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      Ag和Zn對Sn58Bi釬料潤濕性及焊點組織的影響

      2020-03-01 07:03:26馬一鳴儲繼君呂曉春孫鳳蓮
      焊接 2020年12期
      關(guān)鍵詞:釬料潤濕性焊點

      馬一鳴, 儲繼君, 呂曉春, , 孫鳳蓮

      (1. 哈爾濱焊接研究院有限公司, 哈爾濱 150028; 2. 哈爾濱理工大學(xué), 哈爾濱 150001)

      0 前言

      在電子工業(yè)中,由于Sn-Pb共晶釬料具有良好的潤濕性,較低的成本及優(yōu)異的性能而被使用了近一個世紀[1]。然而,環(huán)境問題成為世界關(guān)注的熱點,對于各國實施禁止使用Pb的立法,開發(fā)了多種基于Sn的無鉛釬料合金。

      近年來,隨著個人電子產(chǎn)品的小型化、多功能化的發(fā)展趨勢,導(dǎo)致了電子工業(yè)對更薄、更小的電子元件的需求加劇,但應(yīng)用最廣泛的Sn-Ag-Cu系釬料(熔點217 ℃)因其較高的回流溫度,會導(dǎo)致此類電子元件和電路板的熱變形,造成翹曲而形成枕頭缺陷,降低了焊點質(zhì)量[2-3]。Sn-Bi系釬料由其較低的熔點(138 ℃)與成本,近年已被部分筆記本電腦廠商應(yīng)用于小批量的SMT生產(chǎn)線上[4-6]。但是Sn-Bi系合金中Bi相硬而脆,且時效過程中容易產(chǎn)生偏析和粗化,易出現(xiàn)焊點的空洞、剝離等問題,嚴重降低焊點的可靠性,影響電子產(chǎn)品的使用壽命[7-9]。針對Sn-Bi系釬料的缺點,文中主要對Sn58Bi1Ag-Zn釬料的性能進行了研究,通過其與Sn58Bi,Sn58Bi1Ag,Sn58Bi1Zn釬料在潤濕性及焊點組織上的對比,以期為Sn-Bi系釬料的研究提供參考。

      1 試驗材料及方法

      采用感應(yīng)熔煉方法制備了6種合金成分釬料,其化學(xué)成分見表1。依據(jù)GB/T 28770—2012《軟釬料試驗方法》對釬料進行潤濕平衡試驗并測量其潤濕時間與最大潤濕力,測試采用GOLF-318助焊劑,焊接溫度180 ℃,浸漬速度4 mm/s,浸漬深度2 mm,焊接時間10 s。此后,將釬料制備成φ650~φ750 μm的釬料球,選擇10.0 mm×10.0 mm×1.0 mm的紫銅片為試件,依據(jù)GB/T 11364—2008《釬料潤濕性試驗方法》對釬料進行鋪展試驗,焊接溫度180 ℃,焊接時間30 s,取出后空冷、清洗、測量其鋪展系數(shù)。對焊點試樣進行加熱溫度為100 ℃,加熱時間為300 h的時效處理,并對焊點剖面的釬料組織與界面IMCs組成,釬料相含量、組織細化程度及界面IMCs的厚度進行了測定與分析。

      表1 釬料成分(質(zhì)量分數(shù),%)

      2 試驗結(jié)果及分析

      2.1 Ag和Zn對Sn58Bi釬料潤濕性

      添加Ag,Zn的Sn58Bi釬料潤濕平衡試驗與鋪展試驗結(jié)果,如圖1所示。發(fā)現(xiàn)相比于SBA,SBZ釬料,SBA-1Z的潤濕時間減小,潤濕力增大。這說明Ag和Zn的添加可以提高釬料的潤濕能力,推測應(yīng)與界面IMCs的組成發(fā)生改變有關(guān)。

