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      無(wú)源符合中子計(jì)數(shù)器探測(cè)效率與泄漏增殖系數(shù)的模擬計(jì)算

      2022-10-18 10:36:52初泉麗李多宏陸宏鮑家斌張?zhí)鞂?/span>田川胡洪濤楊麗芳
      世界核地質(zhì)科學(xué) 2022年3期
      關(guān)鍵詞:計(jì)數(shù)器中子探測(cè)器

      初泉麗,李多宏,陸宏,鮑家斌,張?zhí)鞂?,田川,胡洪濤,楊麗?/p>

      (國(guó)家核安保技術(shù)中心,北京 102401)

      無(wú)源符合中子法是通過(guò)探測(cè)自發(fā)裂變發(fā)射的中子而不是外部質(zhì)詢?cè)凑T發(fā)的中子,來(lái)確定被測(cè)源項(xiàng)中自發(fā)裂變钚質(zhì)量,符合中子是單個(gè)事件中同時(shí)發(fā)射的兩個(gè)或多個(gè)中子,符合中子法是非破壞性分析法的1種,它有2種方式:無(wú)源符合中子法測(cè)含钚材料和有源符合中子法測(cè)含鈾材料,在利用符合中子計(jì)數(shù)法進(jìn)行钚含量估算時(shí),需要事先對(duì)關(guān)鍵參數(shù)(如探測(cè)效率和增殖泄漏因子等)開展全面深入研究和計(jì)算,準(zhǔn)備好關(guān)鍵參數(shù),然后根據(jù)探測(cè)到的符合中子計(jì)數(shù),利用相關(guān)公式計(jì)算得到钚含量。國(guó)內(nèi)于淼等人利用三維蒙卡程序研究設(shè)備外探測(cè)響應(yīng)計(jì)數(shù)和探測(cè)效率[1]。李多宏等人對(duì)AWCC的探測(cè)效率用252Cf做過(guò)測(cè)量,與出廠值一致[2]。陸宏等人也對(duì)AWCC的軸向和徑向探測(cè)效率做過(guò)驗(yàn)證[3],劉功發(fā)等人利用MCNP/3A程序計(jì)算出泄漏增殖系數(shù)[4]。本文通過(guò)MATLAB產(chǎn)生3He管探測(cè)器AWCC的MCNP輸入文件,實(shí)現(xiàn)相同結(jié)構(gòu)、不同尺寸的AWCC中子計(jì)數(shù)器的蒙卡模擬,進(jìn)行探測(cè)器效率、中子與3He反應(yīng)率以及測(cè)定含钚廢料時(shí)泄漏增殖系數(shù)M的計(jì)算。

      1 研究方法

      AWCC中子計(jì)數(shù)器由42根3He管探測(cè)器、聚乙烯慢化體和鎘內(nèi)襯等結(jié)構(gòu)組成,如圖1所示,能夠?qū)崿F(xiàn)含鈾或含钚樣本的測(cè)量。

      圖1 AWCC中子計(jì)數(shù)器結(jié)構(gòu)示意圖Fig.1 Structure diagram of AWCC neutron counter

      AWCC中子計(jì)數(shù)器為一個(gè)直徑47.8 cm、高約70 cm的筒體。計(jì)數(shù)器的中央位置為測(cè)量腔室,高20.6 cm,用以放置待測(cè)樣本;在測(cè)量腔室的兩側(cè),設(shè)置有一圈鎳反射層;在測(cè)量腔室的上、下兩端,設(shè)置有兩個(gè)Am-Li中子源;3He管探測(cè)器共有42根,分成兩圈布置在測(cè)量腔室外圍,與測(cè)量腔室以鎘內(nèi)襯隔開;單根3He管直徑為2.54 cm,高約51cm,管內(nèi)3He的壓強(qiáng)為4個(gè)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓;探測(cè)器的其他位置填充聚乙烯材料,用作中子慢化體。

