郭德洲,胡 竟,楊福全,耿 海,李 娟,趙以德,李建鵬
(蘭州空間技術(shù)物理研究所 真空技術(shù)與物理重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,蘭州 730000)
離子推力器具有比沖高、效率高、壽命長(zhǎng)和調(diào)節(jié)范圍寬的特點(diǎn),可以用來(lái)執(zhí)行航天器位置保持、軌道轉(zhuǎn)移、阻力補(bǔ)償、姿態(tài)控制和深空探測(cè)器主推進(jìn)任務(wù),已在美國(guó)、英國(guó)、日本、中國(guó)等得到了廣泛的研究和應(yīng)用[1-2]。柵極是離子推力器的核心組件之一,其主要功能是聚焦并加速引出放電室工質(zhì)氣體電離后產(chǎn)生的離子,該過(guò)程直接關(guān)系到推力器的推力、比沖、效率等重要性能參數(shù)。因此,柵極結(jié)構(gòu)優(yōu)化一直是離子推力器的熱門(mén)研究方向。
目前國(guó)外離子推力器主要有兩種代表性的柵極構(gòu)型結(jié)構(gòu):以美國(guó)XIPS-25、NSTAR、NEXT、NEXIS等為代表的離子推力器采用了凸面柵極構(gòu)型設(shè)計(jì)[3-6];以英國(guó)T5、T6等為代表的離子推力器采用了凹面柵極構(gòu)型設(shè)計(jì)[7-8]。國(guó)外相關(guān)文獻(xiàn)提及不同的柵極構(gòu)型對(duì)離子推力器工作特性有影響,但未進(jìn)行系統(tǒng)性對(duì)比研究。日本NAL實(shí)驗(yàn)室為了提升30 cm離子推力器性能,歷經(jīng)LM-1-MK-1、LM-1-MK-2、LM-2、BBM-1四個(gè)階段,實(shí)現(xiàn)了放電損耗、推力器內(nèi)部溫度和陽(yáng)極電壓的降低,推進(jìn)劑利用率的提高,使推力器性能得到了優(yōu)化[9]。然而由于四個(gè)階段中對(duì)推力器的參數(shù)進(jìn)行了大量修改,包括改變放電室構(gòu)型和柵極組件構(gòu)型及其安裝方式,因而無(wú)法總結(jié)出柵極構(gòu)型單一參數(shù)對(duì)推力器工作特性的影響規(guī)律。國(guó)內(nèi)LIPS-200、LIPS-300、LIPS-400離子推力器均采用了凸面柵極構(gòu)型設(shè)計(jì)[10-12],還未開(kāi)展凸面和凹面不同柵極構(gòu)型對(duì)離子推力器工作特性影響的對(duì)比研究。
為了明確兩種主流柵極構(gòu)型對(duì)離子推力器工作特性的影響,為國(guó)內(nèi)離子推力器研制過(guò)程中柵極構(gòu)型的選擇和優(yōu)化提供依據(jù),本文基于蘭州空間技術(shù)物理研究所自主研制的LIPS-100離子推力器,開(kāi)展兩種不同柵極構(gòu)型下的放電損耗、束流密度分布和低溫啟動(dòng)特性試驗(yàn)對(duì)比研究,以得出兩種柵極構(gòu)型的優(yōu)點(diǎn)和劣勢(shì)。
為了保證離子推力器性能得到充分發(fā)揮,具備高比沖和高效率特性,應(yīng)最大限度地引出放電室內(nèi)電離所產(chǎn)生的離子。對(duì)于雙柵離子推力器而言,宜采用小孔離子光學(xué)設(shè)計(jì),即屏柵大孔徑、加速柵小孔徑結(jié)構(gòu);柵極厚度盡可能薄,透明度盡可能高;柵間距盡可能小,形成獨(dú)特的離子光學(xué)聚焦引出系統(tǒng)。柵極組件中,靠近放電室的屏柵通常帶有上千伏的正電位,較放電室等離子體電勢(shì)稍低,其作用是使等離子體中的電子無(wú)法打到屏柵極上,也不能通過(guò)柵孔逃逸,電子基本上被放電室陽(yáng)極表面吸收;下游加速柵通常帶有上百伏的負(fù)電位,其主要作用是阻止束流等離子體電子反流到放電室。因此,在屏柵和加速柵組成的靜電場(chǎng)作用下,放電室內(nèi)等離子體中的離子被聚焦、加速引出。
