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      LTE輔同步檢測低復(fù)雜度算法設(shè)計及實現(xiàn)

      2014-05-11 07:29:42趙永祥郭年庚
      無線電通信技術(shù) 2014年3期
      關(guān)鍵詞:搜索算法復(fù)雜度電路

      馬 飛,趙永祥,郭年庚

      (1.中國電子科技集團(tuán)公司第五十四研究所,河北石家莊050081;2.中國工程物理研究院電子工程研究所,四川綿陽621900;3.北京科技大學(xué)計算機(jī)與通信工程學(xué)院,北京100083)

      0 引言

      LTE是3GPP組織為保持其在未來十年的競爭力而提出來的,因其能夠提供更高的數(shù)據(jù)傳輸率、更大的系統(tǒng)容量以及支持全I(xiàn)P業(yè)務(wù)和可伸縮帶寬配置的優(yōu)點,而被世界主流運(yùn)營商選為未來網(wǎng)絡(luò)建設(shè)的制式標(biāo)準(zhǔn)。

      在LTE通信系統(tǒng)中,小區(qū)搜索是一個非常重要的過程。移動終端開機(jī)后,首先需要進(jìn)行初始小區(qū)搜索,完成同基站之間的時間和頻率同步并提取出廣播信息,之后才能進(jìn)行正常的通信[1]。LTE系統(tǒng)采用了兩級同步信號進(jìn)行小區(qū)搜索的方案,即主同步信號進(jìn)行5ms定時和獲取扇區(qū)號,輔同步信號進(jìn)行10ms定時和獲取小區(qū)組內(nèi)ID號[2,3]。

      輔同步信號檢測是其中的一個重要過程,目前針對輔同步信號檢測所提出的算法基本思想都是采用序列相關(guān)尋找匹配序列[4,5],由于LTE輔同步信號序列每5ms發(fā)送一次,前后2個5ms發(fā)送的輔同步序列不一樣,因此也就只有利用第1個5ms半幀的輔同步序列進(jìn)行檢測和利用2個5ms半幀的輔同步序列進(jìn)行檢測2種方法,主要進(jìn)行5ms半幀序列的檢測,介紹了提出的一種便于硬件實現(xiàn)的低復(fù)雜度序列檢測方法,給出算法數(shù)值仿真性能,接著對算法進(jìn)行硬件設(shè)計和FPGA實現(xiàn)[6-10]。

      1 輔同步信號產(chǎn)生

      圖1是LTE系統(tǒng)的FDD模式幀結(jié)構(gòu),一個無線幀在時域上占用10ms的時間,每個無線幀由20個時隙構(gòu)成,一個時隙長度為0.5ms。按照LTE的協(xié)議標(biāo)準(zhǔn),主同步信號和輔同步信號分別位于slot#0和slot#10的最后一個OFDM符號和倒數(shù)第2個OFDM符號上,在頻域上映射到中間的62個子載波上,兩端各插入5個空子載波用于保護(hù)同步信號。LTE系統(tǒng)中共有504個不同的小區(qū)ID號,唯一標(biāo)識系統(tǒng)中的基站小區(qū),這504個小區(qū)ID又被分為168組,編號從0到167,記為小區(qū)組號,每組含有3個小區(qū)號,編號從0到2,記為扇區(qū)號和共同決定小區(qū)ID號,即

      圖1 FDD幀結(jié)構(gòu)

      D(2n)和D(2n+1)分別稱為偶序列和奇序列,c0(n)和c1(n)是m序列,由主同步序列決定,按照式(2)產(chǎn)生:

      式中,c(n)是由0和1構(gòu)成的二進(jìn)制m序列,因此,c0(n)和c1(n)可以看成是由基本m序列c0(n)線性移位和得到。

      s(m)(n)和z(m)(n)序列是擾碼序列,也是二進(jìn)制m序列線性移位m得到,因此輔同步序列是擾碼后的m序列。

      2 輔同步檢測算法

      2.1 全搜索檢測算法

      輔同步序列號可根據(jù)式(2)計算得到:

      該算法需要遍歷336組候選序列,每次遍歷需要進(jìn)行長度為62的相關(guān)計算,因此該算法的計算量較大,復(fù)雜度高。

      2.2 低復(fù)雜度的輔同步信號檢測算法

      提出一種新的輔同步信號檢測算法,該算法核心思想是對一個5ms幀的輔同步序列進(jìn)行1bit量化,同時將偶序列和奇序列分開檢測,此時相關(guān)長度為31,遍歷次數(shù)為31加14,因此相對于上面提到的全搜索算法,在搜索時間和實現(xiàn)復(fù)雜度上都具有優(yōu)勢。下面介紹該算法的檢測過程。

      由于輔同步信號映射到中間的62個子載波上,因此在完成主同步信號檢測之后,也即確定了主同步信號的位置之后,推斷出輔同步信號所在的位置,從該位置作為起始FFT變換位置將輔同步信號變換到頻域,提取出中間62個子載波數(shù)據(jù)分為偶序列和奇序列2組,分別記為r(2k)和r(2k+1),k=0,1,…,30。

