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      2nm時(shí)代這么快就來了?

      2021-07-12 11:47李實(shí)
      微型計(jì)算機(jī) 2021年11期
      關(guān)鍵詞:臺積電漏極柵極

      李實(shí)

      IBM的2nm:水分似乎加多了一點(diǎn)

      IBM的2nm新聞是通過IBM的官網(wǎng)新聞?dòng)枰怨嫉?,整個(gè)新聞對IBM2nm的相關(guān)技術(shù)介紹是非常模糊的,一些關(guān)鍵性的數(shù)據(jù)比如新工藝的單位面積晶體管密度、電壓、CPP、M PP等數(shù)據(jù)均語焉不詳。更具體一些來看的話,IBM在新聞中宣稱,新的2nm工藝相比目前最先進(jìn)的7nm工藝,將實(shí)現(xiàn)同等功耗下45%的性能提升或者同等性能下75%的功耗降低,此外,I B M在新聞稿中宣稱自己的2n m工藝能夠在指甲蓋大小的芯片上容納500億個(gè)晶體管,是業(yè)界首創(chuàng)的全新技術(shù)。

      先來看看I B M給出的數(shù)據(jù)。我們知道,7n m工藝后是5n m,再之后是3n m、然后是2n m。所謂的全代工藝,是指上一代工藝的對角線尺寸是新一代工藝的2倍,對應(yīng)到工藝數(shù)據(jù)上來的話,那就是1.414倍,因此我們才看到14、10、7、5、3、2這樣接近1.414比例的等比數(shù)列。所以,IBM的2n m工藝從業(yè)內(nèi)對工藝命名的規(guī)則來看,是7nm之后的第三代。

      接下來看看性能,前文說過,IBM的2nm工藝相比現(xiàn)在最好的7nm工藝帶來了45%的性能提升和75%的功耗降低。這個(gè)進(jìn)步幅度怎么樣呢?我們采用臺積電每一代進(jìn)步的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。目前已經(jīng)公布的數(shù)據(jù)來看,臺積電的5nm工藝相比自己的7n m工藝,帶來了大約15%的性能提升和30%的功耗降低,5nm增強(qiáng)版相比5n m又可以帶來7%和15%的增幅。7nm工藝方面,相比10nm工藝,初代帶來了大約20%的速度提升或者40%的功耗降低,增強(qiáng)版這兩個(gè)數(shù)據(jù)則是7%和10%。

      從這個(gè)數(shù)據(jù)來看,隔代工藝的性能提升大約是20%,功耗降低大約是40%。換句話來說,在理想狀態(tài)下,如果以臺積電的7nm的性能和功耗為1的話,那么臺積電的5n m應(yīng)該是1.2和0.6;3nm應(yīng)該是1.4和0.3;2nm應(yīng)該來到了1.68和0.18—在這里我們估計(jì)的數(shù)據(jù)顯示,未來的2nm工藝相比現(xiàn)在的7nm工藝,其性能應(yīng)該提升大約68%,功耗降低大約82%,這顯然比IBM的數(shù)據(jù)高了不少。

      我們繼續(xù)來看其他的參數(shù),部分媒體在隨后聯(lián)系了IBM,要求IBM給出“指甲蓋”的尺寸,IBM回復(fù),他們的“指甲蓋”尺寸為150平方毫米,這樣一來,IBM的新聞中的數(shù)據(jù)就具體為“在150平方毫米的尺寸上容納500億晶體管”,折算一下晶體管密度大約為333.33MTr每平方毫米。除此之外,IBM還給出了CPP數(shù)據(jù)為44n m,結(jié)合之前三星和臺積電的相關(guān)數(shù)據(jù),再加上一些推測的數(shù)據(jù),大概可以得出如表1的數(shù)據(jù)。

