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      電路設(shè)計中的信號完整性分析和研究

      2013-09-05 05:45:14張益平
      電子與封裝 2013年8期
      關(guān)鍵詞:走線傳輸線電感

      堵 軍,高 輝,張益平

      (無錫中微高科電子有限公司,江蘇 無錫 214035)

      1 引言

      隨著電子技術(shù)的快速發(fā)展,芯片構(gòu)成的電子系統(tǒng)正朝著大規(guī)模、小體積、高頻率的方向發(fā)展。電子電路設(shè)計尺寸的減小導(dǎo)致電路的布局布線密度變大,同時信號頻率不斷提高(或者上升時間的減小),隨之帶來的信號完整性問題也變得越來越突出。信號完整性問題是隨著信號上升時間的減小,電路板上的寄生電容或者寄生電感導(dǎo)致一些噪聲信號或瞬態(tài)信號影響了電路性能。信號完整性問題主要有4個部分:電磁干擾(EMI)、反射、串?dāng)_和電源系統(tǒng)完整性[1,2,4,5]。

      2 反射與傳輸線

      當(dāng)一根導(dǎo)線或者走線很直很長,并且它的回流導(dǎo)線或者走線就在旁邊,沿著導(dǎo)線會存在一些電感。在導(dǎo)線和它的回流導(dǎo)線之間還存在著一些電容耦合。圖1中顯示了這一對導(dǎo)線所謂的集總模型。假設(shè)導(dǎo)線絕對均勻且無限長,這類特殊的導(dǎo)線或者走線叫做傳輸線。在傳輸線上反射是不存在的[2]。

      如果從這對導(dǎo)線的前端看進(jìn)去,會有一個輸入阻抗,我們可以計算它的值,用符號Z0來表示,作為傳輸線的固有阻抗。如果我們能計算出電感(L)和電容(C)的集總值,則可以用式(1)來計算阻抗。

      圖1 導(dǎo)線集總模型

      圖2 傳輸線等效模型

      如果我們從傳輸線的前端看進(jìn)去,那么存在著一個阻抗Z0,如圖2所示。這個傳輸線就分成兩部分。從第二部分的前端看進(jìn)去,也是一根無限長的傳輸線,阻抗同樣是Z0。這時用等于Z0的阻抗代替第二部分傳輸線,等效成無傳輸線。這樣在線上傳輸?shù)哪芰客耆唤K端吸收,沒有能量剩下來可以供反射[3]。

      當(dāng)信號在走線上傳播和返回的時間比信號的上升時間短,可以認(rèn)為走線是短走線。當(dāng)信號在走線上傳播和返回的時間比信號的上升時間長,那么走線就是長走線,此時必須考慮是否有必要進(jìn)行中斷阻抗匹配。信號在某個長度的走線上往返的時間與信號的上升時間相等,這個長度就叫做關(guān)鍵長度。圖3(a)中驅(qū)動端參數(shù),輸出信號5 V,內(nèi)阻30 Ω,傳輸線為微帶線,特性阻抗為79.5 Ω,長度為203 mm。選擇階躍信號輸出,上升沿會有很明顯的振鈴現(xiàn)象出現(xiàn),并且振幅很高。圖3(b)中將長度改為51 mm時,反射明顯減小。在集成電路封裝技術(shù)中,減小走線長度的方式是利用模塊化封裝,將關(guān)鍵的時鐘模塊、通信模塊都整合到芯片內(nèi)部,能有效減小關(guān)鍵模塊之間的走線長度,減小電路中產(chǎn)生的反射,圖4所示即為將晶振集成到內(nèi)部的芯片。

      當(dāng)無法減小走線長度時,就必須使用傳輸線終端匹配來減小反射,常用的終端匹配方式有以下幾種:

      (1)并聯(lián)終端匹配如圖5(a)所示,將一個電阻(RL=Z0)連接在傳輸線的末端。在走線上傳播的所有能量都被電阻吸收,從而不存在反射,但是在電阻上有直流電流流過,電阻上存在功率消耗。

