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      壓裝HMX基PBX老化損傷及力學(xué)環(huán)境適應(yīng)性

      2016-05-08 08:18:30尹俊婷袁寶慧石瑋緯王建朝高玉玲
      含能材料 2016年7期
      關(guān)鍵詞:粘結(jié)劑彈藥裝藥

      尹俊婷, 袁寶慧, 石瑋緯, 王建朝, 高玉玲

      (1. 西安近代化學(xué)研究所, 陜西 西安 710065; 2. 中國人民解放軍第5715工廠, 河南 洛陽 471000)

      1 引 言

      彈藥具有“長期貯存、一次使用”的特點(diǎn),在貯存期內(nèi)受到熱應(yīng)力和低機(jī)械應(yīng)力等復(fù)雜加載環(huán)境的長期作用,裝藥會(huì)發(fā)生緩慢的物理及化學(xué)變化,產(chǎn)生老化損傷。高聚物粘結(jié)炸藥(PBX)廣泛應(yīng)用于高效毀傷武器彈藥裝藥,研究其長貯性能對于彈藥安全與可靠使用至關(guān)重要。目前對PBX的老化研究大都采用小尺寸試驗(yàn)件,通過加速老化,輔以常規(guī)拉伸壓縮、應(yīng)力應(yīng)變等力學(xué)實(shí)驗(yàn)[1-6]。長貯裝藥承受的載荷具有加載緩慢、多應(yīng)力疊加、作用時(shí)間長的特點(diǎn)[7],與加速試驗(yàn)載荷作用下的老化機(jī)理存在一定差異,另外尺寸效應(yīng)對研究結(jié)果也會(huì)產(chǎn)生一定影響。由于開展彈藥裝藥自然長貯老化研究危險(xiǎn)性大,保密性強(qiáng),且需要較長的周期,相關(guān)資料和公開的文獻(xiàn)較少。

      為了研究彈藥裝藥的長貯老化損傷及力學(xué)環(huán)境適應(yīng)性,本研究針對庫房標(biāo)準(zhǔn)條件下自然長貯4,8,12 a的壓制奧克托今(HMX)基PBX彈藥裝藥,運(yùn)用CT掃描觀察了貯存4,8,12 a裝藥的結(jié)構(gòu)完整性,采用掃描電子顯微鏡SEM表征了貯存12 a裝藥的細(xì)觀形貌損傷,根據(jù)機(jī)載武器平臺(tái)典型沖擊、振動(dòng)實(shí)驗(yàn)條件,采用振動(dòng)實(shí)驗(yàn)臺(tái)考核了貯存12 a的帶缺陷彈藥裝藥的力學(xué)環(huán)境適應(yīng)性。研究結(jié)果可應(yīng)用于長貯彈藥的使用安全性分析及貯存可靠性評(píng)估。

      2 實(shí)驗(yàn)

      2.1 試驗(yàn)樣品

      試驗(yàn)樣品為裝填壓裝HMX基PBX的彈藥,PBX組成為HMX96%、地蠟2.0%、三元乙丙共聚物2%,裝藥質(zhì)量2.5 kg、外徑170 mm、內(nèi)徑90 mm。彈藥在庫房標(biāo)準(zhǔn)條件(溫度低于30 ℃,濕度小于80%)下分別貯存4、8、12 a。CT掃描樣品為貯存4、8、12 a的彈藥各2發(fā),SEM樣品為貯存4、12 a的彈藥各1發(fā)中取出的裝藥,力學(xué)環(huán)境適應(yīng)性樣品為貯存12 a的彈藥1發(fā)。

      2.2 實(shí)驗(yàn)設(shè)備及條件

      CT掃描采用俄羅斯莫斯科探傷有限公司BT-400型工業(yè)CT機(jī),任意方向的裂紋敏感度為0.05 mm; SEM采用日本日立S-2150型掃描電子顯微鏡; 力學(xué)環(huán)境適應(yīng)性實(shí)驗(yàn)采用SAI 120F-T2000-44/ST振動(dòng)實(shí)驗(yàn)臺(tái)系統(tǒng)。

