馮婷婷,萬海軍,湯仕平,成偉蘭
(海軍電磁兼容研究檢測中心,上海 200235)
在艦船研制過程中,全艦的電磁兼容設(shè)計工作尤為重要,常會影響到艦船的總體性能和戰(zhàn)術(shù)水平的發(fā)揮。在艦船研制的方案設(shè)計、技術(shù)設(shè)計和施工設(shè)計階段,對電磁兼容設(shè)計總體方案和關(guān)鍵技術(shù)攻關(guān)進展情況的評估是一項較為艱難的工作,長期以來沒有形成成熟規(guī)范的評估方法。這對艦船研制工作順利轉(zhuǎn)階段,以及成本、進度等的控制將造成嚴重影響,為研制工作埋下隱患。
2005年5月,美國國防部公布了新版的《技術(shù)就緒水平評估手冊》[1]。該手冊指出,在系統(tǒng)研制開始之前,系統(tǒng)中要采用的技術(shù)必須是“成熟”的。一般情況下,被認為“成熟”的技術(shù),必須已被用于一個系統(tǒng)、子系統(tǒng)或部件中,在一種相關(guān)的或?qū)嶋H運行的環(huán)境中試驗過,并且已經(jīng)表現(xiàn)出了足夠好的應(yīng)用效能。因此,需要一個度量結(jié)構(gòu)來評估技術(shù)成熟度,需要一個過程來確保只有成熟的技術(shù)才被引入系統(tǒng)研制。我們可以將該手冊中的思想引入艦船電磁兼容技術(shù)評估工作,使之成為艦船研制過程中電磁兼容技術(shù)成熟度評估的依據(jù)。
技術(shù)成熟度水平(TRL)最初由美國航空航天局(NASA)在1995年提出。2001年6月,美國國防部正式采用TRL進行技術(shù)成熟度評測,并于2003年頒布軍事采辦條例DOD5000.2[2],把TRL法律化,從而確立了進行技術(shù)成熟度評估的地位。美國國防部的《國防采辦指南 (DAG)》將TRL確定為描述技術(shù)成熟度的度量結(jié)構(gòu),并提出了系統(tǒng)地進行技術(shù)成熟度評估的過程和方法。
美軍武器裝備采辦管理框架中,技術(shù)成熟度是決定一個項目階段轉(zhuǎn)折的重要因素之一,也是影響項目風(fēng)險的重要因素。技術(shù)成熟度的確定通過技術(shù)成熟度水平 (TRL)來度量。對項目關(guān)鍵技術(shù)的成熟度評估通常會在某個決策點之前的階段充分進行,從而為采辦過程提供技術(shù)成熟度信息。
技術(shù)成熟度水平 (TRL)是將關(guān)鍵技術(shù)從掌握基本原理到定型裝備和經(jīng)過作戰(zhàn)檢驗劃分成9個等級,每個成熟度水平等級都有相應(yīng)的標志和指標,它為技術(shù)成熟度評估提供了客觀的描述方法和度量標準,目的是要簡要清晰地表達發(fā)開狀態(tài)和技術(shù)風(fēng)險。對特定的技術(shù)而言,具體的TRL值有多種選擇,只要運用適當(dāng),就能取代含糊的表達,為成熟度評估提供可參照的標尺。由于TRL原有的準則主要針對硬件與系統(tǒng),對于其他非硬件項目,例如軟件技術(shù)、信息安全技術(shù)、實踐與方法類技術(shù)較難適用。因此,美軍在原有的TRL框架下研究并擴展了其應(yīng)用范圍,即對不同的技術(shù)評估,可對TRL進行適當(dāng)?shù)臄U展理解。經(jīng)過分析,成熟度水平 (TRL)的等級分類及基本描述如表1所示。
表1 技術(shù)成熟度水平 (TRL)的等級分類及基本描述Tab.1 Technology readiness levels(TRL)class and basic definition
艦船電磁兼容性控制應(yīng)貫穿艦船研制、建造、使用的全壽命期,而艦船電磁兼容設(shè)計的技術(shù)成熟度評估卻應(yīng)在艦船研制階段完成,根據(jù)艦船電磁兼容性要求中的艦船電磁兼容控制程序,確定適用于艦船研制過程的電磁兼容技術(shù)評估里程碑 (見圖1)。
圖1 海軍艦船研制過程的電磁兼容技術(shù)評估里程碑Fig.1 Technology assessment milestone of EMC in the naval ships development course
在里程碑A之前,應(yīng)進行艦船研制過程中與電磁兼容有關(guān)的關(guān)鍵技術(shù)識別。對每種候選方案涉及的所有電磁兼容技術(shù)進行謹慎分析和判斷,確保這些技術(shù)可獲得或可開發(fā),識別出現(xiàn)有成熟技術(shù)和難以實現(xiàn)或不可能實現(xiàn)的性能,充分考慮替代技術(shù)。重點考察技術(shù)的成熟度、風(fēng)險和成熟化需求。