      圖1 添加Ag,Zn釬料的潤濕平衡試驗結(jié)果

      在SBZ中添加1%的Ag,潤濕力與鋪展系數(shù)增大,這應(yīng)是Ag的添加使得Zn在表面上的富集程度減弱,減少了局部形成的塊狀ZnO而造成的。隨著SBA中的Zn含量的增加,釬料的鋪展系數(shù)呈現(xiàn)下降的趨勢(圖2),Zn的增加使得表面富集Zn的程度與大塊氧化物量增大,造成鋪展系數(shù)減小,但添加1%~1.5%的Zn釬料的鋪展系數(shù)變化不大,但當(dāng)添加量達到2%時,釬料的鋪展系數(shù)發(fā)生大幅下降。

      圖2 釬料的鋪展試驗結(jié)果

      2.2 Ag和Zn對Sn58Bi釬料組織的影響

      2.2.1組織組成

      圖3為釬料組織形貌。Sn58Bi共晶釬料在空冷條件下,其顯微組織為(Sn+Bi)共晶,呈樹枝晶+等軸晶的亞共晶形貌。由其形貌圖3a可知,在凝固過程中,先形成由β-Sn相與細棒狀或點狀Bi相組成的樹枝狀共晶,而后在樹枝晶間形成片層狀的等軸狀共晶。

      表2為EDS分析結(jié)果。添加Ag可使得Sn58Bi釬料中生成Ag3Sn(圖3b),添加Zn則生成了針狀的Zn相(圖3c),當(dāng)Ag和Zn共同添加時釬料中生成塊狀的相(圖3d)。Ag-Zn系中間相晶體結(jié)構(gòu)見表3[10]??芍?,Zn元素原子分數(shù)在58.5%~64.7%范圍的化合物相應(yīng)為Ag5Zn8, 且隨著Zn含量增加至2%,釬料的組織組成未發(fā)生改變。這說明Ag易與Sn形成化合物相,Zn不與Sn形成化合物相,而當(dāng)Ag和Zn共同存在時,Ag更易于Zn形成化合物相。

      圖3 釬料組織形貌

      2.2.2相含量

      由于空冷條件下組織呈亞共晶形貌,因此分別對釬料中樹枝晶與等軸晶的β-Sn與Bi相含量進行了測定(圖4)。添加1%的Ag或Zn時,均可顯著抑制樹枝晶的形成,使得組織呈等軸晶形貌。而共同添加Ag和Zn時,隨著Zn的含量增加,樹枝晶含量先升高后下降,且β-Sn總含量呈先上升后下降趨勢。這說明添加少量的Zn時,由于Ag與Zn的相互作用,抑制了其各自對形成等軸晶的促進作用,但隨著Zn含量的逐漸增加,釬料中的Ag不斷被消耗,當(dāng)Zn含量達到2%時,可與Zn反應(yīng)的Ag被消耗完全,致使釬料中的相含量與SBZ接近。

      圖4 釬料中各相含量

      2.2.3組織細化程度

      減小樹枝晶臂間距與共晶間距,是提高材料性能及使用性能的重要途徑。因此,選擇二次樹枝晶臂間距λ2與共晶片層間距λE作為評價添加Ag,Zn元素對組織細化程度評價指標。測量時選取多個平行度較好的樹枝晶或共晶片層為一組,計算其平均間距。

      表2 EDS分析結(jié)果(原子分數(shù),%)

      表3 Ag-Zn系中間相晶體結(jié)構(gòu)

      由表4可知,相比于Sn58Bi釬料,添加1%的Ag對組織的細化作用不明顯,但添加1%的Zn對組織的細化作用顯著。而對于同時添加Ag和Zn的釬料,當(dāng)添加1%~1.5%的Zn時,Ag與Zn均不能發(fā)揮各自對等軸晶的細化作用,但可細化樹枝晶;當(dāng)添加量至2%時,Zn不斷與Ag反應(yīng)生成Ag5Zn8,造成Ag含量下降,使得組織開始發(fā)生細化,此時組織的細化程度與Sn58Bi相當(dāng)。

      表4 釬料組織細化程度 μm

      2.3 Ag,Zn對Sn58Bi/Cu界面IMCs的影響

      2.3.1界面IMCs組成

      對界面IMCs進行EDS分析結(jié)果見表5,掃描位置分別如圖5和圖6所示。焊態(tài)下,Sn58Bi釬料中添加1%Ag時,界面IMCs為Cu6Sn5(圖5a);添加1%Zn時,界面IMCs為Cu8Zn5(圖5b)。而添加Ag和Zn時,界面處形成了Ag,Zn,Cu富集的IMCs層(圖6a)。

