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      紅外熱像儀測(cè)溫精度的影響因素

      2020-12-23 04:15:38蔣張威
      中國(guó)科學(xué)探險(xiǎn) 2020年4期
      關(guān)鍵詞:紅外測(cè)溫熱輻射

      蔣張威

      摘要:紅外熱像儀在換流站內(nèi)廣泛應(yīng)用,具有不接觸、不停運(yùn)、不取樣、不解體的“四不”優(yōu)點(diǎn)。本文以FLIR P640紅外熱像儀測(cè)量換流閥TFM板均壓電阻為例,充分結(jié)合理論分析和測(cè)溫實(shí)例,分析了發(fā)射率、測(cè)試環(huán)境、大氣條件、測(cè)量距離、測(cè)量角度等對(duì)紅外測(cè)溫的影響,對(duì)提高紅外測(cè)溫精確度及現(xiàn)場(chǎng)故障分析具有積極意義。

      關(guān)鍵詞:紅外熱像儀;紅外測(cè)溫;熱輻射

      中圖分類(lèi)號(hào):TP79? ? ? ? ? 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A

      電氣設(shè)備紅外測(cè)溫技術(shù)對(duì)換流站電氣設(shè)備的安全運(yùn)行具有重要的意義。電氣設(shè)備產(chǎn)生故障的物理機(jī)制涉及電、磁、熱、力等方面,但大多數(shù)故障可通過(guò)溫度為具體表象呈現(xiàn)出來(lái),因此溫度是檢測(cè)電力設(shè)備運(yùn)行是否正常的一個(gè)非常重要的參數(shù)。通過(guò)對(duì)設(shè)備發(fā)熱情況的分析,可及時(shí)發(fā)現(xiàn)缺陷,防止惡化。

      相比于常規(guī)的感溫貼紙、熱電偶等接觸式測(cè)溫,紅外熱像儀測(cè)溫有不接觸、不停運(yùn)、不取樣、不解體的“四不”優(yōu)勢(shì)。因此,紅外測(cè)溫技術(shù)在換流站中得到了廣泛應(yīng)用。換流站內(nèi)電機(jī)、軸承、變壓器、母線、板卡等關(guān)鍵敏感設(shè)備的日常巡檢等均離不開(kāi)紅外熱像儀。紅外熱像儀使用簡(jiǎn)單方便,但仍有多種因素影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性[1]。

      1? ? 紅外測(cè)溫的原理及儀器構(gòu)成

      1.1 黑體輻射

      當(dāng)物體表面溫度高于絕對(duì)零度就會(huì)發(fā)射出紅外輻射,被測(cè)物表面的溫度將直接影響其紅外輻射能量的強(qiáng)弱及能量按波長(zhǎng)的分布。因此,我們可以通過(guò)測(cè)量物體的紅外輻射,得到物體的表面溫度及分布情況。

      對(duì)于理想的輻射源—黑體而言,輻射能量與溫度的關(guān)系符合普朗克定律,即:

      式中:Pb(λT)—波長(zhǎng)為λ,熱力學(xué)溫度為T(mén)時(shí)黑體單位面積紅外輻射功率,W/(cm2·μm);

      C1—第一輻射常數(shù),C1=37145W/(cm2·μm) ;

      C2—第二輻射常數(shù),C2=1.4388cm·K;

      此公式可得出如下曲線。

      從圖1中曲線可以看到,伴隨著物體溫度的上升,輻射能量增強(qiáng),這是紅外輻射理論的出發(fā)點(diǎn),也是紅外熱像儀的根本設(shè)計(jì)依據(jù)[2]。

      同時(shí),根據(jù)史蒂芬-波爾茲曼定律,物體紅外輻射的總功率與溫度的關(guān)系為:

      P=εδT4

      式中:P—物體紅外輻射的功率,W·m-2;

      T—物體的熱力學(xué)溫度,K;

      ε—物體表面紅外發(fā)射率;

