趙顯志,王騰飛,朱永磊
(中化地質礦山總局河南地質局,河南 鄭州 450011)
本研究場地位于中部某省份,地貌單元屬沖洪積平原,地形呈北高南低。本工作區(qū)主要以粉土為主,巖性變化較小,其地球物理特征表現為:自身電阻率變化也很小,受其含水率的變化,電阻率出現差異,也是本次開展直流高密度電法的前提,通過本次測量發(fā)現,該地區(qū)粉土層視電阻率一般是40Ω.m~120Ω.m,隨著含水率的增加視電阻率逐漸降低,視電阻率往往小于40Ω.m。
根據工作區(qū)具體特征,在a#樓體的南北兩側和東側布設了3條2D直流高密度電法剖面,在a#樓的東側和南側圍繞樓體外圍布設了兩條矩形3D測線、一條╝型天然電場測線和4條中間梯度法測線,測線分布圖見圖1。
圖1 直流高密度電法工作示意圖
直流高密度電法采用多芯電纜和多道電極人工建立地下穩(wěn)定直流電場,通過程控式多路電極轉換器,選擇不同的電極組合方式和不同的極距間隔,實現供電和測量電極的自動轉換、自動供電、自動觀測和自動記錄、自動計算和自動存儲,獲取地下介質的視電阻率分布規(guī)律,進而推斷地下的地質結構和構造解決水文與工程地質問題。
直流高密度電法綜合了剖面(水平)、測深(垂直)兩方面的信息,測點密、信息量大,提高了電性的分辨能力,又減少了人為影響因素,提高了工作效率。帶地形的電阻率層析成像技術,使得視電阻率剖面直觀地反映地下介質的電性變化。為地質推斷解釋帶來了極大的方便。150道的高密度電法,橫向的分辨率高,多種裝置可供選擇以適應解決不同的地質問題。高密度對淺層良好的適應性,可用于探測基巖面起伏、土層中的“擾動”低阻區(qū)。該方法的原理是利用隨供電電極距AB的逐漸增大和測量電極MN的移動,來達到測深和測剖面的綜合效果。高密度電法集合了電阻率剖面和電阻率測深的綜合優(yōu)點,采用高密度布置電極的方式采集數據,達到高精度解決地質問題的目的。由儀器的先進設計及資料處理能力及高密度電法儀,能快速而準確地獲得豐富的地電信息。
本次工作使用以GD-10多功能數字直流激電儀為測控主機。按照不同的實際情況,沿房屋外圍布線點距2m。由于每條剖面長度不近相同,即電極個數150根,選擇隔離系數根據要求測量深部不同而定。供電時間T=2mS,接地電阻小于1000Ω·m。供電電源使用450伏電池箱組并聯,供電電流穩(wěn)定。
使用上述儀器及設備對工區(qū)進行了測量,為了保證觀測質量,對測量中出現的個別畸變點和異常點進行了重復觀測。為保證測量精度,采取的具體措施如下:開工前,必須對用于生產的儀器的技術指標進行測試,只有技術指標完全符合規(guī)范要求的儀器方可用于野外生產。盡量提高供電電源電壓,采用三箱蓄電池組箱串聯供電,供電電壓450v。為防止漏電,采用絕緣性能好的專用電纜為AB供電電線。觀測之前,首先通過儀器檢查各電極的接地情況,當發(fā)現接地電阻大于1000Ω者,改善接地條件,打深、澆水或適當移位,保證所有電極接地條件良好方可開始進行測量,以保證較大的供電電流和取得信號的質量。
經過對本次直流高密度視電阻率測深1條剖面系統(tǒng)質量檢查,質量檢查采用重新布線布極的方式,質量檢查剖面長度占總剖面長度的11.1%。經過統(tǒng)計計算,均方相對誤差M=±3.13%,小于4%規(guī)范要求,說明質量可靠。
物探工作每天將野外采集數據通過通訊線傳輸至計算機,通過格式轉換、數據整理等步驟,提交正確無誤的數據,使用專業(yè)繪圖軟件Surfer8.0繪出ρs等值線斷面圖,以此圖為依據進行解釋推斷。
當天的數據當天處理,處理采用深圳地脈科技有限公司隨儀器配套研發(fā)的電法數據處理與轉換程序,轉入2D、3D電法解釋軟件對資料進行整理,地形校正、擬合解釋,得到各測深點的深度。解釋軟件利用瑞士《2DVES二維高密度電法反演軟件》進行數據處理,程序處理后的資料采用surfer8軟件繪制比例尺1:2000解譯視電阻率斷面等值線圖,然后轉換成CAD2004版.dwg繪圖格式。根據二維自動解釋結果,推斷出各剖面地電分布規(guī)律。
3.2.1 自然電場推斷解釋
本次圍繞a#樓東南角布設╝型自然電場測量剖面,測線X20Y8的位置位于樓體東南角的東南方向,距離樓東南角偏東1.5m偏南5.6m,并作出自然電位分布圖,從圖中可以來看,該區(qū)域樓梯東側存在大量的正電位場,樓梯南側主要以負電位場形式存現,電位變化范圍-315mV~82mV。說明該區(qū)域地表水水流方向為南北向。