      AWCC中子計(jì)數(shù)器具備3種工作模式[5]:1)快中子的主動(dòng)測(cè)量:在該模式下,探測(cè)器具備Am-Li外中子源、聚乙烯環(huán)狀慢化體、鎳反射層、鎘內(nèi)襯等結(jié)構(gòu),可以用以測(cè)量鈾含量較高的樣本:Am-Li外中子源產(chǎn)生的中子與樣本發(fā)生誘發(fā)裂變反應(yīng),產(chǎn)生的高能中子經(jīng)聚乙烯慢化成為熱中子,被3He管探測(cè)器探測(cè)到;2)熱中子的主動(dòng)測(cè)量:在該模式下,探測(cè)器僅帶有Am-Li外中子源,聚乙烯環(huán)狀慢化體、鎳反射層和鎘內(nèi)襯等結(jié)構(gòu)被移除,可以用于測(cè)量鈾含量較低的樣本;3)熱中子的被動(dòng)測(cè)量:在該模式下,探測(cè)器的Am-Li外中子源、聚乙烯環(huán)狀慢化體、鎳反射層和鎘內(nèi)襯等結(jié)構(gòu)均被移除,可以用于測(cè)量含有240Pu等可自發(fā)裂變的同位素樣本。

      在本研究中,主要對(duì)探測(cè)器的效率和含钚廢料的泄漏增殖系數(shù)M進(jìn)行模擬計(jì)算。在對(duì)探測(cè)器的效率進(jìn)行模擬時(shí),采用252Cf標(biāo)準(zhǔn)源充當(dāng)測(cè)量樣本;因?yàn)?52Cf的中子的平均能量為2.3 MeV,測(cè)量的典型能量為1.5 MeV,自發(fā)裂變中子能譜接近純裂變譜,因此適用于快中子的被動(dòng)測(cè)量,即在“快中子的主動(dòng)測(cè)量”模式的基礎(chǔ)上,去除Am-Li外中子源,保留聚乙烯環(huán)狀慢化體、鎳反射層和鎘內(nèi)襯等結(jié)構(gòu):鎘內(nèi)襯用以“過(guò)濾”252Cf自發(fā)裂變產(chǎn)生的熱中子,聚乙烯則將快中子慢化到3He管可探測(cè)的能量范圍內(nèi)[6]。在對(duì)含钚廢料的泄漏增殖系數(shù)M進(jìn)行模擬時(shí),理論上應(yīng)選用“熱中子的被動(dòng)測(cè)量”模式,但由于泄漏增殖系數(shù)M僅與樣本的組成元素及其份額有關(guān),而與探測(cè)器結(jié)構(gòu)沒有關(guān)系,因此在計(jì)算泄漏增殖系數(shù)M時(shí),MCNP輸入卡中的探測(cè)器模型和進(jìn)行探測(cè)器效率模擬的“快中子的主動(dòng)測(cè)量”模型相同,但對(duì)結(jié)果的準(zhǔn)確性并無(wú)影響。

      2 MCNP輸入文件產(chǎn)生器概述

      為了方便用戶使用MCNP程序?qū)WCC中子計(jì)數(shù)器進(jìn)行模擬,也為了后續(xù)結(jié)合優(yōu)化算法對(duì)AWCC中子計(jì)數(shù)器結(jié)構(gòu)進(jìn)行自動(dòng)化的優(yōu)化設(shè)計(jì),本項(xiàng)目采用MATLAB編寫腳本,實(shí)現(xiàn)了針對(duì)AWCC中子計(jì)數(shù)器的MCNP自動(dòng)建模功能,僅需輸入結(jié)構(gòu)參數(shù),即可快速生產(chǎn)AWCC中子計(jì)數(shù)器的MCNP輸入文件[7]。

      MCNP輸入文件產(chǎn)生器由以下4部分組成:

