朱海鵬,吳海龍,但 藝,冉 敏,周 歡,付劍波,周 焱,閔泰燁
(京東方科技集團(tuán)股份有限公司 重慶京東方光電科技有限公司,重慶 400700)
隨著當(dāng)今社會(huì)的發(fā)展,各行各業(yè)如電視、筆記本電腦、手機(jī)等智能終端對(duì)顯示屏的依賴越來越重,人們對(duì)顯示產(chǎn)品畫面品質(zhì)的要求也越來越高,因此品質(zhì)優(yōu)異的顯示屏顯得格外重要。液晶顯示屏(TFT-LCD)為當(dāng)今社會(huì)最主流的顯示產(chǎn)品,畫面閃爍(Flicker)是衡量其顯示品質(zhì)的重要指標(biāo)之一,如何降低甚至消除閃爍是業(yè)界研究人員一直追求的目標(biāo)[1-4]。
液晶顯示屏以交流電(直流會(huì)使液晶劣化)進(jìn)行工作,工作時(shí)若正負(fù)幀像素電壓與參考電壓Vcom的差值不完全對(duì)稱,會(huì)引起正負(fù)幀像素電壓絕對(duì)值不一致,從而導(dǎo)致正負(fù)幀畫面亮度不同,因此呈現(xiàn)出閃爍現(xiàn)象[5-7]。目前,業(yè)內(nèi)多以閃爍_G127畫面來進(jìn)行評(píng)價(jià)或改善閃爍,實(shí)際工作中普遍采用調(diào)節(jié)共電極電壓Vcom來改善正負(fù)幀電壓對(duì)稱性,從而達(dá)到改善閃爍目的。然而,不同灰階閃爍水平不同,僅以閃爍_G127調(diào)節(jié)閃爍并不能將顯示器調(diào)至最佳,目前業(yè)界還沒有可預(yù)測(cè)不同灰階閃爍水平的定量分析方法。另外,研究結(jié)果表明,隨著VGH、VGL的變化,最佳閃爍及其對(duì)應(yīng)的最佳Vcom也會(huì)跟著變化[8-10]。
本文針對(duì)閃爍發(fā)生機(jī)理,首先研究了Vcom對(duì)閃爍的影響,結(jié)果表明隨著Vcom增加,閃爍先減小后增大。其次研究了不同灰階最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom關(guān)系,結(jié)果表明常白模式產(chǎn)品閃爍灰階增加時(shí),最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom均呈減小趨勢(shì),而常黑模式產(chǎn)品閃爍灰階增加時(shí),最佳閃爍逐漸減小,但最佳閃爍對(duì)應(yīng)Vcom逐漸增加。再次,研究了VGH對(duì)閃爍的影響,結(jié)果表明,隨著VGH增加,閃爍先減小后增大,同一畫面最佳閃爍幾乎保持不變,但不同VGH最佳閃爍對(duì)應(yīng)Vcom呈逐漸減小趨勢(shì)。最后,研究了VGL對(duì)閃爍影響,結(jié)果表明隨著VGL增加,閃爍先減小后增大,且同一畫面最佳閃爍也逐漸減小,但最佳Vcom逐漸增大。另外,提出了一種可以預(yù)測(cè)不同灰階閃爍水平的分析方法。結(jié)果表明,該分析方法計(jì)算所得閃爍與CA310(色彩分析儀)測(cè)試閃爍值趨勢(shì)一致,常白模式與常黑模式產(chǎn)品計(jì)算值與實(shí)際測(cè)試值線性相關(guān)系數(shù)均達(dá)0.95以上,說明了該分析方法有一定的準(zhǔn)確性,為定量分析不同灰階閃爍水平提供了科學(xué)依據(jù)。
決定TFT開關(guān)品質(zhì)的一個(gè)重要因素是TFT柵極金屬和源極金屬之間的寄生電容Cgs,一般把TFT連接像素電極的一側(cè)設(shè)定為源極。由于TFT的開關(guān)接近瞬態(tài) ,當(dāng)柵極電壓Vgs從高電平的VGH瞬間下降到低電平的VGL時(shí),Vgs的變化量ΔVgs被TFT寄生電容Cgs耦合到像素電極上,導(dǎo)致像素電壓Vp跳變,跳變量為ΔVp,由于ΔVp的存在,像素電壓變?yōu)?Vp-ΔVp)。
圖1(a)與圖1(b)分別為TFT關(guān)斷前后瞬間的像素電極相關(guān)電壓和電量的關(guān)系,其中,Vg1和Vg2分別對(duì)應(yīng)像素上下相連的兩根掃描線電壓,Vd1和Vd2分別對(duì)應(yīng)像素左右相連的兩根數(shù)據(jù)線電壓,Cdp1和Cdp2分別表示像素電極和左右相連兩根數(shù)據(jù)線之間的耦合電容,Cst和Clc分別表示存儲(chǔ)電容和液晶電容[11-12]。由于TFT關(guān)斷后,像素電極與周邊是獨(dú)立的,像素電極在充放電時(shí)間內(nèi)接收的總電荷被保存起來。
TFT關(guān)斷瞬間的像素總電荷守恒,所以圖1(a)所示的總電荷和圖1(b)所示的總電荷相等:
Qst+Qlc+Qdp1+Qdp2,
(1)
Q′st+Q′lc+Q′dp1+Q′dp2.