      (2)交流終端匹配如圖5(b)所示,給并聯(lián)終端電阻串聯(lián)一個電容,這樣既可以抑制反射,又可以阻止直流電流通過,但是增加了一個元件,同時當(dāng)電阻上的電壓發(fā)生變化時,流過電容的電流也會發(fā)生變化,會導(dǎo)致電容以RC時間常數(shù)進(jìn)行充電或放電。如果時間常數(shù)很小,電容在半個周期內(nèi)產(chǎn)生的電壓會對接收端電壓造成影響,可能會使信號變形。

      圖3 反射仿真

      圖4 內(nèi)部集成晶振的芯片

      圖5 終端匹配的方式

      (3)戴維寧終端匹配如圖5(c)所示,它包括一對電阻,一個連接到VCC,一個連接到地。這對電阻除了給分布的負(fù)載提供并聯(lián)的終端阻抗之外,還可以在特定的條件下提高噪聲裕度。但是這種方法只適合于雙極性器件,不適合于三態(tài)邏輯器件。

      (4)串聯(lián)終端匹配如圖5(d)所示,將匹配電阻放置在走線的開始位置,這在現(xiàn)在的高速電路設(shè)計中相當(dāng)常見。它具有兩個優(yōu)點(diǎn):只使用了一個元件,并且沒有直流電流。圖3(c)中在驅(qū)動端串聯(lián)67.5 Ω電阻后傳輸線上幾乎沒有反射[1]。

      3 串?dāng)_

      串?dāng)_是指有害信號從一個網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)移到相鄰網(wǎng)絡(luò)。當(dāng)信號在傳輸線上傳播時,相鄰信號之間由于電磁場的相互耦合產(chǎn)生不期望的噪聲電壓信號,即能量由一條線耦合到另一條線上,因此串?dāng)_實(shí)際上是一種典型的電磁干擾(EMI)問題。大量傳輸線間的耦合產(chǎn)生兩方面的影響:首先,會改變傳輸線的特性阻抗與傳輸速度,這樣就會對系統(tǒng)的時序及信號完整性帶來不利影響;另外,對其他傳輸線產(chǎn)生噪聲,會更進(jìn)一步降低信號質(zhì)量和信號的噪聲余量。過大的串?dāng)_可能引起電路的誤觸發(fā),導(dǎo)致系統(tǒng)無法正常工作[4]。

      如圖6所示,當(dāng)電流在驅(qū)動線上流動并有一個電子經(jīng)過點(diǎn)X時,由于同種電荷相互排斥,所以被動線上X點(diǎn)的電子將會被排斥離開這一點(diǎn)。它們可能向前也可能向后流動,所以將會存在向前和向后兩種電流。這通常稱作電容性耦合串?dāng)_。

      驅(qū)動線上沿著箭頭方向電流會在走線的四周產(chǎn)生一個磁場。這個磁場與被動線相交,并在被動線中感應(yīng)一個相反方向的電流。這個機(jī)理與變壓器機(jī)理完全相同。這種感應(yīng)產(chǎn)生的電流為電感性耦合串?dāng)_。

      圖6 電容性耦合串?dāng)_和電感性耦合串?dāng)_

      這兩種耦合的產(chǎn)生都依賴于驅(qū)動電流的變化。沒有電流變化,就沒有耦合產(chǎn)生。電流變化得越快(即頻率越高或者上升時間越短)走線之間的耦合越強(qiáng)。同時走線距離越近,耦合也會越強(qiáng)。這樣就有了兩種減小串?dāng)_(耦合)的方法:讓信號的變化速度變慢以及讓走線分離更遠(yuǎn)。

