蘇俊杰,李 苗,馮乙洪,曾幸榮,程憲濤,吳向榮
(1.肇慶皓明有機(jī)硅材料有限公司,廣東 肇慶 526000;2.華南理工大學(xué) 材料科學(xué)與工程學(xué)院,廣東 廣州 510641)
隨著科技的發(fā)展,電子元器件、電器功率電路模塊以及大規(guī)模集成電路等領(lǐng)域進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)了高性能、高可靠性和小型化,工作效率不斷提高,因此各個(gè)電子元器件在工作時(shí)產(chǎn)生的熱量也急劇增加[1-2],快速地傳遞熱量是目前延長電子設(shè)備使用壽命的重要課題。硅橡膠具有良好的耐高溫性能,其在電子元器件用導(dǎo)熱產(chǎn)品中的應(yīng)用逐漸增加[3-5]。
電子元器件用導(dǎo)熱產(chǎn)品主要有導(dǎo)熱凝膠和導(dǎo)熱墊片,兩者的差別在于包裝和使用方式不同[6],其均可通過添加導(dǎo)熱粉體、提高硅橡膠導(dǎo)熱性能等方法制備。由于熱源斷面并非絕對(duì)光滑,導(dǎo)熱墊片與熱源相互接觸時(shí)會(huì)包裹空氣,而空氣對(duì)熱的傳遞產(chǎn)生限制瓶頸[7-9]。研究表明,交聯(lián)程度較低的導(dǎo)熱墊片具有較大的彈性模量,使用時(shí)能夠充分接觸熱源斷面,減少或避免空氣的阻礙,改善熱的傳遞[10-11]。
導(dǎo)熱墊片的硬度是影響其導(dǎo)熱性能的重要指標(biāo)[12],本工作分析硬度以及測試條件對(duì)導(dǎo)熱墊片導(dǎo)熱性能的影響,以期對(duì)高性能導(dǎo)熱墊片的基礎(chǔ)研究和開發(fā)指引方向。
乙烯基硅油(粘度為350 mPa·s),含氫硅油(活性氫質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0.006),江西藍(lán)星星火有機(jī)硅有限公司產(chǎn)品;鉑金催化劑KPT3000和抑制劑GY-72,廣東硅友新材料有限公司產(chǎn)品;導(dǎo)熱粉體,導(dǎo)熱系數(shù)為5.0 W·(m·K)-1的復(fù)配粉體,佛山金戈新材料有限公司產(chǎn)品。
乙烯基硅油 變量,含氫硅油 變量,導(dǎo)熱粉體 93.4,抑制劑 0.05,鉑金催化劑 0.1。
BR-1863型邵氏硬度計(jì),日本京西商會(huì)社產(chǎn)品;DRL-III型導(dǎo)熱儀,深圳艾可瑞儀器設(shè)備有限公司產(chǎn)品;XLB-6型離心機(jī),深圳鑫龍邦科技有限公司產(chǎn)品;DHG-9000型烘箱,上海合恒儀器設(shè)備有限公司產(chǎn)品。
按照試驗(yàn)配方稱料,置于離心機(jī)中,在600 r·min-1,0.09 MPa條件下混合5 min,刮壁,再混合5 min,用離型膜壓片,膠片厚度為2 mm,放置于80 ℃烘箱中固化15 min,取出備用。
邵爾A型硬度按照GB/T 528—2009進(jìn)行測試;導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻按照GB/T 10295—2008進(jìn)行測試。
通過調(diào)整乙烯基硅油和含氫硅油的配比,制備不同硬度的導(dǎo)熱墊片。硬度對(duì)導(dǎo)熱墊片導(dǎo)熱性能的影響如圖1所示。
圖1 硬度對(duì)導(dǎo)熱墊片導(dǎo)熱性能的影響
從圖1可以看出,隨著硬度的增大,導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)減小,熱阻增大。分析認(rèn)為,在本工作測試條件(測試壓力為207 kPa,溫度為80 ℃)下,隨著硬度的增大,導(dǎo)熱粉體和導(dǎo)熱墊片內(nèi)部空穴被固定的程度增強(qiáng),空穴相互擠壓和導(dǎo)熱粉體發(fā)生移動(dòng)而相互接觸的幾率減小,導(dǎo)致導(dǎo)熱墊片導(dǎo)熱系數(shù)減小,熱阻增大。綜合考慮導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻的平衡,導(dǎo)熱墊片的硬度為70度最佳。
增大測試壓力,對(duì)導(dǎo)熱墊片內(nèi)部的空氣進(jìn)行壓縮,使導(dǎo)熱粉體之間相互接觸的幾率增大,以增大導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)。本試驗(yàn)采用硬度為70度的導(dǎo)熱墊片,研究測試壓力對(duì)導(dǎo)熱墊片導(dǎo)熱性能的影響,結(jié)果如圖2所示。
從圖2可以看出:隨著測試壓力的增大,導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)增大,熱阻減??;當(dāng)測試壓力大于345 kPa時(shí),導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)增幅較小,從儀器保護(hù)和能量消耗方面考慮,測試壓力應(yīng)為345 kPa。
圖2 測試壓力對(duì)導(dǎo)熱墊片導(dǎo)熱性能的影響
溫度升高,導(dǎo)熱墊片的硬度減小。本試驗(yàn)采用硬度為70度的導(dǎo)熱墊片研究測試溫度對(duì)其導(dǎo)熱性能的影響,結(jié)果如圖3所示。
圖3 測試溫度對(duì)導(dǎo)熱墊片導(dǎo)熱性能的影響
從圖3可以看出,隨著測試溫度的升高,導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)增大,熱阻減小。分析認(rèn)為,測試溫度升高,導(dǎo)熱墊片內(nèi)部分子鏈活動(dòng)性增強(qiáng),受到壓力作用時(shí)容易發(fā)生變形,導(dǎo)熱墊片內(nèi)部的空穴結(jié)構(gòu)被壓縮,使得導(dǎo)熱粉體相互接觸幾率增大,因此導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)增大,熱阻減小。測試溫度超過80 ℃后,導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻變化幅度較小。從設(shè)備保護(hù)和能量消耗方面考慮,測試溫度應(yīng)為80 ℃。
(1)隨著硬度的增大,導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)減小,熱阻增大,適宜硬度為70度。
(2)隨著測試壓力的增大,導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)增大,熱阻減小,適宜測試壓力為345 kPa。
(3)隨著測試溫度的升高,導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱系數(shù)增大,熱阻減小,適宜測試溫度為80 ℃。
(4)導(dǎo)熱粉體形成更多的導(dǎo)熱通路是提高導(dǎo)熱墊片導(dǎo)熱性能的主要途徑之一。減少導(dǎo)熱墊片內(nèi)部氣體空穴,能夠增大導(dǎo)熱粉體接觸幾率,有助于改善導(dǎo)熱墊片的導(dǎo)熱性能。