      需要注意的是,這里的數(shù)據(jù)存在諸多假設(shè)。比如為了達(dá)到最大密度,假設(shè)所有廠商都采用單擴(kuò)散中斷也就是SDB。另外,考慮到IBM公布了橫截面尺寸,且沒有在IBM公布的過程中發(fā)現(xiàn)埋入式電源導(dǎo)軌也就是BPR,一般來說,需要B P R才能降低軌道高度至5.0,因此這里假設(shè)軌道高度為6.0(Tra c k s)。在最小金屬間距方面,為了達(dá)到333M Tr每平方毫米,IBM給出的相關(guān)參數(shù)顯示最小金屬間距不高于18n m,這個(gè)數(shù)據(jù)存在很大的挑戰(zhàn)性,必須使用多層EUV圖案才能實(shí)現(xiàn),因此這個(gè)數(shù)據(jù)暫時(shí)存疑。根據(jù)這些合理推測來看,I BM在采用了環(huán)繞柵極技術(shù)后,相比目前的7nm工藝,實(shí)現(xiàn)了非常顯著的進(jìn)步。不過,IBM目前公布的工藝密度僅為333M Tr每平方毫米,并且在性能、功耗等參數(shù)上表現(xiàn)還存在優(yōu)化的空間,因此這個(gè)2nm工藝可能存在一定的水分。對比臺積電的3nm,IBM的2nm在關(guān)鍵參數(shù)上與其基本相同。時(shí)間方面,臺積電的3nm工藝即將在2021年下半年開啟風(fēng)險(xiǎn)試產(chǎn),IBM則沒有給出有關(guān)2nm技術(shù)的上市時(shí)間,考慮到IBM已經(jīng)開始小規(guī)模試產(chǎn),想必最終進(jìn)入可商業(yè)化的狀態(tài)也不會太遠(yuǎn)了。

      驗(yàn)證GAA技術(shù):環(huán)繞柵極終于走向前臺

      如果說IBM發(fā)布的2nm工藝存在一定水分的話,那么本次IBM展示的終于可以實(shí)用化的G A A技術(shù)則可謂半導(dǎo)體工藝上的一大突破。

      回顧半導(dǎo)體工藝的發(fā)展,在22nm之前,所有廠商都只生產(chǎn)平面型晶體管,這類產(chǎn)品的源極和漏極和半導(dǎo)體基底材料位于一個(gè)平面上,柵極位于其上,控制電流在源極和漏極之間的導(dǎo)通,柵極是如此的重要,以至于早期表征半導(dǎo)體工藝制程的數(shù)據(jù)是柵極的長度。隨著工藝進(jìn)一步縮小,越來越小的柵極和擴(kuò)散層的存在使得源極和漏極之間存在漏電的可能性,因此22nm工藝上英特爾啟用了鰭片式源極和漏極,將原本“扁平”的源極和漏極“站立”起來,成為鰭狀物,這使得柵極對源極和漏極之間的通道控制長度大幅度提升,從原來單一的源極和通道接觸的長度大幅度增加至除了長度外,還加入了2個(gè)高度,這是FinFET也就是鰭狀晶體管的由來。

      不過隨著工藝進(jìn)一步縮小,F(xiàn)inFET技術(shù)逐漸出現(xiàn)了很多難以解決的問題,其中最主要的問題就是寄生電容,由于柵極和柵極之間的距離不斷縮小,因此柵極和柵極、柵極和通道、柵極和金屬電極之間都存在寄生電容,源極和漏極之間又存在寄生電阻,這使得FinFET技術(shù)難以在更小的尺度上發(fā)揮作用。因此,在5nm以下,廠商需要盡快轉(zhuǎn)向全新的技術(shù),這個(gè)技術(shù)就是GAA。

      GAA的全稱是Gate-All-Around,也就是全環(huán)繞柵極。GAA技術(shù)的特點(diǎn)是源極、漏極和通道不再和基底直接接觸,而是以片或者線的形式“插入”柵極,并接受柵極的控制。在采用了GAA技術(shù)后,柵極對源極和漏極之間的所有通道都實(shí)現(xiàn)了控制,并且一個(gè)晶體管可以擁有多個(gè)由源極、通道和漏極組成,更微小的片狀物,這進(jìn)一步降低了對應(yīng)的寄生電容,更顯著地提高了接觸面積。在使用GAA技術(shù)之后,半導(dǎo)體制造工藝又可以繼續(xù)延續(xù)2~3代節(jié)點(diǎn),比如從3nm開始計(jì)算的話,在1nm時(shí)代依舊可以使用GAA技術(shù),繼續(xù)往下衍生的話,可能會考慮其他的技術(shù)類型了。

      有關(guān)GAA技術(shù),之前三星在2019年7月份就宣布自己將使用GAA技術(shù)制造3nm工藝的產(chǎn)品,當(dāng)時(shí)三星的數(shù)據(jù)顯示新的3nm GAA(或者被稱為MBCFET)晶體管最多可以帶來50%的功耗節(jié)省、45%的面積減少和30%的性能改進(jìn)。不過三星在早期試產(chǎn)中公布的3nm GAA的密度僅為180MTr每平方毫米,這個(gè)數(shù)據(jù)甚至遠(yuǎn)小于采用FinFET技術(shù)的臺積電3nm工藝,因此業(yè)內(nèi)對GAA技術(shù)在產(chǎn)品端的具體實(shí)現(xiàn)產(chǎn)生了一些憂慮。

