張春華,郭亨群,宋志華,吳沖滸,吳其山
(1.華僑大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院,福建 泉州 362021;2.廈門金鷺特種合金有限公司,福建 廈門 361006)
納米碳化鎢粉體的粒度表征
張春華1,郭亨群1,宋志華1,吳沖滸2,吳其山2
(1.華僑大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院,福建 泉州 362021;2.廈門金鷺特種合金有限公司,福建 廈門 361006)
以工業(yè)化生產(chǎn)設(shè)備制備納米碳化鎢粉,采用X射線衍射譜(XRD)、比表面積法(BET)、冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、激光動(dòng)態(tài)光散射儀對(duì)樣品的物相、粒度及其分布進(jìn)行表征,探討其測(cè)量原理.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:納米碳化鎢粉的平均顆粒尺寸為90nm,大多數(shù)近似球形,也有一部分呈多角形.為了能更準(zhǔn)確地測(cè)量納米碳化鎢粉顆粒的粒徑,分散劑中的樣品要有較好的分散,才能破壞團(tuán)聚體,同時(shí)納米碳化鎢粉顆粒的形狀對(duì)激光動(dòng)態(tài)光散射儀的測(cè)量結(jié)果具有重要的影響.
碳化鎢;納米粉末;粒度表征;團(tuán)聚體
碳化鎢(WC)是制備硬質(zhì)合金的主要原料,其粒度決定了硬質(zhì)合金的性質(zhì).研究表明,隨著碳化鎢粒度減小,其硬質(zhì)合金的硬度、耐磨性和韌性都比常規(guī)硬質(zhì)合金提高;特別是當(dāng)碳化鎢粒度減小到納米級(jí)(<100nm)時(shí),其硬質(zhì)合金具有高硬度、高強(qiáng)度性質(zhì)[1-2].因此,要生產(chǎn)高性能的納米硬質(zhì)合金首要條件是制備納米級(jí)碳化鎢粉.在國(guó)外,Zhu等[3]采用原位還原滲碳法制備得到粒度為50~80nm,Gao等[4]采用氣相碳化法制得了納米碳化鎢粉;在國(guó)內(nèi),李繼剛等[5]采用固定床化學(xué)氣相法合成了10~20nm納米碳化鎢粉,寧陽(yáng)[6]采用高能量球磨法合成了納米碳化鎢粉,并隨著球磨時(shí)間不同得到不同級(jí)的納米碳化鎢粉,展紅全等[7]采用高頻等離子體化學(xué)氣相沉積法(RF-PCV)制備了平均粒徑為50nm的納米碳化鎢粉,但其方法較復(fù)雜.這些方法工業(yè)化大規(guī)模生產(chǎn)尚不成熟,在國(guó)內(nèi)還沒有能批量生產(chǎn)納米級(jí)碳化鎢粉.本文在工業(yè)化生產(chǎn)設(shè)備基礎(chǔ)上制備了納米級(jí)碳化鎢粉,采用不同的測(cè)量方法對(duì)樣品的物相、粒度及其分布進(jìn)行表征.
1.1 樣品制備
利用廈門金鷺特種合金有限公司的規(guī)?;a(chǎn)設(shè)備生產(chǎn)納米級(jí)碳化鎢粉.具體工藝流程:采用純紫鎢(WO2.72)作為原料,以高流量干氫還原控制氣相遷移,原位還原為平均粒徑30nm的納米鎢粉.然后,采用納米鎢粉為原料,粒狀炭黑為碳源,按6.3%的配碳量,采用攪拌球磨配炭法進(jìn)行均勻配炭1h.在氫氣的保護(hù)下,于1 300℃碳化45min,并采用氣流分散設(shè)備對(duì)爐料進(jìn)行分散.最后,過(guò)篩選粒,制得納米碳化鎢粉.通過(guò)控制裝舟量、配碳比例、碳化溫度、碳化時(shí)間等工藝參數(shù),可以得到質(zhì)量?jī)?yōu)良的納米碳化鎢粉.
1.2 測(cè)試儀器
采用D8 Advance型X射線衍射儀(德國(guó)Bruker公司),對(duì)樣品物相和晶粒平均尺寸進(jìn)行測(cè)量;采用NOVA 1200e型全自動(dòng)比表面和孔隙度分析儀(美國(guó)康塔公司),對(duì)樣品的比表面積進(jìn)行測(cè)量;采用S-4800型冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(日本日立公司)和Tecnai-12型透射電子顯微鏡(荷蘭Philips公司),觀察樣品顆粒形狀和大?。徊捎肁LV/DLS/SLS-5022F型激光動(dòng)態(tài)光散儀(德國(guó)ALV公司),對(duì)樣品的粒度分布進(jìn)行測(cè)量.
