由西安工業(yè)大學(xué)自行設(shè)計(jì)、研制的非球面面形檢測(cè)系統(tǒng)是在橫向剪切干涉的技術(shù)基礎(chǔ)上，用壓電陶瓷引入相移，通過(guò)采集卡和CCD獲取系列剪切干涉條紋圖像。經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)對(duì)系列掃描條紋圖像的數(shù)學(xué)處理，實(shí)現(xiàn)了對(duì)光學(xué)非球面的快速、抗干擾、高精度測(cè)量。涵蓋光學(xué)/光電研究院所、光學(xué)/光電子元器件生產(chǎn)企業(yè)等應(yīng)用領(lǐng)域。開(kāi)發(fā)具有獨(dú)立知識(shí)產(chǎn)權(quán)的非球面面形檢測(cè)系統(tǒng)，不僅可以解決光學(xué)領(lǐng)域的非球面測(cè)量難題，而且能夠節(jié)約大量的外匯資源。目前樣機(jī)已經(jīng)開(kāi)發(fā)，作為精密光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，生產(chǎn)規(guī)模不大，但對(duì)社會(huì)的貢獻(xiàn)明顯。