      力學(xué)環(huán)境適應(yīng)性實(shí)驗(yàn)參照GJB150-86《軍用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法》[8],根據(jù)機(jī)載武器平臺(tái)典型的使用環(huán)境要求進(jìn)行沖擊和振動(dòng)考核。沖擊實(shí)驗(yàn)的沖擊脈沖波形為后峰鋸齒波,瞬時(shí)加速度峰值為7 g,脈沖持續(xù)時(shí)間25~30 ms,沖擊次數(shù)20次;Y軸、Z軸的隨機(jī)振動(dòng)實(shí)驗(yàn)每個(gè)軸向2 h,頻率范圍為15~2000 Hz,功率譜密度W1=0.01 g2/Hz,W2=0.06 g2/Hz。沖擊與振動(dòng)實(shí)驗(yàn)均采用單點(diǎn)控制,傳感器靈敏度10.156。

      3 結(jié)果與討論

      3.1 裝藥結(jié)構(gòu)缺陷

      采用數(shù)字放射顯影(DR)技術(shù)對貯存4,8,12 a的彈藥各2發(fā)進(jìn)行裝藥軸向檢測,根據(jù)軸向DR情況,進(jìn)行徑向CT掃描,觀察裝藥結(jié)構(gòu)老化缺陷。典型CT掃描照片如圖1所示。

      a. 4 ab. 8 ac. 12 a

      圖1 不同貯存年限PBX的 CT照片

      Fig.1 CT images of PBX stored for different years

      CT結(jié)果(圖1)表明,自然貯存后PBX裝藥結(jié)構(gòu)出現(xiàn)明顯的老化缺陷,表現(xiàn)為沿徑向貫通,沿軸向延伸一定長度或貫通的裂紋。裂紋斷裂面比較平直,并且沿周向分布較為均勻; 貯存4 a的彈藥有1條裂紋,貯存8 a的彈藥有3條裂紋,貯存12 a的則有5條裂紋,即隨貯存年限增加,裂紋數(shù)量呈增加的趨勢。

      3.2 裝藥細(xì)觀損傷

      為分析彈藥裝藥結(jié)構(gòu)缺陷的細(xì)觀損傷形貌,進(jìn)行了不同倍數(shù)(200,500,1000倍)SEM分析,結(jié)果如圖2所示。由于SEM分析用樣品是彈藥拆分后取出的裝藥,需損耗彈藥且具有危險(xiǎn)性,故僅對貯存年限較短的4 a和貯存年限較長的12 a彈藥裝藥各1發(fā)進(jìn)行了SEM分析。

      由200倍SEM(圖2a、圖2d)可見,HMX晶體粒度分布為100~400 μm,結(jié)晶致密,晶粒較為完整,晶體形狀相對規(guī)則,晶粒斷面較平整光滑,晶粒與粘結(jié)劑之間解理面清晰,斷面上有HMX晶粒脫離粘結(jié)劑后留下的空隙;由500倍SEM(圖2b、圖2e)可見,貯存4 a的PBX其HMX晶粒與粘結(jié)劑之間界面脫粘形成了裂紋,貯存12 a的PBX出現(xiàn)了明顯的界面脫粘及沿晶斷裂裂紋,斷面上有HMX顆粒從粘結(jié)劑中脫離出留下的孔洞; 由1000倍SEM(圖2c、圖2f)可見,貯存4 a PBX粘結(jié)劑基體完整,貯存12 a PBX出現(xiàn)了粘結(jié)劑基體開裂現(xiàn)象。上述SEM分析結(jié)果表明,長貯PBX結(jié)構(gòu)缺陷的細(xì)觀損傷為HMX晶粒與粘結(jié)劑之間界面脫粘及粘結(jié)劑基體開裂。

      a. 4 a(×200)b. 4 a(×500)

      c. 4 a(×1000)d. 12 a(×200)

      e. 12 a(×500)f. 12 a(×1000)