柵極一般由屏柵、加速柵、屏柵安裝環(huán)、加速柵安裝環(huán)、柵極絕緣支撐部件構(gòu)成,其中屏柵、加速柵分別固定至對(duì)應(yīng)安裝環(huán)上。在工程應(yīng)用中,柵極厚度≤0.5 mm,柵極幾何透明度≥60%,柵間距≤1.0 mm。考慮到應(yīng)能夠耐受發(fā)射力學(xué)環(huán)境和具備良好熱穩(wěn)定性要求,口徑大于10 cm的柵極須額外增加?xùn)艠O剛性:一是采用柵極安裝加強(qiáng)環(huán)設(shè)計(jì),增強(qiáng)柵極抗形變能力;二是采用球面形式設(shè)計(jì)柵極,以保證各柵極在熱循環(huán)工況和力學(xué)環(huán)境中形變方向的一致性。
根據(jù)柵極球面朝向,柵極構(gòu)型可以分為兩種:一是球面背向放電室的凸面柵極,如圖1所示;二是球面朝向放電室的凹面柵極,如圖2所示。
圖1 凸面柵極及在放電室中的位置示意圖Fig.1 Convex grid and schematic diagram of its position in the discharge chamber
圖2 凹面柵極及在放電室中的位置示意圖Fig.2 Concave grid and schematic diagram of its position in the discharge chamber
離子推力器工作的基本原理源于等離子體及等離子體邊界物理學(xué),電子與氣體原子的相互作用、能量和動(dòng)量轉(zhuǎn)移、帶電粒子由等離子體內(nèi)部向邊界的輸運(yùn)過(guò)程等,上述過(guò)程的發(fā)生都被限制在等離子體邊界之內(nèi),由此可以推定等離子體的幾何形狀必然影響發(fā)生在等離子體中的這些過(guò)程,進(jìn)而影響等離子體的特征。建立這種結(jié)構(gòu)與工作特性相關(guān)的幾何參數(shù),就是所謂的放電室“特征長(zhǎng)度”[13]。特征長(zhǎng)度Lc表示為
式中:Ωp為原初電子區(qū)的體積;Ap為原初電子區(qū)包圍面積。顯然,柵極球面朝向不同,原初電子區(qū)體積Ωp不同,造成放電室特征長(zhǎng)度Lc不同,進(jìn)而影響離子推力器工作特性。具體表現(xiàn)為:
(1)在工質(zhì)利用率一定的情況下,放電損耗主要決定離子推力器放電室工作性能的優(yōu)劣。放電損耗ε表示為
式中:Va和Ia分別為放電電壓和放電電流;Vck和Ick分別為陰極觸持電壓和陰極觸持電流;Ib為束電流。按照放電室內(nèi)功率和能量守恒關(guān)系,與放電損耗ε相關(guān)的結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)之一為放電室表面積和體積[14]。兩種柵極構(gòu)型導(dǎo)致放電結(jié)構(gòu)參數(shù)不同,通過(guò)放電損耗測(cè)試試驗(yàn),可以對(duì)比分析得出兩種柵極構(gòu)型對(duì)放電室的影響。
(2)表征柵極離子光學(xué)系統(tǒng)的一個(gè)重要指標(biāo)是引出離子束流密度均勻性,一般用束流平直度Fb來(lái)表征,定義為平均離子束流密度與峰值離子束流密度的比值
