郭東升，唐 敏，吳鐵彬，劉衡竹

（國防科學技術大學計算機學院，湖南 長沙 410073）

1 引言

隨著集成電路制造工藝的進步和芯片集成規(guī)模的急劇增加，芯片測試數(shù)據(jù)猛增，導致測試成本急劇上升，如何降低測試數(shù)據(jù)的存儲開銷并縮短測試時間是當前學術界研究的熱點。

減少測試數(shù)據(jù)的存儲開銷可以通過BIST（Build－In Self－Test）結 構［1］和 測 試 數(shù) 據(jù) 壓 縮 技 術來實現(xiàn)［2］。BIST結構需要嵌入到芯片中，常常和片上的測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生模塊聯(lián)合使用。雖然BIST結構可以大幅度地減少需要存儲的測試數(shù)據(jù)數(shù)量，不過利用BIST結構的測試時間會增加，而且BIST結構會改變測試電路的物理結構，增加約束條件，這些都限制了BIST結構的使用。而測試數(shù)據(jù)壓縮技術則不需要對電路結構進行改變，可以獨立于測試電路對測試數(shù)據(jù)進行壓縮，從而減少測試數(shù)據(jù)的存儲開銷。

EFDR算法［3］是一種典型的基于編碼壓縮的測試數(shù)據(jù)壓縮算法。EFDR算法考慮對連續(xù)0游程和連續(xù)1游程分別編碼，具有算法簡單、壓縮解壓縮結構小、壓縮效率高等特點。

除了編碼壓縮算法的研究，針對非確定位填充的研究也很重要。由于測試數(shù)據(jù)中的非確定位數(shù)量極大［4］，合理地對非確定位填充會提高壓縮算法的壓縮效率。

本文以EFDR算法為基礎，研究EFDR算法的非確定位填充要求，提出了針對EFDR編碼壓縮算法優(yōu)化的非確定位填充算法ESA（EFDR－Suited X－filling Algorithm）?；贗SCAS’89標準電路［5］的實驗結果表明，該算法在不提高測試功耗的前提下，提高了EFDR算法的壓縮效率，縮短了測試時間。

2 優(yōu)化的EFDR算法的非確定位填充技術

2.1 非確定位填充算法介紹

測試數(shù)據(jù)中的非確定位是非常多的，常常占測試數(shù)據(jù)總數(shù)的70%以上，更有些測試數(shù)據(jù)中的非確定位數(shù)占到測試數(shù)據(jù)的90%以上（見表1），所以合理填充非確定位可能會對測試數(shù)據(jù)壓縮效果有所提高。

Table 1 Ratio of X in test data表1 非確定位在測試數(shù)據(jù)中所占的比例

傳統(tǒng)的非確定位填充技術主要包括全0填充和全1填充，即分別對非確定位全部填充0或者全部填充1，除此之外還有一些改進的非確定位填充算法，如：最少傳輸跳變填充算法MT－filling（Minimum－Transition－fill）［6］、鄰 近 位 相 同 填 充 算 法Adjacent－filling［7］。MT－filling填 充 算 法 在 填 充時，如果非確定位序列兩邊的確定位相同，非確定位填充值為相同確定位的值，否則隨機填充0或者1；在Adjacent－filling算法中，非確定位的填充與傳輸方向上的臨近確定位相同。

對于測試數(shù)據(jù)0XXX1X0X1XXX1X0

全0填充為：000010001000100

全1填充為：011111011111110

MT－filling為：000011001111100

Adjacent－filling為：000011001111110

2.2 EFDR算法的非確定位填充方法

EFDR編碼壓縮算法的非確定位填充算法和這些算法不同，EFDR在填充非確定位時，考慮了EFDR算法的特點，其編碼字見表2。EFDR編碼壓縮算法對以1結尾的0游程或以0結尾的1游程進行編碼，按照游程的長度范圍將游程劃分到不同的組中，編碼字隨分組編號的增加而遞增，組編號小的編碼字短，組編號大的編碼字長，增幅為兩位。