      同時,對接收到的偶序列和奇序列進(jìn)行1bit量化,量化之后的序列分別記為qr(2k)和qr(2k+1),然后就可以進(jìn)行偶序列的檢測,方法是首先產(chǎn)生31組長度為31的本地偶序列,本地偶序列按下式產(chǎn)生:

      式中,s(m)(n)和c0(n)是二進(jìn)制m序列,按照LTE協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)生成。將本地偶序列和量化后的接收輔同步偶序列qr(2k)進(jìn)行相關(guān),得到31組相關(guān)集,記為C0(m),即:

      對應(yīng)估計到的m值為:

      根據(jù)式(3)和式(4)即可完成偶序列的檢測,并確定偶序列編號,之后根據(jù)偶序列的檢測結(jié)果進(jìn)行奇序列的檢測,方法不同的是不需要遍歷產(chǎn)生31組奇序列,而是根據(jù)偶序列和奇序列的關(guān)系,只需要遍歷產(chǎn)生14組奇序列即可,因此本地奇序列按下式產(chǎn)生:

      將產(chǎn)生的14組本地奇序列同量化后的序列r(2k+1)進(jìn)行相關(guān),得到14組相關(guān)集合,為C1(m),即:

      奇序列檢測估計得到的m值根據(jù)下式計算得到,即:

      至此,完成偶序列和奇序列的檢測。并不知道利用的是10ms無線幀中的第1個5ms幀還是第2個5ms幀的輔同步數(shù)據(jù)進(jìn)行的輔同步檢測,因此,m0和m1值由下式得到:

      從提出的輔同步信號檢測算法檢測過程可以看出,完成輔同步信號檢測共需要進(jìn)行31+14次長度為31的相關(guān)運(yùn)算即可確定小區(qū)組號,與之前采用全搜索算法需要遍歷所有336組輔同步序列相比,復(fù)雜度大大降低。同時由于在檢測開始前就進(jìn)行了接收序列的1bit量化,因此相關(guān)計算單元在進(jìn)行FPGA實現(xiàn)時可以用異或電路實現(xiàn),而不是利用乘法器,這可以進(jìn)一步降低實現(xiàn)的復(fù)雜度。綜上所述,提出的算法更利于硬件實現(xiàn)。

      2.3 算法仿真結(jié)果

      為了評估提出算法的性能,在Matlab仿真平臺下,對2種算法進(jìn)行仿真,系統(tǒng)仿真參數(shù)如表1所示,在仿真開始前,假設(shè)小區(qū)ID號為167,扇區(qū)號為2,根據(jù)這2個值和表1的仿真參數(shù)生成含有輔同步信息的基帶信號,利用上文提到的2種算法進(jìn)行基帶信號的解調(diào),并進(jìn)行輔同步檢測,將檢測得到的結(jié)果與假設(shè)值比較,若一樣,則記這次檢測成功,否則這次檢測失敗。連續(xù)發(fā)送1000幀數(shù)據(jù),統(tǒng)計檢測失敗的概率,最后的仿真結(jié)果如圖2所示。

      表1 系統(tǒng)仿真參數(shù)

      圖2 兩種算法在AWGN和EPA信道下的性能

      由于提出的算法是對傳統(tǒng)算法進(jìn)行了簡化,以降低硬件實現(xiàn)復(fù)雜度,這必然會帶來性能的損失,從圖2的仿真結(jié)果也可以看出,提出的簡化算法在2種信道環(huán)境下都有一定性能損失。在AWGN信道和高信噪比下,即-3dB以上時,二者性能接近,在-6dB時全搜索算法也最多只有6%的性能優(yōu)勢。考慮到全搜索算法付出的實現(xiàn)復(fù)雜度和搜索時間的代價,提出的算法在硬件實現(xiàn)上更利于小區(qū)搜索實現(xiàn)。特別是在高信噪比環(huán)境下,本文提出的算法能以較低的實現(xiàn)復(fù)雜度和較短的搜索時間滿足LTE終端小區(qū)搜索的需求。

      3 輔同步檢測FPGA實現(xiàn)

      提出的輔同步信號檢測算法總體結(jié)構(gòu)如圖3所示,接收到的序列首先通過FFT變換到頻域,之后進(jìn)行1bit量化,將量化后的中間62個子載波數(shù)據(jù)寫入RAM,供后續(xù)的序列檢測電路讀取,后續(xù)的序列檢測電路主要由擾碼產(chǎn)生和解擾電路、累加器和最大值搜索電路構(gòu)成。

      圖3 輔同步信號檢測總體結(jié)構(gòu)

