張明珠, 郝明欣, 桑 喆,2
(1.中國(guó)科學(xué)院 寧波材料技術(shù)與工程研究所, 寧波 315201;2.寧波新材料測(cè)試評(píng)價(jià)中心有限公司, 寧波 315042)
淀粉是食品加工中常用的原材料,隨著居民生活水平的不斷提高,市場(chǎng)對(duì)其需求逐漸增大,淀粉材料的深加工也受到越來越多的關(guān)注,其中納米多孔淀粉在吸附領(lǐng)域的應(yīng)用引起了廣泛關(guān)注[1-2]。淀粉材料多為細(xì)小的粉體顆粒,無法通過肉眼準(zhǔn)確地區(qū)分出淀粉的種類、孔隙尺寸及分布等信息。針對(duì)淀粉材料的微觀形貌觀察,目前常用的方法有光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡(SEM)法,由于放大倍數(shù)及景深的限制,光學(xué)顯微鏡很難獲得良好的分析結(jié)果,而掃描電子顯微鏡具有大景深和高放大倍數(shù)等特點(diǎn),被越來越多地應(yīng)用于淀粉微觀形貌的觀察[3-7]。
筆者充分利用Regulus 8230型高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的高放大倍數(shù)、高分辨率、大景深、立體感強(qiáng)、具備電子束減速模式等特點(diǎn),對(duì)玉米淀粉材料進(jìn)行微觀形貌觀察,對(duì)比分析了超聲波分散方法、噴金處理及不同電壓模式對(duì)玉米淀粉材料的SEM圖像質(zhì)量的影響。針對(duì)玉米淀粉材料的SEM形貌觀察提出了較佳的操作方法,可為玉米淀粉材料的分析提供參考。
玉米淀粉采購(gòu)于寧波某超市,化學(xué)試劑為75%(體積分?jǐn)?shù))乙醇溶液。
Regulus 8230型高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡;MC1000型離子濺射儀;SK250H型超聲波清洗機(jī)。
1.3.1 試樣分散方法
1.3.1.1 直接制樣法
首先將導(dǎo)電膠帶黏貼到試樣臺(tái)上,再用試樣勺取少量玉米淀粉,用鑷子輕敲或抖動(dòng)試樣勺,使試樣均勻地落在導(dǎo)電膠帶上,然后用洗耳球吹去未黏住的試樣,最后用高壓氣槍吹去未黏牢固的試樣。
1.3.1.2 超聲波分散法
稱取10 mg玉米淀粉置于2 mL的75%乙醇溶液中,經(jīng)超聲波處理后得到淀粉懸濁液,用滴管吸取上層溶液,滴到干凈的鋁箔上,然后將鋁箔置于紅外燈下烘干,最后用導(dǎo)電膠將鋁箔黏附于試樣臺(tái)上。
1.3.2 噴金處理
將待測(cè)試樣放到MC1000型離子濺射儀的試樣艙內(nèi),根據(jù)需要設(shè)置不同的電流和時(shí)間進(jìn)行噴金處理,所用金屬靶材為鉑。
不同分散方法下玉米淀粉的SEM形貌如圖1所示。由圖1可知:采用直接制樣法獲得的試樣顆粒團(tuán)聚較嚴(yán)重[見圖1a)],分散不均勻;經(jīng)超聲波分散制備的試樣[見圖1b)]顆粒團(tuán)聚情況減輕,分散較均勻,這是因?yàn)榈矸鄄牧献陨淼念w粒尺寸及質(zhì)量較小,顆粒之間存在較強(qiáng)的靜電作用力,影響試樣的分散度,采用直接分散法則很難將其分散均勻,因此推薦使用超聲波分散法。
2.2.1 噴金處理對(duì)玉米淀粉低倍SEM形貌的影響
圖2為經(jīng)超聲波分散法制樣后,噴金及未噴金處理的玉米淀粉在掃描電鏡下的低倍SEM形貌。
從圖2可以看出:經(jīng)過超聲波分散后,玉米淀粉顆粒整體分散較均勻,由于材料本身導(dǎo)電性差,噴金前的試樣在進(jìn)行SEM觀察時(shí),材料表面多余的電荷無法導(dǎo)走,試樣因?yàn)槲针娮佣鴰ж?fù)電,進(jìn)而產(chǎn)生一個(gè)可以排斥入射電子、偏轉(zhuǎn)二次電子的靜電場(chǎng),造成圖像出現(xiàn)異常反差、畸變、像散等現(xiàn)象,即產(chǎn)生荷電效應(yīng)。荷電效應(yīng)會(huì)嚴(yán)重降低圖像質(zhì)量,致使試樣表面微小細(xì)節(jié)難以觀察,立體感較差[8-10]。當(dāng)試樣經(jīng)15 mA(噴金設(shè)備的工作電流),90 s噴金處理后,表面聚集的大量電荷得以傳導(dǎo)轉(zhuǎn)移,荷電效應(yīng)明顯減弱,能夠較清晰地觀察到顆粒表面的細(xì)節(jié),SEM圖像質(zhì)量得到提高。