由于球面柵極自身結(jié)構(gòu)存在一個(gè)幾何“焦點(diǎn)”,球面朝向不同,離子引出會(huì)出現(xiàn)一定程度的“發(fā)散”或“會(huì)聚”,使得峰值離子束流密度不同。兩種柵極構(gòu)型的“焦點(diǎn)”不同,通過(guò)束流密度分布測(cè)試試驗(yàn),可以對(duì)比分析得出兩種柵極構(gòu)型對(duì)束流平直度的影響。
(3)柵極熱特性是影響離子引出過(guò)程穩(wěn)定性和機(jī)動(dòng)性的重要因素,尤其是低溫啟動(dòng)特性。由于球面柵極自身結(jié)構(gòu)存在一個(gè)變形預(yù)設(shè)方向(球面朝向方向),球面朝向不同,在啟動(dòng)熱環(huán)境下的柵極應(yīng)變方向不同,兩種柵極構(gòu)型的熱特性不同。通過(guò)低溫啟動(dòng)特性測(cè)試試驗(yàn),可以對(duì)比分析得出兩種柵極構(gòu)型對(duì)離子推力器啟動(dòng)熱弛豫過(guò)程的影響。
在蘭州空間技術(shù)物理研究所自主研制的LIPS-100離子推力器上進(jìn)行了兩種不同柵極構(gòu)型下的放電損耗、束流密度分布和低溫啟動(dòng)特性等性能測(cè)試試驗(yàn)。除了對(duì)柵極球面朝向和對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償進(jìn)行了設(shè)計(jì)外[15],在不改變柵極其余結(jié)構(gòu)參數(shù)的情況下制作了兩種構(gòu)型柵極系統(tǒng)。為了保證試驗(yàn)參數(shù)的一致性,試驗(yàn)均在LIPS-100離子推力器工程樣機(jī)上進(jìn)行,推力工況為20 mN。離子推力器實(shí)物如圖3所示。
圖3 LIPS-100離子推力器實(shí)物圖Fig.3 LIPS-100 ion thruster
放電損耗測(cè)試試驗(yàn)在TS-6S離子推力器性能測(cè)試設(shè)備中進(jìn)行,該設(shè)備真空室直徑1.5 m,長(zhǎng)度4 m,極限壓力5×10-5Pa。通過(guò)測(cè)試推力器工作過(guò)程中的電參數(shù),按照式(2)計(jì)算得出放電損耗值。本次試驗(yàn)中,電參數(shù)為推力器工作2 h熱穩(wěn)定后的4 h內(nèi)電參數(shù)平均值,其中,電子反流極限電壓測(cè)試是通過(guò)逐步降低加速柵電壓絕對(duì)值,監(jiān)測(cè)束電流變化情況獲得的[14]。
束流密度分布測(cè)試試驗(yàn)在TS-6B離子推力器性能測(cè)試設(shè)備中進(jìn)行,該設(shè)備真空室直徑2.0 m,長(zhǎng)度5 m,極限壓力1.6×10-5Pa。采用法拉第探針在離子推力器柵面下游一定距離處測(cè)試束流密度,測(cè)試方式包括單探針掃描測(cè)試和法拉第陣列測(cè)試。法拉第探針由防護(hù)套、電流收集盤(pán)、絕緣墊等組成,測(cè)試原理為:在收集極和外殼間加載偏置負(fù)電壓,阻擋束流中的電子到達(dá)電流收集盤(pán),使束流中的離子到達(dá)探針的電流收集盤(pán)形成探針電流,再用收集離子的電流值除以電流收集盤(pán)面積即得到離子的電流密度。束流密度分布測(cè)試基于單探針掃描測(cè)試原理,即法拉第探針安裝在可移動(dòng)的探針支架上,探針在推力器徑向可連續(xù)移動(dòng)測(cè)試,移動(dòng)軌跡垂直于推力器中心軸線。束流發(fā)散角測(cè)試基于法拉第陣列測(cè)試原理,即法拉第陣列探針在測(cè)試截面內(nèi)呈陣列環(huán)形分布,將探測(cè)截面劃分成若干均分的圓環(huán)段,每個(gè)圓環(huán)段內(nèi)具有一個(gè)法拉第探針,且法拉第探針位于圓環(huán)段的中心,法拉第探針?biāo)鶎賵A環(huán)段即為對(duì)應(yīng)法拉第探針的探測(cè)區(qū)域。采用積分和線性插值可計(jì)算出90%總束流值對(duì)應(yīng)的束流發(fā)散角。
