摘要:本文介紹了一種基于大功率低頻功率放大器集成度高、大功耗器件使用和產(chǎn)品體積小型化的特點(diǎn),采用液冷冷卻方式的設(shè)計(jì)方案。這種設(shè)計(jì)方案有效地解決了大功率放大器空間小、熱源集中、散熱量大的問題,使低頻功率放大器能夠可靠地工作。經(jīng)過樣機(jī)測(cè)試,結(jié)果顯示液冷散熱能夠滿足大功率低頻放大器的散熱需求,表現(xiàn)出很好的效果。這是一個(gè)非常實(shí)用和有效的技術(shù),值得在實(shí)際應(yīng)用中進(jìn)一步推廣和應(yīng)用。
關(guān)鍵詞:低頻功率放大器;熱源模型;熱分析;熱測(cè)試
一、引言
目前低頻通信領(lǐng)域內(nèi)大功率發(fā)信機(jī)普遍使用強(qiáng)迫風(fēng)冷作為主要的散熱方式,其設(shè)計(jì)思路簡(jiǎn)單、易于實(shí)現(xiàn),但表現(xiàn)出傳統(tǒng)強(qiáng)迫風(fēng)冷方式的散熱效率低、散熱器體積龐大、噪聲大、可靠性差等缺點(diǎn),無(wú)法滿足高功率密度、大耗散的設(shè)備冷卻需求。大功率低頻發(fā)信機(jī)整機(jī)內(nèi)部設(shè)備種類多、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積龐大,發(fā)熱器件眾多且發(fā)熱量大,發(fā)信機(jī)能否有效散熱對(duì)發(fā)信機(jī)長(zhǎng)時(shí)間可靠工作具有重大意義[1]。本論文通過理論計(jì)算和樣機(jī)測(cè)試方式,對(duì)低頻功率放大器進(jìn)行器件布局設(shè)計(jì)、液冷板設(shè)計(jì)、液體流量設(shè)計(jì),以改善和提高其散熱效果及效率,從而實(shí)現(xiàn)功率放大器的小型化改進(jìn)。
二、低頻功率放大器電路及熱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
(一)低頻功率放大器主電路拓?fù)浼肮Ψ牌骷倪x擇
低頻功率放大器電路形式采用經(jīng)典的“H”橋開關(guān)電路形式,通過直流高壓的調(diào)整達(dá)到輸出功率的變化,滿足技術(shù)指標(biāo)中功率可調(diào)整要求。主電路器件包括四個(gè)大功率場(chǎng)效應(yīng)管模塊,6個(gè)反向并聯(lián)的二極管模塊,2個(gè)電阻模塊。
場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET)適用于寬頻段、移頻狀態(tài)工作,可很好適應(yīng)阻性、容性、感性負(fù)載,符合低頻固態(tài)發(fā)信機(jī)特點(diǎn),低頻功率放大器中的功率開關(guān)管選用大功率場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET)模塊,根據(jù)功放單元功率等級(jí)、效率需求,并經(jīng)過對(duì)大功率場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET)模塊的實(shí)際測(cè)試用低頻功率放大器選用型號(hào)為APTM100UM45DAG的大功率場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET)模塊作為其主要的功率開關(guān)器件。
(二)低頻功率放大器的熱設(shè)計(jì)要求
系統(tǒng)對(duì)低頻功率放大器的熱設(shè)計(jì)要求如下:
①全頻段穩(wěn)定輸出功率≥30kW;
②全頻段η≥95%;
③滿足系統(tǒng)小型化要求,結(jié)構(gòu)緊湊,充分利用盒體空間;
④保證設(shè)備內(nèi)部溫度分布均勻,各關(guān)鍵元器件均能正常穩(wěn)定長(zhǎng)期工作;
⑤冷卻水入口溫度T1為25℃時(shí),出水溫度要求T2≤40℃。
(三)低頻功率放大器熱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
1.總體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
低頻固態(tài)發(fā)信機(jī)功率容量達(dá)到兆瓦級(jí),由許多低頻功率放大器同時(shí)工作輸出,因此需要整體考慮功率放大器的結(jié)構(gòu),以滿足多個(gè)功率放大器同時(shí)工作要求。整體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)單個(gè)功率放大器采用非標(biāo)3U插箱式結(jié)構(gòu),再由一定數(shù)量的功率放大器組成一個(gè)機(jī)柜,最后由多個(gè)機(jī)柜組成發(fā)信機(jī)的功率放大部分。