      圖2 不同貯存年限PBX 的SEM照片

      Fig.2 SEM images of PBX stored for different years

      3.3 老化損傷模式分析

      從力學(xué)角度表征裝藥的老化損傷模式,可以明確誘導(dǎo)損傷發(fā)生的關(guān)鍵因素,為分析損傷對裝藥性能的影響提供依據(jù)。根據(jù)D.W.Nicholson[9]能量守恒模型,在晶體模量比粘結(jié)基體模量大數(shù)個(gè)量級(jí)的情況下,臨界脫粘應(yīng)力可簡化為將彈性基體中的剛性球從基體脫離出來所需的外界應(yīng)力,PBX各組分間的彈性模量存在較大差別,HMX晶體的彈性模量達(dá)10 GPa以上,而粘結(jié)劑的模量僅為0.01~0.40 GPa[10-11],故可采用該能量守恒模型計(jì)算其臨界脫粘應(yīng)力:

      (1)

      式中,Eb為粘結(jié)劑的模量彈性模量,取0.40 GPa,γ為界面粘著力做功,取50 mJ·m-2,φ為晶體顆粒體積分?jǐn)?shù),該P(yáng)BX的顆粒體積分?jǐn)?shù)為96%,最大顆粒半徑r≈200 μm(由圖2a,圖2d得到),代入公式(1)計(jì)算,得到臨界脫粘應(yīng)力σd為4.03 MPa。

      在微觀結(jié)構(gòu)中,原子之間的強(qiáng)度取決于它們的化學(xué)鍵,兩個(gè)原子之間的吸引力在一定范圍內(nèi)隨兩個(gè)原子之間距離r的增加而增加,但吸引力達(dá)到極值后,r再增加,作用力反而減弱了,此時(shí)的σ為化學(xué)鍵的理論拉伸強(qiáng)度σmax,介質(zhì)的臨界破壞強(qiáng)度可用(2)式[12]近似計(jì)算:

      σmax≈0.1Eα

      (2)

      式中,Eα為介質(zhì)的彈性模量,根據(jù)李明等[11]針對含HMX壓裝PBX測定的彈性模量,取Eb=6 GPa,對粘結(jié)劑取Eb=0.40 GPa。帶入(2)式得粘結(jié)劑開裂臨界應(yīng)力為40 MPa,HMX晶體穿晶斷裂臨界應(yīng)力為600 MPa。

      計(jì)算結(jié)果表明,HMX晶體界面脫粘臨界應(yīng)力僅為4.03 MPa,粘結(jié)劑基體開裂臨界應(yīng)力是HMX晶體界面脫粘臨界應(yīng)力的10倍,而HMX晶體穿晶斷裂臨界應(yīng)力達(dá)HMX晶體界面脫粘臨界應(yīng)力的150倍,所以界面脫粘和粘結(jié)劑開裂可在很小應(yīng)力條件下發(fā)生,是PBX長貯老化的損傷模式。

      裝藥在貯存期內(nèi)受到熱應(yīng)力和低機(jī)械應(yīng)力等復(fù)雜加載環(huán)境的長期作用及外部環(huán)境冷熱交替變化的影響,在裝藥內(nèi)部產(chǎn)生較為緩和的低機(jī)械應(yīng)力,受低應(yīng)力作用,PBX首先產(chǎn)生界面脫粘和粘結(jié)劑開裂的現(xiàn)象,隨著應(yīng)力繼續(xù)作用,炸藥中的微裂紋將經(jīng)過匯集、貫通等過程形成宏觀裂紋,同時(shí)宏觀裂紋的端部又因應(yīng)力集中而出現(xiàn)新的微裂紋,進(jìn)而發(fā)展成新的宏觀裂縫或體現(xiàn)為原有宏觀裂縫的延伸。

      3.4 力學(xué)環(huán)境適應(yīng)性

      力學(xué)環(huán)境適應(yīng)性關(guān)系到武器裝備在戰(zhàn)場環(huán)境下的生存能力和作戰(zhàn)效率的發(fā)揮,是裝備的重要質(zhì)量特性之一[13]。為了考核帶損傷裝藥彈藥的力學(xué)環(huán)境適應(yīng)性,為彈藥使用、維修和后勤保障提供技術(shù)參考,通過實(shí)驗(yàn)設(shè)備模擬國內(nèi)典型機(jī)載武器在運(yùn)輸、儲(chǔ)存、使用中所經(jīng)受的載荷條件和接口界面,對貯存12 a的1發(fā)PBX裝藥彈藥進(jìn)行了沖擊實(shí)驗(yàn)及振動(dòng)實(shí)驗(yàn)。

