粟春梅
摘 ?要:文章介紹了CsI(T1)晶體探測器能量刻度的傳統(tǒng)方法,并對(duì)其局限性進(jìn)行了研究,發(fā)現(xiàn)對(duì)大角度范圍內(nèi)的CsI(T1)晶體無法探測到的粒子或是只能探測到某個(gè)或某幾個(gè)產(chǎn)額較高的粒子時(shí),傳統(tǒng)方法無法實(shí)現(xiàn)對(duì)所有粒子進(jìn)行能量刻度。因此文章的研究具有重要的現(xiàn)實(shí)意義,對(duì)開創(chuàng)一種新的刻度CsI(T1)晶體探測器能量的方法起到了推動(dòng)和促進(jìn)作用。
關(guān)鍵詞:CsI(T1)晶體探測器;能量刻度;局限性
中圖分類號(hào):TL814 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A ? ? ? ? 文章編號(hào):2095-2945(2020)02-0121-02
Abstract: This paper introduces the traditional method of energy calibration of CsI(T1) crystal detector, and studies its limitations. It is found that particles that cannot be detected by CsI(T1) crystals in a large angle range can only detect one, or a few high-yielding particles, the traditional method cannot achieve energy calibration of all particles. Therefore, the research in this paper has important practical significance, and it has promoted a new method for calibrating the energy of CsI(T1) crystal detectors.
Keywords: CsI (T1) crystal detector; energy calibration; limitation
引言
CsI(T1)晶體探測器是檢測帶電粒子的重要儀器[1]。它的優(yōu)點(diǎn)有效率高、可塑性強(qiáng)、機(jī)械強(qiáng)度大,耐較高溫、對(duì)重帶電粒子阻止本領(lǐng)高[2]等優(yōu)點(diǎn),因此它被廣泛應(yīng)用于能量范圍為10-100MeV/u的重離子核反應(yīng)的放射性核物理實(shí)驗(yàn)中[3]。在這些應(yīng)用中,CsI(T1)閃爍晶體用于檢測粒子的沉積能量E,計(jì)算該能量需要對(duì)能量進(jìn)行刻度,這是不可或缺的步驟。但是CsI(T1)的光輸出L與能量E的關(guān)系復(fù)雜,不僅與粒子的質(zhì)量數(shù)A有關(guān),還與核電荷數(shù)Z有關(guān),并且是一個(gè)非線性函數(shù)[4],因此其能量刻度比較復(fù)雜。而CsI(T1)晶體探測器在核物理實(shí)驗(yàn)中被廣泛應(yīng)用,因此其標(biāo)定問題受到了人們的關(guān)注。經(jīng)過大量核物理實(shí)驗(yàn)的研究,多數(shù)情況會(huì)用到的或者普遍使用的CsI(T1)晶體探測器能量的刻度方法基本形成,但在具體實(shí)驗(yàn)中會(huì)發(fā)現(xiàn),傳統(tǒng)方法會(huì)存在一定的局限性,本文將對(duì)此進(jìn)行說明。
1 探測器的結(jié)構(gòu)
在具體實(shí)驗(yàn)中,用到的靶后粒子鑒別裝置是△E-E探測器系統(tǒng),該系統(tǒng)由雙面Si微條探測器和CsI(Tl)陣列探測器組成。本文用到的CsI(Tl)陣列探測器是由8×8單元塊的CsI(Tl)晶體組成。[5]每一個(gè)探測器單元都由CsI(Tl)晶體,光電倍增管兩部分構(gòu)成。CsI(T1)晶體由中國近代物理研究所生產(chǎn),前表面為21mm×21mm、后表面為23.1mm×23.1mm。晶體的每個(gè)單元信號(hào)都可由光電倍增管單獨(dú)讀出。光電倍增管由Hamamamtsu公司制造,型號(hào)為R1213。從閃爍體出來的光子通過光導(dǎo)射向光電倍增管的光陰極,打出光電子,光電子經(jīng)電子光學(xué)系統(tǒng)輸入加速系統(tǒng)、聚焦后射向第一“打拿極”。每個(gè)光電子經(jīng)過打拿極都會(huì)擊出幾個(gè)電子,這些電子再經(jīng)過第二個(gè)打拿極,經(jīng)過倍增射向第三打拿極,就這樣一直下去,直到最后一個(gè)打拿極。如圖1所示,因此最后射向陽極的電子達(dá)到最多,最終轉(zhuǎn)變成電信號(hào)輸出。[2]
