王忠連,任少鵬,高鵬,陰曉俊,趙帥鋒,班超,董明,王瑞生,婁海宇,于志強(qiáng),劉添昊
(沈陽儀表科學(xué)研究院有限公司,沈陽 110043)
隨著我國對精準(zhǔn)醫(yī)療需求的不斷提升,極大減小創(chuàng)傷的微創(chuàng)治療越來越得到醫(yī)患人員的重視。熒光內(nèi)窺鏡是外科微創(chuàng)手術(shù)的重要醫(yī)療器械之一,它的分子影像技術(shù)用于直接觀察指導(dǎo)微創(chuàng)治療全過程,其工作原理為:將吲哚菁綠(Indocyanine Green,ICG)[1-2]通過局部組織或靜脈注射的方式引入人體,用特定光譜近紅外光照射后產(chǎn)生熒光,進(jìn)而使熒光內(nèi)窺鏡同時(shí)實(shí)現(xiàn)可見光和近紅外熒光成像。在評(píng)價(jià)對不同圖像融合方案的感知中,檢測和識(shí)別目標(biāo)效果最好的是近紅外光,而感知全局場景可見光效果最好[3],因此,采用可見光獲取組織背景、場景位置等信息,采用熒光圖像捕獲腫瘤大小、邊界等信息,將兩者圖像特征信息精準(zhǔn)疊加,可幫助醫(yī)生更加精確地識(shí)別和定位腫瘤、檢出微小病灶、標(biāo)記腫瘤邊界,進(jìn)而順利切除腫瘤[4-5]。同時(shí)實(shí)現(xiàn)可見光和近紅外熒光分子成像的熒光內(nèi)窺鏡,將是“靶向外科”必備視覺監(jiān)測系統(tǒng),是內(nèi)窺鏡的新理論和前沿技術(shù)。其中熒光內(nèi)窺鏡用陷波濾光片關(guān)鍵技術(shù)研究將決定著熒光內(nèi)窺鏡成像清晰度和病灶部位熒光圖像的準(zhǔn)確識(shí)別,決定了在臨床上是否可以有效地輔助診療和實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)醫(yī)療[6-7],具有重要的臨床應(yīng)用前景和科學(xué)意義。
在熒光內(nèi)窺鏡的應(yīng)用過程中,需要在患者體內(nèi)注射吲哚菁綠,由于吲哚菁綠的量子產(chǎn)率低、熒光信號(hào)弱、熒光圖像信噪比低,因此,提高熒光內(nèi)窺鏡中的熒光弱信號(hào)的信噪比是急需解決的問題。而系統(tǒng)內(nèi)的濾光器件對于信噪比有較大的影響,目前針對熒光內(nèi)窺鏡的濾光片鮮有報(bào)道,本文設(shè)計(jì)并制備了用于熒光內(nèi)窺鏡光學(xué)系統(tǒng)的陷波濾光片。
采用ICG 作為熒光探針,通過局部組織或靜脈注射方式[8],與血液中的血漿蛋白結(jié)合,在750~810 nm近紅外光的激發(fā)下,釋放出835 nm 左右的熒光信號(hào)。ICG 的光譜響應(yīng)(Ex 為激發(fā)光譜,Em 為發(fā)射光譜)如圖1所示。根據(jù)ICG 熒光探針的特性,熒光內(nèi)窺鏡分別以白光光源和近紅外光源作為照明光源和熒光信號(hào)激發(fā)光源,雙光源通過內(nèi)窺鏡導(dǎo)光管對人體組織進(jìn)行照射,攝像系統(tǒng)采集攜帶有用信息的圖像信號(hào),實(shí)現(xiàn)同時(shí)對白光的組織信號(hào)成像和近紅外光激發(fā)的熒光組織信號(hào)成像,并可對圖像精準(zhǔn)疊加。
圖1 吲哚菁綠歸一化強(qiáng)度譜線Fig.1 Normalized intensity spectrum of Indocyanine green
為保障熒光內(nèi)窺鏡視野同時(shí)實(shí)現(xiàn)可見光成像與近紅外熒光成像,光譜透射區(qū)設(shè)計(jì)為:T>97%@435 nm~680 nm & @820 nm~880 nm;為避免激發(fā)光源信號(hào)對熒光信號(hào)干擾,截止帶背景設(shè)計(jì)為:OD≥6@750 nm~800 nm。
基底選擇:因使用的光譜波段為435~880 nm,所以選擇K9 光學(xué)玻璃(光譜如圖2)即可。
圖2 K9 玻璃光譜Fig.2 Spectrum of K9
