關(guān)鍵詞 無損離子操縱結(jié)構(gòu);行波結(jié)構(gòu);離子遷移譜;小分子
離子遷移譜技術(shù)(Ion mobility spectrometry, IMS)是指在電場(chǎng)和支持氣體環(huán)境中,根據(jù)物質(zhì)群(定義為氣態(tài)離子團(tuán))的速度表征物質(zhì)的技術(shù),是復(fù)雜化學(xué)分析中強(qiáng)大的分離手段[1-3]。離子遷移譜的性能受多種因素影響,其中遷移管尤為重要[4-5]。為了提高離子遷移譜的分辨率,可以加長遷移管的長度或者提高電場(chǎng)強(qiáng)度,但傳統(tǒng)遷移管受其結(jié)構(gòu)與成本的限制,這些改進(jìn)都將帶來較大的挑戰(zhàn)。為增加離子遷移路徑以及傳輸效率, Webb 等[6-7]于2014 年提出了無損離子操縱結(jié)構(gòu)(Structures for lossless ion manipulations,SLIM)。根據(jù)驅(qū)動(dòng)電場(chǎng)的不同, SLIM 分為直流(Direct current, DC)電場(chǎng)驅(qū)動(dòng)的DC-SLIM[6,8]以及行波(Travelling wave, TW)驅(qū)動(dòng)的TW-SLIM[7,9-10]。其中, DC-SLIM 的直流驅(qū)動(dòng)電壓隨著SLIM 長度的增加而升高,限制了遷移長度的進(jìn)一步增加;TW-SLIM 的驅(qū)動(dòng)電壓為行波,增加SLIM 的長度并不需要提高行波的電壓強(qiáng)度,并且射頻電極與行波電極方向平行地間隔分布,保證了射頻/行波隔離,具有簡單且高效的離子束縛性,應(yīng)用價(jià)值更高。
目前,行波無損離子操縱結(jié)構(gòu)的研究多集中在與質(zhì)譜聯(lián)用方面,通過開關(guān)、轉(zhuǎn)彎[11]和多層離子電梯結(jié)構(gòu)[12-14]實(shí)現(xiàn)離子多通道傳輸[15-17],有效延長離子遷移路徑。通過不同的結(jié)構(gòu)及功能設(shè)計(jì),能夠?qū)Υ蠓肿游镔|(zhì)進(jìn)行高效捕獲、積累及釋放,并通過無損傳輸實(shí)現(xiàn)超高分辨率分析。現(xiàn)有研究主要聚焦于蛋白質(zhì)等大分子的同分異構(gòu)體的分離和檢測(cè)[18-25],對(duì)相對(duì)分子質(zhì)量低于200 amu 的小分子物質(zhì)關(guān)注較少,未見對(duì)其在TW-SLIM 中的傳輸性能進(jìn)行探究的報(bào)道。
TW-SLIM 的優(yōu)勢(shì)之一是其長度在理論上可以無限增加, 90°轉(zhuǎn)彎結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)能夠使SLIM 遷移長度在二維平面上有效擴(kuò)展,實(shí)現(xiàn)超長遷移路徑,對(duì)提高遷移譜分辨率具有重要意義。本研究通過仿真及實(shí)驗(yàn)首次探究了小分子物質(zhì)在TW-SLIM 轉(zhuǎn)彎結(jié)構(gòu)中的傳輸性能。通過COMSOL 軟件平臺(tái)進(jìn)行仿真,分析小分子物質(zhì)在TW-SLIM 中的傳輸條件,并在實(shí)驗(yàn)室自制的TW-SLIM 遷移譜平臺(tái)上進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。探究了不同束縛電場(chǎng)因素對(duì)小分子物質(zhì)在TW-SLIM 轉(zhuǎn)彎結(jié)構(gòu)中傳輸效率的影響,獲得了無損傳輸?shù)淖顑?yōu)值范圍。本研究為基于TW-SLIM 的遷移譜儀檢測(cè)毒品和爆炸物的研究提供了參考。
1 實(shí)驗(yàn)部分
1.1 TW-SLIM仿真實(shí)驗(yàn)
采用COMSOL Multiphysic軟件對(duì)TW-SLIM中的電場(chǎng)分布及帶電粒子運(yùn)動(dòng)軌跡進(jìn)行仿真,探究小分子物質(zhì)無損傳輸?shù)碾妷簵l件。COMSOL是一款多物理場(chǎng)仿真軟件,利用有限元法求解偏微分方程(組),實(shí)現(xiàn)真實(shí)物理現(xiàn)象仿真。相比于其它粒子軌跡仿真軟件(如Axsim、SIMION和ISIS), COMSOL 的操作界面更加簡潔,對(duì)簡單結(jié)構(gòu)的計(jì)算精度較高[26]。因此,本研究選擇COMSOL 軟件進(jìn)行仿真。
