楊育偉,朱 穩(wěn),魯 元
(西安特種設備檢驗檢測院,西安 710065)
按超聲波傳播過程中介質(zhì)質(zhì)點振動方向與波的傳播方向的關系,可將超聲波分為縱波、橫波、表面波等波型,其中,縱波和橫波是實際檢測時使用最多的兩種波型。在板材、鍛件、管材等原材料檢測時用縱波直探頭實現(xiàn)縱波檢測,焊縫檢測時用橫波斜探頭實現(xiàn)橫波檢測。探頭中壓電材料制成的晶片是產(chǎn)生超聲波的核心元件,目前常見的有縱波直探頭和橫波斜探頭,晶片產(chǎn)生的超聲波都是縱波??v波沿晶片的法線方向傳播并垂直進入工件,即縱波直探頭;縱波在第一臨界角和第二臨界角之間傾斜進入工件,在工件中就產(chǎn)生了折射橫波,即橫波斜探頭。傾斜入射的縱波在第二介質(zhì)中產(chǎn)生折射橫波,垂直入射的縱波在第二介質(zhì)中是否也會有一個橫波還未知。筆者通過介質(zhì)質(zhì)點振動狀態(tài)的定性分析,以及對垂直入射的縱波在第二介質(zhì)中產(chǎn)生的橫波位置的定量計算,再經(jīng)過試驗來研究垂直入射的縱波是否在固體界面產(chǎn)生橫波。
振動產(chǎn)生波動,波動是介質(zhì)質(zhì)點振動狀態(tài)的傳播。介質(zhì)質(zhì)點僅在其平衡位置附近做往復振動,并產(chǎn)生微觀上的位移最后又回到平衡位置,而不會產(chǎn)生宏觀上的位移隨波前行。超聲波的縱波、橫波、表面波等波型的傳播都是如此。介質(zhì)質(zhì)點振動方向平行于傳播方向的波為縱波,垂直于傳波方向的波為橫波。下面對縱波傳播過程中,微觀狀態(tài)下聲束中心軸線上的介質(zhì)質(zhì)點和其附近質(zhì)點的振動情況做定性分析,如圖1所示。為討論方便,把x軸的方向稱為縱向,y軸的方向稱橫向。圖中沿縱向、斜向及由斜向分解出的縱向和橫向達到最大位移(即振幅)的質(zhì)點均用加圈的點表示。
圖1(a)所示為時刻0,即擾動前各質(zhì)點的狀態(tài)。此時,中心軸線各質(zhì)點(a、b、c、d、e)、兩側(cè)軸線y+各質(zhì)點(1、2、3、4、5)及y-各質(zhì)點(6、7、8、9、10)均位于其平衡位置,未產(chǎn)生位移。
圖1(a)所示為時刻1,即擾動后某一時刻各質(zhì)點的振動及位移的狀態(tài)。此時,質(zhì)點a受外力F沿x方向的作用后離開了平衡位置并沿x軸達到了最大縱向位移A(即縱向振幅)。受質(zhì)點a的作用,質(zhì)點b、c、d、e依次受到干擾后開始振動并產(chǎn)生了不同程度的縱向位移。因外力F沿x軸方向作用于質(zhì)點a,所以中心軸線上的各質(zhì)點只做縱向振動產(chǎn)生縱向位移而無其他方向的振動和位移。
圖1(b)~(f)分別為時刻2~時刻5,即擾動后的某四個特定時刻。其時,質(zhì)點b、c、d、e分別達到了最大縱向位移A(也即縱向振幅,圖上用表示波峰位置)。也就是說,受外力F的作用之后,質(zhì)點a把達到縱向振幅的振動狀態(tài)沿縱向依次傳遞給質(zhì)點b、c、d、e。中心軸線上各質(zhì)點的這種縱向振動狀態(tài)沿縱向的傳播即為縱波。
超聲波在彈性介質(zhì)中傳播,介質(zhì)中的各質(zhì)點以彈性力連接并相互作用。當中心軸線上各質(zhì)點(a、b、c、d、e)做縱向振動并產(chǎn)生縱向位移時,其兩側(cè)軸線y+和y-上的各質(zhì)點(1、2、3、4、5)和(6、7、8、9、10)則分別受到與中心軸線各質(zhì)點相連的彈性力的作用沿斜向振動并產(chǎn)生斜向位移。在質(zhì)點a受外力F作用后的某四個特定時刻,質(zhì)點(1、2、3、4、5)和質(zhì)點(6、7、8、9、10)分別沿斜向達到了最大斜向位移。如圖2所示。
這種斜向位移可以分解為沿x軸的縱向位移和沿y軸的橫向位移。最大斜向位移當然也就分解成為最大縱向位移Ax(也即縱向振幅)和最大橫向位移Ay(也即橫向振幅)。可見,受中心軸線質(zhì)點縱向振動的作用,兩側(cè)軸線各質(zhì)點同時進行著縱向振動和橫向振動,并將這種振動向前面的各質(zhì)點依次傳遞。兩側(cè)軸線各質(zhì)點沿縱向傳播的縱向振動即為主聲束旁的縱波,如圖3所示。而兩側(cè)軸線各質(zhì)點沿縱向傳播的橫向振動應該就是橫波,如圖4所示。
在呂慶貴等[1]的研究中,利用聲場的數(shù)字模擬和光學玻璃圓棒動態(tài)光彈試驗,也發(fā)現(xiàn)垂直入射的縱波后面出現(xiàn)橫波,如圖5所示。
圖5 數(shù)值模擬和動態(tài)光彈試驗的比較