為了提高光學(xué)系統(tǒng)的信噪比:1)濾光片的設(shè)計(jì)盡量提高透射區(qū)光譜的透射率;2)增加激發(fā)光背景截止深度。本文采用雙面鍍膜的結(jié)構(gòu)(如圖3),分別為陷波膜系(Notch)和增透膜系(AR)。
圖3 陷波濾光片結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)Fig.3 Structure of notch filer
1.3.1 陷波膜系設(shè)計(jì)
在應(yīng)用光譜波段范圍內(nèi),濾光片透射大部分波長的光,有效截止特定波長阻帶內(nèi)的光,即從某一波段透射光譜中去除某一波帶的濾光片,稱之為陷波濾光片,其功能與帶通濾光片相反。陷波濾光片制造的關(guān)鍵技術(shù)是提高通帶的透射率和截止帶的深度。目前陷波濾光片的膜系設(shè)計(jì)方法[9-11]主要有:皺褶(Rugate)濾光片法[12-13],折射率階梯變化的Rugate 濾光片法,高低折射率系數(shù)匹配法。Rugate 濾光片法指折射率沿基底表面隨膜厚有規(guī)律周期性變化,如按正弦波或余弦波變化,這種結(jié)構(gòu)的濾光片主要特點(diǎn)是消除了材料間折射率的突變,具有僅反射一定波段且透射所有其它波段光譜的特性,因此理想的Rugate 濾光片不會(huì)出現(xiàn)高級(jí)次反射帶[14]。Rugate 濾光片的膜系設(shè)計(jì)已趨于成熟,然而Rugate 濾光片的制備仍然較困難,目前找不到一種材料可以按設(shè)計(jì)要求實(shí)現(xiàn)形狀連續(xù)變化的折射率的膜層。折射率階梯變化的Rugate 濾光片法是用折射率成階梯形變化的不連續(xù)的薄膜結(jié)構(gòu)代替Rugate 濾光片,雖然不是真正意義上的Rugate 濾光片,但可實(shí)現(xiàn)類似的性質(zhì),抑制高級(jí)次反射帶。其實(shí)現(xiàn)原理為:由多層不連續(xù)薄膜組成一個(gè)周期的Rugate 濾光片的折射率輪廓。一個(gè)周期內(nèi)分的層數(shù)越多,越接近Rugate 濾光片,抑制高級(jí)次反射帶效果越好,反之一個(gè)周期內(nèi)分的層數(shù)越少,抑制高級(jí)次反射帶效果變差,可通過多種階梯變化折射率材料或兩種材料共鍍技術(shù)實(shí)現(xiàn),然而階梯變化折射率材料難于尋找,共鍍技術(shù)對鍍膜機(jī)的膜厚工藝控制要求極高,不易實(shí)現(xiàn)。高低折射率系數(shù)匹配法是陷波濾光片的主要設(shè)計(jì)方法,針對本次陷波濾光片的光譜指標(biāo)要求,采用該方法更適合。
陷波膜系采用的初始結(jié)構(gòu)為
式中,Sub、Air 分別為入射、出射介質(zhì);H、L分別為高、低折射率材料;α、β分別為高、低折射率材料系數(shù);n為循環(huán)次數(shù)。由多層介質(zhì)高反射膜理論可得截止帶寬度Δg[15]為
本文采用Essential Macleod 軟件做為膜系設(shè)計(jì)輔助,結(jié)合光譜指標(biāo),通過軟件的Reference Wavelength調(diào)整波長位置,Link All Materials 調(diào)整α、β系數(shù),最終確定初始膜系為Sub|(2.7H1.4L)^45|Air,其中Sub 為K9基底,H為Nb2O5,L為SiO2。利用輔助軟件的Optimac 和Needle Synthesis 細(xì)化合成后的陷波膜系總厚度為14 μm,膜系設(shè)計(jì)光譜曲線如圖4所示,膜系光譜在435 nm~680 nm & 820 nm~880 nm 波段高透射,在750 nm~800 nm 深截止。
圖4 陷波膜系設(shè)計(jì)光譜Fig.4 Design spectrum of single notch film
1.3.2 增透膜系設(shè)計(jì)