低溫啟動(dòng)特性測(cè)試試驗(yàn)在TS-6A離子推力器性能測(cè)試設(shè)備中進(jìn)行,該設(shè)備真空室直徑2.0 m,長(zhǎng)度5 m,極限壓力1.6×10-5Pa。低溫啟動(dòng)特性測(cè)試過(guò)程為:由推力器冷套裝置提供低溫環(huán)境,用基于LabVIEW平臺(tái)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)監(jiān)測(cè)推力器啟動(dòng)過(guò)程中的電參數(shù),統(tǒng)計(jì)推力器達(dá)到額定電參數(shù)的啟動(dòng)時(shí)長(zhǎng)。
采用地面供氣系統(tǒng)為試驗(yàn)供氣。該系統(tǒng)主要由氙氣瓶、調(diào)壓模塊及流量控制模塊組成,推進(jìn)劑流量控制精度優(yōu)于±(0.8%讀數(shù)+0.2%滿量程)。采用地面供電系統(tǒng)為試驗(yàn)供電,所有電源穩(wěn)定度均優(yōu)于±0.04%。
在柵極引出離子束功率一定情況下,離子推力器總效率取決于放電損耗,放電損耗越小,離子推力器總效率越高[16]。表1為同一臺(tái)LIPS-100離子推力器工程樣機(jī)上分別裝配兩種不同構(gòu)型的柵極時(shí),平衡后的工作電參數(shù)。從表1可以計(jì)算出:凸面柵極構(gòu)型下,放電損耗為294.5 W/A;凹面柵極構(gòu)型下,放電損耗為310.2 W/A。與凸面相比,凹面柵極放電損耗增加了5.3%。
表1 不同柵極構(gòu)型下LIPS-100離子推力器主要工作電參數(shù)Tab.1 Major performance parameters of LIPS-100 ion thruster at different grid optical system
這一現(xiàn)象可能由兩種因素耦合造成:一種因素是,雖然兩種柵極構(gòu)型放電室內(nèi)的陰極、陽(yáng)極和磁場(chǎng)完全相同,但是凹面柵極構(gòu)型使得在放電室表面積不變的情況下,放電室體積縮小,電子碰撞電離中性原子的概率及其總路徑降低,放電效率隨之降低。另外一種因素是,由于離子推力器放電室離子電離過(guò)程中產(chǎn)生的大量熱量輻射至柵面,且柵極徑向溫度分布存在差異,在邊緣約束條件下的工作過(guò)程中,不均勻溫度場(chǎng)引起的熱應(yīng)力不能得到充分釋放,使柵極中心發(fā)生熱形變。對(duì)于給定球面朝向的兩種曲面柵極,凸面柵極構(gòu)型中屏柵中心的較大熱形變使屏柵與加速柵熱態(tài)柵間距減小,柵極中心區(qū)域離子引出效率增大,放電效率提高;凹面柵極構(gòu)型熱態(tài)柵間距增大,柵極中心區(qū)域離子引出效率和放電效率降低,表1中凹面柵極構(gòu)型的加速截獲電流增大,電子反流極限電壓的絕對(duì)值降低,也證明了這一分析的正確性。
束流密度均勻性影響離子推力器的壽命和可靠性,束流平直度越大代表束流密度越均勻[17]。
