱架中光纖活動連接器的互換性試驗考驗的是適配器與任意跳纖之間的契合程度，而作為單獨(dú)器件在YD/T 1272.3中互換性試驗考驗的是跳纖插頭與另外任意跳纖插頭之間的契合程度。

試驗人員在測試過程中，要注意這兩種互換性試驗的不同點(diǎn)，以及其要求和檢測內(nèi)容，以便在檢測中更準(zhǔn)確地進(jìn)行試驗，有力保障產(chǎn)品測試，提升光纖活動連接器的產(chǎn)品質(zhì)量。