      表5 界面EDS分析結(jié)果(原子分數(shù),%)

      SBA/Cu界面處生成Cu6Sn5,SBZ/Cu界面處生成Cu8Zn5,說明Ag的添加不改變界面處IMCs的組成,而Zn的添加會抑制界面處Cu6Sn5的生成。對于添加Ag和Zn的釬料,其中Zn除使得界面處生成Cu8Zn5外,還有剩余約35%,表5中的Ag含量較高、Sn含量較低,而由于Ag更易于Zn形成化合物,故此處的Sn含量應(yīng)為基體信息。綜上所述,界面處應(yīng)還存在一種Ag-Zn化合物且其Zn含量大于60%,故此化合物應(yīng)為Ag5Zn8。

      對于添加Ag和Zn的釬料,Zn的添加使得界面處僅生成Cu8Zn5,而生成的Cu8Zn5又與Ag5Zn8均為體心立方結(jié)構(gòu)且晶格常數(shù)較為接近(Ag5Zn8,a=0.934 07 nm;Cu8Zn5,a=0.886 nm[11]。因此,相似的晶體點陣結(jié)構(gòu)促進了Ag5Zn8的形成,最終形成了Ag5Zn8依附Cu8Zn5生長的復(fù)合界面IMCs層。此外,在300 h的時效過程中界面IMCs組成始終為Cu8Zn5+Ag5Zn8,未生成Cu6Sn5與Cu3Sn(圖6),隨Zn含量的增加,界面IMCs的組成也未發(fā)生改變。

      圖5 釬料/Cu界面焊態(tài)形貌

      圖6 Sn58Bi1Ag-1Zn/Cu界面形貌

      2.3.2界面IMCs的生長

      焊點試樣經(jīng)300 h×100 ℃時效處理后,隨機選取4個Cu界面視場,通過測量視場內(nèi)IMCs面積,并將該面積除以視場長度的方法,獲得界面IMCs層的厚度,最后計算其平均值(圖7)。

      圖7 焊點Cu界面IMCs層厚度

      對比Sn58Bi釬料,添加1%的Ag可以降低界面金屬化合物的生長速度,但會增加初始厚度;而添加1%的Zn雖然可以顯著減小界面IMCs的初始厚度,但會顯著促進界面IMCs的生長。分析還發(fā)現(xiàn),這兩種釬料的界面IMCs均符合拋物線生長規(guī)律[12]。

      而對于添加Ag和Zn的釬料,發(fā)現(xiàn)界面IMCs的生長規(guī)律已不再符合拋物線規(guī)律。對比發(fā)現(xiàn),不同于SBZ釬料Cu界面處的Cu8Zn5層不能抑制IMCs的生長,Cu8Zn5+Ag5Zn8的復(fù)合IMCs層不僅具有顯著減小初始厚度、降低生長速度的作用,還在時效前期從存在較長的IMCs生長孕育期。這應(yīng)是由于Cu,Sn,Zn原子很難通過擴散穿過由Cu8Zn5+Ag5Zn8組成的復(fù)合界面IMCs層,從而抑制了Cu-Sn與Cu-Zn化合物形成。此外,隨著Zn含量的增加,IMCs的初始厚度不變、生長速度輕微的加快,但時效300 h后IMCs厚度仍不到Sn58Bi的1/3,且時效前期依然存在較長的IMCs生長孕育期。

      3 結(jié)論

      (1)添加Ag或Zn均不能顯著促進Sn58Bi釬料的潤濕性能,而共同添加Ag和Zn會降低釬料的潤濕性能。

      (2)添加Ag或Zn與Sn分別生成Ag3Sn,Ag5Zn8,并可顯著減少釬料中枝晶含量,并均可細化釬料組織。而Ag,Zn共同添加并不能使得釬料組織發(fā)生細化。

      (3)Ag和Zn的共同添加使得界面處形成Cu8Zn5+Ag5Zn8的復(fù)合IMCs層,該復(fù)合界面IMCs層可顯著的減小IMCs的初始厚度,并降低其生長速度。

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