      1)Materials.xlsx:該Excel表格中存儲(chǔ)了MCNP建模必要的材料數(shù)據(jù),以供INP_MAKER_AWCC.m腳本直接調(diào)用。在該版本的表格中,以Sheet表單的形式錄入了中子計(jì)數(shù)器各結(jié)構(gòu)的候選材料數(shù)據(jù),也可按照指定格式自主添加材料。每個(gè)材料的表單名稱被命名為材料識(shí)別符,將材料識(shí)別符填入結(jié)構(gòu)參數(shù)輸入腳本Parameters_AWCC.m中materials_name數(shù)組的對(duì)應(yīng)位置,即可在生成輸入卡時(shí)引用B2單元中的材料密度以及B5右下區(qū)域的材料組分;需要說(shuō)明的是,考慮到3He管中通常以4~6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓充入3He氣體,這會(huì)導(dǎo)致3He氣體密度的變化,因此,在3He材料數(shù)據(jù)中,添加了不同大氣壓下氣體密度的計(jì)算功能,只需要在K3單元格輸入3He內(nèi)壓即可導(dǎo)入相應(yīng)的氣體密度。

      2)Parameters_AWCC.m:該MATLAB腳本為AWCC中子計(jì)數(shù)器結(jié)構(gòu)參數(shù)的輸入接口,界面如圖2所示。其主要輸入?yún)?shù)有內(nèi)襯半徑、中子計(jì)數(shù)器半徑、外襯半徑、測(cè)量腔室高度、3He管半徑、3He管有效長(zhǎng)度和3He管個(gè)數(shù)等;輸入文件中的對(duì)應(yīng)取值為目測(cè)估算值。

      圖2 Parameters_AWCC.m參數(shù)輸入界面示意圖Fig.2 Parameters_AWCC.m schematic diagram of parameter input interface

      3)INP_MAKER_AWCC.m:該MATLAB腳本的主要功能為讀取輸入腳本Parameters_AWCC.m中的AWCC結(jié)構(gòu)參數(shù)并生成MCNP輸入文件。

      4)run.m:該MATLAB腳本為啟動(dòng)輸入文件生成器的腳本,可批量生成具有不同3He管位置分布的AWCC中子計(jì)數(shù)器MCNP輸入文件及MCNP批處理文件,為后續(xù)的優(yōu)化算法提供數(shù)據(jù)支持。其中,N_Individual為需要產(chǎn)生的輸入文件數(shù)目。

      5)AWCC-HM-xxx.inp:該文件為輸入文件生成器產(chǎn)生的MCNP輸入文件,其中,“xxx”表示輸入文件編號(hào)。AWCC-HM-xxx.inp輸入文件主要可分為三大模塊:CELL CARD,描述構(gòu)成AWCC結(jié)構(gòu)的柵元;SURFACE CARD,描述組成柵元的各個(gè)曲面;DATA CARD,描述填充各柵元空間的材料、源能譜、需要用到的計(jì)數(shù)卡以及截?cái)鄶?shù)據(jù)。

      在GENERAL SOURCE DEFINITION部分,輸入文件提供了兩種描述自發(fā)裂變的252Cf標(biāo)準(zhǔn)源的方法:第一種源定義方法,通過(guò)通用源定義SDEF中的SF語(yǔ)句,通過(guò)截面庫(kù)數(shù)據(jù)模擬自發(fā)裂變?cè)吹脑磸?qiáng)和能譜;第一種源定義方法,通過(guò)瓦特譜描述252Cf的能譜,經(jīng)測(cè)試,兩種源定義的效果是一致的,在實(shí)際操作過(guò)程中均可選用。

      在TALLIES部分,對(duì)計(jì)算探測(cè)效率和泄漏增殖系數(shù)M所需要的計(jì)數(shù)進(jìn)行了定義。在探測(cè)器效率的計(jì)算中,需要使用F1計(jì)數(shù)卡計(jì)數(shù)進(jìn)出3He管有效體積的中子數(shù);在泄漏增殖系數(shù)M的計(jì)算中,需要使用F4計(jì)數(shù)卡計(jì)數(shù)中子源柵元內(nèi)產(chǎn)生的中子數(shù);此外,還設(shè)置了FM卡與F4卡配合使用,記錄出進(jìn)入3He管有效體積內(nèi)與3He氣體發(fā)生核反應(yīng)的中子數(shù)。

      在CUT OFF部分,設(shè)置了MCNP運(yùn)行停止的條件,其中NPS為模擬的粒子數(shù),一般而言,NPS越大,模擬結(jié)果越精確,經(jīng)過(guò)測(cè)試,NPS設(shè)置為1 000 000可以以較少的計(jì)算時(shí)間代價(jià)滿足此類AWCC中子計(jì)數(shù)器模擬的精度要求。

