陳素素,閆會珍,劉 苗,張軍杰,李文濤
(晶澳太陽能有限公司,邢臺 055550)
為實現(xiàn)碳達峰、碳中和目標,光伏發(fā)電作為一種重要的可再生清潔能源利用方式,在我國的應(yīng)用將越來越廣泛。作為光伏發(fā)電的核心部件,近年來太陽電池的發(fā)展迅速,其中,單晶硅太陽電池憑借光電轉(zhuǎn)換效率高、性能好等優(yōu)勢一直占據(jù)著絕大多數(shù)的市場份額[1]。
單晶硅片表面的織構(gòu)化程度可直接影響其對太陽光的反射率,從而影響單晶硅太陽電池的光電轉(zhuǎn)換效率。硅片表面的織構(gòu)化是利用低濃度的NaOH溶液腐蝕硅片正面和背面,從而在硅片正面和背面形成金字塔結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)不但能增加太陽電池正面的光吸收率,還能將一次反射出去的太陽光再次反射回太陽電池內(nèi)部,實現(xiàn)二次吸收[2],進而增大太陽電池的光生電流,提升太陽電池的光電轉(zhuǎn)換效率。而硅片背面的織構(gòu)化可以為后續(xù)的背鈍化工序做準備。
近年來,隨著制絨添加劑的普及,硅片表面的微觀絨面及制絨工藝的時間均得到了較大改善,微觀絨面上的金字塔尺寸由7 μm降至3 μm左右。對于硅片表面的織構(gòu)化而言,小而均勻的金字塔結(jié)構(gòu)可比大金字塔結(jié)構(gòu)擁有更多的吸光面積,從而可提升太陽電池的光吸收率。
為提升單晶硅太陽電池的光電轉(zhuǎn)換效率,本文以采用選擇性發(fā)射極(SE)及鈍化發(fā)射極和背接觸(PERC)技術(shù)的單晶硅太陽電池(即“SE+PERC”單晶硅太陽電池)為例,在不增加任何成本的前提下,通過對該太陽電池制絨工藝中的工序內(nèi)容進行優(yōu)化,從而得到小而均勻的金字塔結(jié)構(gòu),并對由不同金字塔尺寸制備的“SE+PERC”單晶硅太陽電池的性能進行了測試。
硅片制絨后的微觀結(jié)構(gòu)由復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司生產(chǎn)的ProX能譜一體機進行掃描;硅片制絨后的反射率由系科光電科技(上海)有限公司生產(chǎn)的REF300反射儀進行測試;硅片制絨前、后的減重數(shù)據(jù)由高精度電子天平進行測量;成品太陽電池的光電轉(zhuǎn)換效率由德國HALM公司生產(chǎn)的高精度I-V測量系統(tǒng)測量。
實驗硅片采用晶澳太陽能有限公司生產(chǎn)的從同一根硅棒上切割的尺寸為158 mm×158 mm的單晶硅片,硅片的電阻率范圍為0.4~1.1 Ω·cm,硅片厚度為165~175 μm。
單晶硅片的制絨工藝流程如圖1所示。本實驗通過改變制絨工藝流程中的某個工序的內(nèi)容,得到了9種不同的單晶硅片樣品;然后針對某個樣品改變的工序進行相應(yīng)的測試;最后將這9種硅片樣品在相同制備條件下,按照“SE+PERC”太陽電池的制備流程制成“SE+PERC”太陽電池,并對制備的太陽電池的性能進行測試。
圖1 單晶硅片的制絨工藝流程Fig. 1 Texturing process of mono-silicon wafers
9種單晶硅片樣品均僅改變制絨工藝中某一道工序的內(nèi)容,其他工序不變。9種樣品改變的工序內(nèi)容分別為:
1)樣品1:粗拋時低減重;
2)樣品2:粗拋時高減重;
3)樣品3:采用低濃度的制絨添加劑;
4)樣品4:采用高濃度的制絨添加劑;
5)樣品5:采用高濃度的NaOH溶液;
6)樣品6:采用低濃度的NaOH溶液;
7)樣品7:采用不同的制絨時間;
8)樣品8:制絨槽中排出的溶液量(下文簡稱為“定排”)小于補加進去的溶液量(下文簡稱為“補加”);
9)樣品9:定排等于補加。
采用相應(yīng)儀器對這9種制絨后的硅片樣品進行制絨前、后的減重數(shù)據(jù)測量,微觀絨面掃描及反射率測試,并收集數(shù)據(jù)進行分析研究。
由于樣品1和樣品2采用的NaOH溶液的濃度和溫度均相同,因此樣品2粗拋時若要實現(xiàn)高減重需增加拋光時間。將樣品1的拋光時間設(shè)為30 s,樣品2的拋光時間設(shè)為180 s,二者的減重測試結(jié)果如圖2所示。由圖2可知,樣品1的減重為0.05 g,樣品2的減重為0.30 g。