(2)
TFT開啟時(shí),Gate電壓為VGH,各電容的電荷分布分別表示為:
Qst=Cst(Vp-VGL),
(3)
Qlc=Clc(Vp-Vcom),
(4)
Qdp1=Cdp1(Vp-VdH),
(5)
Qdp2=Cdp2(Vp-VdL),
(6)
(a)TFT關(guān)斷前瞬間(a)Moment before TFT turn-off
(b)TFT關(guān)斷后瞬間(b)Moment after TFT turn-off圖1 TFT關(guān)斷前后瞬間的像素電極相關(guān)電壓和電量的關(guān)系Fig.1 Relation ship between the voltage and power of pixel electrode before and after TFT turn-off
Qgs=Cgs(Vp-VGH).
(7)
TFT關(guān)閉時(shí),Gate電壓為VGL,各電容電壓分布分別表示為:
Q′st=Cst(V′p-VGL),
(8)
Q′lc=Clc(V′p-Vcom),
(9)
Q′dp1=Cdp1(V′p-VdH),
(10)
Q′dp2=Cdp2(V′p-VdL),
(11)
Q′gs=Cgs(V′p-VGL).
(12)
將公式(3)~(12)帶入公式(1)和公式(2),得:
(13)
上式中:Cdp1+Cdp2遠(yuǎn)小于Cst+Clc,實(shí)際計(jì)算時(shí)可忽略,一旦產(chǎn)品設(shè)計(jì)生產(chǎn)完成Cst也為定值,則變化量為Cgs、Clc、VGH、VGL,本文后續(xù)研究工作基于Clc、VGH、VGL以及Vcom展開。
LCD以電壓大小來控制液晶站起角度從而來控制亮度,且液晶以交流方式驅(qū)動(dòng),如圖2所示,若Vcom值未調(diào)好,由于ΔVp的存在,相當(dāng)于在液晶層內(nèi)施加直流電壓,則Vp+≠Vp-,導(dǎo)致正負(fù)幀亮度存在差異,從而發(fā)生閃爍等現(xiàn)象,進(jìn)而縮短液晶壽命,因此,有抵消突變電壓ΔVp的必要。為了抵消突變電壓ΔVp那一部分,把公共電壓Vcom變成變量(可以調(diào)節(jié))。
圖2 像素電壓變化示意圖Fig.2 Diagram of pixel voltage change
TFT-LCD 閃爍評(píng)價(jià)首先要根據(jù)產(chǎn)品驅(qū)動(dòng)模式選擇相應(yīng)的閃爍畫面,如采用1 Dot或者1+2 Dot,顯示畫面同一幀只顯示同一極性的像素,這樣可以保證正負(fù)幀像素極性相反,使正負(fù)幀亮度差異最大。研究人員通常會(huì)選擇人眼比較敏感的綠色畫面和亮度變化較敏感的L127灰階進(jìn)行閃爍評(píng)價(jià)。
視頻電子標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)VESA(Video Electronics Standards Association)標(biāo)準(zhǔn)中閃爍測(cè)試方法一般有兩種:JEITA測(cè)試法和FMA測(cè)試法[13]。
JEITA測(cè)試法是將顯示屏的刷新頻率調(diào)整到工作狀態(tài)時(shí)的頻率,采用頻譜儀和光電轉(zhuǎn)換設(shè)備,測(cè)試一幀內(nèi)亮度隨時(shí)間的變化曲線F(t),通過快速傅里葉變換,將其轉(zhuǎn)換為亮度隨頻率的變化曲線F(ω)。接著,取與被測(cè)樣品相同頻率下的F(ω),如取F60Hz和直流下的F0Hz,再對(duì)F(ω)/F0Hz取對(duì)數(shù),結(jié)果即為閃爍值,公式表達(dá)為
(14)
(15)
FMA(Flicker Modulation Amplitude,F(xiàn)MA)測(cè)試法的測(cè)試條件同JEITA法一樣,通過光電轉(zhuǎn)換器將亮度轉(zhuǎn)換為調(diào)幅的電信號(hào),讀取電壓波形最大值Vmax和最小值Vmin,并定性認(rèn)為(Vmax-Vmin)為交流成分,(Vmax+Vmin)/2為直流成分,則閃爍的表達(dá)式為