兩種不同的柵極構(gòu)型在20 mN推力工況下引出束流輪廓分別如圖4和圖5所示,可以看出,凸面柵極引出束流離開(kāi)柵面后呈發(fā)散狀;凹面柵極引出束流呈先收縮再發(fā)散的“束腰”狀。這些不同的現(xiàn)象由兩方面因素導(dǎo)致,一是凸面柵離子光學(xué)系統(tǒng)幾何“焦點(diǎn)”位于屏柵上游放電室內(nèi),而凹面柵“焦點(diǎn)”位于加速柵下游;二是引出離子由于空間電荷效應(yīng)產(chǎn)生了自發(fā)散。鑒于束流輪廓差異性,采用束流發(fā)散角測(cè)試裝置對(duì)柵極引出束流進(jìn)行了束流發(fā)散角測(cè)量,試驗(yàn)中該裝置距離柵面0.5 m。
圖4 凸面柵極構(gòu)型束流引出狀態(tài)Fig.4 Ion beam extraction state of convex grid optical system
圖5 凹面柵極構(gòu)型束流引出狀態(tài)Fig.5 Ion beam extraction state of concave grid optical system
表2為同一臺(tái)LIPS-100離子推力器工程樣機(jī)上分別裝配兩種不同柵極構(gòu)型時(shí),引出束流發(fā)散角測(cè)試結(jié)果。從表2可以看出,凹面柵極構(gòu)型束流發(fā)散角明顯較凸面小,90%束流發(fā)散角比凸面的降低18.6%,95%束流發(fā)散角降低25.4%,同樣證明了上述分析的正確性。
表2 不同柵極構(gòu)型下引出束流發(fā)散角測(cè)試結(jié)果Tab.2 Ion beam divergence angle parameters at different grid optical system
基于兩種柵極構(gòu)型引出束流輪廓及發(fā)散角的測(cè)試結(jié)果,為了對(duì)兩種柵極構(gòu)型的引出束流平直度進(jìn)行對(duì)比,采用束流密度分布裝置測(cè)量柵極不同位置處的束流密度:在柵極下游以步進(jìn)方式垂直離子推力器中心軸方向水平掃描,步長(zhǎng)為2 mm。圖6為同一臺(tái)LIPS-100離子推力器工程樣機(jī)上分別裝配兩種不同柵極構(gòu)型時(shí),距離柵面100 mm處測(cè)量的引出束流密度徑向分布曲線。
圖6 不同柵極構(gòu)型下引出束流密度徑向分布曲線Fig.6 Ion beam current density distributions at different grid optical system
從圖6中可以得出,凸面柵極構(gòu)型下,束流密度峰值為4.4 mA/cm2,測(cè)量截面處束徑為184 mm,束流平直度為0.51;凹面柵極構(gòu)型下,束流密度峰值為12.2 mA/cm2,測(cè)量截面處束徑為112 mm,束流平直度為0.41。這說(shuō)明柵極構(gòu)型對(duì)離子推力器束流密度分布有較大影響,同樣的束電流下,凹面柵極構(gòu)型引出束流平直度比凸面的下降了19.6%。束流密度均勻性變差,是由于凹面結(jié)構(gòu)使引出離子聚焦,束徑縮小39%,束流密度峰值提升了1.8倍。同時(shí),補(bǔ)充進(jìn)行了凹面柵極構(gòu)型在不同距離測(cè)量截面下引出束流密度徑向分布測(cè)試,測(cè)量結(jié)果如圖7所示,可以看出,在柵面下游20~100 mm之間,束徑持續(xù)縮小,束流密度峰值同步提高。由于受限于束流密度分布裝置沿離子推力器軸向方向行程的限制,該試驗(yàn)未捕獲到束流從聚焦到發(fā)散的轉(zhuǎn)折截面,但根據(jù)圖7的趨勢(shì)性,初步分析轉(zhuǎn)折點(diǎn)約在柵面下游距離150~200 mm處,這也與表2中距離柵面0.5 m處測(cè)量的發(fā)散角測(cè)試結(jié)果和圖5中束流輪廓分析結(jié)論相吻合。