      電容性耦合串?dāng)_和電感性耦合串?dāng)_都試圖在向后的方向上加強(qiáng)它們的效果。兩者都會產(chǎn)生相反方向的電流,這就是后向串?dāng)_。電容性耦合串?dāng)_會在向前的方向上產(chǎn)生一個和驅(qū)動電流方向相同的電流即前向串?dāng)_,而電感性耦合串?dāng)_產(chǎn)生的電流方向卻與此相反。這些電流幾乎完全抵消或者很小,尤其是在帶狀線的情況下幾乎完全抵消。說明后向串?dāng)_對系統(tǒng)的影響比前向串?dāng)_大。如果串?dāng)_是要面對的問題,那么就把所有的敏感走線都布置成帶狀線[1]。

      后向串?dāng)_脈沖的幅度大小是常數(shù),而脈沖寬度是由耦合區(qū)域表示的傳播時間的2倍。如果耦合區(qū)域的長度很短,那么后向信號的幅度也很小。隨著耦合長度的增加,后向信號的幅度也會增加。當(dāng)耦合長度等于關(guān)鍵長度時,會達(dá)到極限值。耦合區(qū)域長度大約等于驅(qū)動信號上升時間的1/2時,后向串?dāng)_脈沖的幅度達(dá)到最大值[2]。

      圖7 驅(qū)動走線下方電流分布

      減小串?dāng)_的方法有:(1)使用帶狀線(消除前向串?dāng)_);(2)為每一個走線保持一個一致、連續(xù)的參考層,使回路面積盡量小;(3)減小與任何高速信號走線有關(guān)的外部走線長度,消除正常信號流動路徑以上的任何路徑;(4)走線盡可能靠近它們的參考層;(5)讓走線之間的距離盡可能遠(yuǎn);(6)使用終端阻抗匹配來進(jìn)一步減小串?dāng)_。

      圖8(a)為走線152 μm寬、間距203 μm、參考層與信號層間距254 μm、耦合走線長度為305 mm的串?dāng)_波形,串?dāng)_幅值達(dá)到500 mV;圖8(b)為走線152 μm寬、間距406 μm、參考層與信號層間距254 μm、耦合走線長度為305 mm的串?dāng)_波形,此時串?dāng)_幅值為200 mV;圖8(c)為走線152 μm寬、間距406 μm、參考層與信號層間距127 μm、耦合走線長度為305 mm的串?dāng)_波形,此時串?dāng)_幅值為100 mV;圖8(d)中走線152 μm寬、間距406 μm,參考層與信號層間距254 μm,耦合走線長度為305 mm,并在主動線近端串接56 Ω電阻后串?dāng)_幅值為30 mV。

      4 電源完整性

      圖9(a)是一個邏輯電路反向器,邏輯門彼此連接在一起,一個邏輯門的輸出連接到另外一個邏輯門的輸入,如圖所示。這樣,如果第一個邏輯門的輸入變低,那么它的輸出將變高;第二個邏輯門的輸入變高,它的輸出將變低。

      圖8 串?dāng)_仿真

      圖9 邏輯電路反向器

      兩個邏輯門串聯(lián)在一起。二者有一個共同電源VCC。在電源與器件之間存在一些電感。參考層、焊盤、過孔以及連接到焊盤的引線等因素導(dǎo)致了這些電感的存在,并且電流必須在閉合回路中流動。

      當(dāng)?shù)谝粋€器件的輸出變低時,就存在一條電流通路。這條通路從VCC穿過第二個器件的電源輸入引腳,通過第二個器件再到達(dá)第一個器件的輸出,然后通過地引腳,最后回到VCC。特別地,這個電流會流過圖中所示位于器件底部的雜散電感。電感上會有瞬態(tài)開關(guān)電壓。如果下降時間很短,即使電感很小,在它上面也會產(chǎn)生一個很大的電壓。如果這是一個多引腳的器件,那么會有大量的瞬態(tài)電流流過這個電感。當(dāng)輸出信號是邏輯0電壓時,如果電感上電壓足夠大,此時輸出信號對下一個器件就像邏輯1,導(dǎo)致邏輯錯誤。