      擾碼產(chǎn)生電路可以通過將擾碼序列寫入ROM中,在需要解擾操作時,從ROM中讀取,由于其他擾碼序列都可以看成基本擾碼序列的線性移位,因此只需要存儲3種基本的擾碼序列c(n)、s(n)和z(n)即可,當(dāng)需要線性偏移m位的序列時,從起始地址為m的存儲單元開始讀取即可,如圖4所示。

      圖4 擾碼序列產(chǎn)生

      序列檢測電路若采用并行檢測的方法,則每個序列都需要一個檢測器,相關(guān)計算得到的結(jié)果還要送往最大值搜索模塊,實現(xiàn)將十分復(fù)雜。同時占用資源也比較多,因此可以將序列分時檢測,寄存檢測得到的值,同時擾碼和相關(guān)計算單元可以通過復(fù)用選擇器和雙向計數(shù)器實現(xiàn)。簡化后的序列檢測電路如圖5所示,通過1bit異或電路之后的本地序列與量化后的序列進(jìn)行1bit異或,若二者符號一樣,則計數(shù)器正向加1,若和本地序列完全匹配,則會連續(xù)31次正向加1,此時會得到最大值,每31次計數(shù)之后與寄存器P的值比較,若計數(shù)器值大,說明此次檢測序列的相關(guān)值比上次檢測大,此時更新寄存器P的值并更新對應(yīng)的序列編號m值,當(dāng)所有可遍歷的序列都檢測完之后,寄存器m中寄存的就是對應(yīng)匹配到的輔同步序列編號。

      圖5 序列檢測電路

      按照上述的結(jié)構(gòu)對輔同步信號檢測進(jìn)行FPGA實現(xiàn),通過Modelsim進(jìn)行功能仿真,輔同步模塊先后進(jìn)行偶序列和奇序列的檢測,計數(shù)器的初始值設(shè)置為32,仿真輸出結(jié)果為當(dāng)序列完全匹配時,計數(shù)器正向加了31次,因此峰值寄存器peak在兩個檢測階段輸出的峰值都為32+31=63,并同時輸出偶序列和奇序列對應(yīng)的序列號,表明輔同步檢測模塊完成序列檢測,因此功能實現(xiàn)正確。

      最后選用Xilinx的V5SX95T芯片在ISE里進(jìn)行綜合實現(xiàn),ISE給出的資源量使用情況,如表2所示。從該表可以看出,寄存器資源利用率2%,LUT資源利用率1%,都比較小,DSP48E用到8個,這主要是利用了FFT IP核,這會使用大量的DSP48E資源,因此整個輔同步檢測消耗資源并不多。

      表2 輔同步信號檢測資源量分析

      4 結(jié)束語

      輔同步信號檢測是LTE小區(qū)搜索一個重要檢測過程,給出了一種復(fù)雜度較低的輔同步信號檢測。仿真結(jié)果表明,該算法相對于全搜索算法有一定的性能損失,但是降低了計算復(fù)雜度,特別是在高信噪比環(huán)境下,這種性能損失很小,完全滿足工程需求,同時進(jìn)行了輔同步信號檢測硬件結(jié)構(gòu)的設(shè)計,并進(jìn)行了RTL代碼編寫和功能驗證,Modelsim仿真結(jié)果表明,對算法進(jìn)行的硬件簡化工作是可行的。

      [1]WANG Feng,ZHU Yu,WANG Zongxin.A Low Complexity Scheme For S-sCH Detection in 3GPP LTE Downlink System[C]//Shanghai,2010 Global.Mobile Congress,2010:1-6.

      [2]3GPP R1-061662,SCH Structure and Cell Search Method for E-UTRA Downlink[S].

      [3]KIM J I,HAN J S,ROH H J,et al.SSS Detection Method for Initial Cell Search in 3GPP LTE FDD/TDD Dual Mode Receiver[C]// Korea,SAMSUNG ELECTRONICS CO,LTD,2009:199-203.

      [4]錢春光,于忠臣.LTE系統(tǒng)輔同步信號檢測算法研究[J].科技信息,2012(11):112-113.

      [5]郝庭基,尹長川,羅濤,等.LTE系統(tǒng)幀定時同步的低復(fù)雜度FPGA實現(xiàn)[M].北京:人民郵電出版社,2011:327-331.

      [6]史治國.基于Xilinx FPGA的OFDM通信系統(tǒng)基帶設(shè)計[M].浙江:浙江大學(xué)出版社,2009.

      [7]田耘,徐文波.Xilinx FPGA開發(fā)實用教程[M].北京:清華大學(xué)出版社,2009:12-13.

      [8]Virtex-5 Family,Xilinx Advance Product Specification DS100[M].USA:Xilinx,2008.

      [9]夏宇聞.Verilog數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計教程(第2版)[M].北京:電子工業(yè)出版社,2008:3-5.

      [10]CILETTI M D.Verilog HDL 高級數(shù)字設(shè)計[M].張雅綺,李鏘,譯.北京:電子工業(yè)出版社,2003:2-5.

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