3.2.2 2D直流高密度電法推斷解釋
(1)1剖面直流高密度電法推斷解釋:1剖面位于a#樓北側,與樓體北墻近似平行布設,測線距墻邊為9m,測線長度130m,點距2m,隨著深度的增加視電阻率整體呈現低高低的電性特征,淺部的低電阻率現象,主要為回填土反應;中部的電阻率現象主要為粉土層反應,由于含水率較小,呈現高阻現象;下部的低電阻率現場主要是隨著深度的增加含水率逐漸增大,視電阻率呈現的低阻現象。在48m~84m段地下3m至15m的深處出現一個高阻缺失,說明該處含水率相對較高或粉土層缺失。
場頭廢地立地條件比較差,土壤肥力貧瘠,如果采取常規(guī)扦插方法,出苗率低,效益差,很難達到90%以上的出苗率,所以要因地制宜,從整地改土,扦插苗處理,肥水保持,修剪管理,病蟲害防治上,采取一系列切實有效的措施,才能確保大葉女貞扦插育苗的成功。
(2)2剖面直流高密度電法推斷解釋:2剖面位于a#樓東側,距離東墻5.5m,南北向布設,測線長度120m,點距2m,隨著深度的增加視電阻率整體呈現低高低的電性特征,視電阻率分布特征與1線相類似,在50m~72m段地下3m至15m的深處出現一個高阻缺失,說明該處含水率相對較高或粉土層缺失。
(3)3剖面直流高密度電法推斷解釋:3剖面位于a#樓南側,距離樓南墻9.5m,東西向布設,測線長度120m,點距2m,隨著深度的增加視電阻率整體呈現低高低的電性特征,視電阻率分布特征與1線相類似,在30m~68m段地下5m至20m的深處出現一個矩型高阻缺失,說明該處含水率相對較高或粉土層缺失。
3.2.3 中梯掃面推斷解釋
(1)1區(qū)中梯掃面推斷解釋:1區(qū)位于a#樓南側東西布設,網度20×5,點距2m,樓體南墻距最近測線5.5m,樓體東南角位于測線的X19的位置,從電性分布圖中可以看出,隨著AB距的增加,在X8~18段高電阻率出現缺失,說明該段含水率較高或是粉土層缺失。
(2)2區(qū)中梯掃面推斷解釋:2區(qū)在a#樓南側東西布設,網度10×10,點距2m,樓體東南角距最近電極1.5m,電性分布圖中可以看出,隨著AB距的增加,在Y-5~5段高電阻率出現缺失,說明該段含水率相對較高或是粉土層缺失。
3.2.4 3D直流高密度電法推斷解釋
(1)1區(qū)3D直流高密度電法推斷解釋:1區(qū)3D在a#樓南側,測線與1區(qū)的中梯掃面測線向重合,電性分布見圖2,從圖中可以看出,4m~12m位于呈現低阻凹陷,說明該段地層含水率較高,該地電斷面與2D的3剖面測量結果相對應。
圖2 1剖面視電阻率3D綜合擬斷面圖
(2)2區(qū)3D直流高密度電法推斷解釋:2區(qū)3D在a#樓東側,測線與2區(qū)的中梯掃面測線向重合,并作出電性分布圖3,從圖中可以看出,X0、Y4m~14m呈現高阻狀態(tài),說明該段地層較為穩(wěn)定含水率較低;X4~12、Y0~18呈現低阻凹陷,說明該段地層含水率較高,該地電斷面與2D的2剖面測量結果相對應。
圖3 2剖面視電阻率3D綜合擬斷面圖
直流電法存在體積效應、邊界效應、縱深比等因素,物探異常的發(fā)現除與技術手段、儀器精度有關外,與地質背景、地形條件、目標體的規(guī)模、埋深、物性差異及測網密度均有直接的關系。盡管在資料整理的時間充分進行了地改、反演、計算等來消除地形影響,但是測量精度還是受到一定影響。物探只是一種間接手段,成果具有一定的不確定性和多解性,所以不得將未經驗證的物探結果作為唯一依據使用于設計、施工。
根據測量結果,可大致將工作區(qū)分為三個電性特征:
(1)埋深0m至5m段主要表現為中低電阻率,視電阻率在40Ω·m左右,主要為素填土或者粉土含水率較弱的反應。
(2)埋深5m~20m段主要表現為中高電阻率,視電阻率在大于40Ω·m,主要為粉土含水率較差的反應,部分段視電阻率低于40Ω·m,說明該段含水率較高。
(3)埋深20m以下,視電阻率小于40Ω·m,說明該深度含水率較高。
綜合來看,本次測量取得了較好的效果,劃分出了埋深5m至20m段的含水率較高的位置,發(fā)現在a#樓的東段的下部,埋深在3m至5m的下方,出現30m至36m的高阻缺失的異常。建議在a#樓南側東段進行工程驗證,通過工程驗證,確定異常存在的原因,再由設計部門根據實際情況進行合理調整。