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      T型焊接接頭超聲檢測時探頭的選擇

      2013-12-04 03:17:34萬立皓劉忠華
      無損檢測 2013年8期
      關(guān)鍵詞:翼板掃查端點

      萬立皓,劉忠華

      (武漢九方工程技術(shù)有限責(zé)任公司,武漢 430074)

      T 型接頭是鋼結(jié)構(gòu)及特種設(shè)備中最常用的焊接接頭之一,接頭中未焊透缺陷對結(jié)構(gòu)的影響非常大,它減少了焊縫的工作截面,降低了焊接接頭的強度并造成應(yīng)力集中,焊接中不允許焊接接頭中有超過一定容限量的未焊透。由于未焊透缺陷垂直于腹板表面,在進(jìn)行超聲波檢測時很難快速地發(fā)現(xiàn)未焊透缺陷并對其進(jìn)行精確定量,因此通過在T 型焊接接頭模擬焊接試樣上進(jìn)行不同類型探頭及檢測位置的對比試驗,來發(fā)現(xiàn)其檢測靈敏度差別以及對缺陷尺寸定量是很有必要的。作者通過試驗對較薄腹板(11mm),未開坡口,T 型接頭未焊透缺陷的檢測及定量,來分析不同探頭在不同位置對同一缺陷的檢測靈敏度。

      1 T型接頭中未焊透產(chǎn)生的原因

      GB 6417-1986《金屬熔化焊焊縫缺陷分類及說明》中,未焊透被定義為在焊接時接頭的根部未完全熔透,焊縫金屬沒有進(jìn)入接頭根部的現(xiàn)象。未焊透是否為缺陷應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范或者設(shè)計要求來評價[1],產(chǎn)生未焊透的主要原因如下:焊接參數(shù)選擇不當(dāng),如焊接電流太小、運行速度太快、焊條角度不當(dāng)、電弧發(fā)生偏吹、對接間隙太小以及坡口角度不當(dāng)?shù)?;操作失誤,如在不開坡口的雙面埋弧自動焊中中心對偏等[2];坡口加工不良,如鈍邊太厚或一側(cè)厚、一側(cè)薄,焊接電流太小等。

      2 T型接頭焊縫中未焊透對質(zhì)量的影響

      焊縫中的未焊透如圖1,2所示為面積性缺陷,其主要危害是降低了焊縫有效截面,且由于T 型接頭在焊后矯正、加工、使用過程中所產(chǎn)生的應(yīng)力方向大多數(shù)與未焊透缺陷相互垂直,這就使得整個焊縫的承載面減小,導(dǎo)致接頭強度下降。其次未焊透造成焊縫截面尺寸的突然變化,使得整個結(jié)構(gòu)在交變載荷、沖擊載荷的作用下會引起嚴(yán)重的應(yīng)力集中,大大降低了焊縫的疲勞強度。單面焊T 型接頭中未焊透位于焊縫根部,在拉應(yīng)力與腐蝕介質(zhì)的聯(lián)合作用下容易引起低應(yīng)力脆性斷裂。

      圖1 單面焊T型接頭未焊透

      圖2 雙面焊T 型接頭未焊透

      3 檢測對象

      T 型接頭坡口尺寸如圖3所示,焊縫尺寸如圖4所示,所采用的焊接方法為埋弧自動焊。

      圖3 T 型接頭坡口尺寸

      圖4 T 型接頭焊縫尺寸

      4 檢測過程及在腹板側(cè)結(jié)果

      4.1 橫波斜探頭檢測

      探頭的選用:為了使超聲波主聲束盡量垂直于焊縫中的未焊透缺陷,同時為了減少盲區(qū),試驗選用了K值較大的K3探頭;由于腹板為δ=12mm 的中板,一次反射波最大聲程僅為72 mm,超聲波在傳播過程的擴(kuò)散衰減較小,在最大聲程處有足夠的靈敏度,為了避免近場區(qū)檢測,而且能使主聲束掃查到整個焊縫截面,試驗選用了晶片尺寸較小、前沿較小的探頭(晶片尺寸6 mm×6mm)。為了提高檢測靈敏度,改善波束的指向性,選用了頻率較高的探頭(5 MHZ)。在檢測時要注意大K值探頭引起的表面波干擾信號的識別,發(fā)現(xiàn)缺陷波形時,去除探頭前多余耦合劑,并在焊腳處用手指輕輕拍打,如缺陷波形沒有變化,則該波形不是表面波,如圖5所示。

      圖5 橫波斜探頭腹板側(cè)探測

      靈敏度調(diào)整:按 JB/T 4730.3-2205標(biāo)準(zhǔn)5.1.5 條中規(guī)定,利用CSK-Ⅲ試塊按表1調(diào)整距離-波幅曲線的靈敏度,即評定線為φ1 mm×6 mm-12dB;定量線為φ1mm×6mm-6dB;判廢線為φ1mm×6 mm+2dB;表面補償4dB。

      掃查:采用直射法和一次反射法作鋸齒型掃查,探頭掃查區(qū)域(W)不小于1.25P(P 為跨距,mm),當(dāng)掃查區(qū)域不小于90mm 時,掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度φ1mm×6mm-12dB。