      這一次IBM的2nm工藝發(fā)布在很大程度上打消了人們的憂慮,并且IBM直接公布了采用GAA技術(shù)的晶圓照片、芯片照片和芯片微觀照片,人們可以清晰地看到GAA技術(shù)構(gòu)筑的柵極,穿插了3個(gè)納米片形態(tài)的源極和漏極,整個(gè)柵極高度為75nm、長度12nm、寬度44n m,納米片的寬度為40nm,納米片僅為5nm厚,整體工藝相當(dāng)先進(jìn)且成形完美。IBM宣稱,自己在前端采用了EUV技術(shù)生產(chǎn),并且納米片層疊構(gòu)筑在氧化物層也就是氧化硅層之上,納米片的寬度可以在15nm到70nm之間調(diào)整,這個(gè)設(shè)計(jì)可以對各個(gè)區(qū)域的電路特性予以調(diào)節(jié),比如需要高頻率和低功耗的部分可以采用不同的納米片設(shè)計(jì)方案等??梢哉f,IBM本次公布的工藝在成熟程度上相比三星GAA工藝要向前大大推進(jìn)了一步。

      展望未來:真2n m時(shí)代,IBM、三星和臺積電的比較

      除了3nm時(shí)代不同企業(yè)發(fā)布的數(shù)據(jù)外,在2nm時(shí)代,也有一些資料或者信息可以用于展望整個(gè)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展情況。ICknowledge LCC根據(jù)目前的情況進(jìn)行了一些推斷,從而制作出在全面采用GAA技術(shù)之后,臺積電、三星和IBM三家廠商的工藝情況對比。

      從IMEC公布的未來半導(dǎo)體工藝技術(shù)推測表(表2)中可以看出,在2n m時(shí)代,臺積電和三星可能將使用HNS(FS)技術(shù)來實(shí)現(xiàn)。所謂HNS(FS),也可以稱為forksheet FET,在這種工藝下nFET和pFET將集成在同一種結(jié)構(gòu)中并通過介電壁區(qū)分。相比之下,基于全能柵極FE T技術(shù)制造的FinFET或者HNS(GAA)產(chǎn)品的nFET和pFET是不同的,新的技術(shù)將進(jìn)一步縮小晶體管的尺寸,比如CPP和金屬間距等,從而進(jìn)一步提高單位面積的晶體管密度。因此,在表2中,三星和臺積電的2n m工藝的軌道高度進(jìn)一步縮減至4.33。

      在三星和臺積電的2nm工藝推出后,可以看到目前的估計(jì)是三星2n m工藝的密度略低于IBM,而臺積電的2nm工藝密度將遠(yuǎn)高于IBM的產(chǎn)品。當(dāng)然,在產(chǎn)品尚未正式發(fā)布之前,還存在著很多的變數(shù)。

      IBM:無晶圓廠的業(yè)內(nèi)領(lǐng)導(dǎo)者,意欲何為?

      IBM早已出售了自己旗下的晶圓廠,自己的芯片都交由第三方企業(yè)代工,那么IBM此時(shí)公布自己在半導(dǎo)體工藝上的進(jìn)展意欲何為呢?

      其中一個(gè)猜測就是IBM可能借助此次公布,向業(yè)界昭示自己在半導(dǎo)體工藝制程上依舊有深厚的研究能力和充足的技術(shù)儲備,并且吸引業(yè)內(nèi)有興趣的企業(yè)比如三星購買自己在半導(dǎo)體制造上的知識產(chǎn)權(quán)授權(quán)。

      另一個(gè)猜測則是IBM可能借此樹立自己在半導(dǎo)體制造工藝技術(shù)方面的專利壁壘。畢竟IBM樹大根深,之前在SOI、Fin FET等關(guān)鍵技術(shù)上都有專利在手,這一次GAA技術(shù)上市,IBM可以通過展示自己強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力和良好的技術(shù)進(jìn)展,進(jìn)一步搶先布局專利搶占先機(jī),并在市場上進(jìn)一步強(qiáng)化自己在技術(shù)和研發(fā)方面的地位??偟膩砜?,IBM的2nm工藝是一次不錯(cuò)的技術(shù)秀,有關(guān)IBM是不是達(dá)到了2nm的水準(zhǔn),估計(jì)到最后也沒有人深究。畢竟,自從進(jìn)入FinFET時(shí)代后,有關(guān)半導(dǎo)體制程的工藝命名已經(jīng)越來越離譜了,工藝代次幾乎已經(jīng)不能代表其具體的性能了。那么未來業(yè)內(nèi)會就這個(gè)問題達(dá)成一定的協(xié)議采用統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn),還是繼續(xù)目前這樣混亂的狀態(tài)呢?可能根本就沒人在乎這件事。

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