吳榮燕,周劍良,陽(yáng)璞瓊
(1.南華大學(xué) 電氣工程學(xué)院,湖南 衡陽(yáng) 421001;2.南華大學(xué) 核科學(xué)技術(shù)學(xué)院,湖南 衡陽(yáng) 421001)
射頻四極管是磁約束核聚變托卡馬克裝置中的一個(gè)重要器件,其性能對(duì)于射頻波發(fā)射質(zhì)量起著決定性作用[1]。由于射頻四極管的結(jié)構(gòu)和工作原理十分復(fù)雜,很難直接獲得發(fā)射電流隨其結(jié)構(gòu)參數(shù)的變化情況。對(duì)四極管電流的分析一般采用等效電壓方法轉(zhuǎn)換為兩個(gè)等效三極管處理。三極管的電流流通規(guī)律比二極管復(fù)雜得多,迄今也沒(méi)有嚴(yán)格的解析計(jì)算方法,通常將其轉(zhuǎn)換為等效二極管,再用二極管的空間電荷限制的3/2次定律計(jì)算[2-3]。因此,通過(guò)研究二極管幾何結(jié)構(gòu)與電流電壓關(guān)系可為射頻四極管結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及優(yōu)化提供有效依據(jù)。
真空二極管陰極有多種電子發(fā)射方式,如熱電子發(fā)射、場(chǎng)致電子發(fā)射、光電子發(fā)射、次級(jí)電子發(fā)射等[4]。目前,大多數(shù)研究者采用同軸場(chǎng)致電子發(fā)射模型,其陰極輸出電流密度可達(dá)107A/cm2或更大,已廣泛用于高功率微波、X射線、強(qiáng)激光等領(lǐng)域[5]。邵浩等[6]利用KARAT軟件對(duì)場(chǎng)致發(fā)射條件下同軸型向內(nèi)發(fā)射二極管電流電壓二維效應(yīng)修正關(guān)系做了非常有意義的工作。Kostov等[7]利用KARAT軟件模擬了發(fā)射極為有限長(zhǎng)度同軸二極管的空間電荷限制流,證明二維空間電荷限制流是陰極長(zhǎng)度與陽(yáng)極半徑之比的遞減函數(shù)。Uhm[8]提出向內(nèi)發(fā)射二極管在一定縱橫比尺寸下,陰極表面單位面積的空間電荷限制流與陰極半徑平方呈反比。Yang等[9]用半解析近似法對(duì)發(fā)射極為有限長(zhǎng)度同軸二極管全電壓二維空間電荷限制流進(jìn)行了研究。Neira等[10]利用部分精確解和數(shù)值擬合相結(jié)合的方法推導(dǎo)了同軸真空二極管空間電荷限制流的相對(duì)論解。但相對(duì)成熟的同軸場(chǎng)致電子發(fā)射模型由于工作條件的限制并不適用于射頻四極管,而適用于射頻四極管的同軸熱電子發(fā)射模型的相關(guān)研究尚鮮有報(bào)道。真空二極管的空間電荷限制流是設(shè)計(jì)高功率微波源等強(qiáng)流電子束器件的重要參數(shù)[5]。文獻(xiàn)[11-12]得出一維情況下同軸無(wú)限長(zhǎng)圓柱面空間電荷流的3/2次定律。但在實(shí)際應(yīng)用中,同軸真空二極管并不是無(wú)限長(zhǎng),陰極發(fā)射粒子的面積也不是無(wú)限大,因此不能簡(jiǎn)單套用3/2次定律。然而,更接近實(shí)際情況的二維空間電荷限制流難以直接進(jìn)行理論推導(dǎo)。Luginsland等[13]發(fā)現(xiàn)二維與一維空間電荷限制流間存在一定的關(guān)系。目前,普遍采用的方法是首先通過(guò)數(shù)值模擬仿真或半解析等理論方法對(duì)二維空間電荷限制流進(jìn)行計(jì)算,再根據(jù)其與一維空間電荷限制流之間的關(guān)系進(jìn)行修正。