      如圖9(b)所示,在器件和導(dǎo)致地電壓抖動的雜散電感之間連接一個電容。這樣當(dāng)存在瞬態(tài)電流涌動時,會被電容吸收。

      圖10中電源系統(tǒng)通常都帶有數(shù)值很大的電感,所以它們的響應(yīng)由于電感的存在而變得很慢。電源系統(tǒng)曲線旁邊的曲線代表著比較大的旁路電容所能提供的電荷。

      圖10 電荷曲線

      值比較大的旁路電容也能提供大量的電荷,并且與它有關(guān)的電感值可能要比與電源系統(tǒng)有關(guān)的電感小很多。不過這個電感還是不夠小,不能讓電容足夠快地提供器件所需的電子。

      大電容旁邊的曲線是代表小電容的曲線。總的來說,小電容所具有的電感比大電容所具有的電感要小,所以小電容的響應(yīng)要快一些。不過它所存儲的電荷數(shù)量也少,因此它們或許不能單獨(dú)完成提供器件所需電荷的任務(wù)。

      最后由于參考層區(qū)域所具有的電感很小,所以如果電路板存在自身平面電容,那么它也將很快地提供電荷。因此如果在電路板上設(shè)計了平面電容,它能很快地提供所需要的電荷,不過它所能提供的電荷數(shù)量是受限制的。

      電路中可能需要一個大電容來提供大量的電荷,以及一個小電容來進(jìn)行快速的響應(yīng),有必要的時候設(shè)計平面電容來滿足高速器件開關(guān)要求。

      電容將提供器件最初所需要的電荷,為了減小走線中RC延遲對電源的影響,電容放置的位置越靠近器件越好,有時在芯片設(shè)計時就會在高速開關(guān)器件中集成旁路電容,如圖11所示。

      圖11 貼裝旁路電容的封裝基板

      在電路中不同的功能電路需要不同的電壓,不同的電壓需要各自獨(dú)立的穩(wěn)壓電路。每一個電壓對應(yīng)著一個穩(wěn)壓后的供電電壓,這個因素決定了經(jīng)過穩(wěn)壓的供電電源的最小數(shù)量。不過,對于任何給定的電壓都可能存在多個供電電源。比如,電路板上的模擬部分和數(shù)字部分需要完全相同的電源電壓,對二者可能分別提供穩(wěn)壓的電壓起到隔離噪聲的作用。

      在電路設(shè)計中參考層也十分重要,連續(xù)實(shí)心的參考層可以有效控制阻抗、減小反射并且抑制串?dāng)_。成對的參考層所形成的電容對電路的去耦很有用,同時平面電容可以有效地控制差模噪聲信號和共模噪聲信號導(dǎo)致的EMI輻射。因此在高速電路中參考層是必不可少的部分,圖12為在封裝基板中設(shè)計參考層。

      5 總結(jié)

      本文通過介紹信號完整性理論,對EMI、串?dāng)_和反射的成因和電源完整性進(jìn)行了研究。利用仿真軟件對傳輸線反射和串?dāng)_問題進(jìn)行了仿真分析;總結(jié)了信號完整性設(shè)計規(guī)則,通過這些規(guī)則能有效提高產(chǎn)品設(shè)計的性能,同時可以縮短產(chǎn)品開發(fā)周期,降低開發(fā)成本。

      圖12 參考層設(shè)計

      [1]陳偉,黃秋元,周鵬,等. 高速電路信號完整性分析與設(shè)計[M]. 北京:電子工業(yè)出版社,2009.15-218.

      [2]Douglas Brooks著,劉雷波,趙巖,等譯. Signal Integrity Issues and Printed Circuit Board Design[M]. 北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2005.77-174.

      [3]周潤景,偉亭. Cadence高速電路板設(shè)計與仿真[M]. 北京:電子工業(yè)出版社,2009.418-464.

      [4]Jorge Filipe L C. Semia?o. Signal Integrity Enhancement in Digital Circuits[J]. IEEE Design & Test of Computers.

      [5]阮瓊,廖紅華. 高速電路板的信號完整性設(shè)計與仿真[J].湖北民族學(xué)院學(xué)報,2010,28(4):446-448.

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