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      《電子與封裝》雜志征稿啟事

      2013-08-15 00:51:01
      電子與封裝 2013年12期
      關(guān)鍵詞:電子器件集成電路投稿

      《電子與封裝》雜志是目前國內(nèi)唯一一本全面報(bào)道封裝與測試技術(shù)、半導(dǎo)體器件和IC的設(shè)計(jì)與制造技術(shù)、產(chǎn)品與應(yīng)用以及前沿技術(shù)、市場信息等的技術(shù)性刊物,是中國電子學(xué)會電子制造與封裝技術(shù)分會會刊、中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會封裝分會會刊。為促進(jìn)我國封裝測試專業(yè)技術(shù)水平的提高和生產(chǎn)技術(shù)的發(fā)展,加強(qiáng)技術(shù)交流和信息溝通,特向廣大讀者和有關(guān)專業(yè)人員誠征下列內(nèi)容稿件:

      1 反映國內(nèi)外封裝測試技術(shù)的綜述文章。

      2 反映國內(nèi)外半導(dǎo)體器件與集成電路設(shè)計(jì)與制造技術(shù)的綜述文章。

      3 電子封裝測試技術(shù)及科研成果。

      4 電子器件與集成電路測試技術(shù)及其科研成果。

      5 厚薄膜電路、混合電路、MCM、MEMS、印刷電路等組裝技術(shù)和研究成果。

      6 各種封裝材料、管殼、模具、引線框架和設(shè)備等的研究、設(shè)計(jì)和生產(chǎn)技術(shù)。

      7 圓片測試技術(shù)及成品測試技術(shù)。

      8 半導(dǎo)體封裝、測試、設(shè)計(jì)、制造市場信息及市場分析。

      9 半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的政策與策略。

      10 電子器件與集成電路設(shè)計(jì)技術(shù)。

      11 電子器件與集成電路制造技術(shù)。

      12 電子器件和集成電路可靠性及失效分析技術(shù)。

      13 電子器件和IC產(chǎn)品與應(yīng)用。

      14 半導(dǎo)體封裝測試及設(shè)計(jì)制造前沿技術(shù)。

      根據(jù)國家期刊出版的有關(guān)要求,作者投稿時(shí)請注意下列事項(xiàng):

      1 來稿盡量用電子文檔形式發(fā)至本刊電子郵箱或用A4紙打印,全文不宜過長,應(yīng)盡量控制在6頁以內(nèi)。

      2 全文內(nèi)容應(yīng)包含:標(biāo)題、作者及其工作單位、摘要、關(guān)鍵詞、正文、參考文獻(xiàn)及作者簡介。其中標(biāo)題、作者及其工作單位、摘要、關(guān)鍵詞須中英文對照。中文標(biāo)題控制在20個(gè)漢字以內(nèi),英文標(biāo)題最多不超過400個(gè)字符;作者按在論文中的地位排列,工作單位需給出所有作者的工作單位全稱、所在省市及郵政編碼,不同單位作者請用上標(biāo)注明;摘要應(yīng)寫明論文的研究目的、方法及成果、結(jié)論或簡要說明論文內(nèi)容的要點(diǎn),中文摘要為200~300字,英文摘要200字左右,避免一句話摘要;關(guān)鍵詞為3~8個(gè),中文關(guān)鍵詞應(yīng)使用中文全稱表示,盡量不采用英語縮略語;正文需適當(dāng)分節(jié);參考文獻(xiàn)請按GB7714-2005著錄;作者簡介包括作者姓名、性別、出生年份、籍貫、畢業(yè)院校、學(xué)位、職稱、研究方向或所從事工作、單位及個(gè)人一寸證件照一張。

      4 如為國家基金項(xiàng)目者,應(yīng)按照國家有關(guān)部門規(guī)定的正式名稱寫明基金項(xiàng)目并在圓括號注明項(xiàng)目編號。

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      我們將與有識之士一起,竭誠為電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展服務(wù),敬請各方人士積極投稿,攜手將電子封裝行業(yè)自己的刊物辦好。

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