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      新型8管一位全加器電路設(shè)計(jì)

      2013-08-02 08:33:16董艷燕
      關(guān)鍵詞:延遲時(shí)間晶體管數(shù)目

      董艷燕,韋 一,陳 君

      (中國(guó)計(jì)量學(xué)院 光學(xué)與電子科技學(xué)院,浙江 杭州 310018)

      全加器是實(shí)現(xiàn)算術(shù)邏輯運(yùn)算集成電路的重要基礎(chǔ),也常常是限制系統(tǒng)面積、速度和功耗的主要單元之一,所以全加器的優(yōu)化對(duì)整個(gè)系統(tǒng)性能的提高有著非常重要的作用.縱觀全加器研究發(fā)現(xiàn),與行為級(jí)、版圖級(jí)設(shè)計(jì)相比,基于晶體管電路級(jí)的優(yōu)化對(duì)全加器性能的提高有著非常大的影響.由于全加器晶體管數(shù)目對(duì)降低硅面積、提高速度和降低功耗方面起著重要作用,因而如何減少晶體管數(shù)目是全加器電路非常重要的研究?jī)?nèi)容[1].從已發(fā)表的文獻(xiàn)可看出,早期的全加器晶體管數(shù)目較多,如40管互補(bǔ)全加器[1]、28管資源復(fù)用全加器[2]和24管鏡像復(fù)用全加器[3],近年來(lái)由于新型同或門/異或門的出現(xiàn)以及傳輸門的采用,簡(jiǎn)化了全加器的電路結(jié)構(gòu),大大減少了晶體管數(shù)目,典型的如20管CMOS傳輸門全加器(TGA)[4]、16管傳輸函數(shù)全加器(TFA)[5]、14管全加器電路[6],以及10管全加器[7-8]和8管全加器[9-10].

      我們通過(guò)對(duì)已有一位全加器電路的研究與分析,提出了一種新型的全加器單元,電路僅需要8個(gè)晶體管,由2個(gè)3管同或門模塊和一個(gè)2管選擇器模塊組成.在TSMC 0.18μm CMOS工藝器件參數(shù)下經(jīng)HSPICE模擬表明,與現(xiàn)有典型的全加器相比,新設(shè)計(jì)具有更低的功耗和更小的功耗延遲積.

      1 已有的全加器電路

      圖1是5種典型全加器電路結(jié)構(gòu),其中圖1(a)是28管資源復(fù)用CMOS全加器[2],圖1(b)是10管SERF全加器[7],圖1(c)是10管9A 全加器[8],圖1(d)是10管13A全加器[8],圖1(e)是8管 CLRCR 全加器[9].

      靜態(tài)CMOS全加器典型代表是圖1(a)的28管資源復(fù)用CMOS全加器[2],該電路利用全加器的邏輯對(duì)稱性和資源復(fù)用技術(shù)大大降低了文獻(xiàn)[1]中的40管互補(bǔ)全加器的晶體管數(shù)目,并降低了功耗.文獻(xiàn)[4]提出了基于CMOS傳輸門和CMOS反相器結(jié)構(gòu)的全加器(TGA),該電路將晶體管數(shù)目降低到了20個(gè),但由于引入了多個(gè)反相器,電路的功耗和延遲較大.文獻(xiàn)[5]提出的傳輸函數(shù)全加器(TFA),由于減少了TGA電路的反相器個(gè)數(shù),將晶體管數(shù)目進(jìn)一步減少到了16個(gè),且保持了輸出電平質(zhì)量高的優(yōu)點(diǎn)同時(shí)也降低了功耗.文獻(xiàn)[6]提出的14管全加器電路進(jìn)一步降低了晶體管數(shù)目且優(yōu)化了全加器的功耗性能.文獻(xiàn)[7]提出的SERF電路如圖(b)將晶體管個(gè)數(shù)降低到了10個(gè).文獻(xiàn)[8]中提出了基于不同組合XOR/XNOR門電路的41種10管全加器,但大部分電路都有閾值損耗,其中9A全加器如圖1(c)和13A全加器如圖1(d)具有較好的性能.為了解決傳輸門全加器的閾值損失的問(wèn)題,文獻(xiàn)[9]通過(guò)變換全加器布爾函數(shù)提出了8管CLRCR全加器,如圖1(e),電路采用反相器輸出來(lái)恢復(fù)閾值損失,輸出電平質(zhì)量較好,但電路還需要額外增加一個(gè)用于生成互補(bǔ)進(jìn)位輸入信號(hào)的反相器,因而晶體管數(shù)目增加了2個(gè),同時(shí)也增加了功耗.