為了提升收光效率,濾光片采用另外一面增加增透膜的設(shè)計(jì),減少透射區(qū)的光譜反射,即對435 nm~680 nm & 820 nm~880 nm 波段增透膜設(shè)計(jì)。采用Essential Macleod 軟件做為膜系設(shè)計(jì)輔助,最終優(yōu)化后的膜系結(jié)構(gòu)為Sub|0.37L0.76H0.74L3.34H0.2L1.6H2.3L|Air,其中Sub 為K9 基底,H為Nb2O5,L為SiO2,經(jīng)過優(yōu)化后的增透膜光譜曲線如圖5所示,在435 nm~680 nm & 820 nm~880 nm 波段的平均透射率為95.5%。
圖5 增透膜系設(shè)計(jì)光譜Fig.5 Design spectrum of single anti-reflective film
陷波膜系與增透膜系組合的堆棧結(jié)構(gòu)的理論設(shè)計(jì)光譜如圖6所示,所有光譜指標(biāo)優(yōu)于指標(biāo)要求。
圖6 陷波濾光片堆棧設(shè)計(jì)光譜Fig.6 Design spectrum of notch filter
因陷波膜系的非規(guī)整性,涉及膜層厚度陡變(厚層和超薄層銜接)控制;另一方面,深截止的光譜指標(biāo)要求,必然會(huì)造成總膜層較多且較厚。所設(shè)計(jì)的膜系共108 層,膜層總厚度14 μm,各膜層的膜厚分布不規(guī)整,如圖7,有極薄層和超厚層,這對鍍制工藝實(shí)現(xiàn)要求較高。
圖7 陷波膜系各膜層的膜厚分布Fig.7 Every physical thickness of notch film
為獲得理想光譜效果的濾光片,采用Essential Macleod 軟件對膜系進(jìn)行誤差模擬,圖8 是標(biāo)準(zhǔn)偏差0.5%的模擬結(jié)果,圖9 是標(biāo)準(zhǔn)偏差0.3%的模擬結(jié)果,從模擬結(jié)果發(fā)現(xiàn)膜厚誤差控制0.5%,光譜在820~840 nm 的透射會(huì)出現(xiàn)較大波紋,透射率最低降到80%風(fēng)險(xiǎn)幾率較大,會(huì)嚴(yán)重影響發(fā)射光譜的收光率,使用效果變差;而膜厚誤差控制在0.3%以內(nèi),可以保障整體光譜性能不會(huì)出現(xiàn)較大變化。因此采用工藝控制精度高的德國等離子體輔助反應(yīng)磁控濺射鍍膜設(shè)備HELIOS 400 進(jìn)行工藝實(shí)現(xiàn)。該鍍膜設(shè)備采用一種中頻孿生靶反應(yīng)磁控濺射與RF 等離子源輔助沉積相結(jié)合的濺射鍍膜技術(shù)[16-17],并配有直接光控系統(tǒng),具有成膜速率穩(wěn)定,膜厚控制精準(zhǔn),膜層致密等優(yōu)點(diǎn)。
圖8 膜厚0.5%標(biāo)準(zhǔn)偏差模擬Fig.8 Thickness standard deviation of 0.5%
圖9 膜厚0.3%標(biāo)準(zhǔn)偏差模擬Fig.9 Thickness standard deviation of 0.3%
增透膜系與陷波膜系采用相同的材料設(shè)計(jì),因此用相同的濺射設(shè)備鍍制。在h=1 mm、Φ=25 mm 的K9 玻璃基底上鍍制,基底先經(jīng)超聲波清洗并烘干處理,保證潔凈;鍍膜真空室加熱200 ℃,保持30 min 除氣恒溫;離子對基底轟擊120 s 進(jìn)行表面活化;Nb2O5、SiO2的沉積速率均設(shè)定約為0.5 nm/s,進(jìn)行鍍膜沉積;沉積過程通過氧分壓傳感器λ-sensor 監(jiān)控氧含量,保證濺射膜層充分氧化;設(shè)備的OMS(Optical Monitoring System)膜厚控制系統(tǒng)通過Backward、Offset、Forward 多種算法結(jié)合的方式計(jì)算并矯正膜厚判停,實(shí)現(xiàn)復(fù)雜膜系膜厚控制,獲得符合設(shè)計(jì)要求的膜層。