當(dāng)前,國(guó)外有多種可用于微波器件模擬的粒子云網(wǎng)格(PIC)軟件。其中,最具影響力的主要有美國(guó)空軍實(shí)驗(yàn)室的ICEPIC、加州大學(xué)的OOPIC、MISSION公司的MAGIC和俄羅斯的KARAT及法國(guó)達(dá)索公司的CST等[14-15]。CST粒子工作室適用于電真空器件、粒子加速器、等離子體等自由帶電粒子與電磁場(chǎng)自洽相互作用下運(yùn)動(dòng)的仿真分析,且能非常方便地導(dǎo)入現(xiàn)行的各種3D建模文件,因此引起了國(guó)內(nèi)外學(xué)者的廣泛關(guān)注[16-17]。王洪廣等[18]利用CST粒子工作室分別對(duì)平行平板和同軸傳輸線微波器件的微放電閾進(jìn)行了模擬計(jì)算。Safi等[19]對(duì)Ku波段錐形螺旋線行波管和Q波段折疊波導(dǎo)行波管進(jìn)行了建模仿真,結(jié)果表明CST能準(zhǔn)確地模擬真實(shí)尺寸的行波管。Tian等[20]利用CST粒子工作室對(duì)基于粒子云網(wǎng)格法帶狀注慢波結(jié)構(gòu)的三維快速時(shí)域非線性算法進(jìn)行了驗(yàn)證,結(jié)果一致性良好。本文采用CST粒子工作室對(duì)同軸熱電子向外發(fā)射二極管模型進(jìn)行模擬仿真,研究二維空間電荷限制流隨二極管幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)變化的規(guī)律。
所有物體里均含有大量的電子,但這些電子在常態(tài)下所具有的能力不足以逸出物體,要將它們從物體里釋放出來(lái),必須另外給予它們能量,或設(shè)法將阻礙它們逸出的力消除[4]。熱電子發(fā)射給予電子能量的方式是加熱物體,電子在物體里無(wú)序熱運(yùn)動(dòng)的能量隨溫度的增高而增大。其中有些電子則能克服抑制他們逸出的阻力而逃逸出物體。當(dāng)金屬表面沒(méi)有外電場(chǎng)時(shí)的發(fā)射電流密度,稱為零場(chǎng)發(fā)射電流密度(J0),J0與溫度T和逸出功Eφ的關(guān)系為:
J0=A0T2exp(-Eφ/kT)
(1)
式中:A0為發(fā)射常數(shù),A0=120.2 A/(cm2·K2);k為玻爾茲曼常數(shù)。
逸出功Eφ與陰極材料的性質(zhì)有關(guān)。本文選取的陰極材料為敷釷鎢,電子逸出功Eφ約為2.63 eV[21],敷釷鎢陰極工作溫度為2 000 K。當(dāng)金屬表面有外電場(chǎng)存在時(shí),發(fā)射電流密度與極間電壓的關(guān)系如圖1所示,發(fā)射電流密度先隨極間電壓的升高而增大,這一段為空間電荷限制區(qū);當(dāng)電壓超過(guò)一定值時(shí),發(fā)射電流密度保持不變,這一段為溫度限制區(qū)[2-4]。本文研究二極管工作在空間電荷限制區(qū)時(shí)電荷限制流隨幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)的變化情況。
圖1 發(fā)射電流密度與極間電壓的關(guān)系Fig.1 Relationship between emission current density and electrode voltage
在一維近似條件下,假設(shè)電極長(zhǎng)度較半徑大得多,電極間的電場(chǎng)可認(rèn)為是均勻的,可得到泊松方程[2]為:
(2)
式中:V為與電極同軸的圓上任一點(diǎn)電位;R為與電極同軸的圓半徑;ρ為電極間的空間電荷密度;ε0為真空介電常數(shù)。
在電極間取與電極同軸的圓柱面,其半徑為R,高度為1,則流過(guò)該圓柱面的電流I為:
I=2πRρv
(3)
電子速度和電位的關(guān)系為:
(4)
結(jié)合式(2)、(3)和(4),可得:
(5)
式中,e、m和v分別為電子電荷、電子靜止質(zhì)量和電子速度。