      圖1 典型全加器電路結(jié)構(gòu)Figure 1 Typical full adder circuits

      為了解決CLRCL電路存在需要互補(bǔ)進(jìn)位信號(hào)的問(wèn)題,CHOWDHURY在文獻(xiàn)[10]提出了基于新型3管異或門結(jié)構(gòu)的8管全加器,如圖2,但是通過(guò)研究發(fā)現(xiàn),在某些輸入組合邏輯狀態(tài)下,全加器輸出端的值是不確定的.如在輸入AB信號(hào)都為低電平時(shí),傳輸門 M7和 M8都截止,此時(shí)Cout的值是不確定的.

      圖2 基于3管XOR結(jié)構(gòu)的8管全加器結(jié)構(gòu)Figure 2 Previous 8Tfull adder design based on 3TXOR gate

      2 新型8管全加器電路

      全加器的布爾函數(shù)關(guān)系可如式(1)(2)表示:

      式(1)和(2)中,A 和B 是一位輸入信號(hào),Cin是相鄰低位來(lái)的進(jìn)位,SUM是求和信號(hào),Cout是進(jìn)位信號(hào),“⊕”是異或符號(hào).

      文中,將上面兩個(gè)式子變換為

      式(3)和(4)中的“⊙”是同或符號(hào).根據(jù)式(3)和(4)我們提出新設(shè)計(jì)如圖3.其中圖3(a)是新型8管全加器電路,圖3(b)是3管同或門電路,從圖中看出新全加器電路結(jié)構(gòu)分成三部分.

      圖3 新電路

      1)A ⊕B(或A⊙B)是求和信號(hào)SUM的中間信號(hào),也是進(jìn)位信號(hào)Cout的控制信號(hào).A⊕B信號(hào)是圖3(b)同或門模塊生成的.該模塊由PMOS管 MP1、NMOS管 MN1和 MN2組成.其中MP1管和 MN1管構(gòu)成改進(jìn)型反相器,MN2管是NMOS傳輸門,當(dāng)信號(hào)B為低電平時(shí)輸出端實(shí)現(xiàn)AB,當(dāng)B為高電平時(shí),反相器截止,傳輸門導(dǎo)通,同或門輸出邏輯值A(chǔ)B.這兩者輸出信號(hào)直接并聯(lián)在一起實(shí)現(xiàn)A⊕B信號(hào).

      2)求和信號(hào)SUM是由兩級(jí)同或門即XNOR1和XNOR2生成的.第一級(jí)同或門的輸出是第二級(jí)同或門的輸入信號(hào).

      3)2選1數(shù)據(jù)選擇電路MUX是用來(lái)生成進(jìn)位信號(hào)Cout,A⊕B信號(hào)控制的PMOS傳輸門和NMOS傳輸門可以直接并聯(lián)在一起實(shí)現(xiàn)“或”的功能.

      新提出的全加器包括兩個(gè)3管同或門模塊和一個(gè)選擇器模塊,需要8個(gè)晶體管,適當(dāng)增加同或門晶體管MN2寬度可以降低同或門輸出端的閾值損失并降低亞閾值功耗[10],從而提高全加器的性能.在TSMC 180nm CMOS工藝下經(jīng)優(yōu)化后各晶體管的寬/長(zhǎng)已經(jīng)在圖3中標(biāo)出.

      3 性能比較

      對(duì)新設(shè)計(jì)和圖1中提到的5種全加器單元在輸入信號(hào)頻率100~500MHz下進(jìn)行了HSPICE模擬,各個(gè)電路均在TSMC的180nm CMOS工藝下優(yōu)化,并在1.8V電壓下進(jìn)行功能模擬和性能測(cè)試.圖4是頻率為250MHz時(shí)新電路的模擬波形,其中,橫坐標(biāo)表示時(shí)間,縱坐標(biāo)表示電壓,從波形可看出,邏輯功能正確.圖5是在TSMC 180nm CMOS工藝下的版圖照片.