低頻功率放大器插箱總體尺寸為長(zhǎng)606 mm×寬637mm×高132.5mm。低頻功率放大器機(jī)箱均為鋁合金材質(zhì),內(nèi)部所有結(jié)構(gòu)件均為銅、鋁材質(zhì),機(jī)箱盒體采用2mm厚的鋁合金(LF2-M)折彎焊接加工而成。
其中內(nèi)部組件主要有主放大電路、散熱裝置1套、數(shù)字保護(hù)驅(qū)動(dòng)單元4個(gè)、指示電路1個(gè)、銅質(zhì)連接板若干、電感電容器等其他元器件若干組成。 除上述結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)外,還需要考慮到整個(gè)功率放大器的散熱以及安全保護(hù)等方面的設(shè)計(jì)。
2.低頻功率放大器冷卻方式的選擇
電子設(shè)備熱設(shè)計(jì)時(shí)冷卻方法的選擇主要依據(jù)電子設(shè)備的熱流密度、體積功率及溫升。低頻功率放大器的機(jī)箱外殼均采用導(dǎo)熱系數(shù)良好的鋁作為主要材質(zhì),其內(nèi)部組件產(chǎn)生的熱量一部分自然散熱通過機(jī)箱側(cè)壁的散熱孔向機(jī)箱外排出,另一部分由主放大電路產(chǎn)生的熱量通過散熱裝置向機(jī)箱外排出。低頻功率放大器中的內(nèi)部組件如數(shù)字驅(qū)動(dòng)保護(hù)單元、指示電路等所產(chǎn)生的熱量相對(duì)于主放大電路而言很小,通過自然散熱即可滿足其工作要求,可以不考慮強(qiáng)制散熱。作為低頻功率放大器中的關(guān)鍵熱源主放大電路主要包括4個(gè)MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管模塊、6個(gè)二極管模塊、2個(gè)電阻模塊。
功率放大器耗散功率的計(jì)算主要是對(duì)MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管模塊的耗散功率進(jìn)行計(jì)算,而對(duì)于二極管模塊以及電阻模塊,它們的平均功耗較小,按照相關(guān)方面使用經(jīng)驗(yàn)對(duì)其進(jìn)行適當(dāng)?shù)墓浪慵纯蒣2]。
對(duì)于MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管模塊,計(jì)算其在最大工作頻率滿功率工作時(shí)最大直流輸入電壓Uin=450V下的耗散功率,通過電路設(shè)計(jì)在最大輸入電壓為Uin=450V時(shí),直流輸入電流為Iin=70A,直流輸入功率Pin=VI=450×70=31.5kW。
MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管模塊的驅(qū)動(dòng)損耗是由基極電阻引起的,驅(qū)動(dòng)電流很小,所以驅(qū)動(dòng)損耗常忽略不計(jì)。通過對(duì)APTM100UM45DAG型場(chǎng)效應(yīng)管模塊的相關(guān)工作曲線的查閱得到,當(dāng)其在最高工作頻率最大直流輸入電壓Uin=450V時(shí),其漏源通態(tài)電阻RDS(ON)=95mΩ、開通時(shí)的能量損耗Eon=4mJ、關(guān)斷時(shí)的能量損耗Eoff=2mJ、工作結(jié)溫Tj=75℃。因此APTM100UM45DAG型場(chǎng)效應(yīng)管模塊的通態(tài)損耗Pcond為:
開關(guān)損耗Psw:
由MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管的工作特性可知每只MOSFET的通態(tài)損耗基本一致,開關(guān)損耗按其進(jìn)行合理的統(tǒng)一化即設(shè)定4只MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管模塊的開關(guān)損耗相同。綜上所述,單只MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管模塊的最大耗散功率為226W??紤]到MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管外圍電路及連接線等損耗,對(duì)于電子元器件的計(jì)算需散熱的功耗適當(dāng)增大,對(duì)于單只MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管模塊的最大耗散功率取300W。
根據(jù)對(duì)主放大電路中各關(guān)鍵元器件樣本資料的查閱以及對(duì)二極管模塊和電阻模塊功耗的估算,總結(jié)得出主要關(guān)鍵器件功耗及其他相關(guān)參數(shù)表如表1所示。