試驗采用Hs616e 型數(shù)字式超聲波探傷儀、2.5 MHz/φ20mm直探頭、2.5P13mm×13mmK2斜探頭及CSK-ⅠA 試塊。對該試塊進行聲速測試,測試結(jié)果是縱波聲速為5 974m·s-1,橫波聲速為3 230m·s-1。按縱波聲程1∶1調(diào)節(jié)掃描速度。此時,厚度為t的大平底面的一次底波B1、二次底波B2、三次底波B3在超聲探傷儀屏幕上的位置依次為t、2t和3t。
首先,分析計算幾種不同情況下縱波后的橫波在屏幕上的位置。第一,跟隨在入射縱波后面的橫波到達底面并反射回探頭,這個回波的傳播過程為:入射橫波+反射橫波,稱之為Bss1,則Bss1=1.85t,顯然,Bss1應在二次底波B2之前靠近B2的地方;第二,入射縱波到達底面后會產(chǎn)生反射縱波,跟隨在這個反射縱波后面橫波的回波的傳播過程為:入射縱波+反射橫波,稱為Bls1,則Bls1=1.425t,Bls1應在一次底波B1和二次底波B2之間略靠近B1的地方;第三,跟隨在二次入射縱波后面的橫波到達底面并反射回探頭,這個回波的傳播過程為:入射縱波+反射縱波+二次入射橫波+二次反射橫波,稱為Bss2,則Bss2=2.85t,Bss2應在三次底波B3之前靠近B3的地方;第四,二次入射縱波到達底面后會產(chǎn)生二次反射縱波,跟隨在這個二次反射縱波后面的橫波回波的傳播過程為:入射縱波+反射縱波+二次入射縱波+二次反射橫波,稱為Bls2,則Bls2=2.425t,Bls2應在二次底波B2和三次底波B3之間略靠近B2的地方。
然后,用CSK-ⅠA 試塊25mm 的大平底面對以上計算的幾種回波在屏幕上的位置進行試驗。將一次底波B1自動增益到80%波高,此時,t=25mm,一次底波B1、二次底波B2、三次底波B3在屏幕上分別位于25,50,75mm 處,如圖6(a)所示,未發(fā)現(xiàn)其他波,考慮到橫波強度較弱,提高增益后發(fā)現(xiàn)在一次底波和二次底波、二次底波和三次底波之間分別有其他波的存在,測試這些波的深度分別為:45.8,35.4,71.9,60.4mm,按前面計算分析,當t=25mm 時,Bss1=46.25mm,Bls1=35.63mm,Bss2=71.25mm,Bls2=60.63mm分別與圖6中檢測結(jié)果相對應,并非常接近。
圖6 超聲波試驗截圖
上述分析計算和實際測試的結(jié)果及其偏差如表1所示。
表1 縱波后的橫波計算值、實測值及偏差
當超聲波探傷儀水平線性誤差不大于2%[2],或者超聲波探傷儀水平線性誤差不大于1%[3],都屬于誤差允許值內(nèi),從表1可知,Bss1、Bls1、Bss2、Bls1的計算值與實測值的最大偏差率為0.97%,均小于上述兩個標準規(guī)定的超聲波探傷儀水平線性誤差允許值。所以,可以認為上述縱波入射后產(chǎn)生橫波的分析計算結(jié)果與實際測試結(jié)果相吻合。同樣在張紀周等[4]的研究中,發(fā)現(xiàn)了一次底波和二次底波之間的波,稱為遲到波,就是縱波直探頭垂直入射固體界面在第二介質(zhì)中產(chǎn)生的橫波。
從試驗還可看出,橫波的強度遠小于縱波。從圖6(a)~(c)可知,以80%為基準,回波B1、Bss1、Bls1的增益分別為:B1=12.1dB、Bss1=63.0dB、Bls1=51.9dB,其增益差分別為:ΔB1/Bss1=50.9dB、ΔB1/Bls1=39.8dB。如果衰減48dB,可將80%波高降低為0.312 5%;衰減40dB,可將80%的波高降低為2.5%。也就是說,當B1為80%時,Bss1不到0.312 5%,Bls1僅為2.5%。
通過對縱波傳播過程中介質(zhì)質(zhì)點振動狀態(tài)的定性分析、縱波后產(chǎn)生橫波的定量計算和試驗說明:縱波直探頭垂直入射固體界面時,在第二介質(zhì)中也會產(chǎn)生橫波;由于其強度遠小于縱波,使得該橫波極易被掩蓋,經(jīng)過折射則可以把它和縱波清晰地區(qū)分開,實際檢測中也正是這樣應用的。
[1]呂慶貴,宋愛文,陳以方.棒材中超聲散射場的模擬及信號的識別[J].無損檢測,2010,32(1):32-35.
[2]JB/T 10061-1999 A 型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術條件[S].
[3]JB/T 4730-2005 承壓設備無損檢測[S].
[4]張紀周,袁世麗,何順開.用縱波直探頭測量新型耐熱鋼材料橫波聲速的方法[J].無損檢測,2013,35(12):19-23.