B=x-0.4x2+0.091 67x3-
0.014 24x4+0.001 68x5+…
(6)
式中,ra、rc和L分別為陽(yáng)極半徑、陰極半徑和陰極長(zhǎng)度。
由式(6)可看出,在空間電荷限制條件下,不論電極系統(tǒng)形狀如何,電流是電壓的3/2次方函數(shù)是普遍適用的??臻g電荷限制流與二極管電壓、陽(yáng)極和陰極半徑、陰極長(zhǎng)度等參數(shù)有關(guān)。
1) 二極管模型目標(biāo)及模擬參數(shù)設(shè)置
二極管工作在空間電荷限制區(qū),如何在不產(chǎn)生虛陰極的情況下得到一定電壓條件下的陽(yáng)極、陰極半徑及陰極長(zhǎng)度這些幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)是二極管設(shè)計(jì)的關(guān)鍵問(wèn)題之一[22]。本工作擬利用CST粒子工作室,對(duì)同軸向外發(fā)射二極管的二維空間電荷限制流進(jìn)行模擬,在不產(chǎn)生虛陰極情況下,得到一定結(jié)構(gòu)尺寸條件下二維空間電荷限制流與一維空間電荷限制流之間的關(guān)系,即二維空間電荷限制流模擬值修正系數(shù)α(α=二維空間電荷電流模擬值/一維經(jīng)典理論值)。
本文采用粒子跟蹤求解器對(duì)二極管模型進(jìn)行模擬。二極管三維模型和一維圖示于圖2。二極管陽(yáng)極和陰極材料為理想導(dǎo)電導(dǎo)磁材料,模型背景為真空,定義邊界條件均為open。網(wǎng)格劃分采用自動(dòng)網(wǎng)格劃分和手動(dòng)局部加密方法[14]。發(fā)射管的陰極材料為敷釷鎢,定義粒子源發(fā)射類型為熱電子發(fā)射模式,溫度設(shè)置為2 000 K,逸出功為2.63 eV,電子熱發(fā)射初速度為0,陽(yáng)極電壓設(shè)置為2 000 V,陰極電壓設(shè)置為0 V。仿真模式為靜電模式,忽略電子束流自身磁場(chǎng)。
2) 二維空間電荷限制流仿真流程
為探明二維空間電荷限制流模擬值修正系數(shù)α隨二極管幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)的變化情況,本文取不同陽(yáng)極半徑ra、陰極半徑rc和陰極長(zhǎng)度L,對(duì)二極管二維空間電荷限制流進(jìn)行了模擬。首先,保持ra不變,研究空間電荷限制流隨rc和L的變化情況;然后,保持半徑比(ra/rc)不變,L在10~200 mm范圍內(nèi)變化時(shí),研究α隨縱橫比H(H=L/ra)的變化情況;最后,當(dāng)L在10~200 mm范圍內(nèi)變化時(shí),研究α隨ra/rc(ra/rc=1.2、2、3、4、5、6)的變化情況??紤]到邊緣效應(yīng)影響,模擬過(guò)程中陽(yáng)極長(zhǎng)度取值大于陰極長(zhǎng)度。
為研究空間電荷限制流與L和rc的關(guān)系,在ra恒為24 mm的情況下,首先保持rc(分別為12、16和20 mm)不變,改變L(變化范圍為10~160 mm),研究空間電荷限制流隨L的變化情況;然后,保持L(分別為80、120和160 mm)
不變,改變r(jià)c(變化范圍為5~25 mm),研究空間電荷限制流隨rc的變化情況。圖3為空間電荷限制流與L和rc的關(guān)系,可看出,二維電流和一維電流是L和rc的遞增函數(shù)。
圖3 電流與陰極長(zhǎng)度(a)和陰極半徑(b)的關(guān)系Fig.3 Current vs cathode length (a) and current vs cathode radius (b)
