晶粒尺寸和應(yīng)變的Ｘ射線粉末衍射法測定
2009-04-28 02:18駱軍朱航天梁敬魁
物理 2009年4期
關(guān)鍵詞：應(yīng)變
駱 軍 朱航天 梁敬魁
摘要文章介紹了根據(jù)x射線粉末衍射線形測定試樣晶粒度和點(diǎn)陣畸變(應(yīng)變)的主要方法，并以c03 04納米材料晶粒度和應(yīng)變的測量為例加以說明，通過與掃描電鏡觀察的統(tǒng)計(jì)結(jié)果進(jìn)行比較，分析了各種方法計(jì)算晶粒尺寸的可靠性和適用性，
關(guān)鍵詞x射線粉末衍射，晶粒尺寸，應(yīng)變，納米顆粒
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