      完成+X軸、-X軸的軸向沖擊實(shí)驗(yàn)及Y、Z軸向隨機(jī)振動(dòng)實(shí)驗(yàn)后,實(shí)驗(yàn)彈藥未發(fā)生爆炸或燃燒現(xiàn)象,檢查彈藥外觀情況,可以看出整體結(jié)構(gòu)無松動(dòng)。通過CT掃描進(jìn)一步觀察彈藥裝藥內(nèi)部結(jié)構(gòu),實(shí)驗(yàn)前后CT照片對比如圖3所示。

      a. before the testb. after the test

      圖3 環(huán)境實(shí)驗(yàn)前后貯存12 a的PBX 的CT照片

      Fig.3 CT images of PBX stored for 12 years before and after the environmental test

      由圖3可見,沖擊實(shí)驗(yàn)及振動(dòng)實(shí)驗(yàn)完成后,裝藥結(jié)構(gòu)僅增加了2條徑向裂紋,且增加的裂紋損傷形態(tài)與原裂紋相似,說明在經(jīng)受一定的沖擊及振動(dòng)載荷后,帶裂紋PBX裝藥雖然結(jié)構(gòu)缺陷有所增加,但能夠保證安全。

      有研究表明,老化會(huì)對裝藥安全性能產(chǎn)生一定影響[14-15],該P(yáng)BX老化后仍能經(jīng)受一定的沖擊及振動(dòng)載荷并保證安全,分析其原因是因?yàn)镠MX主體炸藥中添加了高聚物三元乙丙共聚物,該聚合物兼有粘結(jié)和鈍感兩種作用,與蠟共同作用,對HMX晶粒充分浸潤包覆,形成三維網(wǎng)狀嵌段共聚物結(jié)構(gòu),網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)通過形變吸收外界壓力,減輕HMX晶粒上的應(yīng)力集中,大大改善了裝藥的安全性能[16]。而該P(yáng)BX老化現(xiàn)象主要為粘結(jié)劑開裂和界面脫粘形成的沿晶斷裂裂紋,老化后炸藥晶粒仍然完整,鈍感劑對晶粒的包覆也基本完好,經(jīng)受一定的沖擊振動(dòng)載荷時(shí),網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)仍可起到吸熱、隔熱、緩沖與潤滑的鈍感作用,炸藥晶粒間并未產(chǎn)生較為強(qiáng)烈的相互作用,使得帶裂紋缺陷裝藥承受一定的沖擊、振動(dòng)載荷時(shí),能夠保持其安全性。該結(jié)論對于研究缺陷裝藥彈藥的應(yīng)用、保障部隊(duì)裝備的可靠性和安全性具有借鑒意義。

      4 結(jié) 論

      (1)在庫房標(biāo)準(zhǔn)條件(溫度低于30 ℃,濕度小于80%)下分別貯存4、8、12 a后,壓裝HMX基PBX均出現(xiàn)老化現(xiàn)象。CT結(jié)果表明,老化產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)缺陷為沿徑向貫通,沿軸向延伸一定長度或貫通的裂紋,裂紋斷裂面比較平直,沿周向分布較為均勻;隨貯存年限增加,裂紋數(shù)量增加。

      (2)SEM觀測到裂紋的細(xì)觀形貌為HMX晶粒與粘結(jié)劑之間界面脫粘、沿晶斷裂及粘結(jié)劑基體開裂。計(jì)算得到界面脫粘臨界應(yīng)力為4.03 MPa,粘結(jié)劑開裂臨界應(yīng)力為40 MPa,HMX晶體穿晶斷裂臨界應(yīng)力為600 MPa,驗(yàn)證了界面脫粘與粘結(jié)劑基體開裂是PBX長貯老化的主要損傷模式。

      (3)貯存12 a后帶缺陷PBX裝藥彈藥完成沖擊實(shí)驗(yàn)及振動(dòng)實(shí)驗(yàn)后,增加了2處徑向裂紋,但能夠保證安全。實(shí)驗(yàn)結(jié)果對于研究長貯彈藥的應(yīng)用、保障部隊(duì)裝備的可靠性和安全性具有借鑒意義。

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