      δ—史蒂芬-波爾茲曼常數(shù),5.67×10-8W/(m2·K4)。

      根據(jù)史蒂芬-波爾茲曼定律,不難發(fā)現(xiàn),物體紅外輻射的能量水平和其熱力學(xué)溫度的四次方及物體的表面輻射率成正比。溫度越高,紅外輻射越強(qiáng),物體溫度的細(xì)微改變將顯著影響物體紅外輻射強(qiáng)度。因此可以通過(guò)測(cè)量物體的紅外輻射,得到物體的表面溫度值。

      1.2 紅外熱像儀的組成

      不同生產(chǎn)廠家、不同型號(hào)的紅外熱像儀因適用場(chǎng)景不同,外觀設(shè)計(jì)及內(nèi)部構(gòu)成也不同,但其主體結(jié)構(gòu)大同小異,主要部件由光學(xué)成像系統(tǒng)、紅外輻射傳感器、數(shù)字信號(hào)處理回路和顯示器等組成。其中的光學(xué)系統(tǒng)主要決定了測(cè)溫儀視場(chǎng)的范圍的大小[3]。

      根據(jù)上述原理,紅外熱像儀利用其自身所具有的光學(xué)系統(tǒng),匯聚其視場(chǎng)內(nèi)的輻射能量,通過(guò)一定的光譜過(guò)濾后獲得紅外輻射并將被測(cè)物體的紅外輻射分布情況聚焦在紅外傳感器上,在傳感器上將紅外輻射能量大小及分布轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的電信號(hào)。電信號(hào)在數(shù)字信號(hào)處理回路中通過(guò)一系列的復(fù)雜處理后,在顯示器上將紅外熱像以偽彩色圖像或灰度圖像的形式呈現(xiàn)被測(cè)物體的溫度分布情況。詳見(jiàn)圖2。

      2? ? 影響測(cè)溫結(jié)果因素

      測(cè)溫過(guò)程中的多種因素都將對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。因此,作為運(yùn)維人員有必要了解紅外熱像儀內(nèi)工作原理、測(cè)量方法、參數(shù)設(shè)置,通過(guò)采用較優(yōu)的測(cè)量方法、準(zhǔn)確的參數(shù)設(shè)定及對(duì)結(jié)果的后期分析修正獲得更加精確的溫度數(shù)值。本文將以FLIR P640紅外熱像儀測(cè)量換流閥TFM板均壓電阻為例,選取不同條件下的7個(gè)測(cè)溫點(diǎn)作為樣本,討論物體發(fā)射率、測(cè)量環(huán)境、大氣條件、測(cè)量距離、測(cè)量角度等因素對(duì)測(cè)溫精度的影響。

      2.1 物體的發(fā)射率

      物體散發(fā)的紅外輻射功率與相同條件下理想的黑體輻射功率之比,即為輻射率。

      式中:PL—物體在單位時(shí)間內(nèi)紅外輻射的功率;

      PK—黑體在單位時(shí)間內(nèi)紅外輻射的功率。

      物體的輻射率由表面材質(zhì)、顏色、表面粗糙度及表明處理工藝所決定,一般從0.1至0.95不等。表面粗糙或被氧化的金屬表面比相同材質(zhì)的光滑金屬表面相比,輻射率要高的多。例如,表面拋光的銅輻射率為0.02,而表面氧化變黑的銅輻射率為0.78。而非金屬材料,其輻射率一般在0.85至0.95左右,并且受材料表面狀態(tài)影響小。這也是一般使用非金屬材料作為參照物來(lái)標(biāo)定輻射率的原因[4]。詳見(jiàn)表1。

      不同材料或相同材料的不同表面狀態(tài)下的發(fā)射率變化很大,因此我們?cè)跍y(cè)量設(shè)備前應(yīng)該根據(jù)被測(cè)物體物理特性的不同,按照儀器說(shuō)明書(shū)所附的物體輻射率對(duì)照表,正確地按照被測(cè)物體設(shè)定相對(duì)應(yīng)的輻射率,以提高測(cè)量精度。詳見(jiàn)圖3。