      6)run.bat:該 文 件 為MCNP批 處 理 文 件。在運(yùn)行run.m文件、產(chǎn)生大量輸入文件后,將該批處理文件連同MCNP輸入文件復(fù)制到MCNP程序路徑下,點(diǎn)擊run.bat文件即可實(shí)現(xiàn)MCNP程序的運(yùn)行。

      3 結(jié)果分析

      通過(guò)MCNP輸入文件產(chǎn)生器產(chǎn)生輸入文件,對(duì)AWCC中子計(jì)數(shù)器進(jìn)行模擬,其主要結(jié)構(gòu)參數(shù)如表1所示。

      表1 Parameters_AWCC.m輸入?yún)?shù)Table1 Parameters_AWCC.m input parameter

      MCNP輸入卡建立的AWCC模型示意圖見圖3。利用該模型分別計(jì)算了探測(cè)器的探測(cè)效率和含钚廢料的泄漏增殖系數(shù),其結(jié)果分析如下。

      圖3 AWCC中子計(jì)數(shù)器MCNP模型示意圖Fig.3 Schematic diagram of MCNP model of AWCC neutron counter

      3.1 探測(cè)器效率計(jì)算

      在核探測(cè)領(lǐng)域,探測(cè)器的效率可分為相對(duì)效率εr和絕對(duì)效率ε兩種定義:相對(duì)效率εr為探測(cè)器記錄的粒子數(shù)占放射源4 π方向發(fā)射的總粒子數(shù)的比例[8],即

      式(1)中:Np—探測(cè)器記錄的粒子數(shù),個(gè);N0—放射源4π方向發(fā)射的總粒子數(shù),個(gè);絕對(duì)效率ε的定義為:在一定的探測(cè)條件下,中子探測(cè)器探測(cè)到的中子數(shù)與在同一時(shí)間間隔內(nèi)入射到中子探測(cè)器的中子數(shù)之比,即

      式(2)中:Np—探測(cè)器記錄的粒子數(shù),個(gè);NI—進(jìn)入探測(cè)器有效體積或靈敏體積內(nèi)的粒子數(shù),個(gè)。

      在實(shí)際的實(shí)驗(yàn)測(cè)量中,因?yàn)槿菀撰@得標(biāo)準(zhǔn)源的源強(qiáng)和源強(qiáng)的探測(cè)器計(jì)數(shù),所以通常采用探測(cè)器實(shí)際計(jì)數(shù)代替探測(cè)器記錄的中子數(shù),并計(jì)算相對(duì)效率εr;在蒙卡模擬中,由于計(jì)數(shù)卡的計(jì)數(shù)結(jié)果通常是歸一化后的值,并且缺少相關(guān)截面,不能直接模擬中子與3He反應(yīng)產(chǎn)生質(zhì)子和氚核,并最終產(chǎn)生離子的整個(gè)過(guò)程,因此,在MCNP模擬中通常采用絕對(duì)效率ε,即用3He管中與3He發(fā)生反應(yīng)的中子數(shù)代替探測(cè)器記錄的粒子數(shù)[9],其計(jì)算公式可寫為:

      式中:Fin—進(jìn)入探測(cè)器有效體積內(nèi)的中子數(shù),個(gè);Fout—逸出探測(cè)器有效體積內(nèi)的中子數(shù),個(gè);Fin-Fout即為與3He氣體發(fā)生反應(yīng)的中子數(shù),個(gè)。

      在輸出文件AWCC-HM-001.out中,MCNP對(duì)3He管的3個(gè)面(圓柱側(cè)面402.1、上底面403、下底面404,如圖4所示)上進(jìn)出的中子數(shù)進(jìn)行了統(tǒng)計(jì),結(jié)果顯示如下:

      圖4 單根3He管曲面標(biāo)注Fig.4 Surface marking of single 3He pipe

      進(jìn)入Surface 402.1(Surface 403~Surface 404中間段)的中子數(shù)計(jì)數(shù),其值為8.206 82E-01;逸出Surface 402.1(Surface 403~Surface 404中間段)的中子數(shù)計(jì)數(shù),其值為6.267 81E-01;進(jìn)入Surface 403的中子數(shù)計(jì)數(shù),其值為4.924 23E-04;逸出Surface 403的中子數(shù)計(jì)數(shù),其值為1.813 26E-03;逸出Surface 404的中子數(shù)計(jì)數(shù),其值為1.796 80E-03;進(jìn)入Surface 404的中子數(shù)計(jì)數(shù),其值為4.800 85E-04。因此,探測(cè)器的絕對(duì)效率如下所示:

      對(duì)比參考文獻(xiàn)[4],所提出的“Small,fast”模式[10](即保留聚乙烯慢化體、鎳反射層以及鎘內(nèi)襯)下的絕對(duì)效率為24%,本次模擬計(jì)算出的探測(cè)器效率為23.27%,兩者結(jié)果相差不大,可判定模擬結(jié)果可信度較高;導(dǎo)致兩者偏差的可能來(lái)源如下:

      1)參考文獻(xiàn)[4]提供的探測(cè)器效率的舍入誤差;2)參考文獻(xiàn)[4]并沒有提供完整的結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù),本次模擬所自行擬定的部分參數(shù)和選用材料,均可能引入偏差;3)參考文獻(xiàn)[4]和本次模擬對(duì)252Cf自發(fā)裂變?cè)吹拿枋隹赡艽嬖谄睢?/p>

      3.2 泄漏增殖系數(shù)M的計(jì)算

      在測(cè)量含钚同位素時(shí),238Pu、240Pu和242Pu自發(fā)裂變產(chǎn)生的中子計(jì)數(shù)一般與钚元素的質(zhì)量成線性關(guān)系,因此可以用以標(biāo)定含钚廢料的等效質(zhì)量;然而,由于1)钚廢料一般為PuO2,238Pu衰變產(chǎn)生的α粒子與O原子可能發(fā)生(α,n)反應(yīng);2)238Pu、240Pu和242Pu自發(fā)裂變產(chǎn)生的中子可能誘發(fā)239Pu等易裂變核素發(fā)生裂變,這都將導(dǎo)致钚廢料的中子計(jì)數(shù)與實(shí)際的钚廢料的中子質(zhì)量偏離線性關(guān)系,因此,需要對(duì)中子計(jì)數(shù)進(jìn)行修正[11]。

      在上述兩種非線性影響中,中子計(jì)數(shù)誘發(fā)239Pu發(fā)生裂變產(chǎn)生的影響是主要矛盾,因此,可以通過(guò)泄漏增殖系數(shù)M,即單純的自發(fā)裂變中子計(jì)數(shù)與考慮了239Pu增殖的中子計(jì)數(shù)的比值[12]。

      計(jì)算泄漏增殖系數(shù)M的思路如下:在探測(cè)器中分別放置PuO2、Pu-M和Pu-SF 3種樣本作為探測(cè)對(duì)象,計(jì)算其中子源強(qiáng),其中:

      1)PuO2材料表示二氧化钚PuO2,其密度為11.46 g·cm-3,成分組成如表2所示:

      表2 PuO2材料成分Table 2 PuO2 material composition

      ?

      PuO2材料中產(chǎn)生的中子有3個(gè)來(lái)源:(1)238Pu、240Pu和242Pu自發(fā)裂 變產(chǎn)生的中子;(2)238Pu、240Pu和242Pu自發(fā)裂變產(chǎn)生的中子與239Pu等易裂變核素發(fā)生裂變反應(yīng)產(chǎn)生的中子;(3)238Pu等核素發(fā)生α衰變產(chǎn)生的α粒子與O元素發(fā)生(α,n)反應(yīng)產(chǎn)生的中子。

      2)Pu-M材料表示二氧化钚PuO2中去除O元素后剩余的钚元素,其密度為PuO2密度的88.197 6%,成分組成如表3所示:

      表3 Pu-M材料成分Table 3 Pu-M material composition

      因?yàn)槌チ薕元素,因此Pu-M材料中產(chǎn)生的中子有兩個(gè)來(lái)源:(1)238Pu、240Pu和242Pu自發(fā)裂變產(chǎn)生的中子;(2)238Pu、240Pu和242Pu自發(fā)裂變產(chǎn)生的中子與239Pu等易裂變核素發(fā)生裂變反應(yīng)產(chǎn)生的中子。

      3)Pu-SF材料表示二氧化钚PuO2中能發(fā)生自發(fā)裂變的钚同位素,其密度為PuO2密度的5.380 1%,成分組成如表4所示:

      Pu-SF材料僅能通過(guò)自發(fā)裂變產(chǎn)生中子。

      盡管3種材料模型的組分、密度和質(zhì)量不一,但三者的體積是相似的,因此,Pu-M與Pu-SF模型的F1計(jì)數(shù)之比即為泄漏增殖系數(shù)M。選取相同組分、不同質(zhì)量的PuO2樣本進(jìn)行計(jì)算,計(jì)算結(jié)果見表5。

      表5 泄漏增殖系數(shù)Table 5 Leakage multiplication coefficient

      圖5為3種材料的F1計(jì)數(shù)結(jié)果隨樣本質(zhì)量的變化曲線。由圖5可見,PuO2材料的計(jì)數(shù)結(jié)果最大,Pu-SF材料的計(jì)數(shù)結(jié)果最小,分析3種材料的中子產(chǎn)生方式,結(jié)果是合理的;PuO2材料的計(jì)數(shù)結(jié)果比Pu-M材料的計(jì)數(shù)結(jié)果略大,而Pu-M與Pu-SF的計(jì)數(shù)結(jié)果相差較大,這說(shuō)明,材料發(fā)射的中子,大部分來(lái)自于自發(fā)裂變中子誘發(fā)的易裂變核素的裂變,其次是偶同位素的自發(fā)裂變,結(jié)果與實(shí)際相符;Pu-SF計(jì)數(shù)結(jié)果隨材料質(zhì)量的變化大致呈線性關(guān)系,而PuO2與Pu-M的計(jì)數(shù)結(jié)果隨材料質(zhì)量的變化呈現(xiàn)非線性關(guān)系,與參考文獻(xiàn)《含钚材料測(cè)量中的中子增殖校正和蒙特卡羅計(jì)算》相符[4];泄漏增殖系數(shù)M的計(jì)算結(jié)果隨材料質(zhì)量的增大而增大,與參考文獻(xiàn)結(jié)果的變化趨勢(shì)一致。

      4 結(jié)論

      本文主要對(duì)探測(cè)器的效率和含Pu廢料的泄漏增殖系數(shù)M進(jìn)行模擬計(jì)算。主要得出以下結(jié)論:

      1)參考文獻(xiàn)所提出的“Small,fast”模式(即保留聚乙烯慢化體、鎳反射層以及鎘內(nèi)襯)下的材料發(fā)射的中子,大部分來(lái)自于自發(fā)裂變中子誘發(fā)的易裂變核素的裂變,其次是偶同位素的自發(fā)裂變,結(jié)果與實(shí)際相符;

      2)本次模擬的與參考文獻(xiàn)[4]中計(jì)算的系數(shù)M存在偏差,導(dǎo)致偏差的原因總結(jié)如下:從研究采用的組分?jǐn)?shù)據(jù)看,由于參考文獻(xiàn)[4]中并未給出樣品的組分?jǐn)?shù)據(jù),本次模擬采用PNNL-15870Rev1.pdf技術(shù)文檔中的組分?jǐn)?shù)據(jù),兩份數(shù)據(jù)之間存在的誤差導(dǎo)致了系數(shù)M的誤差;

      3)從研究工具看,本次模擬采用MCNP 6中的自發(fā)裂變?cè)碨F語(yǔ)句、基于截面數(shù)據(jù)直接模擬自發(fā)裂變過(guò)程,而參考文獻(xiàn)采用的MCNP 3只能通過(guò)通用源卡SDEF,通過(guò)經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)間接模擬自發(fā)裂變?cè)错?xiàng),這也會(huì)給系數(shù)M的計(jì)算帶來(lái)誤差。

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