在設(shè)計階段1和設(shè)計階段2末,分別進行第2次和第3次技術(shù)成熟度評估,評估結(jié)果合格后才能通過里程碑B1和B2。通過里程碑B1和B2的電磁兼容性技術(shù)成熟度評估需要包括艦船研制該階段的電磁兼容主要技術(shù)信息。例如:電磁兼容性工作分解結(jié)構(gòu) (WBS)、展示電磁兼容關(guān)鍵技術(shù)元素和試驗結(jié)果的體系結(jié)構(gòu)圖等。
通過里程碑B后,艦船工程正式進入首制艦建造和試驗階段。該階段進行艦船建造,設(shè)備裝船、系統(tǒng)集成、系泊和航行試驗等工作。這一階段應(yīng)確認在給定的環(huán)境中,艦船總體電磁兼容性能不存在明顯的設(shè)計和制造上的風(fēng)險,可以滿足電磁兼容性設(shè)計指標要求和作戰(zhàn)性能要求。在到達里程碑C前,應(yīng)進行第4次技術(shù)成熟度評估,本次評估應(yīng)確保之前暴露的任何技術(shù)缺陷都已解決,任何電磁兼容性關(guān)鍵技術(shù)都是成熟的。
艦船研制中的電磁兼容技術(shù)成熟度評估是系統(tǒng)化和基于TRL九級度量結(jié)構(gòu)的成熟度評測過程,評估的對象是艦船研制中的電磁兼容技術(shù),包括若干具體技術(shù),也即關(guān)鍵技術(shù)元素。1個技術(shù)元素被界定為關(guān)鍵技術(shù)元素應(yīng)具備2個條件[3]:艦船依賴該技術(shù)元素滿足作戰(zhàn)需求和該技術(shù)元素本身是新穎的或該技術(shù)的應(yīng)用是新穎的。通常艦船總體電磁兼容性設(shè)計負責(zé)人通過電磁兼容性工作分解結(jié)構(gòu) (WBS)來識別關(guān)鍵技術(shù)元素??梢詮男阅?、制造工藝、材料、測量技術(shù)、加工技術(shù)以及基礎(chǔ)設(shè)施等角度,辨別各種技術(shù)是不是關(guān)鍵技術(shù)。
借鑒GJB 2116-1994中對工作分解結(jié)構(gòu)的定義[4],電磁兼容性工作分解結(jié)構(gòu)是指在艦船型號研制過程中,對電磁兼容設(shè)計工作自上而下逐級分解形成的一個層次體系。該層次體系以艦船研制中的電磁兼容設(shè)計為中心,由技術(shù) (硬件和軟件)項目、服務(wù)項目和資料項目組成。該結(jié)構(gòu)應(yīng)能完全限定電磁兼容設(shè)計工作,并表示出各項工作之間以及它們與最終的艦船電磁兼容設(shè)計工作之間的關(guān)系。圖2是典型的艦船電磁兼容設(shè)計系統(tǒng)綱要工作分解結(jié)構(gòu),該圖僅分解到第3級,實際上,根據(jù)實際情況,WBS圖應(yīng)繼續(xù)細致分解下去,直到得到無法再分解的單項支撐技術(shù)或工作,評估人員根據(jù)WBS圖的最后分解結(jié)果進行關(guān)鍵技術(shù)識別。另外,該分解結(jié)構(gòu)是典型化的標準結(jié)構(gòu),在對具體的艦船型號工程進行電磁兼容設(shè)計系統(tǒng)工作分解時,應(yīng)對其中的某些部分剪裁。
圖2 艦船電磁兼容設(shè)計系統(tǒng)綱要工作分解結(jié)構(gòu) (WBS)Fig.2 Summary work breakdown structure(WBS)for EMC design system of naval ships
圖2中前2層的含義如下:
1)艦船電磁兼容設(shè)計系統(tǒng)是指為有效開展艦船電磁兼容設(shè)計工作所需要的技術(shù)、服務(wù)、設(shè)備和設(shè)施的綜合體;
2)艦船電磁兼容設(shè)計是指艦船研制中與電磁兼容有關(guān)的所有技術(shù)設(shè)計工作,包括:總體、系統(tǒng)、設(shè)備等電磁兼容設(shè)計內(nèi)容;
3)系統(tǒng)和工程項目管理為指導(dǎo)和控制艦船電磁兼容設(shè)計工作進行的技術(shù)和管理控制以及相關(guān)的工程業(yè)務(wù)管理;