      圖3中TMF板卡均壓電阻為測(cè)溫目標(biāo),劃分7個(gè)測(cè)溫區(qū)域,考察7個(gè)區(qū)域內(nèi)的最高溫度。在短時(shí)間內(nèi),分別將輻射率設(shè)置成0.7、0.8、0.9、1.0,拍攝紅外照片,分析測(cè)溫結(jié)果如下。詳見(jiàn)表2、圖4。

      可見(jiàn),測(cè)溫結(jié)果符合史蒂芬-波爾茲曼定律,溫度值與輻射率呈線性關(guān)系。

      為準(zhǔn)確地獲得物體的輻射率,可通過(guò)查表的方法,亦可使用絕緣膠帶進(jìn)行標(biāo)定。

      標(biāo)定方法:

      ①在被測(cè)物體上放置一批黑色絕緣膠帶;

      ②將被測(cè)物體的溫度至少加熱至高于室溫20K,加熱必須相當(dāng)均勻;

      ③聚焦并自動(dòng)調(diào)整照相機(jī),凍結(jié)照相機(jī)中的圖像;

      ④將測(cè)溫儀的輻射率設(shè)置為絕緣膠帶的輻射率(通常是0.97);

      ⑤記下絕緣膠帶溫度;

      ⑥調(diào)節(jié)輻射率至被標(biāo)記物體的溫度值與調(diào)節(jié)前的絕緣膠帶表面溫度一致,此時(shí)的輻射率即為物體的輻射率。

      2.2 測(cè)量環(huán)境

      測(cè)量環(huán)境對(duì)測(cè)溫結(jié)果的影響因素主要是光照和風(fēng)速。當(dāng)測(cè)量室外物體時(shí),反射和漫反射的太陽(yáng)光會(huì)疊加在被測(cè)電力設(shè)備的表面,導(dǎo)致測(cè)溫結(jié)果偏大。室內(nèi)白熾燈等照明熱源也會(huì)產(chǎn)生類(lèi)似的影響。傍晚、陰天進(jìn)行測(cè)量和場(chǎng)地內(nèi)的熄燈測(cè)溫都是簡(jiǎn)單實(shí)用的解決方案。

      當(dāng)被測(cè)物體處于風(fēng)力較大的環(huán)境時(shí),快速的流動(dòng)空氣將顯著增大散熱系數(shù),使測(cè)量溫度偏小。風(fēng)力影響可按照以下的經(jīng)驗(yàn)修正公式修正:

      式中:T1—在風(fēng)速F1下的溫升,K;

      T2—在風(fēng)速F2下的溫升,K。

      2.3 大氣條件

      大氣作為熱輻射的傳遞介質(zhì),主要影響體現(xiàn)在以下方面。一是大氣分子的吸收作用,如遍布在空氣中的水蒸氣、二氧化碳、臭氧等都能吸收紅外輻射;二是懸浮粒子的衰減作用,如塵埃、霧氣等;三是分子及懸浮微粒的散射作用。

      2.4 測(cè)量距離

      由前述可知,大氣會(huì)吸收、衰減、散射紅外輻射。當(dāng)測(cè)量距離越大時(shí),紅外輻射的強(qiáng)度越低。同時(shí),在紅外熱像儀像素有限、焦距固定的前提下,隨著距離的增加,同一被測(cè)物的投射到傳感器上的面積縮小,使其輸出的信號(hào)質(zhì)量下降,影響測(cè)溫精度。詳見(jiàn)圖5。

      以測(cè)量換流閥TFM板均壓電阻為例,我們?cè)谄溆鄿y(cè)試條件不變的情況下,分別在3米、8米、12米拍攝紅外照片,分析測(cè)溫結(jié)果如下。詳見(jiàn)表3、圖6。