(16)
本文實(shí)驗(yàn)研究需要外灌Vcom、VGH、VGL,為方便操作,本文采用CA310用FMA法測(cè)試閃爍值。
試驗(yàn)樣品:14.0FHD TN(常白模式)1 pcs、32HD ADS(常黑模式)1 pcs;
實(shí)驗(yàn)設(shè)備:臺(tái)式電腦、精測(cè)點(diǎn)燈機(jī)、CA310、直流電源、數(shù)字萬用表、電烙鐵、導(dǎo)線若干。
本文所選樣品包括常白模式和常黑模式產(chǎn)品。由于低灰階時(shí)(如Flicker_G0、Flicker_G4)亮度太低,CA310無法采集到閃爍值,本文實(shí)驗(yàn)研究均從32灰階開始。
不同Vcom對(duì)閃爍影響實(shí)驗(yàn)需要根據(jù)電路圖將Vcom外接直流電源,利用電腦自動(dòng)控制Vcom值變化(Step為0.01 V),并實(shí)時(shí)采集每個(gè)Vcom對(duì)應(yīng)的閃爍值,根據(jù)測(cè)試結(jié)果可以找到閃爍與Vcom對(duì)應(yīng)關(guān)系,通過測(cè)試不同灰階閃爍與Vcom關(guān)系曲線,可以得到各灰階最佳閃爍與對(duì)應(yīng)Vcom的關(guān)系。不同VGH、VGL對(duì)閃爍影響實(shí)驗(yàn),需要將VGH、VGL(Step為0.01 V)分別外接直流電源,進(jìn)行單因子實(shí)驗(yàn)分析,根據(jù)結(jié)果,可以分別得出閃爍與VGH、VGL對(duì)應(yīng)關(guān)系。另外,VGH、VGL調(diào)整時(shí),通過調(diào)節(jié)Vcom使閃爍達(dá)到最佳,可以得到不同VGH、VGL對(duì)應(yīng)最佳閃爍與Vcom關(guān)系。
不同灰階閃爍水平分析方法需要結(jié)合產(chǎn)品V-T(電壓-透過率)曲線及不同灰階實(shí)際ΔVp進(jìn)行計(jì)算,計(jì)算結(jié)果與CA310實(shí)測(cè)閃爍值線性相關(guān)性分析結(jié)果可以驗(yàn)證分析方法的準(zhǔn)確性。
實(shí)驗(yàn)分別基于14.0FHD TN與32HD ADS兩種不同顯示模式產(chǎn)品,分別將Vcom外灌連接至直流電源,通過軟件控制Vcom變化并實(shí)時(shí)采集每個(gè)Vcom下的閃爍值,實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖3所示。
圖3 閃爍與Vcom關(guān)系曲線Fig.3 Flicker vs.Vcom
實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,隨著Vcom的增加,閃爍先減小后增大(呈“V”型關(guān)系)。這是因?yàn)殡S著Vcom增加,正負(fù)幀電壓中心與Vcom差值先減小后增大,當(dāng)正負(fù)幀電壓中心與Vcom差值最小時(shí)閃爍達(dá)到最佳(曲線最低點(diǎn))。
實(shí)驗(yàn)分別測(cè)試了兩種顯示模式產(chǎn)品不同灰階最佳閃爍隨Vcom變化關(guān)系,結(jié)果如圖4所示。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,常白模式產(chǎn)品隨著灰階升高最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom均逐漸減小,而常黑模式產(chǎn)品最佳閃爍逐漸減小,但對(duì)應(yīng)Vcom逐漸增加。
常白模式產(chǎn)品ΔVp隨著灰階增大逐漸增大(Vcom負(fù)移),從而引起正負(fù)幀亮度差增大,但畫面平均亮度隨灰階增加也呈增加趨勢(shì)(主要因素),綜合導(dǎo)致最佳閃爍減?。欢:谀J疆a(chǎn)品灰階增加時(shí)ΔVp逐漸減小(Vcom正移),從而引起正負(fù)幀亮度差逐漸減小,且由于畫面平均亮度也呈增加趨勢(shì),故最佳閃爍逐漸減小。