4)系統(tǒng)試驗和評定是指為了獲得或驗證艦船電磁兼容性能方面的工程數(shù)據(jù),所開展的試驗與評定;
5)資料是指合同規(guī)定交付的與電磁兼容設(shè)計相關(guān)的使用資料;
6)保障設(shè)備及設(shè)施是指與艦船電磁兼容性設(shè)計保障工作相關(guān)的車輛、設(shè)備、工具,設(shè)施等,也包括與它們有關(guān)的設(shè)計、研制,生產(chǎn)、建造工作。
2.4.1 艦船電磁兼容性設(shè)計分解
對整個艦船研制工程中的電磁兼容性設(shè)計系統(tǒng)而言,成熟度評估工作龐大復(fù)雜,通常需要根據(jù)型號研制的具體情況,將WBS圖中第3層繼續(xù)分解。其中,艦船電磁兼容設(shè)計的分解通??梢愿鶕?jù)分解成的典型化標準結(jié)構(gòu)進行剪裁。根據(jù)工程實踐經(jīng)驗,該典型化標準結(jié)構(gòu)可參見圖3。
2.4.2 技術(shù)成熟度評估
根據(jù)WBS圖中對艦船電磁兼容設(shè)計部分的關(guān)鍵技術(shù)分解情況,結(jié)合TRL標準,可以對每1項關(guān)鍵技術(shù)的成熟度進行評價。針對艦船電磁兼容設(shè)計系統(tǒng)中各項關(guān)鍵技術(shù)成熟度水平的TRL分析系統(tǒng)還需要根據(jù)技術(shù)復(fù)雜性和多樣性進行詳細設(shè)計和專家評審,特別是要防止部門和行業(yè)偏見,在準則制定過程中,應(yīng)該得到一個各方都能理解的一致的解釋。下面針對圖3中艦船電磁兼容設(shè)計各項關(guān)鍵技術(shù),給出示例性的評分準則 (見表2)。
圖3 艦船電磁兼容設(shè)計分解的典型化結(jié)構(gòu)Fig.3 Typical normal framework for design breakdown of naval ships EMC
以Ri表示艦船總體電磁兼容設(shè)計技術(shù)的成熟度水平,Rij表示單項技術(shù)成熟度水平,aij表示單項關(guān)鍵技術(shù)的加權(quán)系數(shù)。加權(quán)系數(shù)表示各個關(guān)鍵技術(shù)的成熟度對整個技術(shù)成熟度的影響權(quán)重。確定加權(quán)系數(shù)的方法通常有專家打分法、層次分析法及灰色關(guān)聯(lián)分析法等。因此加權(quán)求和后可獲得總體技術(shù)成熟度水平可表示為
表2 艦船電磁兼容設(shè)計TRL評價Tab.2 TRL assessment for EMC design of naval ships
艦船電磁兼容設(shè)計技術(shù)的成熟度水平R可表示為
成熟度水平低于0.3屬于低水平,0.3~0.6屬于中等水平,高于0.6屬于中高水平。根據(jù)計算的成熟度水平?jīng)Q定是否進入研制的下一個階段。
艦船研制周期長、風(fēng)險大,對研制過程中的電磁兼容設(shè)計進行技術(shù)成熟度評估有利于避免技術(shù)脫節(jié)和風(fēng)險控制,有利于艦船總體方案的評估和優(yōu)選。本文提出的基于TRL的艦船電磁兼容技術(shù)成熟度評估使得評估工作量化,更易判斷,排除了很多主觀判斷的因素,可為海軍型號工程中的評估工作提供參考。
[1]DEPARTMENT OF DEFENSE.Technology readiness assessment deskbook[M].Prepared by the Deputy Under Secretary of Defense for Science and Technology,May 2005.
[2]DEPARTMENT OF DEFENSE INSTUCTION 5000.02:Operation of the Defense Acquisition System[S],May 2003.
[3]張小京,鄭萬里,等.技術(shù)成熟度等級風(fēng)險評估方法簡介[J].海軍裝備,2005,(6):39 -41.
[4]GJB2116-1994.武器裝備研制項目工作分解結(jié)構(gòu)[S].國防科學(xué)技術(shù)工業(yè)委員會.
[5]凌雄征.臺灣武器采辦流程引入關(guān)鍵技術(shù)成熟度評估研究——以導(dǎo)彈系統(tǒng)研制為例[D].臺灣:逢甲大學(xué),2005.