圖2 樣品1和樣品2的減重測試結(jié)果Fig. 2 Results of weight loss test of sample 1 and sample 2
為分析粗拋時減重高低對金字塔尺寸的影響,對樣品1和樣品2的金字塔尺寸進行測試,測試結(jié)果如圖3所示。其中,圖中的槽次指制絨槽的使用次數(shù),制絨槽中的腐蝕液一共可使用400次,本文選取制絨槽的前4次(1槽次~4槽次)和后面的100槽次~400槽次使用時的情況為例進行分析,以便于研究不同槽次時制絨槽中腐蝕液對金字塔尺寸的影響。
圖3 粗拋時不同減重下的樣品1和樣品2的金字塔尺寸Fig. 3 Pyramid size of sample 1 and sample 2 with different weight loss during rough polishing
雖然樣品1的減重小于樣品2的減重,但從圖3中可以看出,樣品1的金字塔尺寸大于樣品2的金字塔尺寸,這說明粗拋時減重越小,金字塔尺寸越大,粗拋時減重的大小與金字塔尺寸的大小成反比關(guān)系。這是因為對于低減重的單晶硅片而言,其表面切割形成的損傷層容易去除不干凈,導(dǎo)致表面存在“臺階”,而單晶硅片表面粗糙度差的位置在制絨過程中容易出現(xiàn)附著成核的情況,形成的金字塔尺寸也會較大。文獻[3]認為,制絨過程中的化學(xué)反應(yīng)一般是先從晶體硅表面的缺陷和雜質(zhì)處開始,而已去除損傷層的單晶硅片表面的缺陷和雜質(zhì)較少。因此,隨著反應(yīng)過程的進行,減重小的單晶硅片表面容易形成金字塔尺寸較大的大絨面,而減重大的單晶硅片表面則會形成金字塔尺寸較小的小絨面。
在制絨工藝中,制絨添加劑的濃度越低,意味著NaOH溶液的濃度越高。因此,樣品3~樣品6均可以認為是在制絨工藝中僅改變了制絨添加劑的濃度,而其他工序保持不變。不同制絨添加劑濃度和不同NaOH溶液濃度時的金字塔尺寸如圖4、圖5所示。
圖4 不同制絨添加劑濃度時的金字塔尺寸Fig. 4 Pyramids size of different texturing additives concentration
圖5 不同NaOH溶液濃度時的金字塔尺寸Fig. 5 Pyramids size of different NaOH solution concentration
從圖4、圖5可以看出,樣品3和樣品5的金字塔尺寸較大,這是因為制絨添加劑濃度越低,羥基(—OH)到達硅片表面的阻礙越小,越能促進腐蝕的進行,導(dǎo)致金字塔在硅片表面成核后快速成長,形成金字塔尺寸較大的大絨面。而樣品4和樣品6的金字塔尺寸相對較小,這是因為高濃度的制絨添加劑會阻礙—OH向腐蝕界面?zhèn)鬏敚鹱炙诠杵砻娉珊撕?,—OH的腐蝕速度緩慢,易形成金字塔尺寸較小的小絨面。但通過增加制絨添加劑濃度來實現(xiàn)金字塔尺寸較小的小絨面,效果也是有限的,當(dāng)制絨添加劑濃度高到一定程度后, 單晶硅片的各向異性減弱,粗拋作用增強,制絨工藝結(jié)束后會形成基本無金字塔結(jié)構(gòu)的絨面[4]。
對樣品7在不同制絨時間下的微觀形貌和反射率進行測試,得到其在不同制絨時間下的金字塔尺寸和反射率,分別如圖6、圖7所示。
圖6 不同制絨時間下樣品7的金字塔尺寸Fig. 6 Pyramids size of sample 7 under different texture time
圖7 不同制絨時間下樣品7的反射率Fig. 7 Wafer reflectivity of sample 7 under different texture time
由圖6可知,隨著制絨時間的增加,在510 s以內(nèi)時,金字塔尺寸也隨之增大;但超過510 s之后,金字塔尺寸開始逐漸減?。唤鹱炙叽珉S制絨時間的變化近似正態(tài)分布。這是因為制絨時間過長會存在過腐蝕現(xiàn)象,導(dǎo)致金字塔的尺寸反而減小。
由圖7可知,隨著制絨時間的增加,樣品7的反射率也隨之上升。
為了通過改善制絨時腐蝕液的新陳代謝量來改善腐蝕液的反應(yīng)活性,對定排和補加進行調(diào)整。在定排小于補加(即樣品8)和定排等于補加(即樣品9)的情況下,可分別得到制絨后的樣品的金字塔尺寸,具體如圖8所示。