      圖4 頻率為250MHz時(shí)新電路的模擬波形Figure 4 Waveforms of the novel circuit under a frequency of 250MHz

      圖5 新電路的版圖照片F(xiàn)igure 5 Layout photo of new circuit

      測(cè)試的內(nèi)容包括平均功耗和不同負(fù)載下的延遲時(shí)間.其中功耗指的是隨機(jī)產(chǎn)生的大量輸入信號(hào)組合模式下電路的平均功耗[8],表1是負(fù)載電容為100fF時(shí)不同頻率下各個(gè)全加器的平均功耗(μW).從測(cè)試結(jié)果可看出,本文提出的8管全加器在100~500MHz下隨著頻率的增加低功耗的優(yōu)勢(shì)逐漸明顯.在500MHz下,與圖1中5種全加器相比功耗改進(jìn)8.0%~37.8%.

      表1 負(fù)載電容為100fF時(shí)不同頻率下各種全加器平均功耗(μW)的比較Table 1 Comparison of power consumption(μW)at different frequencies with a load of 100fF

      傳播延遲時(shí)間是指輸入信號(hào)變化到50%電源電壓到輸出信號(hào)變化到50%電源電壓時(shí)之間的時(shí)間間隔[9],延遲時(shí)間取不同輸入組合模式下電路翻轉(zhuǎn)時(shí)的最大傳播延遲時(shí)間.表2是頻率為200MHz時(shí)不同負(fù)載電容下各種全加器延遲時(shí)間(ns).從表中可看出,與圖1中提到的典型全加器相比,本文提出的8管全加器在50~250fF負(fù)載電容下隨著負(fù)載的增加時(shí)間延遲上的優(yōu)勢(shì)逐漸明顯.在200fF下,與圖1中5種全加器相比延遲改進(jìn)12.1%~51.9%.

      表2 是頻率為200MHz不同負(fù)載電容時(shí)各種全加器延遲時(shí)間(ns)的比較Table 2 Comparison of delay(ns)at different output loads with a frequency of 200MHz

      功耗延時(shí)積(PDP)是衡量電路性能的較全面指標(biāo)之一[10].表3是頻率為200MHz時(shí)不同負(fù)載電容下各種全加器功耗延遲積的比較,可看出,在不同負(fù)載下,新全加器電路有較好的功耗延遲積,在負(fù)載是200fF下功耗延遲積比圖1中提到的典型全加器改進(jìn)10.7%~38.7%.表明新設(shè)計(jì)有較好的性能.

      表3 是頻率為200MHz不同負(fù)載電容時(shí)各種全加器功耗延遲積(fJ)的比較Table 3 Comparison of delay(ns)at different output loads with a frequency of 200MHz

      4 結(jié) 語(yǔ)

      通過(guò)對(duì)典型全加器電路的研究分析,提出了新型8管全加器電路,新電路包括2個(gè)3管同或門模塊和1個(gè)選擇器模塊,與已有的典型全加器電路相比,新設(shè)計(jì)不僅減少了晶體管數(shù)目,而且在功耗、速度和功耗延遲積上有較大的優(yōu)勢(shì),可應(yīng)用于進(jìn)位加法器和乘法電路中.

      [1]Chandrakasan A P,Brodersen R W.Low Power Digital CMOS Design[R].MA:Kluwer,1995.

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      [3]Rabaey J M,Chandrakasan A,Nikolic B.Digital Integrated Circuits A Design Perspective[R].New Delhi:Prentice-Hall of India Pvt Ltd,2004.

      [4]Weste N,Eshraghian K.Principles of CMOS VLSI Design,a system perspective[R].MA:Assison-wesley,1993.

      [5]Zhuang,Wu H M.A new design of the CMOS full adder[J].IEEE J Solid-State Circuits,1992,27(5):840-844.

      [6]Abu Shama E,Bayoumi M.A new cell for low power ad-ders[C]//Proc Int Midwest Symp Circand Syst.USA:[S.I.],1996:49-52.

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      [10]Chowdhury S R,Banerjee A,Roy A,et al.A high speed 8transistor full adder design using novel 3transistor XOR gates[J].International Journal of Electronics Circuits and Systems,2008,2(4):217-223.

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