采用Varian 分光光度計(jì)Cary 5000 進(jìn)行光譜測試,單面第一次鍍制陷波濾光膜光譜測試結(jié)果如圖10所示,陷波左側(cè)上升沿出現(xiàn)塌肩現(xiàn)象,右側(cè)上升沿出現(xiàn)塌坑現(xiàn)象,而右側(cè)沿對于熒光信號(hào)的捕獲至關(guān)重要,會(huì)減少原本較弱的發(fā)射光的能量獲取,降低熒光成像的信噪比,進(jìn)而造成熒光圖像不清晰,影響病灶部位邊界的精準(zhǔn)識(shí)別。
圖10 陷波濾光膜光譜測試結(jié)果Fig.10 Test spectrum of single notch film
采用Essential Macleod 軟件對陷波膜系各層敏感度進(jìn)行分析,結(jié)果如圖11所示,發(fā)現(xiàn)膜系中敏感度較高的膜層有47、49、53、55,重點(diǎn)對這4 層進(jìn)行返演模擬,發(fā)現(xiàn)這四層設(shè)計(jì)膜厚基本相同,均為223.6 nm,若每層膜厚減少1 nm 便會(huì)出現(xiàn)圖10 鍍制光譜效果。針對該問題采取措施:對這四層膜采用多監(jiān)控片的膜厚控制方式,合理分配監(jiān)控片,盡可能將敏感層設(shè)置在監(jiān)控片控制最精準(zhǔn)層位置,減少敏感層誤差對整體光譜的影響。
圖11 陷波膜系膜層敏感度分析Fig.11 Layer sensitivity of notch film
調(diào)整敏感層工藝控制后,鍍制單面陷波濾光膜光譜測試結(jié)果如圖12所示,陷波兩側(cè)上升沿未現(xiàn)塌肩、塌坑現(xiàn)象,光譜Tavg>95%@435 nm~680 nm & @820 nm~880 nm,OD≥6@750 nm~800 nm;單面增透膜光譜測試結(jié)果如圖13所示,Tavg>95.4%@435 nm~680 nm & 820 nm~880 nm;雙面鍍膜后陷波濾光片的產(chǎn)品光譜測試和設(shè)計(jì)光譜如圖14所示,Tavg>97%@435 nm~680 nm & @820 nm~880 nm,OD≥6@750 nm~800 nm,實(shí)測結(jié)果與設(shè)計(jì)光譜相符,滿足熒光內(nèi)窺鏡用陷波濾光片所有光譜指標(biāo)。
圖12 陷波濾光膜光譜測試結(jié)果Fig.12 Test spectrum of single notch film
圖13 增透膜光譜測試結(jié)果Fig.13 Test spectrum of single anti-reflective film
圖14 陷波濾光片產(chǎn)品光譜測試和設(shè)計(jì)光譜Fig.14 Test spectrum and design spectrum of notch filter
因該濾光片用于透射式成像系統(tǒng),為減少因該濾光片引入的像差,提高成像質(zhì)量,濾光片的透射波前畸變控制要求≤λ/4 CA PV @632.8 nm。為此采用透射波前畸變精度高于≤λ/4 CA PV @632.8 nm 指標(biāo)要求的基底,結(jié)合鍍膜工藝進(jìn)行控制。圖15 是采用zygo 干涉儀測試的透射波前畸變,在通光孔徑內(nèi)的測試結(jié)果為0.076λPV @632.8 nm,滿足應(yīng)用要求。
圖15 陷波濾光片產(chǎn)品透射波前畸變測試Fig.15 Test transmission wavefront distortion of notch filter
以光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)理論為基礎(chǔ),設(shè)計(jì)并制備了高性能熒光內(nèi)窺鏡用陷波濾光片。該濾光片達(dá)到預(yù)期設(shè)計(jì)指標(biāo)要求:在可見光和熒光發(fā)射光譜波段高透射T>97%@435 nm~680 nm & @820 nm~880 nm,熒光激發(fā)光譜陷波波段深截止OD≥6@750 nm~800 nm,透射波前畸變控制在0.076λCA PV @632.8 nm,為高端熒光內(nèi)窺鏡高清成像準(zhǔn)確識(shí)別病灶部位起到關(guān)鍵作用。