圖4 不同灰階最佳閃爍及對(duì)應(yīng)VcomFig.4 Optimum flicker and corresponding Vcom with different gray level
實(shí)驗(yàn)中將VGH電壓外接至直流電源,VGL與Vcom保持不變,分別測(cè)試常白模式及常黑模式產(chǎn)品不同VGH電壓下的閃爍值,結(jié)果如圖5所示,表明VGH對(duì)閃爍有顯著影響。分析原因?yàn)椋旱谝浑A段,VGH較低時(shí),一方面ΔVp隨VGH增加而增大,另一方面VGH較低時(shí),像素未完全充滿,正負(fù)幀亮度差較大(主要因素),隨著VGH增加,像素逐漸充滿,正負(fù)幀亮度差減小,此階段閃爍隨VGH增加而減小;第二階段,VGH增大到一定程度,像素已完全充滿,此時(shí)ΔVp隨著VGH增加而增大,從而引起正負(fù)幀亮度差增大,即閃爍增大。
圖5 閃爍與VGH關(guān)系曲線Fig.5 Flicker vs.VGH
實(shí)驗(yàn)還研究了兩種模式產(chǎn)品不同VGH電壓最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom關(guān)系,圖6所示實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明VGH增加,最佳閃爍幾乎不變,但對(duì)應(yīng)Vcom逐漸減小,故VGH電壓變化時(shí),可以通過調(diào)節(jié)Vcom使閃爍達(dá)到最佳。
圖6 不同VGH最佳閃爍及對(duì)應(yīng)VcomFig.6 Optimum flicker and corresponding Vcom with different VGH
實(shí)驗(yàn)中將VGL電壓外接至直流電源,VGH與Vcom保持不變,分別測(cè)試常白模式及常黑模式產(chǎn)品不同VGL電壓下的閃爍值,結(jié)果如圖7所示,表明VGL對(duì)閃爍有顯著影響。分析原因?yàn)椋旱谝浑A段,VGL從-2 V逐漸減小至最低點(diǎn)(約-8 V)時(shí),雖然ΔVp逐漸增大,但此時(shí)TFT的Ioff逐漸減小(主要因素),像素電壓具有更好的保持特性,從而引起正負(fù)幀亮度差逐漸減小,即閃爍逐漸減?。坏诙A段,VGL繼續(xù)減小,ΔVp及TFT的Ioff均逐漸增大,兩者共同作用使正負(fù)幀亮度差逐漸增大,即閃爍逐漸增大。
圖7 閃爍與VGL關(guān)系曲線Fig.7 Flicker vs.VGL Curve
另外,本文還研究了兩種模式產(chǎn)品不同VGL電壓最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom關(guān)系,實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖8所示,表明隨著VGL的減小,兩種顯示模式產(chǎn)品最佳閃爍均呈逐漸增大趨勢(shì),但最佳閃爍對(duì)應(yīng)Vcom逐漸減小。分析原因?yàn)閂GL減小引起ΔVp增大,從而使最佳Vcom負(fù)移;另外VGL減小像素漏電流先減小后增加,漏電流的存在會(huì)使像素電壓保持特性變差,從而使正負(fù)幀亮度差逐漸增大,即最佳閃爍逐漸增大。
圖8 不同VGL最佳閃爍及對(duì)應(yīng)VcomFig.8 Optimum flicker and corresponding Vcom with different VGL
對(duì)單獨(dú)的一個(gè)像素而言,理想的光學(xué)波形應(yīng)該是一個(gè)60 Hz的波動(dòng)形狀,但實(shí)際的TFT-LCD存在Vcom漂移、漏電流、電容耦合等原因的影響,引起兩幀的像素電壓不同,畫面亮度明暗交替,導(dǎo)致實(shí)際的亮度波形為30 Hz的波形(對(duì)人眼而言,50 Hz以下的波動(dòng)容易識(shí)別),如圖9(a)所示,實(shí)線表示理想亮度波形,虛線表示實(shí)際亮度波形。為方便分析,可以用亮度均值表示正負(fù)幀亮度,示意圖如圖9(b)所示,其亮度變化周期為30 Hz。