2.1 X射線衍射譜法
納米碳化鎢粉的X射線衍射(XRD)圖譜,如圖1所示.實(shí)驗(yàn)參數(shù):輻射源為CuKα,波長(zhǎng)為15.40 6nm,掃描速度為4(°)·min-1,步寬為0.02(°),2θ為20~80(°).從圖1中可以看出,生產(chǎn)的碳化鎢是純凈的,不含其他的碳化鎢相和雜質(zhì).根據(jù)X射線衍射譜,通過(guò)晶態(tài)衍射峰的半高寬(FWHM)可以確定多晶顆粒的單個(gè)晶粒的平均尺寸[8].Scherrer公式為
圖1 納米碳化鎢粉的XRD圖譜Fig.1 XRD spectra of nano-WC
式(1)中:D為晶粒尺寸;K為謝樂常數(shù)(當(dāng)應(yīng)用半高寬時(shí),K取0.89;當(dāng)應(yīng)用積分寬時(shí),K取0.94);β為半高寬;λ為X射線波長(zhǎng);θ為衍射射角.取2θ=48.3(°),對(duì)應(yīng)的晶面計(jì)算晶粒平均尺寸為27.4nm.
2.2 比表面積法
比表面積法(BET)是即以氣體分子占據(jù)粒子表面,測(cè)量氣體吸附量計(jì)算粒子比表面積.文中采用氮?dú)馕綔y(cè)定法測(cè)定.首先測(cè)出一定質(zhì)量的粉末做單分子層吸附所需的氮?dú)怏w積(標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)時(shí))V0,再利用BET公式計(jì)算出單分子層在吸附溫度下的吸附體積Vm,從而求出粉末比表面積.BET式為
式(2)中:P為吸附平衡時(shí)氮?dú)獾膲毫?;P0為吸附溫度下氮?dú)獾娘柡驼羝麎毫Γ?為被吸附氣體在標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下的體積;Vm為單分子層吸附時(shí)所需氣體的體積;C是常數(shù).
圖2 納米碳化鎢粉的BET圖Fig.2 BET image of nano-WC
式(3)中:S為比表面積(m2·g-1);N為阿佛加德羅常數(shù);A為吸附每個(gè)氮分子的截面積;V為標(biāo)準(zhǔn)摩爾體積;W為粉末質(zhì)量(g).
粉末平均粒徑d與比表面積換算公式為
式(4)中:d為粉末顆粒的平均粒徑(nm);ρ為粉末的真密度(g·cm-3).
根據(jù)以上原理,可以得到所測(cè)樣品的比表面積S為4.27m2·g-1,則由式(4)可得到納米碳化鎢粉的平均粒徑為89.5nm.
2.3 顯微鏡法
透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)是最常用的兩種電子顯微鏡.TEM是通過(guò)對(duì)照底板上的影像分析來(lái)測(cè)粒度的,它要求樣品做的很薄,使得高能電子能夠穿透樣品.由于納米粉末易團(tuán)聚,因此TEM觀察到粉末的顆粒,往往不是原生粒子,而是原生粒子的團(tuán)聚體.掃描電子顯微鏡(SEM)與TEM相比,其速度要快的多,而且還可以測(cè)得更多的三維空間細(xì)節(jié).
納米碳化鎢的冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)圖片,如圖3(a)所示.從圖3(a)可以看出,納米碳化鎢粉形狀不規(guī)則,大多數(shù)近似球形,也有一部分呈多角形,且具有團(tuán)聚現(xiàn)象存在.納米碳化鎢一次顆粒的直徑在70~130nm之間,但也有少量比較大的顆粒.納米碳化鎢的TEM圖片,如圖3(b)所示.從圖3(b)中可以看出,納米碳化鎢基本呈球形且粒徑大約為90nm,同時(shí)也有團(tuán)聚現(xiàn)象存在.
圖3 納米碳化鎢粉的電子顯微鏡圖Fig.3 Electron microscope image of nano-WC
2.4 激光動(dòng)態(tài)光散射法
其基本原理是:當(dāng)光束受到液體中布朗運(yùn)動(dòng)顆粒的影響時(shí),會(huì)散射出一定頻率的散射光,散射光在空間某點(diǎn)形成干涉,而該點(diǎn)光強(qiáng)的時(shí)間相關(guān)函數(shù)的衰減與顆粒粒度大小有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系.通過(guò)檢測(cè)散射光的光強(qiáng)隨時(shí)間變化,并進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算可以得出顆粒粒度大小.激光動(dòng)態(tài)光散射儀的測(cè)試結(jié)果,如圖4所示.從圖4中可以看出,納米碳化鎢粉的顆粒分布比較均勻,且絕大部分顆粒粒徑分布在90nm附近.
