呂青,王路,王鎬江,高嵬
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ZVZCT-PWM SEPIC變換器的損耗分析
呂青1,王路2,王鎬江3,高嵬4
(1. 空軍預警學院,武漢 430014;2. 海軍裝備研究院,北京 100082;3. 中船重工集團第704所;上海 200083;4. 海軍工程大學電氣工程學院,武漢 430033)
本文針對直流變換器的高損耗問題,對ZCZVT-PWM型SEPIC直流變換器進行了全面分析,對其損耗機理進行了定量計算,建立了器件級的損耗數(shù)學模型,為進一步研究該型電路拓撲的軟開關技術和參數(shù)設計奠定了理論基礎。
ZCZVT-PWM SEPIC 損耗 軟開關
關于直流變換器在損耗問題上的研究,國內(nèi)外文獻[1-3]多建立在對電路原理的數(shù)學仿真上,而對其損耗機理的定量分析和計算尚不多見。本文在普通硬開關SEPIC和ZVZCT-PWM SEPIC電路的基礎上,通過合理化假設,建立器件的損耗數(shù)學模型,對其進行定量分析計算。
在開關電路中,主要的熱耗元件是功率開關管、續(xù)流二極管以及輸入輸出電感,在這里對上述元件的損耗進行分析和計算[4,5]。
在該變換器中,采用功率MOSFET開關管,其損耗主要為通態(tài)損耗和開關損耗。
1)通態(tài)損耗
2)開關損耗
由開通損耗、關斷損耗和容性開通損耗組成。其中開通損耗、關斷損耗是由開關管開關時產(chǎn)生的。產(chǎn)生的原因主要是:在開通時,開關管的電流上升和電壓下降同時進行;關斷時,電壓上升和電流下降同時進行,出現(xiàn)電壓電流波形交疊,產(chǎn)生了開關損耗,并隨開關頻率的增加而增大。
將開關管電流和電壓按線性處理,如圖1所示的理想開關狀態(tài)波形,則開通損耗就是在開關管開通時間(0~t)內(nèi)所承受的電壓和電流乘積的積分,即
同理,關斷損耗為
MOSFET工藝同其它工藝器件相比,其管芯所允許的電流密度較小,大電流器件的管芯面積要求就較大,因此漏源極之間的寄生電容C較大,開關開通時,其儲藏的能量耗散在溝道上,形成容性開通損耗。容性開通的損耗為:
由式(1)-(4),可得到總損耗為:
在電路中,續(xù)流二極管經(jīng)常使用快速恢復二極管(FRD),它具有正向壓降小,反向漏電流小,反向恢復時間短等特點??焖倩謴投O管的損耗主要分為通態(tài)損耗和恢復損耗。
1)通態(tài)損耗
通態(tài)損耗為:
2)恢復損耗
恢復損耗主要是由于二極管由導通變?yōu)榻刂箷r存在反向恢復期,這個時間內(nèi)它仍處于導通過程,造成反向電流和電壓波形的疊加,產(chǎn)生損耗。由于二極管在關斷時的恢復過程很多參數(shù)不易測量,可通過對其恢復過程合理化假設,對其恢復損耗進行估算,可以假設延遲時間與下降時間近似相等。按圖2的理想恢復波形處理,這里假設反向恢復時間為t=2(t- t)= (t- t)。
圖2 理想化的反向恢復過程
則其恢復損耗為:
式中V、I為反向恢復電壓、電流峰值,f為變換器的工作頻率。
由式(6)和(7)可得功率整流二極管的總損耗為:
從以上分析可以得出,根據(jù)功率MOSFET、續(xù)流二極管在硬開關電路中的工作原理,其損耗主要由器件的物理特性決定,限制了電路的工作頻率的進一步提高,特別是在高于300kHz時,其損耗已經(jīng)很大,由于損耗引起溫升,降低了可靠性。所以在大功率電源中,傳統(tǒng)的硬開關SEPIC電路存在嚴重的缺陷。通過使用新器件,如大功率容量、低通態(tài)損耗的IGBT,超快速恢復二極管(UFRD)等,它們可以減小部分開關損耗,但還是受到限制。
在ZCZVT-PWM SEPIC電路中增加了軟開關部分,因此在分析開關損耗時必須將其考慮在內(nèi),進行全面分析。
1)通態(tài)損耗:
2)開關損耗
因為主開關管式零電壓零電流開關,所以開通、關斷損耗和容性損耗為
則主開關管S的總損耗為:
1)通態(tài)損耗:
2)開關損耗
因為輔助開關管式零電流開通,零電壓零電流關斷,所以有開通損耗
3)容性開通損耗:
則輔助開關管總損耗為
在該型變換器中,續(xù)流二極管實現(xiàn)了零電壓零電流關斷,零電壓開通。所以有
1) 通態(tài)損耗:
通過本文的分析計算,得出了ZCZVT-PWM型SEPIC電路的損耗計算公式,為進一步研究該型電路拓撲的軟開關技術和參數(shù)設計奠定了理論基礎。
[1] Wong S C, Brown A D. Simulation of losses in resonant converter circuits[J]. INT.J.Electronics, 1999, 86(6): 763-783.
[2] Kim E S, Joe K Y. An improved Soft-Switching PWM FB DC/DC converter for Reducing Conduction Losses[J]. IEEE Transactions on Poser Electronics, 1999, 14(2): 760-768.
[3] Gusseme D, Melkebeek J A. Design issues for digital control of boost power factor correction converters[C]. Industrial Electronics International Symp- osium, Ghent Univ, Belgium:IEEE, 2002, 3: 731-736.
[4] 楊旭, 王兆安. 零電壓過渡PWM軟開關電路的損耗分析[J]. 電力電子技術, 1999, 10(1): 29-32.
[5] 竇偉, 黃念慈. Boost電路的損耗分析[J]. 四川大學學報(工程科學版), 2004, 36(3): 108-111.
Loss Analysis of ZCZVT-PWM SEPIC Converter
Luv Qing1, Wang Lu2, Wang Haojiang3, Gao Wei4
(1. Air Force Early Warning Academy, Wuhan 430019, China; 2. The Naval Equipment Research Institute, Beijing 100082; 3. No.704 Institute in CSSC, Shanghai 200083; 4. The Electricity Engineering School in NUE, Wuhan 430033, China)
TM46
A
1003-4862(2013)12-0017-03
2013-03-04
呂青(1965-),男,研究生,高級講師。研究方向:電力電子技術。