圖9 面板亮度波形Fig.9 Brightness waveform of panel
如前所述,VESA標(biāo)準(zhǔn)FMA測(cè)試法是用光電探測(cè)器采集到的電壓波形最大值Vmax和最小值Vmin的差值與二者的均值作為閃爍值。電壓波形最大值與最小值可以簡(jiǎn)單地理解為亮度最大值與最小值,即正幀與負(fù)幀亮度,則正負(fù)幀亮度差與正負(fù)幀亮度的平均值的比值即為該顯示屏的閃爍,表達(dá)式如公式(17)所示。
(17)
由于閃爍是灰階正負(fù)幀亮度差的直接反映,而正負(fù)幀亮度差與正負(fù)幀像素電壓有關(guān),故可通過分析電壓-透過率(V-T)曲線,得到正負(fù)幀亮度與電壓的關(guān)系,進(jìn)而得到正負(fù)幀亮度差與電壓的關(guān)系。
圖10為常白模式與常黑模式V-T曲線,其中橫軸為源極數(shù)據(jù)線電壓(亦可看做像素電壓),由外接直流電源提供給面板,縱軸為各電壓下的歸一化亮度(亮度最大值為100%)。
圖10 不同顯示模式V-T曲線Fig.10 V-T curve with different display mode
分析各灰階閃爍水平,需要從Gamma曲線上找出灰階對(duì)應(yīng)亮度百分比,根據(jù)亮度百分比在V-T曲線上找出正負(fù)幀對(duì)應(yīng)電壓V+與V-。以TN模式產(chǎn)品為例,由于ΔVp的存在,實(shí)際的正負(fù)幀電壓會(huì)負(fù)移,從而使正幀亮度增大負(fù)幀亮度減小,即正負(fù)幀亮度不再一致,亮度差的變化率即可表征閃爍水平。
根據(jù)ΔVp計(jì)算公式,由于不同灰階液晶翻轉(zhuǎn)程度不一樣,即不同灰階液晶電容(Clc)不一樣,故不同灰階ΔVp并不是一個(gè)定值。圖11為常白模式和常黑模式透過率-Clc曲線。圖中,橫坐標(biāo)均為源極電壓,主要縱坐標(biāo)軸表示歸一化亮度,次要縱坐標(biāo)軸表示各電壓下的Clc,即各灰階的Clc。由于常白模式的Clc變化量遠(yuǎn)大于常黑模式Clc變化量,故常白模式ΔVp變化量大于長(zhǎng)黑模式ΔVp變化量。
圖11 不同顯示模式透過率與Clc關(guān)系 Fig.11 Relation between T and Clc in different display mode
對(duì)于TN型產(chǎn)品,根據(jù)電容計(jì)算公式C=ε0εS/d,因?yàn)榭紤]的是同一個(gè)液晶電容體,ε0S/d不變,可以看為常數(shù)。當(dāng)ε=ε⊥時(shí)液晶電容最小,此時(shí)顯示亮態(tài)(L255);當(dāng)ε=ε∥時(shí)液晶電容最大,顯示暗態(tài)(L0),即TN產(chǎn)品低灰階到高灰階變化時(shí),液晶電容逐漸減小,結(jié)合ΔVp計(jì)算公式,可得ΔVp逐漸增大。而對(duì)于ADS型產(chǎn)品,Clc是像素ITO與VcomITO之間的耦合電容,無法通過交疊面積計(jì)算直接得到,需要模擬獲得(模擬得出Clc+Cst,減去Cst可以得到Clc),當(dāng)液晶處于ON(L255)時(shí),液晶電容最大Clcmax(ε=ε∥),此時(shí)ΔVp最??;當(dāng)液晶處于OFF(L0)時(shí),液晶電容最小Clcmin(ε=ε⊥),此時(shí)ΔVp最大,即常黑模式低灰階到高灰階變化時(shí)ΔVp逐漸減小。
根據(jù)前述分析結(jié)果,由于ΔVp的存在,實(shí)際工作時(shí)會(huì)對(duì)Vcom進(jìn)行補(bǔ)償,為方便后續(xù)計(jì)算,假設(shè)補(bǔ)償量為ΔVpmin,則閃爍可用公式(18)表征:
(18)
計(jì)算步驟為:
(1)求出不同灰階實(shí)際ΔVpl相對(duì)ΔVpmin變化量Ωl;
(2)根據(jù)V-T曲線找出正負(fù)幀灰階電壓V+、V-;
(3)根據(jù)Ωl在V-T曲線上找出V-’、V+’;
(4)在V-T上找出ΔL+、ΔL-,并求出ΔL(%)。