圖1A所示為由兩組平行電極板組成的90°轉(zhuǎn)彎TW-LIM 的三維仿真模型。每組電極板的電極分布如圖1B所示,包含位于中間的平行的6 組射頻電極和5 組行波電極,以及位于兩側(cè)的2 組保護(hù)(Guard)電極,各電極尺寸參數(shù)詳見表1。由于仿真軟件限制,為減少仿真時(shí)間及所需存儲(chǔ)空間,設(shè)置總遷移長度為32 mm。
在TW-SLIM 上施加的電壓包括驅(qū)動(dòng)離子運(yùn)動(dòng)的行波電壓、束縛離子的射頻電壓和直流偏置電壓,直流偏置電壓施加在兩側(cè)保護(hù)電極上,形成從兩側(cè)到中心的電場(chǎng),避免離子運(yùn)動(dòng)到兩側(cè);射頻電場(chǎng)將離子束縛在上下極板之間,避免其打到上下極板而造成損失。
仿真使用相對(duì)分子質(zhì)量為124amu的正離子,設(shè)置總釋放數(shù)為100,記錄傳輸至終點(diǎn)處的粒子數(shù)量,傳輸效率為終點(diǎn)處粒子數(shù)與總釋放數(shù)的比值。行波電壓設(shè)置為18V,頻率為10 kHz,分別探究保護(hù)電場(chǎng)、射頻電場(chǎng)對(duì)小分子離子傳輸效率的影響。當(dāng)射頻電壓信號(hào)頻率為1.0 MHz、峰-峰值為320V時(shí),TW-SLIM 傳輸效率隨保護(hù)電極電壓值(UGuard)的變化情況見圖2A。結(jié)果表明,隨著UGuard值增加,離子傳輸效率先增大后減小,當(dāng)UGuard=6V時(shí),傳輸效率最大。設(shè)置UGuard=6V,測(cè)試射頻電壓幅值及峰-峰值對(duì)離子傳輸效率的影響,如圖2B 與2C 所示,離子傳輸效率隨著射頻電壓峰-峰值和頻率的增加而增大,當(dāng)射頻電壓峰-峰值為440 V、頻率為1.5 MHz時(shí),傳輸效率達(dá)到100%。
根據(jù)以上的仿真結(jié)果配置電壓參數(shù),設(shè)置行波電壓為18 V,頻率為10 kHz;設(shè)置保護(hù)電極電壓幅值為6V,射頻電壓峰-峰值設(shè)置為440 V,頻率設(shè)置為1.5 MHz。分別探究相對(duì)分子質(zhì)量為75、100、150、175和200amu 的粒子在轉(zhuǎn)彎TW-SLIM中的離子傳輸效率。仿真結(jié)果如圖2D 所示,以上不同離子均能在TW-SLIM 中達(dá)到100%的傳輸效率,離子運(yùn)動(dòng)軌跡仿真如圖3 所示。結(jié)果表明,相對(duì)分子質(zhì)量在200 amu以內(nèi)的小分子物質(zhì)可以在TW-SLIM轉(zhuǎn)彎結(jié)構(gòu)中實(shí)現(xiàn)無損傳輸。
1.2 儀器測(cè)試平臺(tái)及試劑
實(shí)驗(yàn)裝置主要包括電暈針電離源、毛細(xì)管、連續(xù)進(jìn)樣裝置、離子漏斗、TW-SLIM 漂移管和法拉第杯。本平臺(tái)采用連續(xù)進(jìn)樣系統(tǒng),通過對(duì)待測(cè)樣品加熱蒸發(fā)后,并利用氣泵抽出。進(jìn)樣產(chǎn)生裝置(圖4)主要包括樣品氣體的產(chǎn)生裝置和電暈針電離源(實(shí)驗(yàn)室自制)2個(gè)部分,其中,樣品氣體的產(chǎn)生裝置包括氣體存儲(chǔ)腔體、氣泵、分子篩和存儲(chǔ)樣品的滲透管。通過加熱裝有樣品的滲透管使樣品揮發(fā),在氣泵的帶動(dòng)下,隨著氣流進(jìn)入氣體存儲(chǔ)腔體。
在氣體存儲(chǔ)腔中,樣品被電離,然后通過不銹鋼毛細(xì)管進(jìn)入真空腔體,在自制的離子漏斗處聚焦,再進(jìn)入TW-SLIM 漂移管區(qū),真空腔實(shí)驗(yàn)裝置如圖5A 所示。TW-SLIM 漂移管采用印刷電路板制成(圖5B),離子路徑為90°轉(zhuǎn)彎型,總遷移長度170 mm,電極尺寸及分布與仿真條件一致。射頻電極、行波電極的電壓信號(hào)分別由實(shí)驗(yàn)室自制射頻電源和行波脈沖電源提供。離子流經(jīng)漂移管后,電流信號(hào)通過出口處自制的法拉第杯接收,經(jīng)電流放大器將微弱電流信號(hào)轉(zhuǎn)化為電壓信號(hào)并進(jìn)行放大后,采用普源示波器(MSO5204)采集波形數(shù)據(jù)。
為了便于測(cè)試,樣品采用易揮發(fā)的甲基膦酸二甲酯溶液(DMMP,分析純,麥克林生化科技有限公司),分子式為C3H9O3P,相對(duì)分子質(zhì)量為124 amu。TW-SLIM測(cè)試時(shí)的主要工作參數(shù)見表2。