Table 2 Code word of EFDR code表2 EFDR編碼算法編碼字表

由表2可知，測試數(shù)據(jù)游程越長，編碼效率越高。故EFDR算法的非確定位填充規(guī)則如下：

（1）當非確定位游程兩邊的確定位相同時，非確定位填充值為該確定位值。

（2）當非確定位游程兩邊的確定位不相同時，沿測試數(shù)據(jù)的傳輸方向：

①當非確定位游程前的確定位游程長度大于1時，非確定位的填充值與前邊的確定位值相同；

②當非確定位游程前的確定位游程長度為1時，非確定位填充值與后邊的確定位值相同。

依據(jù)上述填充規(guī)則，對于測試數(shù)據(jù)：

1XXXX1 11XXXXX0XXXX1 1XXX0 0XXXX1XX0XXXX01

EFDR算法的填充結果為：111111 11111110 11111 11110 000001 000000001

2.3 EFDR填充算法的缺陷

EFDR算法對非確定位的填充已經(jīng)考慮到了其算法的編碼特點，不過由于每個分組都包含一定的游程長度，所以對于包含非確定位的測試數(shù)據(jù)段，不同的非確定位填充方法，得到的編碼游程分組可能不同。

例如，對于測試數(shù)據(jù)序列：

11111XXX00XXXXXXXXXXX1

使用EFDR算法的填充為：

111111110 0000000000001

所屬編碼分組都為A3，需要的編碼字長為14位。

考慮第一個非確定位游程，由表2可知，如果將第一個非確定位游程的前一個非確定位填充為1，后兩個確定位填充為0，這樣填充之后得到的測試數(shù)據(jù)可以劃分為一個屬于A2組的連續(xù)1游程和一個屬于A3組的連續(xù)0游程，即：

1111110 000000000000001

壓縮該測試數(shù)據(jù)段需要的壓縮編碼總長為12位，相對于EFDR算法的填充方法少了2位。

2.4 優(yōu)化的非確定位填充算法

本文提出的非確定位填充算法按照以下的填充規(guī)則填充：

規(guī)則1 當非確定位兩邊為1時，即測試數(shù)據(jù)序列形如：1XXXX1時，非確定位填充為1；

規(guī)則2 當非確定位兩邊為0時，即測試數(shù)據(jù)序列形如：0XXXX0時，非確定位填充為0；

規(guī)則3 當非確定位兩邊的確定位不同時，即測試數(shù)據(jù)形如：1XXXXX0或0XXXXX1時，考慮兩邊確定位的情況進行填充。

本文提出的非確定位（ESA）填充算法可以分為三步：首先對滿足規(guī)則1和規(guī)則2情形的非確定位進行填充；之后將待填測試數(shù)據(jù)進行預處理，得到測試數(shù)據(jù)游程類型數(shù)組T＝｛ti｝，確定游程長度數(shù)組L＝｛li｝以及非確定位游程長度數(shù)組M＝｛mi｝；最后利用數(shù)組T、L、M對非確定位游程進行劃分和填充，得到待壓縮測試數(shù)據(jù)游程長度數(shù)組S＝｛si｝。

例如，對于測試數(shù)據(jù)：11XXX000XXX110，預處理得到的數(shù)組T＝｛1，0，1，0｝，L＝｛2，3，2，1｝，M＝｛3，3，0，0｝；之后將M中的每一個元素mi分割成ai與bi之和，mi＝ai＋bi，其中，非確定位游程中的前ai個非確定位填充和ti相同，后bi個非確定位填充和ti＋1相同；最終得到的待壓縮測試數(shù)據(jù)游程長度數(shù)組S＝｛si｝，si＝bi－1＋li＋ai。

由以上討論可知，對非確定位游程長度mi的劃分是ESA填充算法的核心，考慮EFDR算法的非確定位填充要求，根據(jù)測試數(shù)據(jù)的特征數(shù)組T、L，非確定位游程長度mi的劃分方法見表3。

Table 3 Segmentation of mi表3 算法中mi的劃分方法

非確定位填充算法的主要步驟如下：

利用ESA填充算法對非確定位填充，可以得到更短的壓縮字，例如，對于如下長度為60位的測試數(shù)據(jù)段：

利用EFDR算法的填充算法得到的壓縮后的需要存儲的測試數(shù)據(jù)為（共46位）：

利用ESA填充算法得到的壓縮后的需要存儲的測試數(shù)據(jù)為（共40位）：

相對于利用EFDR算法的填充方案，ESA填充算法可以減少壓縮數(shù)據(jù)的長度，提高壓縮效率。

3 實驗結果與分析

3.1 壓縮效率分析

為了驗證填充算法ESA的有效性，本文使用Matlab實現(xiàn)該算法，基于ISCAS’89基準測試電路，Mintest ATPG［8］產(chǎn) 生 的 測 試 向 量 集，使 用ESA填充算法填充測試數(shù)據(jù)中的非確定位；再利用EFDR算法壓縮測試數(shù)據(jù)，得到的測試數(shù)據(jù)壓縮效率與原EFDR算法的壓縮效率比較見表4。假設TD是原始的測試數(shù)據(jù)總位數(shù)，TE是壓縮后的編碼字的總位數(shù)，壓縮效率CR可以表示如下：