      缺陷定位定量:發(fā)現(xiàn)缺陷波后采用前后掃查方式對缺陷進(jìn)行定位檢測,同時將靈敏度調(diào)到定量線靈敏度φ1mm×6mm-6dB。當(dāng)探頭在(圖5)位置1附近作前后掃查時,示波屏上出現(xiàn)下端點最大回波如圖6所示,當(dāng)探頭在(圖5)位置2附近作前后掃查時,示波屏上出現(xiàn)上端點最大回波如圖7所示,整個缺陷回波包絡(luò)線如圖8所示。圖6,7,8圖形為CTS-9006超聲波探傷器檢測記錄后導(dǎo)出圖形,橫坐標(biāo)為深度,mm;縱坐標(biāo)為波幅,dB。

      結(jié)果:通過計算分析該未焊透缺陷最大反射回波為定量線(SL)+8.1dB,上端點深度為1.5mm,下端點深度為8.8mm,未焊透自身高度為7.3mm。

      4.2 單晶直探頭在翼板側(cè)進(jìn)行探測

      探頭的選用:5P14Z;靈敏度 調(diào)整:按JB/T 4730.3-2205標(biāo)準(zhǔn)5.1.6.4條中規(guī)定,利用平底孔試塊按如下規(guī)則調(diào)整距離-波幅曲線的靈敏度,評定線φ2mm 平底孔;定量線為φ3mm 平底孔;判廢線為φ4mm 平底孔;表面補償:4dB,如圖9所示。

      掃查:在翼板外側(cè)劃出焊縫中心線,將探頭置于焊縫中心線作平行于焊縫掃查,掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度φ2mm 平底孔。

      缺陷定位定量:發(fā)現(xiàn)缺陷波后作垂直于焊縫掃查,同時將靈敏度調(diào)整到定量線靈敏度φ3 mm 平底孔,找出缺陷最高反射波如圖10所示,采用6dB法測出未焊透的指示寬度如圖11,12所示。端點1反射回波及位置如圖11所示,端點2反射回波及位置如圖12所示。圖10,11,12圖形為CTS-9006超聲波探傷器檢測記錄后導(dǎo)出的圖形,橫坐標(biāo)為聲程,mm;縱坐標(biāo)為波幅,dB。圖13,14,15同此解釋。

      結(jié)果:通過計算分析該未焊透缺陷最大反射回為定量線(SL)+0.6dB,未焊透指示寬度為9.0mm。

      圖9 單晶直探頭在翼板側(cè)探測

      圖10 直探頭缺陷最高反射波

      4.3 雙晶直探頭在翼板側(cè)進(jìn)行探測

      探頭的選擇:試件翼板厚度為20mm,故選用5P14ZF20,探頭焦距為20mm。

      靈敏 度 調(diào) 整:按JB/T 4730.3-2205 標(biāo) 準(zhǔn)5.1.6.4條中規(guī)定,利用平底孔試塊按下列規(guī)則調(diào)整距離-波幅曲線的靈敏度,評定線φ2mm 平底孔;定量線φ3mm 平底孔;判廢線φ4mm 平底孔;表面補償:4dB。

      掃查:在翼板外側(cè)劃出焊縫中心線,初步掃查時,將探頭置于焊縫中心線作平行于焊縫掃查,探頭隔聲線與探頭移動方向垂直。掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度φ2mm 平底孔。

      缺陷定位定量:發(fā)現(xiàn)缺陷波后進(jìn)行精確掃查,探頭作垂直于焊縫掃查,探頭隔聲線與探頭移動方向垂直,同時將靈敏度調(diào)整到定量線靈敏度φ3 mm平底孔,找出缺陷最高反射波如圖14 所示,采用6dB法測出未焊透的指示寬度如圖15、圖16所示。通過計算分析該未焊透缺陷最大反射回為定量線(SL)+11.6dB,未焊透指示寬度為9.0mm。

      圖16 端點2反射回波及探頭位置

      4.4 解剖試件對比驗證

      采用宏觀腐蝕方法對比驗證,為了進(jìn)一步證實未焊透的實際高度,將該接頭進(jìn)行了解剖,并對其焊縫斷面進(jìn)行腐蝕,再輔以10倍以下的低倍放大鏡進(jìn)行觀察如圖17所示,用直尺測量未焊透高度約為7mm。

      圖17 試件解剖宏觀腐蝕形貌

      5 結(jié)論

      (1)采用雙晶直探頭檢測靈敏度最高,尤其在初掃時更容檢測出較小的未焊透缺陷。

      (2)采用橫波斜探頭檢測靈敏度較雙晶直探頭小,但對已知缺陷類型進(jìn)行定量檢測卻具有明顯的優(yōu)勢,與雙晶直探頭比較,雙晶直探頭利用6dB 法測出未焊透的指示寬度是一種較粗略的方法,而利用橫波斜探頭通過對缺陷上下端點最大回波的測量,可以精確測量出缺陷自身的高度。

      (3)采用單晶直探頭檢測靈敏度最低,發(fā)現(xiàn)缺陷的能力最弱。因此不宜采用單晶直探頭對較薄翼板的T 型接頭未焊透進(jìn)行檢測。

      [1] 鄭暉,林樹青.超聲檢測[M].2 版.北京:中國勞動社會保障出版社,2008:273-276.

      [2] 田雙.淺談如何識別未焊透與未熔合[J].無損檢測,2000,22(4):179-182.

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