圖7 凹面柵極構(gòu)型在不同測(cè)量距離下引出束流密度徑向分布曲線Fig.7 Ion beam current density distributions at various downstream position of concave grid optical system
此外,與凸面柵極構(gòu)型相比,凹面柵極引出束徑縮小,束流密度均勻性變差,束流密度峰值增大。由于中心區(qū)域電荷交換(CEX)離子與束流密度呈正相關(guān),因此,凹面柵極CEX離子密度提高,邊緣區(qū)域CEX離子密度降低,這將小幅降低加速柵中心區(qū)域結(jié)構(gòu)的磨損壽命。同時(shí),凹面柵極加速柵中心區(qū)域熱流密度增大,雙柵熱形變一致性得到改善,熱態(tài)柵間距較為穩(wěn)定[18]。表1中凹面柵極的加速截獲電流增大,電子反流極限電壓的絕對(duì)值降低,兩者較凸面柵極的變化幅度均不大,間接證明了這一分析的正確性。
工程研制過(guò)程中,離子推力器常溫和高溫啟動(dòng)不是難題,低溫啟動(dòng)是在軌應(yīng)用策略中的一個(gè)重要環(huán)節(jié),在真空深冷環(huán)境和放電室內(nèi)部熱環(huán)境的耦合作用下,保證柵極啟動(dòng)安全間距和縮短啟動(dòng)時(shí)間是個(gè)技術(shù)難題。在放電室構(gòu)型及磁場(chǎng)布局一定的情況下,低溫啟動(dòng)時(shí)長(zhǎng)是表征柵極離子光學(xué)系統(tǒng)的一個(gè)重要指標(biāo)。
為了驗(yàn)證柵極構(gòu)型對(duì)離子推力器低溫啟動(dòng)特性的影響,選擇目前離子推力器在軌低溫最大包絡(luò)(-90℃)進(jìn)行低溫啟動(dòng)特性測(cè)試試驗(yàn)。圖8為同一臺(tái)LIPS-100離子推力器工程樣機(jī)上分別裝配兩種不同柵極構(gòu)型時(shí),低溫啟動(dòng)過(guò)程束流監(jiān)測(cè)結(jié)果。其中,在前期LIPS-100離子推力器工程樣機(jī)上摸底試驗(yàn)中,凸面柵極構(gòu)型在-90℃低溫環(huán)境下推力器啟動(dòng)時(shí)柵間閃爍頻繁,甚至造成放電室熄弧現(xiàn)象,因此調(diào)整為分階段啟動(dòng)試驗(yàn)流程,即通過(guò)調(diào)整放電電流實(shí)現(xiàn)從小束流到額定束流的逐步低溫啟動(dòng)。從圖8可以看出,1 500 s左右時(shí),實(shí)現(xiàn)了凸面柵極構(gòu)型額定滿功率低溫啟動(dòng),此時(shí),離子推力器溫度監(jiān)測(cè)顯示為-20℃。凹面柵極構(gòu)型在10 s左右實(shí)現(xiàn)了額定滿功率低溫啟動(dòng)。兩種不同柵極構(gòu)型低溫啟動(dòng)特性基本具備可重復(fù)性。
圖8 不同柵極構(gòu)型下-90℃低溫啟動(dòng)特性曲線Fig.8 Start-up characteristic of different grid optical system at-90℃