Table 4 Comparison of compression ratio between EFDR and EFDR＋ESA表4 改進填充算法壓縮效率比較

表4中，TD代表原始測試數(shù)據(jù)量，EFDR代表使用EFDR的填充算法得到的壓縮后的測試數(shù)據(jù)數(shù)量TE和壓縮效率CR，EFDR＋ESA表示使用ESA填充算法得到的壓縮后的測試數(shù)據(jù)數(shù)量TE和壓縮效率CR。由Improvement的數(shù)據(jù)可知，利用ESA填充算法時，EFDR編碼壓縮的壓縮效率提高1.14%，證明ESA填充算法是有效的。其中，對于電路S9234和電路S38417的提高相對較高，這說明，ESA所針對的特征非確定位在這兩個電路中占的比例較大。

3.2 功耗分析

由于本文僅對填充算法進行了優(yōu)化，并未對壓縮和解壓縮結構做任何改變，所以本節(jié)只考慮可能會受到填充算法改變而影響到的測試數(shù)據(jù)的翻轉功耗。

由前文可知，本文提出的算法只針對非確定位兩邊確定位不相同的情形，即0XXXX1或1XXXX0這兩種情形，對于這種情形的填充方法，由表3可知，可以分為以下幾種情況：

非確定位與前邊確定位相同；

非確定位與后邊確定位相同；

非確定位前一部分與前邊確定位相同，后一部分與后邊確定位相同。

例如，對于0XXXXX1，本文得到的填充方案只有：00000001、01111111、00011111這三種情況，而這三種情況都不會增加該序列的01和10的翻轉數(shù)，故本文提出的填充算法不會增加測試數(shù)據(jù)的翻轉率。

3.3 時間開銷分析

本節(jié)分析ESA填充算法對測試時間開銷的影響，按照文獻［9］的方法，測試時間可以通過以下方法計算：

假設頻率比率α＝fCUT／fATE，fCUT是被測試電路的工作頻率，fATE是測試設備的時鐘頻率。假設測試集有N個編碼字C1～CN，每個編碼字的長度為Wi，則αmax［9］為：

其中，Hi－1為Ci－1解壓縮得到的測試數(shù)據(jù)的長度。

如果α＜αmax，由于解壓縮一個編碼字用的時間比從自動測試設備ATE（Automatic Test Equipment）傳輸一個編碼字到被測電路CUT（Circuit Under Test）所用的時間長，這時ATE會等CUT幾個時鐘周期，則測試時間TAT［9］為：

如果α＞αmax，可以得到為：

表5給出了使用ESA填充算法時的時間開銷和使用EFDR算法的填充算法的時間開銷對比，頻率比率α從4～10，表格的第三列為使用EFDR算法填充的時間開銷，第四列是使用ESA填充算法時的時間開銷，最后一列Improvement表示使用ESA填充算法相對于使用EFDR填充算法的時間開銷的節(jié)省幅度。由表5中數(shù)據(jù)可知，相對于EFDR的填充算法，ESA填充算法可以適當減少時間開銷，減少幅度大都在1%～2%，當頻率比率α增大時，提升幅度相應也會提高。

Table 5 Comparison of test time表5 不同填充算法測試時間開銷比較

4 結束語

本文提出了一種新的基于EFDR編碼壓縮算法的非確定位填充算法，該算法針對測試向量中可能出現(xiàn)的一些特定情況進行優(yōu)化改善。針對ISCAS’89基準測試電路的實驗結果表明，在使用本文提出的填充算法對非確定位進行填充時，壓縮效率相對于原始EFDR算法提高了1.14%，時間開銷相對減少了2%左右，并且本算法不會增加測試向量的翻轉率，即不會引入額外的測試功耗，同時硬件開銷與原有EFDR算法一致。

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