      隨著測(cè)溫距離的增加,因大氣條件引起的紅外輻射能量衰減越嚴(yán)重,使測(cè)量溫度值下降,大大影響了測(cè)溫精度。因此為測(cè)得物體準(zhǔn)確的溫度,應(yīng)盡量靠近被測(cè)物體,避免紅外輻射衰減及像場(chǎng)減小引起的測(cè)量誤差。

      2.5 測(cè)量角度

      輻射的空間分布定律-朗伯余弦定律,所謂朗伯余弦定律,即黑體在任意方向上的輻射強(qiáng)度與觀測(cè)方向相對(duì)于輻射表面法線夾角的余弦成正比。詳見(jiàn)圖7。

      此定律表明,黑體輻射在表面法線方向的輻射最強(qiáng)。因此,實(shí)際進(jìn)行紅外測(cè)溫時(shí),應(yīng)盡可能選擇在被測(cè)表面法線方向進(jìn)行,如果在與法線成θ角方向檢測(cè),則接收到的紅外輻射信號(hào)將減弱成法線方向最大值的倍數(shù)。

      但針對(duì)TMF板均壓電阻等均勻發(fā)熱的圓柱形物體,在平視情況下,測(cè)溫方向均與表面垂直,角度對(duì)測(cè)溫結(jié)果的影響不大。詳見(jiàn)圖8、表4。

      3? ? 結(jié)語(yǔ)

      針對(duì)上述所列的影響紅外測(cè)溫結(jié)果的因素,我們應(yīng)根據(jù)以往缺陷經(jīng)驗(yàn)及發(fā)熱缺陷形成原理,列出易產(chǎn)生熱缺陷的設(shè)備與部位,根據(jù)設(shè)備材料及表面狀態(tài),通過(guò)查表或標(biāo)定的方式確定表面的輻射率,在測(cè)試過(guò)程中設(shè)置準(zhǔn)確的輻射率,以提高測(cè)溫的準(zhǔn)確度[5-6]。

      為減少測(cè)量環(huán)境的影響,對(duì)于室外設(shè)備測(cè)溫,宜選擇在陰天或傍晚進(jìn)行。對(duì)于室內(nèi)設(shè)備,宜采取關(guān)燈等措施,減小其他高危輻射源的影響。對(duì)于高反射性的設(shè)備表明,可采取適當(dāng)?shù)恼趽趸蛘{(diào)整角度,避開(kāi)反射背景輻射對(duì)測(cè)溫的干擾。同時(shí),應(yīng)避免在大風(fēng)、大霧、雨雪等不利天氣條件下開(kāi)展紅外測(cè)溫。

      測(cè)溫距離,在符合相應(yīng)安全距離的情況下,應(yīng)盡量縮小。并盡可能選擇在被測(cè)表面法線方向進(jìn)行測(cè)溫[7]。

      作為電力設(shè)備一線運(yùn)維人員,我們只有在充分了解設(shè)備工作原理,掌握科學(xué)的使用方法的前提下,才能充分發(fā)揮設(shè)備與作用,提高測(cè)量精度,進(jìn)而提高換流站運(yùn)維水平。

      參考文獻(xiàn)

      [1] (美)E.M.斯帕羅R.D.塞斯.顧傳保[M].輻射傳熱.北京:高等教育出版社,1982:384.

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      [3] 程玉蘭.紅外診斷現(xiàn)場(chǎng)實(shí)用技術(shù)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2002:289.

      [4] 唐忠,楊春旭,崔昊楊,等.電氣設(shè)備紅外測(cè)溫影響因數(shù)及溫度修正[J].上海電力學(xué)院學(xué)報(bào),2010,26(5):415-417.

      [5] 高小明.影響紅外熱像儀測(cè)量精度的因素分析[J].華電技術(shù),2008(11):4-7.

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      [7] 王晨,施景壘,陶加貴,等.紅外測(cè)溫診斷影響因素分析[J].電力安全技術(shù),2015,17(6):48-51.

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