2 傳統(tǒng)的能量刻度方法及其局限性
CsI(T1)晶體探測器的能量刻度問題深受關(guān)注,但其刻度存在著很大的困難。主要是CsI(T1)晶體探測器的光輸出與能量滿足一個(gè)非線性的關(guān)系[6,7],如式(1)。
式中A為原子核的質(zhì)量數(shù),Z為原子核電荷數(shù),a0,a1,a2是需要確定的系數(shù)。一般的刻度方法是用實(shí)驗(yàn)測量數(shù)據(jù),進(jìn)行在線刻度。該方法在大部分情況下可以獲得較好的擬合效果。但對(duì)于大角度的探測單元的能量刻度存在一定問題。由于有較多統(tǒng)計(jì)量的探測單元集中在零角度范圍內(nèi),大角度探測單元很容易出現(xiàn)統(tǒng)計(jì)量不夠的情況。為了進(jìn)行大角度探測單元的能量刻度,一般也會(huì)采取磁場偏轉(zhuǎn)束流或?qū)λ鶞y量束流進(jìn)行散焦擴(kuò)大束流的發(fā)散面積來對(duì)其進(jìn)行能量刻度。但這種方法也會(huì)存在一些弊端:該方法一般只能對(duì)有限角度內(nèi)的探測單元進(jìn)行能量刻度;同時(shí)傳輸?shù)酱渭?jí)靶后的束流只有有限的幾種核素,大角度的探測單元也很難獲得更多的計(jì)數(shù)。由于這些困難,多數(shù)情況只采用靠近中間附近的探測單元的數(shù)據(jù),大角度數(shù)據(jù)很多情況都是浪費(fèi)了,非??上?。
結(jié)合9Li的碎裂反應(yīng)實(shí)驗(yàn),傳統(tǒng)的刻度方法要求在ΔE-Ch二維譜上挑選出清晰的帶子,然后與計(jì)算得到的ΔE-E譜進(jìn)行比對(duì),從而得到對(duì)應(yīng)于同一ΔE值實(shí)驗(yàn)得到的道數(shù)與計(jì)算得到的對(duì)應(yīng)能量進(jìn)而獲得相應(yīng)的擬合點(diǎn)。由于實(shí)驗(yàn)裝置、實(shí)驗(yàn)條件、實(shí)驗(yàn)方法等的多重影響,在大多數(shù)試驗(yàn)中,并不能在64塊CsI晶體上都能獲得較為清晰的ΔE-Ch二維譜,更多的情況是處于中間位置的CsI晶體可以看到清晰的帶子,如圖2所示。大角度范圍內(nèi)的CsI晶體無法探測到粒子或是只能探測到某個(gè)或某幾個(gè)產(chǎn)額較高的粒子。因此在這種情況下上述方法就無法對(duì)CsI晶體刻度,然而要對(duì)能檢測到的所有粒子進(jìn)行刻度更是無計(jì)于施。
3 結(jié)束語
本文結(jié)合具體的核物理實(shí)驗(yàn)中的數(shù)據(jù)處理存在的問題,通過對(duì)CsI(T1)晶體探測器的能量刻度傳統(tǒng)方法的局限性研究,知道了傳統(tǒng)的刻度方法可以解決大多數(shù)情況的刻度問題,然而對(duì)大角度范圍內(nèi)統(tǒng)計(jì)不足的情況還是很難刻度或者不能刻度,但是大角度范圍內(nèi)獲取的數(shù)據(jù)對(duì)核物理實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)處理又具有重要意義。因此急需一種新的方法可以針對(duì)于大角度探測單元統(tǒng)計(jì)量不足的情況下仍然可以對(duì)CsI(T1)晶體探測器的探測單元進(jìn)行能量刻度。因此在未來工作中,我們旨在尋找一種新的刻度方法,可以針對(duì)傳統(tǒng)方法的局限性,做到能對(duì)統(tǒng)計(jì)量不夠的情況進(jìn)行刻度,避免實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的浪費(fèi),使實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理更具完整性與說服力。
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