因此,針對(duì)導(dǎo)電性較差的玉米淀粉材料,可通過對(duì)試樣進(jìn)行噴金處理,減輕荷電效應(yīng),來提高SEM圖片的質(zhì)量。
2.2.2 噴金處理對(duì)玉米淀粉高倍SEM形貌的影響
圖3分別為未噴金和不同參數(shù)噴金處理的玉米淀粉在掃描電鏡下的高倍SEM形貌。
圖3a),3b),3c)均為未噴金玉米淀粉的SEM形貌,可以看出淀粉顆粒呈不規(guī)則的多面體狀或橢球形,表面凹凸不平,且分布有直徑約幾十納米的小孔。圖3d),3e),3f)均為噴金15 mA ,60 s后玉米淀粉的SEM形貌,試樣經(jīng)15 mA ,60 s噴金處理后,試樣表面的小孔仍清晰可見,此外,淀粉顆粒表面出現(xiàn)少量的裂紋(箭頭1,2所指),圖3f)是在圖3e)的基礎(chǔ)上停留5 min后采集的SEM圖像,可以看出裂紋的數(shù)量及程度較圖3e)有明顯增加。圖3g),3h)為噴金15 mA,90 s后玉米淀粉的SEM形貌,此時(shí)試樣表面存在明顯裂紋,且數(shù)量分布較多。圖3i),3j)為噴金15 mA,150 s后玉米淀粉的SEM形貌,顆粒表面仍可觀察到大量納米級(jí)尺寸的小孔及少量表面裂紋。
綜上可知,裂紋的產(chǎn)生與噴金處理有關(guān),未經(jīng)噴金處理的試樣在掃描電鏡下無裂紋出現(xiàn),對(duì)噴金后的試樣進(jìn)行高倍SEM觀察時(shí),發(fā)現(xiàn)試樣表面出現(xiàn)裂紋,推測(cè)造成這種現(xiàn)象的原因是玉米淀粉經(jīng)噴金處理后在顆粒表面形成一層金屬膜,當(dāng)進(jìn)行高倍SEM觀察時(shí),試樣表面的金屬膜在入射電子束的轟擊作用下發(fā)生熱損傷開裂,因此噴金處理會(huì)影響玉米淀粉顆粒真實(shí)表面形貌的分析觀察,對(duì)該種材料進(jìn)行高倍SEM觀察時(shí),不建議進(jìn)行噴金處理。
淀粉材料的導(dǎo)電性差,若不進(jìn)行噴金處理而直接進(jìn)行SEM觀察,就會(huì)出現(xiàn)嚴(yán)重的荷電效應(yīng),影響成像質(zhì)量,難以獲得高分辨率的圖像。
Regulus 8230型高分辨率掃描電鏡配有電子束減速模式,區(qū)別于普通模式,電子束減速模式是在試樣和探頭之間增加一個(gè)可以產(chǎn)生減速電場(chǎng)的負(fù)壓裝置,使電子束在出物鏡極靴后即將抵達(dá)試樣表面之前受到相反電位的約束,從而降低入射電子束到達(dá)試樣的著陸能量,有效減輕試樣的荷電效應(yīng)[11-12]。圖4為未進(jìn)行噴金處理的玉米淀粉分別在普通模式和電子束減速模式下的SEM形貌。
從圖4a),4b)可以看出:普通模式下未噴金試樣的SEM圖像荷電效應(yīng)明顯,試樣表面細(xì)節(jié)清晰度不足,同時(shí)圖像立體感較差。使用電子束減速模式時(shí),試樣的SEM圖像[見圖4c),4d)]的分辨率得到明顯提高,荷電效應(yīng)減輕,圖像立體感增強(qiáng),這是由于電子束減速模式具有相對(duì)高的加速電壓,來保證SEM的分辨率,同時(shí)又具有較低的著陸電壓,來降低入射電子束與試樣的著陸能量,可以有效減輕試樣的荷電效應(yīng),有利于試樣表面微觀形貌的表征。此外,減速電場(chǎng)可以對(duì)從試樣中溢出的二次電子和背散射電子進(jìn)行加速,進(jìn)一步增加探頭對(duì)信號(hào)電子的收集效率,可以對(duì)導(dǎo)電性差的試樣進(jìn)行直接觀察,無需噴金鍍膜處理,從而規(guī)避了噴金處理對(duì)試樣真實(shí)形貌的影響。
(1) 淀粉材料自身的顆粒尺寸及質(zhì)量較小,顆粒之間存在較強(qiáng)的靜電作用力,影響試樣的分散度,采用直接分散法很難將其分散均勻,推薦使用超聲波分散法。
(2) 針對(duì)導(dǎo)電性較差的玉米淀粉材料,對(duì)試樣進(jìn)行15 mA,90 s的噴金處理,可有效減輕荷電累積問題,提高SEM圖像質(zhì)量。
(3) 噴金處理后的玉米淀粉材料在掃描電鏡下進(jìn)行高倍觀察時(shí),顆粒表面出現(xiàn)裂紋,影響真實(shí)表面形貌的觀察,對(duì)該種材料進(jìn)行高倍SEM觀察時(shí),不建議進(jìn)行噴金處理。
(4) 電子束減速模式可以實(shí)現(xiàn)直接對(duì)導(dǎo)電性較差的玉米淀粉進(jìn)行SEM觀察,無需噴金處理,進(jìn)而大大地減小了噴金處理對(duì)試樣真實(shí)形貌的影響。