圖8 在定排和補加不同狀態(tài)下得到的樣品的金字塔尺寸Fig. 8 Pyramids size of samples obtained in different alignment and supplementary states
從圖8可以看出,樣品8的金字塔尺寸大于樣品9的,這是因為在定排小于補加的情況下,制絨槽內(nèi)溶液的腐蝕產(chǎn)物硅酸鈉累積較多,溶液的粘稠度增加,若僅依靠制絨槽內(nèi)的溢流來排放多余的廢液,溶液的循環(huán)流動性會變差。因此,單晶硅片表面的腐蝕均勻性差,并且隨著制絨槽使用次數(shù)的累積,硅片表面的金字塔尺寸會越來越大。此外,當(dāng)腐蝕溶液中硅酸鈉的含量過高時,溶液的粘稠度增加,Si與—OH的反應(yīng)被遏制,NaOH溶液的腐蝕難以在單晶硅片表面形成理想的減反射絨面[5]。
而在定排等于補加的情況下,制絨槽內(nèi)的溶液量少,雖然溶液的液位較低,但可滿足浸沒需求,無溶液溢流現(xiàn)象,且溶液的循環(huán)較快,更新量較多,使溶液內(nèi)反應(yīng)產(chǎn)物的累積量大幅減少,單晶硅片表面的腐蝕最勻速;同時,加快了單晶硅片表面反應(yīng)產(chǎn)物的脫離,NaOH溶液的自補量下降,溶液的活性變大,使單晶硅片表面的成核點較多,形成了金字塔尺寸較小的小絨面,并且隨著制絨槽使用次數(shù)的增加,絨面的穩(wěn)定性更好。因此,樣品9的絨面最穩(wěn)定,也是實際生產(chǎn)中追求的最佳狀態(tài)。
綜合上述幾個實驗結(jié)果可以發(fā)現(xiàn),制絨工藝在定排等于補加的基礎(chǔ)上,加大粗拋時的減重,降低NaOH溶液濃度或提高制絨添加劑濃度,均可在硅片表面形成小而均勻的金字塔結(jié)構(gòu)的絨面,如圖9所示。
圖9 小而均勻的金字塔結(jié)構(gòu)的絨面Fig. 9 Small and uniform pyramid-structured suede
在定排等于補加的基礎(chǔ)上,通過調(diào)整粗拋時減重、制絨時間、NaOH溶液濃度及制絨添加劑濃度,制作得到不同金字塔尺寸的單晶硅片樣品,再將所有單晶硅片樣品制備成“SE+PERC”單晶硅太陽電池,然后通過測試得到不同金字塔尺寸時的“SE+PERC”單晶硅太陽電池的電性能數(shù)據(jù),具體如表1所示。
表1 不同金字塔尺寸時的“SE+PERC”單晶硅太陽電池的電性能數(shù)據(jù)Table 1 Electrical performance data of “SE+PERC”mono-silicon solar cells with different pyramid sizes
由表1可知,在定排等于補加的基礎(chǔ)上,隨著金字塔尺寸的增大,“SE+PERC”單晶硅太陽電池的Isc呈下降趨勢,Rs與IRev2均呈增大趨勢,這是因為擴散過程中金字塔頂部的摻雜較重、谷底的摻雜較弱,這種情況在金字塔尺寸較大的大絨面中較容易出現(xiàn),而在金字塔尺寸較小的小絨面中很少出現(xiàn)。因此,金字塔尺寸較小時更有利于減小金屬電極的接觸電阻及太陽電池的IRev2
[2],從而提升其Eta。
本文通過對制絨工藝中的工序內(nèi)容進行調(diào)整,測試了調(diào)整后單晶硅片制絨面的金字塔尺寸,并對基于不同金字塔尺寸制備的“SE+PERC”單晶硅太陽電池的電性能進行了測試,得到以下結(jié)論:
1)粗拋時高減重更有利于形成金字塔尺寸較小的小絨面,同時更有利于去除硅片表面因切割形成的損傷層;
2)適當(dāng)提高制絨添加劑的濃度或降低NaOH溶液的濃度,均有助于減緩腐蝕反應(yīng)速度,形成金字塔尺寸較小的小絨面;
3)制絨時間與金字塔尺寸之間的關(guān)系呈近似正態(tài)分布;
4)在制絨槽排出的溶液量等于補加進去溶液量的情況下,溶液的新陳代謝較快,腐蝕反應(yīng)較為均勻,絨面的金字塔尺寸較小且結(jié)構(gòu)較為穩(wěn)定;
5)在制絨槽排出的溶液量等于補加進去溶液量的情況下,由小金字塔尺寸硅片制備的“SE+PERC”單晶硅太陽電池的光電轉(zhuǎn)換效率更高。