造成低溫啟動(dòng)特性差異較大的因素主要為離子推力器的啟動(dòng)熱特性。正如前文所述,由于啟動(dòng)過(guò)程中離子推力器放電室電離過(guò)程引起的熱傳導(dǎo)及熱輻射使柵極產(chǎn)生不均勻溫度場(chǎng),柵極熱形變導(dǎo)致兩種不同柵極構(gòu)型在啟動(dòng)過(guò)程出現(xiàn)了柵間距差異。具體表現(xiàn)為,在真空深冷環(huán)境下的低溫啟動(dòng)瞬態(tài)過(guò)程中,加速柵溫度遠(yuǎn)沒(méi)有達(dá)到常溫及高溫啟動(dòng)的程度,而屏柵受其上游的影響,勢(shì)必發(fā)生遠(yuǎn)大于加速柵的熱形變。其中,凸面柵極構(gòu)型中屏柵中心較大熱形變使柵極系統(tǒng)中屏柵與加速柵啟動(dòng)瞬間柵間距過(guò)小,柵極離子光學(xué)系統(tǒng)啟動(dòng)瞬間會(huì)發(fā)生欠聚焦,部分引出離子直接轟擊到加速柵上,形成瞬間電通路,從而導(dǎo)致束流閃爍頻繁,嚴(yán)重時(shí)可導(dǎo)致柵極電源過(guò)載。而凹面柵極構(gòu)型啟動(dòng)瞬間柵間距增大只能短暫降低柵極離子光學(xué)聚焦效果,達(dá)不到形成通路的程度。此外,凹面柵極的聚焦“束腰”特性導(dǎo)致的加速柵中心區(qū)域熱流密度較凸面柵極高,凹面加速柵可以很快達(dá)到熱平衡。因此,凹面柵極構(gòu)型低溫啟動(dòng)特性表現(xiàn)優(yōu)異。
為了明確兩種主流曲面柵極朝向結(jié)構(gòu)對(duì)離子推力器工作性能的影響,在同一臺(tái)LIPS-100離子推力器工程樣機(jī)上開(kāi)展了兩種不同柵極構(gòu)型下的放電損耗、束流密度分布和低溫啟動(dòng)特性等性能對(duì)比試驗(yàn)研究,得到如下結(jié)論:
(1)與凸面構(gòu)型柵極相比,凹面構(gòu)型柵極的放電損耗增加了5.3%。這是由于凹面構(gòu)型柵極在保持放電室表面積不變的情況下,放電室體積縮小,因而放電效率降低。同時(shí),凹面柵極工作時(shí)熱態(tài)柵間距增大,柵極中心區(qū)域離子引出效率和放電效率降低。
(2)柵極構(gòu)型對(duì)離子推力器束流密度分布有較大影響,同樣的束電流下,凹面柵極構(gòu)型束流發(fā)散角比凸面構(gòu)型的降低了18.6%,但束流平直度下降了19.6%。這是由于凹面結(jié)構(gòu)使引出離子聚焦,束徑縮小,束流密度峰值提高,同時(shí),也導(dǎo)致柵極中心區(qū)域CEX離子密度和熱流密度提高,一方面小幅度降低了加速柵中心區(qū)域結(jié)構(gòu)的磨損壽命;另一方面改善了雙柵熱形變的一致性。
(3)凹面構(gòu)型柵極低溫啟動(dòng)特性表現(xiàn)優(yōu)異。這是由于低溫啟動(dòng)瞬態(tài)過(guò)程中,凸面構(gòu)型柵極中心柵間距過(guò)小,局部形成瞬間電通路,導(dǎo)致束流閃爍頻繁,使低溫啟動(dòng)困難。凹面構(gòu)型柵極啟動(dòng)瞬間柵間距增大,不會(huì)出現(xiàn)束流閃爍現(xiàn)象。
綜合而言,兩種柵極構(gòu)型各有利弊,在不同的應(yīng)用領(lǐng)域可以選取合適的柵極構(gòu)型設(shè)計(jì)。建議在陽(yáng)照區(qū)工作壽命要求較高的電推進(jìn)系統(tǒng)中選擇凸面構(gòu)型柵極,更多需要在陰影區(qū)低溫環(huán)境下工作的電推進(jìn)系統(tǒng)選擇凹面構(gòu)型柵極設(shè)計(jì)。此外,對(duì)于機(jī)動(dòng)性較強(qiáng)、多模式工況連續(xù)工作或結(jié)構(gòu)布局相對(duì)緊湊的航天動(dòng)力系統(tǒng),建議選擇凹面構(gòu)型柵極。