其中:ΔVpl為某灰階實(shí)際ΔVp,ΔVpmin為ΔVp最小值,Ωl=ΔVpl-ΔVpmin;V+、V-分別為灰階對(duì)應(yīng)V-T曲線上正負(fù)幀電壓;V+’=V+-Ωl,V-’=V--Ωl,分別為正負(fù)幀實(shí)際電壓;ΔL+、ΔL-分別為V-T曲線上透過率變化量;L為灰階對(duì)應(yīng)V-T曲線上透過率;α為修正因子。
根據(jù)上述分析步驟,得到TN型產(chǎn)品亮度變化量計(jì)算結(jié)果如表1所示。從表1可知,低灰階到高灰階變化時(shí),ΔL(%)逐漸減小,實(shí)測(cè)閃爍值也逐漸減小,二者規(guī)律一致。
表1 常白模式正負(fù)幀亮度變化量計(jì)算結(jié)果Tab.1 Calculate results of brightness variation of positive and negative frames of TN mode
將計(jì)算結(jié)果ΔL(%)與實(shí)測(cè)閃爍值進(jìn)行相關(guān)性分析,結(jié)果如圖12所示。計(jì)算結(jié)果實(shí)測(cè)值變化趨勢(shì)一致,且線性相關(guān)系數(shù)達(dá)0.95以上,說明了該分析方法具有較高的準(zhǔn)確性。
圖12 常白模式計(jì)算結(jié)果與實(shí)測(cè)值分析Fig.12 Analysis of calculation results and measured values of TN mode
同理,得到ADS型產(chǎn)品亮度變化量結(jié)果如表2所示,ΔL(%)計(jì)算結(jié)果與測(cè)試閃爍值均隨灰階增加而減小。
將ΔL(%)計(jì)算結(jié)果與實(shí)測(cè)閃爍值進(jìn)行相關(guān)性分析,結(jié)果如圖13所示。計(jì)算結(jié)果與實(shí)測(cè)值變化趨勢(shì)一致,且線性相關(guān)系數(shù)達(dá)0.95以上,再次驗(yàn)證了該分析方法的準(zhǔn)確性。說明此方法可以用來表征不同灰階閃爍水平。
表2 常黑模式正負(fù)幀亮度變化量計(jì)算結(jié)果Tab.2 Calculate results of brightness variation of positive and negative frames of ADS mode
圖13 常黑模式計(jì)算結(jié)果與實(shí)測(cè)值分析Fig.13 Analysis of calculation results and measured values of ADS mode
本文結(jié)合ΔVp及閃爍產(chǎn)生機(jī)理,首先研究了Vcom對(duì)閃爍影響,結(jié)果如下:閃爍隨Vcom增加先減小后增大,且常黑模式產(chǎn)品隨著閃爍灰階增加最佳閃爍逐漸減小,但對(duì)應(yīng)Vcom逐漸增加,而常白模式產(chǎn)品隨著閃爍灰階增加最佳閃爍及其對(duì)應(yīng)Vcom均呈下降趨勢(shì);其次,實(shí)驗(yàn)研究了VGH對(duì)閃爍影響,結(jié)果如下:閃爍隨VGH增加先減小后增大,且最佳閃爍不隨VGH增加而變化,但對(duì)應(yīng)Vcom隨VGH增加呈減小趨勢(shì);再次,研究了VGL對(duì)閃爍影響,實(shí)驗(yàn)結(jié)果如下:閃爍隨VGL增加先減小后增大,且最佳閃爍隨VGL增加逐漸減小,但其對(duì)應(yīng)Vcom逐漸增大;最后,提出了一種可以預(yù)測(cè)不同灰階閃爍水平的定量分析方法,分別對(duì)常白模式和常黑模式產(chǎn)品進(jìn)行了分析計(jì)算,并將計(jì)算結(jié)果與VESA標(biāo)準(zhǔn)下FMA測(cè)試法閃爍實(shí)測(cè)值進(jìn)行相關(guān)性分析,結(jié)果表明計(jì)算所得閃爍值與實(shí)測(cè)閃爍值相關(guān)性系數(shù)均達(dá)0.95以上,證明了分析方法的可行性與正確性,為預(yù)測(cè)產(chǎn)品不同灰階閃爍水平提供了分析思路。