半徑比相同的情況下,ra和rc有很多種組合。探究半徑比相同,ra和rc的取值不同時(shí),α是否恒定對(duì)半徑比相同情況下二維空間電荷限制流修正系數(shù)曲線的一致性具有重要意義。選取半徑比為3時(shí),研究ra=12 mm、rc=4 mm和ra=30 mm、rc=10 mm兩種情況下α隨縱橫比H的變化情況,結(jié)果如圖4a所示,可看出,半徑比同為3時(shí)的修正系數(shù)曲線幾乎一致。
圖4b為不同ra/rc時(shí)二維空間電荷限制流的修正曲線,α是H的單調(diào)遞減函數(shù),隨ra/rc逐漸增大,二極管二維空間電荷限制流逐漸減小,即隨ra/rc逐漸增大,α逐漸降低,這與文獻(xiàn)[7]結(jié)論相一致。之所以存在這樣的規(guī)律,可能是因?yàn)橐痪S空間電荷限制流一般認(rèn)為電流軌跡呈直線,其電流密度沿二極管徑向均勻分布。而二維空間電荷限制流在徑向橫截面呈擴(kuò)展分布,這是由空間電荷引起沿二極管徑向分布的電流密度不均勻造成的[7]。圖5為電流發(fā)射分布,可看出,陽(yáng)極上被電流占據(jù)區(qū)域的長(zhǎng)度明顯大于陰極長(zhǎng)度,可知二維空間電荷限制流在發(fā)射區(qū)域有擴(kuò)展分布情況。仿真是在電子發(fā)射初速度為0、陽(yáng)極和陰極之間無(wú)磁場(chǎng)、靜電模式下忽略電子束流自身磁場(chǎng)條件下進(jìn)行的。圖6為ra/rc=1.2及ra/rc=3時(shí)電流發(fā)射狀態(tài),可看出,擴(kuò)展分布區(qū)域發(fā)生在陰極邊緣處,可能是因?yàn)檫吘壧幍碾娮釉诎l(fā)射區(qū)域外沒(méi)有電子對(duì)其排斥的作用力,但會(huì)受到發(fā)射區(qū)域內(nèi)部電子的排斥作用,導(dǎo)致邊緣區(qū)域電子受內(nèi)部電子的排斥力和電場(chǎng)力的共同作用沿著徑向往外擴(kuò)展發(fā)射。工作電壓和陽(yáng)極半徑相同的情況下,半徑比越小,邊緣區(qū)域電子在排斥力和電場(chǎng)力共同作用下從陰極到陽(yáng)極的距離越小;反之,半徑比越大,則邊緣區(qū)域電子在排斥力和電場(chǎng)力共同作用下從陰極到陽(yáng)極的距離越大,可見擴(kuò)散距離會(huì)隨半徑比增大而增加。
圖4 ra/rc=3(a)及不同ra/rc(b)時(shí)二維空間電荷限制流修正曲線Fig.4 Two-dimensional space charge limited current correction curve with ra/rc=3 (a) and different ra/rc values (b)
圖5 電流發(fā)射分布Fig.5 Current emission distribution
圖6 ra/rc=1.2(a)及ra/rc=3(b)時(shí)電流發(fā)射狀態(tài)Fig.6 Current emission state with ra/rc=1.2 (a) and ra/rc=3 (b)
當(dāng)陰極長(zhǎng)度一定,陽(yáng)極和陰極之間的距離較小時(shí),電流擴(kuò)展分布的程度也較小(圖6a)。隨二極管陰極長(zhǎng)度不斷增加至無(wú)限長(zhǎng),可近似看成是一維空間電荷限制流理想條件,此時(shí)二維空間電荷限制流與一維空間電荷限制流之比趨近于1。隨著陽(yáng)極和陰極之間的距離增大,電流擴(kuò)展分布的程度也隨之增大(圖6b),則二維空間電荷限制流與一維空間電荷限制流之間的差別也變大。
虛陰極產(chǎn)生的臨界條件是二極管模型設(shè)計(jì)時(shí)的重要參數(shù)[20],二極管的電壓、陽(yáng)極和陰極半徑及陰極長(zhǎng)度都會(huì)影響虛陰極的產(chǎn)生。
1) 陽(yáng)極和陰極半徑的影響