圖4 納米碳化鎢粉的粒度分布圖Fig.4 Particle size distribution of nano-WC
由X射線衍射譜法、BET法、顯微鏡法(FESEM,TEM)和激光動(dòng)態(tài)光散射法測(cè)得樣品粒度對(duì)比可知,制備得到的納米碳化鎢粉顆粒的平均粒徑大約為90nm.
X射線衍射譜法測(cè)得樣品顆粒中晶粒的平均尺寸小于顆粒的平均粒徑.這是因?yàn)閄射線衍射法測(cè)得的是單個(gè)晶粒平均尺寸,而納米碳化鎢粉顆粒是多晶顆粒;同時(shí),當(dāng)顆粒粒度很?。ㄒ话阈∮?00nm)時(shí),由于表面張力的增加,顆粒內(nèi)部受到很大的壓力,結(jié)果顆粒內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生第2次畸變,導(dǎo)致衍射線寬化,故X射線衍射譜法測(cè)量值誤差比較大[9].
激光動(dòng)態(tài)光散射法測(cè)得樣品顆粒尺寸有的大一些.這是因?yàn)榧す鈩?dòng)態(tài)光散射理論模型是建立在顆粒為球形、單分散條件上的,散射光的空間(角度)分布只與粒徑有關(guān).由于納米碳化鎢粉中部分不規(guī)則顆粒存在,其對(duì)激光的散射偏離基本規(guī)律;而這些散射光的空間(角度)分布是顆粒截面積的函數(shù),被激光粒度儀捕獲后,就按照球形模型處理數(shù)據(jù).Jonasz[10]指出,不規(guī)則顆粒的截面積平均起來(lái)要大于相同體積的球體.因此,激光動(dòng)態(tài)光散射儀測(cè)定的不規(guī)則顆粒的直徑比相同體積的球形顆粒大.
從FESEM和TEM的測(cè)試結(jié)果看,有些顆粒尺寸較大,這是由于納米級(jí)粉末易發(fā)生團(tuán)聚現(xiàn)象.納米粉末的表面原子與內(nèi)部原子所處的環(huán)境是不同的,納米粉末顆粒尺寸小,表面積大,位于表面的原子占有相當(dāng)大的比例.隨著顆粒粒徑減小,表面積急劇變大,引起表面原子數(shù)迅速增加,這就大大增強(qiáng)了粒子的活性.
粒子表面活性高的原因在于,它缺少近鄰配位的表面原子,極不穩(wěn)定,很容易與其它原子結(jié)合發(fā)生團(tuán)聚.這種表面原子的活性不但引起納米粒子表面原子結(jié)構(gòu)的變化,同時(shí)也引起表面電子自旋構(gòu)像和電子能譜的變化.因此,在測(cè)量過(guò)程中應(yīng)盡量把樣品較好地分散在分散介質(zhì)中,才能夠準(zhǔn)確地表征納米級(jí)粉末的粒度及其分布.
總之,通過(guò)優(yōu)化工藝參數(shù),可以用工業(yè)化生產(chǎn)設(shè)備大規(guī)模生產(chǎn)納米碳化鎢粉,對(duì)生產(chǎn)高硬度,高強(qiáng)度硬質(zhì)合金具有重要的意義.
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Indication of Particle Size of Nanocrystalline Tungsten Carbide Powder
ZHAN G Chun-hua1,GUO Heng-qun1,SON G Zhi-hua1,WU Chong-hu2,WU Qi-shan2
(1.College of Information Science and Engineering,Huaqiao University,Quanzhou 362021,China;2.Xiamen Golden Egret Special Alloy Co Ltd,Xiamen 361006,China)
Nanocrystalline tungsten carbide(nano-WC)powder was prepared on the basis of the industrialized production equipment.Methods of X-ray diffraction,specific surface area,F(xiàn)ESEM,TEM,and laser particle analyzer of dynamic light scattering were applied to test the phase,particle size and its distribution of nano-WC powder.Discussion was made for the testing principle.The results indicate the average particle size of nano-WC is 90nm and most of the particles are spherical shape,but few are the shape of the polygon.In order to more accurately measure particle size of nano-WC powder,the sample should have good dispersion to avoid aggregation.The shape of nano-WC powder also have important influence on measurement of particle analyzer of dynamic light scattering.
tungsten carbide;nanocrystalline powder;particle indication;aggregation
TF 122.1;TB 383
A
1000-5013(2010)04-0388-04
(責(zé)任編輯:黃仲一 英文審校:吳逢鐵)
2009-03-24
郭亨群(1944-),男,教授,主要從事納米材料、光電子材料與器件的研究.E-mail:hqguo@hqu.edu.cn.
國(guó)家科技支撐計(jì)劃項(xiàng)目(2007BAE05B01)