2 結(jié)果與討論
2.1 保護(hù)電極電壓對(duì)離子傳輸效率的影響
實(shí)驗(yàn)中,法拉第杯連接微流放大器的放大倍數(shù)為108倍,測(cè)量離子漏斗后即TW-SLIM漂移管前的總離子流為20 pA,傳輸效率為TW-SLIM 漂移管后的離子流與總離子流的比值。設(shè)置射頻電壓峰-峰值為200V、頻率為1.0MHz,考察了保護(hù)電極電壓幅值對(duì)離子傳輸效率的影響(圖6)。隨著保護(hù)電極電壓幅值增加,離子傳輸效率呈現(xiàn)先增大后減小的趨勢(shì),最優(yōu)值為VGuard=5V,此時(shí)離子傳輸效率達(dá)到43%。
2.2 射頻電極電壓對(duì)離子傳輸效率的影響
將保護(hù)電極電壓設(shè)置為5 V,探究射頻電壓對(duì)離子傳輸效率的影響。將射頻電壓信號(hào)頻率設(shè)定為1.0 MHz,改變射頻電壓峰-峰值,觀察離子傳輸效率的變化。如圖7A 所示,隨著射頻電壓峰-峰值增加,離子傳輸效率逐漸增大。設(shè)置URFp-p為440V,考察離子傳輸效率隨射頻電壓信號(hào)頻率增加的變化趨勢(shì)。結(jié)果如圖7B 所示,隨著信號(hào)頻率增加,離子傳輸效率持續(xù)增大,當(dāng)fRF=1.5 MHz 時(shí),離子傳輸效率達(dá)到最大(100%)。
將實(shí)驗(yàn)結(jié)果與仿真結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,可見離子傳輸效率受保護(hù)電極電壓、射頻電壓頻率及峰-峰值的影響趨勢(shì)一致,但具體數(shù)值存在差異。這主要是由于仿真實(shí)驗(yàn)的離子傳輸路徑較短(32 mm),環(huán)境條件理想,離子的運(yùn)動(dòng)軌跡相對(duì)簡單;實(shí)際實(shí)驗(yàn)中的離子傳輸路徑長(170 mm),環(huán)境復(fù)雜,存在干擾因素,如電磁干擾、氣壓波動(dòng)等。
仿真及實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示,在TW-SLIM 轉(zhuǎn)彎結(jié)構(gòu)中,小分子物質(zhì)能夠?qū)崿F(xiàn)無損傳輸。將本研究與以往TW-SLIM 的相關(guān)研究的部分參數(shù)進(jìn)行比較,由表3 可見,本研究首次實(shí)現(xiàn)了相對(duì)分子質(zhì)量小于200 amu的小分子物質(zhì)在TW-SLIM 中的無損傳輸。與大分子物質(zhì)傳輸?shù)氖`電場(chǎng)條件相比,小分子物質(zhì)傳輸時(shí),保護(hù)電極實(shí)現(xiàn)有效傳輸所需的電壓值低(5~7 V);RF 電極需要更高的電壓峰-峰值及頻率才能實(shí)現(xiàn)較好的束縛效果,當(dāng)電壓峰-峰值達(dá)到440 V、頻率達(dá)到1.5 MHz 時(shí),才能實(shí)現(xiàn)無損傳輸。
3 結(jié)論
針對(duì)小分子物質(zhì)在TW-SLIM 傳輸性能研究較少的情況,采用COMSOL 軟件進(jìn)行仿真,探究了保護(hù)電場(chǎng)和射頻電場(chǎng)對(duì)相對(duì)分子質(zhì)量小于200 amu的小分子物質(zhì)在TW-SLIM 轉(zhuǎn)彎結(jié)構(gòu)中傳輸性能的影響,并在實(shí)驗(yàn)平臺(tái)上進(jìn)行了驗(yàn)證。結(jié)果表明,當(dāng)保護(hù)電極電壓幅值為5 V、射頻電極電壓峰-峰值為440 V、頻率為1.5 MHz 時(shí),小分子物質(zhì)的離子傳輸效率達(dá)到最高(100%),實(shí)現(xiàn)了無損傳輸。與大分子物質(zhì)在TW-SLIM 中進(jìn)行無損傳輸?shù)臈l件相比,小分子物質(zhì)對(duì)射頻束縛電場(chǎng)的要求更高,進(jìn)一步提高了對(duì)射頻源的要求。本研究結(jié)果為TW-SLIM 轉(zhuǎn)彎結(jié)構(gòu)中的小分子離子傳輸機(jī)制研究提供了重要參考,為在二維平面上增加離子遷移路徑奠定了實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ),對(duì)用于毒品、爆炸物等物質(zhì)的遷移譜儀器的研發(fā)具有重要意義。