相同電壓下,固定陰極長(zhǎng)度L(L=64 mm),模擬不同陽(yáng)極半徑ra(ra取值范圍為24~60 mm)下,開始產(chǎn)生虛陰極時(shí)對(duì)應(yīng)的陰極半徑。得到陽(yáng)極與陰極半徑比隨陽(yáng)極半徑變化時(shí)產(chǎn)生虛陰極的臨界曲線(圖7a)。由圖7a可看出,相同電壓下,開始產(chǎn)生虛陰極時(shí),陽(yáng)極與陰極半徑之比是陽(yáng)極半徑的遞減函數(shù)。
2) 陰極長(zhǎng)度之間的影響
相同電壓下,固定陽(yáng)極半徑ra(ra=40 mm),模擬在不同陰極長(zhǎng)度L(L取值范圍為10~80 mm)情況下,開始產(chǎn)生虛陰極時(shí)的陰極半徑。得到陽(yáng)極與陰極半徑比隨陰極長(zhǎng)度變化時(shí)產(chǎn)生虛陰極的臨界曲線(圖7b)。由圖7b可看出,相同電壓下,在陰極長(zhǎng)度近似小于30 mm時(shí),陽(yáng)極與陰極半徑比是陰極長(zhǎng)度L的遞減函數(shù);在陰極長(zhǎng)度近似大于30 mm時(shí),陽(yáng)極與陰極半徑比不再隨陰極長(zhǎng)度L變化??梢姡?dāng)陰極長(zhǎng)度大于30 mm時(shí),陰極長(zhǎng)度對(duì)虛陰極產(chǎn)生的影響不大。
3) 電壓的影響
為了研究電壓對(duì)產(chǎn)生虛陰極的影響,模擬了不同電壓(5~50 kV)下,開始產(chǎn)生虛陰極時(shí)陽(yáng)極與陰極半徑比隨陽(yáng)極半徑變化的情況。圖7為半徑比與陽(yáng)極半徑和半徑比與陰極長(zhǎng)度對(duì)虛陰極的影響。由圖7a可看出,隨工作電壓的增大,半徑比與陽(yáng)極半徑關(guān)系曲線有向下微移的趨勢(shì)。電壓對(duì)虛陰極的影響顯然沒(méi)有陽(yáng)極和陰極半徑變化對(duì)虛陰極的影響顯著。由圖7b可看出,隨著工作電壓的增加,半徑比與陰極長(zhǎng)度關(guān)系曲線同樣有向下微移的趨勢(shì)。
圖7 半徑比與陽(yáng)極半徑(a)和半徑比與陰極長(zhǎng)度(b)對(duì)虛陰極的影響Fig.7 Influence curve of radius ratio vs anode radius (a) and radius ratio vs cathode length (b) on virtual cathode
利用CST粒子工作室對(duì)熱電子向外發(fā)射同軸二極管結(jié)構(gòu)參數(shù)變化與二維空間電荷限制流之間關(guān)系進(jìn)行了研究。以一維經(jīng)典計(jì)算理論作為依據(jù),結(jié)合模擬結(jié)果分析了不同幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)的二維空間電荷限制流與一維計(jì)算值之間的關(guān)系,發(fā)現(xiàn)α是H的單調(diào)遞減函數(shù),隨著陽(yáng)極半徑與陰極半徑之比逐漸增大,α逐漸降低;研究了在一定電壓條件下,虛陰極產(chǎn)生與幾何結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系,發(fā)現(xiàn)二極管的電壓、陽(yáng)極和陰極半徑及陰極長(zhǎng)度都會(huì)影響虛陰極的產(chǎn)生。利用修正系數(shù)得到二維空間電荷限制流隨幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)改變而變化的關(guān)系,可為射頻四極管結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供參考和一定理論依據(jù)。