由表1計(jì)算可得,主放大電路的總功耗約為2kW(考慮留有20%~30%的設(shè)計(jì)余量)。根據(jù)電路設(shè)計(jì),對(duì)主放大電路中各器件進(jìn)行排布后,主放大電路所占空間大小約36.5cm×27.55cm×2.6cm,體積功率密度:ФV=ψ/V=2000/(36.5×27.55×2.6)=0.756W/cm3,熱流密度:?=2000/2/(36.5×27.55+36.5×2.6+27.55×2.6)=0.85W/cm2。
為保證主放大電路內(nèi)關(guān)鍵器件的可靠穩(wěn)定工作,要求環(huán)境溫差不超過15℃,根據(jù)一般的電子設(shè)備,溫升、熱流密度、冷卻方式關(guān)系,并結(jié)合密封的電子設(shè)備當(dāng)溫升不超過40℃時(shí),熱流密度和體積功率與冷卻方法的對(duì)應(yīng)關(guān)系,考慮設(shè)備研發(fā)制造的可靠性、經(jīng)濟(jì)性等因素以及系統(tǒng)總體對(duì)設(shè)備在實(shí)際輸出功率、散熱效率、穩(wěn)定性及噪聲的要求,最終選擇強(qiáng)迫液冷作為低頻功率放大器主要的散熱方式。
3.低頻功率放大器液冷設(shè)計(jì)
低頻功率放大器的液冷冷板基材選用鋁材(Al6061),管道材質(zhì)選用導(dǎo)熱率更高的銅材(純銅),冷卻介質(zhì)選用最常用且散熱效果最好的水。根據(jù)電路設(shè)計(jì)的需求,選用矩形S形流道,將發(fā)熱量較大的大功率場(chǎng)效應(yīng)管模塊布局在流道正上方,其他模塊按照電路的連接關(guān)系進(jìn)行依次排布[3]。低頻功率放大器的液冷冷板及其上元器件安裝位置示意圖如圖1所示。
主放大電路板上各模塊的最佳工作溫度在25℃~50℃。將入口溫度T1設(shè)置為25℃,出水溫度要求T2≤40℃。已知液冷冷板內(nèi)流道的直徑為9.5mm,冷板散熱功率Q為2kW。將冷板流體的平均溫度作為它的定性溫度Tf=(T1+T2)/2=32.5℃。
流道橫截面積:
查表知在32.5℃下,水的比熱容Cp=4178J/(kg·K),水的密度ρ=995kg/m3。
流體的流量:
流體的流速:
主放大電路中的各個(gè)元器件均為貼裝式安裝,面-面接觸時(shí)的接觸電阻主要受加工面的平面度、表面粗糙度以及面-面間導(dǎo)熱材料性能等因素有關(guān),要對(duì)以上影響因素進(jìn)行嚴(yán)格控制。
在大功率場(chǎng)效應(yīng)管模塊等元器件安裝時(shí),不采用任何措施兩者之間會(huì)產(chǎn)生很大的接觸熱阻。本論文中選用導(dǎo)熱硅脂作為界面填充材料。在主放大電路中的各個(gè)元器件進(jìn)行安裝時(shí),先將元器件和冷板的貼裝表面清理干凈,避免有雜質(zhì)或者油污,之后在元器件的貼裝表面上均勻地涂抹一定厚度的導(dǎo)熱硅脂,再將元器件安裝在冷板上。
三、熱測(cè)試
本論文中的熱測(cè)試試驗(yàn),主要是模擬低頻功率放大器的工作環(huán)境,使其可以在各頻段正常輸出功率,在此條件下運(yùn)用熱電偶溫度傳感器測(cè)試法以及紅外溫度測(cè)試法分別對(duì)低頻功率放大器液冷冷板的出水溫度及各個(gè)關(guān)鍵元器件的表面平均溫度進(jìn)行熱測(cè)試,對(duì)冷卻方法的有效性進(jìn)行評(píng)價(jià)[4]。
根據(jù)系統(tǒng)總體對(duì)低頻功率放大器在全頻段上工作穩(wěn)定可靠的要求,熱測(cè)試試驗(yàn)需測(cè)試低頻功率放大器在各頻段下水冷板的散熱效果。
通過熱測(cè)試試驗(yàn)發(fā)現(xiàn),目前低頻功率放大器主放大電路及其水冷板的熱設(shè)計(jì)方案可以滿足系統(tǒng)總體的設(shè)計(jì)要求。但是個(gè)別元器件的平均溫度未在其最佳工作溫度25℃~50℃之間,通過仿真優(yōu)化在冷板材料、流體流速等方面以達(dá)到更加優(yōu)異的設(shè)計(jì)[5]。
四、結(jié)束語(yǔ)
本論文對(duì)30kW低頻功率放大器進(jìn)行了熱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和熱測(cè)試實(shí)驗(yàn), 建立了30kW低頻功率放大器的熱結(jié)構(gòu),對(duì)低頻功率放大器主放大電路的主要熱源、散熱情況進(jìn)行了計(jì)算分析,選擇液冷作為其主要散熱方式,并設(shè)計(jì)了液冷冷板,經(jīng)測(cè)試各項(xiàng)指標(biāo)滿足要求。
作者單位:宋光明 中國(guó)人民解放軍91977部隊(duì)
參 ?考 ?文 ?獻(xiàn)
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